JPS59146455A - 光学式ピツクアツプ装置 - Google Patents

光学式ピツクアツプ装置

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JPS59146455A
JPS59146455A JP5725583A JP5725583A JPS59146455A JP S59146455 A JPS59146455 A JP S59146455A JP 5725583 A JP5725583 A JP 5725583A JP 5725583 A JP5725583 A JP 5725583A JP S59146455 A JPS59146455 A JP S59146455A
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lens
photodetector
optical
holder
optical axis
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JP5725583A
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Kiyobumi Chikuma
清文 竹間
Yoshihiro Uchiumi
喜洋 内海
Tadashi Ogawa
忠史 小川
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Pioneer Corp
Pioneer Electronic Corp
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/085Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam into, or out of, its operative position or across tracks, otherwise than during the transducing operation, e.g. for adjustment or preliminary positioning or track change or selection
    • G11B7/08547Arrangements for positioning the light beam only without moving the head, e.g. using static electro-optical elements

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光学式デジタルオーディオディスクプレニヤ、
ビデオディスクプレーヤ等の光学式情報、、記門!生装
置に使用されるピックアップ装置に関する。′ − 斯かるピックアップ装置の基本的構造図を第1、図に示
す。1は半導体レーザ装置等の光源、2は光源1より発
せられた発散ビームを略平行にするコリメータレンズ、
3は偏光ビームスプリッタ、4は1/4波長板、5は対
物レンズ、6は光学式反射ディスク、7.8はその軸方
向が略直交する方向に配されたシリンドリカルレンズ、
9は分割線がシリンドリカルレンズ7.8の軸と45度
をなすよ慢に配置された4分割の光検知器である。
光源1より発せられたビームは、コリメータレンズ2に
より略平行光とされ、ビームスプリッタ3.1/4波長
板4を経た後□対物レンズ5によりディスク6上に、集
束される。ディスク6上に記録された信号により変調さ
れたビームはディスI’ 6にて反射され、対物レンズ
5.1/4波長板4を経てビームスプリッタ6に入射し
、ビームスプリッタ3の偏光面にて反射された後シリン
ドリカルレンズ7.8を透過して光検知器9上に照射さ
れる。シリンドリカルレレズ7.8は非点収差を−する
ところから、光検知器9上のビームスポットの編状は第
2図に示す如くになる。
−すなわちディスク6カ一対物レンズ5の焦点深度内に
位置するときは第2図(b)に糸す如く光検知器9oヒ
の□スポットは略円形メなる。□二方ディスク6が対物
レンズ5の焦点深度より遠箋]・場合は、第2図(a)
に示す如く長袖がシリンドリカルレンズ8の軸8aに沿
った楕旧となり、★たディスク6が対物レンズ5の焦点
深度より近い場合は、第2図(c)に示す如く長軸がシ
リ:トリカルレンズ7のl1IIZaに沿った楕円とな
る。従つて4分割された光検知器9のうち対角線上に配
