JPS59147378A - 電子学習機 - Google Patents
電子学習機Info
- Publication number
- JPS59147378A JPS59147378A JP58019820A JP1982083A JPS59147378A JP S59147378 A JPS59147378 A JP S59147378A JP 58019820 A JP58019820 A JP 58019820A JP 1982083 A JP1982083 A JP 1982083A JP S59147378 A JPS59147378 A JP S59147378A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- electronic learning
- question
- kanji
- questions
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Electrically Operated Instructional Devices (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は電子学習機に関し、特に所定数のテスト問題を
出力し、入力される解答の正誤により採点を行ない、採
点結果を出力する電子学習機に関する。
出力し、入力される解答の正誤により採点を行ない、採
点結果を出力する電子学習機に関する。
従来技術
従来のこの種の電子学習機においてはテストの難易度を
設定する際、その難易レベルは解答者によってまちまち
であり画一的に決めることに無理があった。即ち例えば
「初級」、「中級」、良のうち「中級」の難易度は解答
者によっては非常に離かしいものであったりまた逆に易
しすぎる問題が含まれている可能性があり、その場合解
答者は自分のレベルに合わない問題をキャンセルするこ
とができないため能率の良い学習を行なうことができな
かった。
設定する際、その難易レベルは解答者によってまちまち
であり画一的に決めることに無理があった。即ち例えば
「初級」、「中級」、良のうち「中級」の難易度は解答
者によっては非常に離かしいものであったりまた逆に易
しすぎる問題が含まれている可能性があり、その場合解
答者は自分のレベルに合わない問題をキャンセルするこ
とができないため能率の良い学習を行なうことができな
かった。
目 的
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、出題の難易
レベルが解答者にとって適切でない場合、解答者は自ら
その出題をキャンセルしてテストを続行でき、能率の良
い学習を行なうことのできる電子学習ｉ幾を提供するこ
とを目的とする。
レベルが解答者にとって適切でない場合、解答者は自ら
その出題をキャンセルしてテストを続行でき、能率の良
い学習を行なうことのできる電子学習ｉ幾を提供するこ
とを目的とする。
実施例
本実施例では後述するように「パスキー」を設け、不適
切な出題に対して本キーを押下するとと捷た。キャンセ
ルした問題を記憶する手段をも設け、テストの終了後「
パス問題キー」を押下することにより、パスした問題を
再確認できるようにしている。
切な出題に対して本キーを押下するとと捷た。キャンセ
ルした問題を記憶する手段をも設け、テストの終了後「
パス問題キー」を押下することにより、パスした問題を
再確認できるようにしている。
以下、１０題の漢字の読みテストを出題し、解答者が読
みを入力するとその正誤を判定し、１題１０点で１００
点満点で採点する漢字学習機を実施例として、本発明の
詳細な説明する。
みを入力するとその正誤を判定し、１題１０点で１００
点満点で採点する漢字学習機を実施例として、本発明の
詳細な説明する。
図は実施例の構成を示すブロック図である。図において
Ｋ １ 、 Ｋ ２は各々本発明によって新たに設けら
れたパスキー、パス問題キーであり、Ｋ３は答えキー、
Ｋ４はひらがなキ一群（５０音キー）、Ｋ５は読みテス
ト開始キーである。ＲＮＤは乱数発生器であり、中央処
理装置ＣＰＵからの漢字番号を一意的に決定するだめの
乱数発生信号ｓ１と、パスキーに１からの信号とのＯＲ
信号８２がゲートＧ１を介して乱数発生器ＲＮＤに入力
されると漢字番号の乱数を発生して中央処理装置ＣＰＵ
に伝達する。
Ｋ １ 、 Ｋ ２は各々本発明によって新たに設けら
れたパスキー、パス問題キーであり、Ｋ３は答えキー、
Ｋ４はひらがなキ一群（５０音キー）、Ｋ５は読みテス
ト開始キーである。ＲＮＤは乱数発生器であり、中央処
理装置ＣＰＵからの漢字番号を一意的に決定するだめの
乱数発生信号ｓ１と、パスキーに１からの信号とのＯＲ
信号８２がゲートＧ１を介して乱数発生器ＲＮＤに入力
されると漢字番号の乱数を発生して中央処理装置ＣＰＵ
に伝達する。
この漢字番号は一定時間後中央処理装置ＣＰＵがらバッ
ファＢＵＦに一時格納されるとともに、この漢字番号に
