JPS59152684A - 量子井戸型面発光半導体レ−ザ - Google Patents
量子井戸型面発光半導体レ−ザInfo
- Publication number
- JPS59152684A JPS59152684A JP58027178A JP2717883A JPS59152684A JP S59152684 A JPS59152684 A JP S59152684A JP 58027178 A JP58027178 A JP 58027178A JP 2717883 A JP2717883 A JP 2717883A JP S59152684 A JPS59152684 A JP S59152684A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- type
- band width
- forbidden band
- light emitting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 33
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 15
- 230000005476 size effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 238000004513 sizing Methods 0.000 abstract 3
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 abstract 2
- 230000007017 scission Effects 0.000 abstract 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 abstract 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 6
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PTFCDOFLOPIGGS-UHFFFAOYSA-N Zinc dication Chemical compound [Zn+2] PTFCDOFLOPIGGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000004071 soot Substances 0.000 description 1
- 238000000927 vapour-phase epitaxy Methods 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0062—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
- H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
- H01S5/0421—Electrical excitation ; Circuits therefor characterised by the semiconducting contacting layers
- H01S5/0422—Electrical excitation ; Circuits therefor characterised by the semiconducting contacting layers with n- and p-contacts on the same side of the active layer
- H01S5/0424—Electrical excitation ; Circuits therefor characterised by the semiconducting contacting layers with n- and p-contacts on the same side of the active layer lateral current injection
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/183—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
- H01S5/18341—Intra-cavity contacts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/183—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
- H01S5/18383—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] with periodic active regions at nodes or maxima of light intensity
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、効率が高い発振が可能である険子井戸屋ポテ
ンシャルを有し、かつ半導体の基板面と垂直な方向にレ
ーザ光が出射する量子井戸型面発光半導体レーザに関す
るものである。
ンシャルを有し、かつ半導体の基板面と垂直な方向にレ
ーザ光が出射する量子井戸型面発光半導体レーザに関す
るものである。
量子井戸型半導体レーザは、活性層の厚みが非常に薄く
(数百オングストローム以下)、そのため活性層に注入
された電子は量子サイズ効果を受け、通常の半導体レー
ザでは見られない種々の現象を示すことが知られている
。特に、通常の半導体レーザに比べ、低電流で発振する
ことや、発撮しきい値電流の温度特性の優れていること
などが注目されている。ところがこのような量子井戸型
半導体レーザは、基板面と平行な方向にレーザ光が出射
する措置の半導体レーザしか実現されなかった。これは
面発光型にすると、増幅領域があまりに薄いため発振出
来なかったことによる。そのため、共振器を形成するた
めに、骨間という量産にそぐわないプロセスを経る必要
があった。
(数百オングストローム以下)、そのため活性層に注入
された電子は量子サイズ効果を受け、通常の半導体レー
ザでは見られない種々の現象を示すことが知られている