置された1対の光検知器9a、9dの出力の和と、他の
1対の光検知器9b、9Cの出力の和との差を検出する
ことにより、第3図に示す如きS字状のフォーカスエラ
ー信号Fを得ることができる。   、、、。
対物レンズ5によるビーム集束点とディスク6の信号記
録面との距離(焦点離れ量)Cが、On、Ofのときフ
ォーカスエラー信号1iに正及び負のピークが各々生じ
るが、上れは第4図(a)′及び(1))に示す如くシ
リンドリカルレンズ7又は8により光検知器9a、9d
上又は9b、9c上に各々線像が結像された場合に対応
する、このフォーカスエラー信号Fを図示せぬアクチー
エータに供給して対物レンズ5を光軸方向(第1図にお
いて上下方向)に移動せしめれば、ディスク6が面振れ
してもディスタ6の信号記録面上にビームを常に正確に
集束させることができる。その結果光検知器9a乃至9
dの出力の和より°得られる・R1i’信号Sを復調し
て記録情報を再生することができる。
斯かる原理に基づくフォーカスサーボ装着を実現するた
めに・は、ディスク8の信号記録面が対物レンズ5の焦
点深度内に位置するときフォーカスエラー信号Fが零に
なるように上記各光学部品が所定位置に配置されていな
ければならない、。し、かじながら上記各光学部品の精
度あるいはその取付精度は完全なものではなく、またバ
ラ付きもあるので上記光学部品を設計された所定位置に
配置し。
ただけではL記条件を直しに満足することはできない。
そこで−ドUj尤学部品の位置をR調整すイ〕ことが必
沙とノfる。
従来斯かる微調整は光検知器9にょ゛り行なわれて見・
ノ;−oすフ、r′、わら光検知器9を光軸と垂直な面
内において2方向に微調移動させる第1の調整を先ず行
い、ツメ−カスエラ・−信号[?の正負のピーク位(i
4が零点を中心として対称になるようにすイ)。
にの第10調翳だけでは、ガイスクバの信号t1シ録而
が対物レンズ5の焦点深lW内に位置したとし7ても、
その時;フォーカスエラ・−信号Fは必ず1〜も零には
ならない。けだしディスク乙の信号記録面が対物レンズ
5の焦a深凹円に位置した時ビームの断面形状が略真円
となる光軸トのイ11置は所定の1点I−かなく、光検
知器9が光4111Fその所定の1点に対応する位置に
必ずしも正確に配置されていないからで1$〕ろ。従っ
てディスク乙の信号記録面が対物レンズ5の焦売深凹円
に位置する時RF倍信号のt/ベベル最大となるから、
第1の調整の段階にオ6いては、第5図a)フォーラ1
スエラー信号■パの′4クロス点0より右又は左にず才
また位置01には1′】2においてl”(F信号Sのレ
ベルが最大となる。そ、二f゛ビーム断面形状が真円と
なる位置に光検知器9を・正確に配信するための第2の
調整な、光検知器9を光軸方向に移動させることKよっ
て行うのである。
しかしながら斯かる調整は1つの光学部品(光検知器9
)を6軸方向に移動させるための調整機構を必甥とし、
構成が複雑にな4)ばかりでなく一方向の調整が他方向
の調整に影響を与え易く、調整に時間がかかり、正確な
調整が困難であった。
本発明は斯かる状況に鑑みなされたもので、構成が簡単
であり、また調整も容易な)′を学式ピンクアップ装置
を提供することを目的とする。
以下図を参照して本発明の詳細な説明すて)。
尚以下に参照する図において第1図乃至第4図と対応す
る部分には同一符号が付1.てあり、その詳述は省略す
る。
第5図において10は筐体であり、光源1、コリメータ
レンズ2を支持するボルダ11.1/4波長板4が同定
されたビーノ・スプリッタ6、対物レンズ5、シリンド
リカルレンズ7.8、光検知器9を各々所定位置に収容
しており、士たビームを通過させるための通路12.1
5が形成されている。尚対物レンズ5は対物レンズ5を
フA−がス方向に駆動するアクf−−工・−タ(図示せ
ず)を介して筺体11]に取付けらねている。外形が略
円柱状のホルダ11は電源1より発せられたビームを通
過させる断面が略円形の通路12の内壁12a内に嵌挿
されており、内$12aをガイドとして光軸方向に摺4
υ可能となりている。ボルダ11の略中央には光軸方向
と垂1r1−な溝11aが形成されており、筐体10に
形成された中心孔14、以通孔15に偏心ドライバの2
川11(図示せず)を各々挿涌し、偏心ドライバを中心
:fl、14り中心として図中時計方向又は反時計方向
に回転さぜ、fpl 11 aと係合した偏心ドライバ
の一方の佃1でホルダ11を光i袖方向に移動さぜるこ
とがでNるようにブ[っている。16は筐体1目に螺合