該当する漢字パターンが表示器ＤＴｓに表示される。
ファＢＵＦに一時格納されるとともに、この漢字番号に
該当する漢字パターンが表示器ＤＴｓに表示される。
この時点（問題表示時点）で解答者がパスキーに１を押
下すると漢字番号バッファＢＵＦの格納情報はＡＮＤゲ
ートＧ２を介して読み書き記憶装置ＲＡＭに転送され、
格納される。この場合、中央処理装置ＣＰＵのアドレス
指定ポー） （ＡＤ）からの指定によりＲＡＭの該当す
る番地に情報は格納さ・れることになる。
下すると漢字番号バッファＢＵＦの格納情報はＡＮＤゲ
ートＧ２を介して読み書き記憶装置ＲＡＭに転送され、
格納される。この場合、中央処理装置ＣＰＵのアドレス
指定ポー） （ＡＤ）からの指定によりＲＡＭの該当す
る番地に情報は格納さ・れることになる。
本発明の一実施例は上述した図に示される構成をしてお
り、次にその動作について説明する。
り、次にその動作について説明する。
解答者は先ず読みテストを始めるために読みテスト始め
キーに５を押下すると、中央処理装置ＣＰＵはこれを検
知しパス問題格納のための読み書き記憶装置ＲＡＭの内
容を消去し、アドレス指定ボ剋 −１−Ａ Ｄの指定番号をＯにする。次に漢字番号を決
定するために乱数発生信号Ｓ１を出し乱数発生装置ＲＮ
Ｄで乱数を発生させる。中央処理装置ＣＰＵはこの乱数
値に基づく漢字番号をバッファＢＵＦに格納すると共に
当該漢字パターンを表示器ＤＩＳで表示する。解答者は
表示された漢字の読みをひらがな５０音キ一群に４によ
り入力後答えキーに３を押下すると中央処理装置ＣＰＵ
はその読み（解答）の正誤を判定し、判定結果を表示す
ると共に正解ならば得点を１０点加算する。
キーに５を押下すると、中央処理装置ＣＰＵはこれを検
知しパス問題格納のための読み書き記憶装置ＲＡＭの内
容を消去し、アドレス指定ボ剋 −１−Ａ Ｄの指定番号をＯにする。次に漢字番号を決
定するために乱数発生信号Ｓ１を出し乱数発生装置ＲＮ
Ｄで乱数を発生させる。中央処理装置ＣＰＵはこの乱数
値に基づく漢字番号をバッファＢＵＦに格納すると共に
当該漢字パターンを表示器ＤＩＳで表示する。解答者は
表示された漢字の読みをひらがな５０音キ一群に４によ
り入力後答えキーに３を押下すると中央処理装置ＣＰＵ
はその読み（解答）の正誤を判定し、判定結果を表示す
ると共に正解ならば得点を１０点加算する。
以」二の動作を繰り返して解答者は読みテストを行なう
が、今表示されている問題が非常にやさしすき゛て、又
は難かしすぎるため、当問題のみをスキップ（又はキャ
ンセル）させる場合の動作について説明する。
が、今表示されている問題が非常にやさしすき゛て、又
は難かしすぎるため、当問題のみをスキップ（又はキャ
ンセル）させる場合の動作について説明する。
壕ず、パスキーＫ １を押下すると、埃在表示中の漢字
を被テスト対象から取消す養ために、バッファＢＴＪＰ
からポー） Ｇ２を介して中央処理装置ＣＰＵにより指
定されるアドレス指定ポートＡＤの指定番地を該当する
漢字番号に対して＋１増加されると共に現在表示中の漢
字は記憶装置ＲＡＭに格納さな れる。これとともに乱数発生器ＲＮＤが新たち乱数を発
生し、その乱数に該当する漢字番号の新たな漢字が表示
される。１０間のテスト終了後パス問題キーに２を押下
すると記憶装置ＲＡＭに記憶されているパスした問題（
漢字番号）は中央処理装置Ｃ’ＰＵを介して順次表示さ
れていく。
を被テスト対象から取消す養ために、バッファＢＴＪＰ
からポー） Ｇ２を介して中央処理装置ＣＰＵにより指
定されるアドレス指定ポートＡＤの指定番地を該当する
漢字番号に対して＋１増加されると共に現在表示中の漢
字は記憶装置ＲＡＭに格納さな れる。これとともに乱数発生器ＲＮＤが新たち乱数を発
生し、その乱数に該当する漢字番号の新たな漢字が表示
される。１０間のテスト終了後パス問題キーに２を押下
すると記憶装置ＲＡＭに記憶されているパスした問題（
漢字番号）は中央処理装置Ｃ’ＰＵを介して順次表示さ
れていく。
本発明の一実施例は上記のようであり、解答者にとって
難易度や専門分野等の違いにより、当問題が不適切な場
合、尚問題のみを取り消して別の問題を代わりに出題す
るので解答者は自分に適切な問題のみを選んで解答し、
その結果を採点することができ能率の良い学習が可能と
なる。
難易度や専門分野等の違いにより、当問題が不適切な場
合、尚問題のみを取り消して別の問題を代わりに出題す
るので解答者は自分に適切な問題のみを選んで解答し、
その結果を採点することができ能率の良い学習が可能と
なる。
また、さらに本実施例における乱数発生器の精度が期待
できなくて、すでに出題済みの問題が出題された場合（
続けて同じ問題が出題される可能性もある）も、パスキ
ーにより学習能率の向上がはかれる。
できなくて、すでに出題済みの問題が出題された場合（
続けて同じ問題が出題される可能性もある）も、パスキ
ーにより学習能率の向上がはかれる。
効 果
本発明は以上のようであり、出題された問題の難易レベ