。特に、通常の半導体レーザに比べ、低電流で発振する
ことや、発撮しきい値電流の温度特性の優れていること
などが注目されている。ところがこのような量子井戸型
半導体レーザは、基板面と平行な方向にレーザ光が出射
する措置の半導体レーザしか実現されなかった。これは
面発光型にすると、増幅領域があまりに薄いため発振出
来なかったことによる。そのため、共振器を形成するた
めに、骨間という量産にそぐわないプロセスを経る必要
があった。
そこで、本発明の目的は、量子サイズ効果を有し、か−
vql開というプロセスを必要とし彦い、量産に適した
面発光厘で発振が出来る量子井戸型面発光半導体レーザ
を提供することにある。
vql開というプロセスを必要とし彦い、量産に適した
面発光厘で発振が出来る量子井戸型面発光半導体レーザ
を提供することにある。
本発明の量子井戸型面発光半導体レーザけ。
基板面と垂直な方向に光を出射する面発光半導体レーザ
において、前記基板上に狭い禁制帯幅を有する層と、広
い禁制帯幅を有する層とが交互に繰夕返す多層構造を有
し、かつ前記狭−禁制帯幅を有する層の厚みが量子サイ
ズ効果が現われる程度の厚さで、広い禁制帯幅を有する
層の導電翌が狭い禁制帯幅を有する層を挾んで交互に異
なる型で繰夛かえしている点に特徴がある。
において、前記基板上に狭い禁制帯幅を有する層と、広
い禁制帯幅を有する層とが交互に繰夕返す多層構造を有
し、かつ前記狭−禁制帯幅を有する層の厚みが量子サイ
ズ効果が現われる程度の厚さで、広い禁制帯幅を有する
層の導電翌が狭い禁制帯幅を有する層を挾んで交互に異
なる型で繰夛かえしている点に特徴がある。
次に図面を用いて本発明を説明する。図は本発明の一実
施例を説明する図であシ、半導体結晶基板16の基板面
17に垂直な断面での餌面図である。本発明による半導
体レーザは、レーザ発振光18が基板面17と垂直に出
射する面発光ンーザであるが、電子と正孔は、n型で広
い禁制帯幅を有するnを半導体71115とP凰で広い
禁制帯幅を有するP型半導体部14からそれぞれ注入さ
れる。n型半導体部15から注入脅 された電子は、広い禁制帯幅を有するn型層13に流れ
、さらに狭い禁制帯幅を有する活性1ullに流れ込む
。P型半導体部14から注入された正孔は、穴い禁制帯
幅を有するP型層12に流れ、さらに前記活性層11に
流れ、注入電子と再結合し発光する。この際、活性層1
1の層厚は量子サイズ効果が現われる程薄く形成する。
施例を説明する図であシ、半導体結晶基板16の基板面
17に垂直な断面での餌面図である。本発明による半導
体レーザは、レーザ発振光18が基板面17と垂直に出
射する面発光ンーザであるが、電子と正孔は、n型で広
い禁制帯幅を有するnを半導体71115とP凰で広い
禁制帯幅を有するP型半導体部14からそれぞれ注入さ
れる。n型半導体部15から注入脅 された電子は、広い禁制帯幅を有するn型層13に流れ
、さらに狭い禁制帯幅を有する活性1ullに流れ込む
。P型半導体部14から注入された正孔は、穴い禁制帯
幅を有するP型層12に流れ、さらに前記活性層11に
流れ、注入電子と再結合し発光する。この際、活性層1
1の層厚は量子サイズ効果が現われる程薄く形成する。
量子サイズ効果が室温T (K)で現わ匹るに必要な膜
厚は次式を満たす必要がある。
厚は次式を満たす必要がある。
ここでLr、は活性Jiillの膜厚であり、hはブラ
ンクの定数、kはボルツマン定数、Tけ温度、mは活性
層11の結晶中の電子の換算vi量であるつInGaA
gP結晶の例でFlmに続ぼ電子の重量の7%であり、
これらの値から室温(300K )状態で必要な活性層
の膜厚Lz#′1450オンゲストa−ムより薄いこと
が必要であることがわかる。上述した構造では光を増幅
する活性層11は複数層存在するため、層と垂直に進む
光に対し複数回増幅することが出来る。このようにして
、活性W′411の一層当りの層厚は量子ザイズ効果が
現われる程薄く、しかも骨間というプロセスを必要とし
ない、肴産に適した面発光型で発振することが可能な量
子井戸型面発光半導体レーザが得られる。本実施例では
、活性1511にけInGaAsP %P M層12に
は亜鉛ドーグTnP 。
ンクの定数、kはボルツマン定数、Tけ温度、mは活性
層11の結晶中の電子の換算vi量であるつInGaA
gP結晶の例でFlmに続ぼ電子の重量の7%であり、
これらの値から室温(300K )状態で必要な活性層
の膜厚Lz#′1450オンゲストa−ムより薄いこと
が必要であることがわかる。上述した構造では光を増幅
する活性層11は複数層存在するため、層と垂直に進む
光に対し複数回増幅することが出来る。このようにして
、活性W′411の一層当りの層厚は量子ザイズ効果が
現われる程薄く、しかも骨間というプロセスを必要とし
ない、肴産に適した面発光型で発振することが可能な量
子井戸型面発光半導体レーザが得られる。本実施例では
、活性1511にけInGaAsP %P M層12に
は亜鉛ドーグTnP 。
n型層13には硫黄ドープInP、P型半導体部14に
は亜鉛ドープInP、n型半導体部15に岐すずドープ
[nP 、半導体結晶基板16には半絶縁性基板が用い
られた。
は亜鉛ドープInP、n型半導体部15に岐すずドープ
[nP 、半導体結晶基板16には半絶縁性基板が用い
られた。
次に本発明の上記実施例の量子井戸型面発光半導体レー
ザの製法を簡単に説明する。InP半絶縁性基板16の
上に、500オングストロームの厚みのP型InP 層
12 、 lOoオングストロームのIno、y4Ga
o、26Aso5sPo44層11.500オングスト
ロームのn型InP層13.Zooオングストロームの
Ing、y4Gao、zsAso、5ePo44層11
の順に200層気相成長法で積層した。次に直径4ミク
ロンの円柱が残るように、前記200層の層をエツチン
グによって周囲を除去した。次にメンドープInPを前
記円柱のまわりに埋め込み成長した。さらicP型半導
体部14を形成する丸め釦、ノンドープInPの一部に
亜鉛をイオン打込みし、n型半導体部15にはすすをイ
オン打込みし、それぞれ熱拡散を行ない形成した。
ザの製法を簡単に説明する。InP半絶縁性基板16の
上に、500オングストロームの厚みのP型InP 層
12 、 lOoオングストロームのIno、y4Ga
o、26Aso5sPo44層11.500オングスト
ロームのn型InP層13.Zooオングストロームの