されたネジであり、その一端は筐体1oの外部より回転
可fiPとなっ−C:t、;す、その他端はホルダ11
と当接してボルダ11を所定位置で光軸と市直な方向よ
り固定できるようになっている。ビームスグリツタ6は
平行6面体形状のプリズムろ1と6角柱形状・))プリ
ズム32とより構成されており、その接合面63が偏光
面、接合面63と平行な面ろ4が反射面としで形成され
ている。従って光源1より発せられたビーノ、がホルダ
11に固定されたコリメータレンズ2を通過した後、面
54、面′53によって各々反射され、1/4波長板4
、対物レンズ5を介してディスク乙に照射されるように
なっている。ディスク6にて反射されたビームは対物レ
ンズ5.1/4波長板4、而33、シリンドリカルレン
【7.8を経て光検知器9 J:に照射される。
第6図は第5図におけるシリンドリカルレンズ7の保持
機構の原理を模式的に示1.ている。シリンドリカルレ
ンズ7は略直方体形状のボルダ17の略中央に固定され
ている。筺体10の光検知器9に向かうビームを通過さ
せる通路13を形成する面であって、シリンドリカルレ
ンズ70軸7aと略45度をなす面のうち少くとも1つ
の而10αは平面とされ、而10aには光軸と垂1αな
方向に溝18が形成されている。溝18にはホルダ17
が庶合されており、ホルダ17ばその底平面及び左右側
乎、、面が、溝18の底乎IR1及び左右111j、平
面と各々接、触、シ、てガイドされ、溝18に沿って光
軸と垂直、な面内において軸7aと略45度をなす方向
に摺動自在、となっている。19は(π体170℃其通
孔2oに挿通され、ホルダ17に螺合しているネジであ
る。21は11体1oに固定されち板バネ(ウレタンゴ
ム等で、あってもよい)で、あり、、ホルダ17を溝1
8の底面に押圧するp向戊び面10aと平行で貫通孔′
°と離れるり向に付勢、t、−c:、いる(。
図示は省略されているが、ホルダ17は:光、軸方向に
も板バネ等にて付勢されている)。従ってネジ19゜を
同転させること如よってホルダ17(従、ってシリンド
リカルレンズ7、)を軸7aと45度、をなす方向に移
動させることができる。           。
尚図示しま省略されているが、シリンドリカルレンズ8
もシリンドリカルレンズ7と同様、、の、M9.4.で
シリンドリカルレンズ7と独立沁摺動1.在り、なるよ
うに筐体10に保持されている。
第7.、図+i ′IJ 、/トリカル、L/ 7′7
″7・ 8と光検知器9と′の位、置関、係、を模式的
に表わしてい’J oすなわち光検知器9.(7)、2
つの、分割、線をX軸及びY iM+方向とした場合、
シリンドリカルレンズ7.8.ノ軸7a、8aはX軸及
びY+!11に対して各り45度をなすようになされて
、おり、ディスク乙に形成されたトラνり(図示せず)
の方向はY軸方向とされ、シリンドリカルレンズ7.8
の調整移動方向はX ff’lti方向とされる。
第8図は光検知器9より電気信号を出力させるための回
路図、を表わしており、光検知器9aと90の出力差が
減、算器22によって、また光検知器91〕と9 (]
、 ?出力差が減算器2.6によって各々得られ、それ
らが加算器24によって加算されてフォーカスエラー信
号F、が得られる。加算器25は光検知器9a、。
乃至9dの、出、力を加算するからディスク乙に記録さ
れた信号のR,F信号Sに対応した信、号を出力する。
次に本発明に係る光学式ビノクア1プ装@ f7) i
+、9整方法につい1述でる。先ず第1の調整を行う。
すなわち光検知器9に入射するビームの光軸(ス11 ポットの中心)を光検知器9の□中ノ蔽と一致させる調
整を行う。そのために対物レンズ5に:対向して設けた
ディスク又はミラーを充分□大きぐ(少くとも光検知器
9上′に第4図に示す如き線像が形成される程1すに)
面振れさせ、フォーカスエラー信号Fをシンクロスコー
プ等で観測する。この時フォーカスサーボループは開放
されぞいるので面振れに対応して第3図に示す如きS字
状の特性が観測さ□れる。そしてネジ19を回転させ先
ず□シリンドリカルレンズフを第7図におけるχ□軸方
向□に移動させる。そうすると光検知器9上におけるビ
ームスポットは軸′九と垂直な方向(シリンド刀効ルレ
ンズ8の軸8aの方向)に移動し、第V図VC””kけ
るフォーカスエラー信号Fの佃のピー□外<1=・On
・にお□けるピーク)が増減するので□、このピ□−ク
′□:が最・犬となったところでネジ19を固定する。
点のnに:ぢけ□るピークが′量大となるのは第4図(