ルが解答者にとって適切でない場合、解答者は自らその
出題をキャンセルしてテストを続行でき、しかもテスト
終了後、キャンセルした問題を再確認することもできる
ため、能率良く学習することができる。
ルが解答者にとって適切でない場合、解答者は自らその
出題をキャンセルしてテストを続行でき、しかもテスト
終了後、キャンセルした問題を再確認することもできる
ため、能率良く学習することができる。
図は本発明の実施例の全体構成を示すブロック図である
。 Ｋｌ ・パスキー Ｋ２・パス問題キ〜に３
・答え４− Ｋ４・・・ひらがなキ一群１＜
５・・・読みテスト開始キー ＲＮＤ・・乱数発生器Ｃ
ＰＩＪ・・中央処理装量ＢｔＪＩ”・・・バッファ１）
１８ ・表示器 Ｇ１・・・オアゲートＧ２・
・・アンドゲート 特許出願人 キャノン株式会社
。 Ｋｌ ・パスキー Ｋ２・パス問題キ〜に３
・答え４− Ｋ４・・・ひらがなキ一群１＜
５・・・読みテスト開始キー ＲＮＤ・・乱数発生器Ｃ
ＰＩＪ・・中央処理装量ＢｔＪＩ”・・・バッファ１）
１８ ・表示器 Ｇ１・・・オアゲートＧ２・
・・アンドゲート 特許出願人 キャノン株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 触 （１）所定数のテスト問題を出力して出願し、入力され
る解答の正誤を判定し、判定結果により採点を行ない、
採点結果を出力するテスト機能を有した電子学習機にお
いて、出題された問題を被テスト対象から取り消す入力
手段を設けたことを特徴とする電子学習機。 （２） 前記取消し手段による取り消しはテスト動作
の続行とは無関係であるとともに、前記の判定結果（で
よる採点にも影響を与えないことを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の電子学習機。 （３）前記取消手段により、被テスト対象から取消され
た問題をテスト終了後再出力する手段を有することを特
徴とする特許請求の範囲第１項及び第２項記載の電子学
習機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58019820A JPS59147378A (ja) | 1983-02-10 | 1983-02-10 | 電子学習機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58019820A JPS59147378A (ja) | 1983-02-10 | 1983-02-10 | 電子学習機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59147378A true JPS59147378A (ja) | 1984-08-23 |
Family
ID=12009950
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58019820A Pending JPS59147378A (ja) | 1983-02-10 | 1983-02-10 | 電子学習機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59147378A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0455067U (ja) * | 1990-09-20 | 1992-05-12 | ||
| JPH0477177U (ja) * | 1990-11-19 | 1992-07-06 | ||
| JPH0511679A (ja) * | 1991-07-06 | 1993-01-22 | Kibi Syst Kk | 学習問題の作成及び学習成績の処理システム |
| JPH0519675A (ja) * | 1991-07-16 | 1993-01-29 | Patoroma Res Kk | 光デイスク式電子学習装置 |
-
1983
- 1983-02-10 JP JP58019820A patent/JPS59147378A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0455067U (ja) * | 1990-09-20 | 1992-05-12 | ||
| JPH0477177U (ja) * | 1990-11-19 | 1992-07-06 | ||
| JPH0511679A (ja) * | 1991-07-06 | 1993-01-22 | Kibi Syst Kk | 学習問題の作成及び学習成績の処理システム |
| JPH0519675A (ja) * | 1991-07-16 | 1993-01-29 | Patoroma Res Kk | 光デイスク式電子学習装置 |
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