Ing、y4Gao、zsAso、5ePo44層11
の順に200層気相成長法で積層した。次に直径4ミク
ロンの円柱が残るように、前記200層の層をエツチン
グによって周囲を除去した。次にメンドープInPを前
記円柱のまわりに埋め込み成長した。さらicP型半導
体部14を形成する丸め釦、ノンドープInPの一部に
亜鉛をイオン打込みし、n型半導体部15にはすすをイ
オン打込みし、それぞれ熱拡散を行ない形成した。
上記実施例においては、InGaAsP/ InP を
用いたが、GaAlAs/GaAsを始めとする他の混
晶を用いても良いのは明らかである。
用いたが、GaAlAs/GaAsを始めとする他の混
晶を用いても良いのは明らかである。
上記実施例においては、積層数が200層であったが、
この層数は特に限定されないのは明らかである。
この層数は特に限定されないのは明らかである。
上記実施例においては、量子サイズ効果が現われるため
に活性層11の厚みを100オングストロームとしたが
、前述の(1)式を満足する厚さであればこの厚゛みは
特に制限されない。
に活性層11の厚みを100オングストロームとしたが
、前述の(1)式を満足する厚さであればこの厚゛みは
特に制限されない。
上記実施例においては、P型InP層12とn型1nP
層13の層厚を500オングストロームとしたが、この
厚みは特に限定されない。
層13の層厚を500オングストロームとしたが、この
厚みは特に限定されない。
上記実施例においては多層構造を気相成長法によって形
成したが、分子線エビタギシャル法等の他の成長法によ
っても良いのは明らかである0 上記実施例では発光部の両側のP型半導体部14どn型
半導体部15をイオン打込み法によって形成したが、選
択成長法などによって形成しても良い。
成したが、分子線エビタギシャル法等の他の成長法によ
っても良いのは明らかである0 上記実施例では発光部の両側のP型半導体部14どn型
半導体部15をイオン打込み法によって形成したが、選
択成長法などによって形成しても良い。
図は本発明の一実施例を示す側面図であ夛、図中11は
活性層、12はP型層、13はn型層、14はP型半導
体部、15はnil半導体部、16は半導体結晶基板、
17は基板面、18#′i出射レーザ光である。 f―人弁理士 内1式1 − /7 /乙 −37二
活性層、12はP型層、13はn型層、14はP型半導
体部、15はnil半導体部、16は半導体結晶基板、
17は基板面、18#′i出射レーザ光である。 f―人弁理士 内1式1 − /7 /乙 −37二
Claims (1)
- 基板面と垂直な方向に光を出射する面発光半導体レーザ
Kbいて、前記基板上に狭い禁制帯幅を有する層と、広
い禁制帯幅を有する層とが交互に繰り返す多層構造を有
し、かつ前記狭い禁制帯幅を有する層の厚みが量子サイ
ズ効果が現われる程度の厚さであ)、広い禁制帯幅を有
する層の導電型が、狭い禁制帯幅を有する層を挾んで交
互に異なる屋で繰りかえしていることを特徴とする縫子
井戸型面発光半導体レーザ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58027178A JPS59152684A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 量子井戸型面発光半導体レ−ザ |
US06/581,749 US4636821A (en) | 1983-02-21 | 1984-02-21 | Surface-emitting semiconductor elements |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58027178A JPS59152684A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 量子井戸型面発光半導体レ−ザ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59152684A true JPS59152684A (ja) | 1984-08-31 |
Family
ID=12213814
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58027178A Pending JPS59152684A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 量子井戸型面発光半導体レ−ザ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59152684A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1985004531A1 (en) * | 1984-03-28 | 1985-10-10 | Japan Represented By President Of Tohoku Universit | Junction semiconductor light-emitting element |
US4721521A (en) * | 1985-08-26 | 1988-01-26 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4732604A (en) * | 1985-08-29 | 1988-03-22 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4741758A (en) * | 1984-12-11 | 1988-05-03 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4743292A (en) * | 1985-08-26 | 1988-05-10 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4822403A (en) * | 1985-08-26 | 1989-04-18 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4867783A (en) * | 1984-12-11 | 1989-09-19 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4895591A (en) * | 1984-12-11 | 1990-01-23 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4999842A (en) * | 1989-03-01 | 1991-03-12 | At&T Bell Laboratories | Quantum well vertical cavity laser |