a)に示す如く線像が光検知器9a、9dに′のみ結画
像され、光検知器9b、”9cには結像されないときで
ある。
次に1シリンドリカルレンズ8が対応□する′:・ネジ
19を回転させシリンドリカルレンズ8を第7図にオ・
5いてX軸方向に移動させる。シリンドリカルレンズ8
の移動方向は後述する如くシリンドリカルレンズ7の移
動方向と平行である必要はないが、平行とすることによ
り調整作業を同一方向から行・うこと/JZでき調整作
業が容易となる。シリンドリカルレン”ズ8を、移動さ
せると光検知器9上におけるビームスポットは軸8aと
垂直な方向(シリンドリカルレンズ7の軸7aの方向)
に移動し、第6図におけろフォーカスエラー信号Fの負
のピーク(点O,fに、おけ:るピーク)が増減するの
で、とのビー、りが最小(負に最大)となったところで
ネジ19を固定する。点Cfにお・けるピークが最小と
なるのは第4図(b)に示す如く線像が光検知器9b、
9Cにのみ結像され、光検知器9a、 9dには結像き
れないときである。
以上の調整により光軸ど、垂直な面内(χ、7面内)に
お・ける2方向においてビームの光軸が光検知器9の中
心に合わされたので、ビームの光軸は光検知器9の中心
と略一致したことになる。
尚ここVれ(いて!侍ぐ在す染才は、/リントリカルレ
ンズ7.8の谷yzO調幣にt6いて一方のイ)九1整
が他方の、IAi整1c 1t’J A9’彰稀なぢ六
/Cいことである(シリンド1カルレンズ7(又は8)
を移動しても点(hi又はan )のピークはかわらな
い、l;にのこと夕べら(に説明すると、星検知器9−
ヒゾ)中心と尤(痩知器♀11 VX照射さ41イ)ビ
ーノ・の光軸とを−・@)せる第1の調−書にセロい゛
(は)r′戸抽と垂直な面内で光学部品な2IIIII
Iノj向に移ゼ1さ)トイ)必lyがル)ろが、一方向
&);+l!A整が11)1方向())調整しr Q’
、 弾ケ及ぼ−J−o、) &i、一方向ζノ)調整へ
・シ、た時′yY:検知器9トのスポットが移動する方
向が他方向の調整をした時スポットが移動するji向と
11′1角でない場合である。しかし′f、「ノフ;ら
本発明1.lC↑6いては、シリンド11カルレンズ7
yは8へ・移動し15一時)Y7険知11!% 9トl
こおいてスポットが移動する方向は各々[抽7 a、 
、、、”;:は8aと直角な方向であり、 ’I’ll
+ 711と1nl+ s aとは直角に配信されてい
るので結局スー15 ノドの(多動1方向も打114.
 rtr泊角となるのである。す/工わちシリンドリカ
ルレンズ7.8は各々の1lQI+ 7 n、8aと直
角な方向にのみ1/ンズ作用(ビームを偏向させる作J
1])を有し1、iMI+ 7 a、8aと平行な方向
にはレンズ作用を何しこいないので、シリンドリカルレ
ンズ7又はBヶ各々のIQII 7 a又jj13nの
方向に# #b fる場合(この場合はベボノトの位M
は変化t7 jよい)を除き、光軸と垂直!工面内のい
す11の方向(本夾施例に3℃・ては」((CX na
h ji向)に移動してもスポットは軸7a又は8aと
直角なノJ゛向(め各各移動するのである。例えばシリ
ンドリカA/し:/ズ7又は8を各々E抽7a又は8a
と曲直な方向に4肋1させるようにしてもスポットの接
継11方向4′1各/Z il^1(7a又は8aと直
角な方向である(この場合は、シリンドリカルレンズ7
のホルダ17の光41I+と乗直な面と、その面と対向
するシリンドリカルレン′7′8のホルダ17の光軸と
垂直な面とが相顔に接触し2ており、調整時一方の面が
他方の面をプjイドとするようになされているようなと
な、一方のホノトダ17の移動により他方のホルダ17
も移動してI7まうことを防止する効果を奏する)。従
ってシリンドリカルレンズ7又は8の移動方向について
の厳密な管理は必1゛シも必要でない。ただ軸7aと東
1+ s aとを略直角に紺侍することは従来技術の場
合と同様にフォー カスエラー信号1・”の対称性を確
保するために一必夾であるから、このことをより確実と
するたy)に、シリンドリカル[、/ンズ7及び8のホ
ルダ17が摺動する昔1Bの底平面を同一]′面と[7
て形成することができろ。この」二うにすればシリンド
リプノルレンズ7と8のホルダ17は各々同一の茫で7
本面上を摺動すること1/1′なるので両者の111対
的取イ」誤差をより少くすることがでとる。
第1の調整が終了した後、二n2の調整を行)。第2の
M!l’l!整(i先ずス・ジ16をゆるめ、孔14.
15に偏心ドライバを差し込んで回転させ、コリメータ
レンズ2を保持するボルダ11を光:I+l+力向bτ
移り1き−げることによって行う。この時ツメ−・−ノ
ノスーLラー信号Fと埃i77 RF信号に対シトスす
る信号S (l(F信号で1、V:くともi″′′イス
クミラーが対物l/ンズ5の焦点深度内に位置[−7た
ことが判別できろイイ号であればよい)をiヅj 1t
lllする。i省号Sの1/ □(fi−が最大となる
(ディスク6やミラ・−が対物レン、<Sの焦点性)σ
−内vCする)時、フォーカスエラー信号Fが負であれ
ばホルダ11を光源1から遠ざけろ方向υで、また正で
あれば近づける方向に各々移@、さ1:、フォーカスエ
ラー信号Fの零クロス点0にオX5℃・−CfK −シ
’rSのレベルが最大となるようにし。そこ−(・ネら
ン16を固定する。
ディスク6が焦点深度内にあるにも拘らずフォーカスエ
ラー信号Fが負であると℃・うことは、本来第2図(1
))に示す如く各光検知器9a乃439dσ)受光量が
等L <あるべきところが、第2図(ε1)に示す如く
光検知器9b、9Cの方が光検知器9a、9dより多く
受光17ていることを意味する。そこでコリメータレン
ズ2を光源1かも遠ざけてコリメータレンズ2から出る
ビームをより発散する傾向にすることにより、光検知器
9a、9dの受電量をより増加させると共に光検知器9
b、9Cの受光量をより減小させ、もって各党検知器9
a乃至?dの受″NZ令が等しくなる(光検知器9上の
スボ、/)が丸学的1(真円になる)ようV:、するの
である。
一方デイスクロが焦点深度内にあるにも拘らずフォーカ
スエラー信号FがIFであるときは、ト述した場合と逆
方向に調整すれば各党検知器9a乃至9(3の受光tを
等しくすることができるこ去は明らかである。
斯かる第2の調整を光1源1とコリメータレンズ2との
相対距離を変化させることにより行う本発明は、シリン
ドリカニルレンズ7.8と光検知器9の相対距離を変化
させる従来の場合と比較して次のような効果を奏する。
第1に、上記第1の調整に悪影響を与えろおそれが少い
、すなわちシリンドリカルレンズ7.8と光検知器9と
は一ヒ述した如く光軸と垂直な面内にお(・て所定の方
向に配置される必要がある(光検知器9の分割線とシリ
ンドリカルレンズ7.8の+14f+ 7 a、8aと
は相互に略45度の角度をなすように配置される必要が
ある)が、シリンドリカルレンズ7.8と光検知器夕の
光軸方向の相対距離を変化させて第2の調整を行うよう
にすると、そもそも他の軸方向には影響を与えず完全に
1軸(光軸)方向にのみ物体を移動させることは困難で
あることと、第1の調整のための移動をも考慮するとシ
リンドリカルレンズ7.8又は光検知器9のうち一方は
少くとも2軸方向に移動自在でなければならないことと
が相俟って、光重11と垂直な面内における変化が生じ
易くなるのである。しかもシリンドリカルレンズ7.8
と光検知器9とはビームを集束させる光学系を構成して
いるので、この変化は例えわずかであっても取付精度に
大きく影響してくるのである。これに対して光源1とコ
リメータレンズ2との相対距離を変化させるようにする
場合は、第1の調整のための移動方向を考慮しても□各
光学部品の移動方向を1軸方向のみとすることができ、
光軸と垂直な面内にt6いて発生する変化を小さくする
ことができる。17かも光源1とコリメータレンズ2と
は光軸と垂直な面内における斯かる方向性を一般的に有
しておらず(光□源1として半導体レーザを使用した場
合放出ビームの断面は必ずしも円形とならないことがあ
るが、光検知器90分割線と軸7a、8aの方向性に較
べれば殆んど無視することができる)、また光源1より
発せられたビームはコリメータレンズ2により略平行ビ
ームとされるに過ぎないから、例え光源1とコリメータ
レンズ2との光軸分向のi周整時に光軸と垂直な面内に
おける移動が生じバとしても、シリンドリカルレンズ7
.8と光検知器9あ光軸と垂直な面内における方向性に
与える影響ヲ門極めて小さいものとなる。      
 □ “第2に調整後最終的に残る取付−差を小さくすること
ができる。す□なわも光源1より漬射されたビームが対
物レン身5に平行に入射する挨態パ、対物レンズ5編収
差の少し□・状態で使用す暮ことができる理想的な状′