JPH03148892A (ja) * | 1990-09-28 | 1991-06-25 | Suematsu Yasuharu | 面発光レーザ発振装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59104188A (ja) * | 1982-12-07 | 1984-06-15 | Toshiba Corp | 半導体レ−ザ装置 |
-
1983
- 1983-02-21 JP JP58027178A patent/JPS59152684A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59104188A (ja) * | 1982-12-07 | 1984-06-15 | Toshiba Corp | 半導体レ−ザ装置 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1985004531A1 (en) * | 1984-03-28 | 1985-10-10 | Japan Represented By President Of Tohoku Universit | Junction semiconductor light-emitting element |
US4741758A (en) * | 1984-12-11 | 1988-05-03 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4867783A (en) * | 1984-12-11 | 1989-09-19 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4895591A (en) * | 1984-12-11 | 1990-01-23 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4721521A (en) * | 1985-08-26 | 1988-01-26 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4743292A (en) * | 1985-08-26 | 1988-05-10 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4822403A (en) * | 1985-08-26 | 1989-04-18 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4732604A (en) * | 1985-08-29 | 1988-03-22 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Herbicidal sulfonamides |
US4999842A (en) * | 1989-03-01 | 1991-03-12 | At&T Bell Laboratories | Quantum well vertical cavity laser |
JPH03148892A (ja) * | 1990-09-28 | 1991-06-25 | Suematsu Yasuharu | 面発光レーザ発振装置 |
JPH0559596B2 (ja) * | 1990-09-28 | 1993-08-31 | Tokyo Kogyo Daigakucho |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0177617B1 (en) | Junction semiconductor light-emitting element | |
JPH03208388A (ja) | 半導体レーザ及びその製造方法と不純物拡散方法 | |
JPH06112594A (ja) | 面発光型半導体発光装置およびその製造方法 | |
JPS59152684A (ja) | 量子井戸型面発光半導体レ−ザ | |
JP2001057459A (ja) | 半導体レーザ | |
US5309466A (en) | Semiconductor laser | |
JPS59152683A (ja) | 面発光半導体レ−ザ | |
JPH0555704A (ja) | 面発光型半導体レーザとそのアレー及び面発光型発光ダイオードとそのアレー及び面発光型pnpn素子 | |
JPH0478036B2 (ja) | ||
JP2679974B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JPH1187764A (ja) | 半導体発光装置とその製造方法 | |
JPS60126880A (ja) | 半導体レ−ザ装置 | |
JP2751699B2 (ja) | 半導体レーザ | |
JP3223969B2 (ja) | 半導体レーザ | |
JPH02206191A (ja) | 半導体レーザ装置及びその製造方法 | |
JPS62186584A (ja) | 半導体素子の製造法 | |
JPH03104292A (ja) | 半導体レーザ | |
JP2771318B2 (ja) | 半導体レーザ | |
JPH0621576A (ja) | 半導体レーザおよびその作製方法 | |
JP3355016B2 (ja) | 半導体発光装置およびその製造方法 | |
JP2001230490A (ja) | 半導体レーザの製造方法 | |
JPH0728093B2 (ja) | 半導体レ−ザ素子 | |
JPH11284276A (ja) | 半導体レーザ装置及びその製造方法 | |
JP3189900B2 (ja) | 半導体レーザ素子 | |
JPH08204277A (ja) | 半導体レーザ |