態である。換言すれば鉛物レンズ5によりビームが集束
され乞装置が、第1図に示す如くビームが対物レンズ5
に対しソ神想的に平行に入射し元時集束する位置にでき
るだけ近い方が理想的な状態に近い。光源1″とコリメ
ータレンズ2との光軸方向島相対的位瞳に□関j木取付
誤差な△X1とし、光源1、コリメータレンズ2、ビー
ムスプリッタ3.1/4波長板4、□対物レシーズ5′
により構成される□入射ビー□ム系の縦倍率をに、(k
+(ft / ft )2、但しf、は高吟1/ンズ5
の焦点距離、f2はコリメータレンズ2の焦点距離)と
した場合、対物レンズ5によ乞ビームの集束位置が理想
的位置よりずれる距離り、は、L、=ΔX+/’kiと
なる。一方シリレトリカルレンズ7.8と光検知器9と
の光軸方向の相対的位置に関□する取付誤差をべx2と
し、対物レンズ5.1/4波長板4、ビームスフリツタ
3、シリンドリカルレンズ7.8、光検知器9により構
成される反射光学系の縦倍率をに7(k2−+(fg 
/f+ )2、但しf、はシリントリミルレンズ7.8
の平均焦点距離)とした場合、光検知器9上に真円のス
ポットを形成せしめるために泣面すべき対物レンズ5の
集束点が理想的位置からずれる距離L2は、L2−△X
2 / k2とムる。両方の取付誤差△X1、△X2を
等しいと仮定l−ても、距離L1は距mL2より大□き
く燥ろめが一般的である。けだしコリメータレンズ2を
光源1から遠ざけると光源1より発散され□るビームの
有効利用率が低下するためにコリメ“ニタレンノシの焦
点距1lsf2は余り犬きkするこ左ができないめに対
して、光検知器9とシリンドリカぶレンズ7.8の光軸
と垂直な面内におげる数句精度の帳し7さを軽減するた
めには、シリンドリカルレンズ7.8の平均焦点距離f
3は大きい方が有利となるからである。従ってコリメー
タ1/ンズ2と光検知器9のうら(・ずれか一方のみを
光軸方向に調整するとすれば、コリメータレンズ2を、
iI、′、I整した方が理想的状態に対する残留誤差を
小さくすることができる。
対物レンズ5に平行にビーノ・が入射するよう1で調整
す4為ためには、対物レンズ5を1π体10に取付ける
^IIにモニタカメラ等でビームの平行状態を観測しな
がら光)原1とコリメータ1/ンズ2との距離4・調整
l〜、しかる後対物レンズ5を筐体10に取付けること
も考えられるが、こうすると調整工程が?U雑となりコ
スト高と!、cって晩生用機器に使用する)°C学式ピ
ンクアノグ装買の調整H法としては非実用的である。
第9図は光源1とコリメータレンズ2のホルダ11との
光軸方向の距離を調整するための第2の実施例を原理的
f表わしている。すなわち筺体10の段部iobとホル
ダ11との間にはスプリング26が介在しており、ホル
ダ11を図中ド方に付勢す4)ようになっている。27
は筐体10に螺合すると共に、−・方の端部がホルダ1
1を押圧するように設けられた調整ネジであり、中心に
はビームを通過させ′7.)孔28が設けられている。
ネジ27を回転させることによってホルダ11の位置を
光軸方向に調整d目iLであることは明らかである。
尚上記実施例においてはコリメータ1/ンズ2σ)位置
を光源1に対して光軸方向に調整するようにしたが、光
源1をコリメータレンズ2に対して光軸方向に調整する
ようにしてもよし・。
また上記実施例においてはフ十−力スエラー4R号の対
称性を良くするために、シリンドリカルレンズを2枚使
用したが、対称性を犠牲にするのであればシリンドリカ
ル1/ンズ7を平凸レンズとl〜てもよい。この場合は
シリンドリカルレンズ8をヒ述した如くに調整すると共
に、光検知器9をシリンドリカルレンズ8の軸8aと垂
直な方向に調整するようにして第1の調整を行うのがよ
い。
さらに非点収差を与える光学素子としてはシリンドリカ
ルレンズ以外のもの、例えばくさび形ブリズノ、を使用
するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は光学式ピックアップ装置の概略図、第2図及び
第4図は光検知器上のスボシトの形状を示すIF而面、
第6図はフォーカスエラー信号の特性図、第5図は本発
明に係る光学式ピックアップ装置の構造を示す部分断面
図、第6図は本発明に係るシリンドリカルレンズの保持
構造の原理図、第7図はシリンドリカルレンズと光検知
器との光軸と垂直な面内圧おける位置関係を示す概略図
、第8図は光検知器より出力を取り出すための回路図、
第9図は光源とコリメータ1/ンズの光軸方向の位置を
調整する第2の実施例を示す原理図を各々長わす。 1 ・・・・・・光?N     2 ・・・・・・コ
リメータレンズ3・・・・・・ビーノ、スプリッタ  
  4・・・・・・1/4波長板5・・・・・・対物レ
ンズ   6・・・・・・ディスク7.8・・・・・・
シリンドリカルレンズ9・・・・・・光検知器  11
.17・・・・・・ホルダ第3図 第4図 −”” ” (”a )   (b) 第5図 第6図 fσ         fOa 第7図     。 調髪り向 第8図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (11iX体と、該1“室体に配〜された半導体レーザ
    、コリメータレンズ、ビームスグリツタ、対物レンズ、
    非点収差を/jえる光学素子及び光検知器とる・有し、
    該半導体レーザより発せられたレーザ光を該コリメータ
    レンズにより略平行光とし、該平行)ICを該ビームス
    プリッタを介L7て該対物レンズに入射せしめ、該対物
    レンズにより、核し−ジ′光を情報が記録されたディス
    ク((収束して照射17、該ディスクにて反射された該
    レーザ光を該対物1/ンズ、該ビームスプリッタ、該>
    ”t、学素子を経て該光検知器に照射する光学式ヒ、ツ
    クアップ装置であって、該対物レンズは該光検知器の出
    力信号より得られるフォーカスエラー信号によって駆動
    されるアクチーエータを介1〜て該1π体に固定されて
    いると共に、該コリメ・−タレンズはホルダに同定され
    ており、該筐体には該半導体1/−ザから核ビーノ、ス
    プリッタの一7i向に向かう該レーザ光の/こめの油路
    が形成さf]でオt)、該コリメータレンズが1〆11
    宇されたボ/l、ダは該通路内において、核レーザ光の
    )Y: Ifih Jj向に移動自在となされてtvす
    、該筐体j〆こは該ホルダσ゛)該1?r3路内におけ
    る光軸方向の位置な外部より移動調整可能とする孔と、
    該ホルダを所定位置で外部より該光軸と垂直な方向から
    固定する固定手段とが設けられていることを特徴とする
    光学式ビノクア7プ装置。 (2)  該ホルダは付勢手段によ1)その光軸方向に
    付勢力が何体されていることを特徴とする特g′F請求
    の範囲第1項の光学式ピックアップ装f。 (3)  該通路は断面が略円形をしており、該ホルダ
    は略円柱状をしており、該ホルダの外周面が該通路の円
    周面をガイドとして摺動するようになっていることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項の光学式ビノ
    クアノグ装置。 (4)  該光学素子は該光検知器に向かう該レーザ光
    の光軸と略垂直な面内において移動調整可能であること
    妃特徴とする特許請求の範囲第1項、第2項又は第3項
    の光学式ピックアップ装置。 (5) 核光検知器は4分割き、、れており、墾光学素
    子 。 はその軸が該光検扁器の□分割線罠対して略遇5度 □
    をなすように配置されたシリ:シトリカルレンズ □で
    あることを特徴とする特許d、町求の範囲第4項の光学
    式ピックアップ装置。 (6)  該シリンドリカルレンズはその軸が相互に略
    垂直となるように2個配置され、各該シリンドリカルし
    てズは該光軸と垂直な面内において相互に独立に移動調
    整可能であることを特徴とする特許請求の範囲第5項の
    光学式ピックアップ装置。  ・ (7)各該シリンドリカルレンズの移動調整方向は相互
    に略平行であることを特徴とする特許請求の範囲第6項
    の光学式ピックアップ装置。 (8)各核シリンドリカルレンズの移動調整方向は相互
    に略垂直であることを特徴とする特許請求の範囲第6項
    の光学式ピックアップ装置。
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