JP2605760B2 - フォーカス検出装置 - Google Patents
フォーカス検出装置Info
- Publication number
- JP2605760B2 JP2605760B2 JP62301269A JP30126987A JP2605760B2 JP 2605760 B2 JP2605760 B2 JP 2605760B2 JP 62301269 A JP62301269 A JP 62301269A JP 30126987 A JP30126987 A JP 30126987A JP 2605760 B2 JP2605760 B2 JP 2605760B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- light
- detectors
- detector
- divided
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 Ａ 産業上の利用分野 本発明はフオーカス検出装置に関し、例えば光磁気デ
イスク装置の光ヘツドに用いられるフオーカス検出装置
に適用して好適なものである。
イスク装置の光ヘツドに用いられるフオーカス検出装置
に適用して好適なものである。
Ｂ 発明の概要 本発明は、フオーカス検出装置において、複数に分割
された第１及び第２のデイテクタを、各分割線が交差す
るように配置することにより、第１及び愛２のデイテク
タが配置された基板と光学素子とがずれた状態で取り付
けられたときにも、基板を含む平面上でフオーカス検出
装置全体を移動することにより、第１及び第２のデイテ
クタ上にそれぞれ正しく光スポツトを形成するように調
整し得る。
された第１及び第２のデイテクタを、各分割線が交差す
るように配置することにより、第１及び愛２のデイテク
タが配置された基板と光学素子とがずれた状態で取り付
けられたときにも、基板を含む平面上でフオーカス検出
装置全体を移動することにより、第１及び第２のデイテ
クタ上にそれぞれ正しく光スポツトを形成するように調
整し得る。
Ｃ 従来の技術 従来、この種の光磁気デイスク装置においては、例え
ば半導体レーザ装置より射出されたレーザ光が、記録媒
体としての光磁気デイスク上に正しく集光して、光スポ
ツトを形成するために、レーザ光の光磁気デイスクから
の戻り光を用いてフオーカスエラーを検出するフオーカ
ス検出装置を有するものが用いられている。
ば半導体レーザ装置より射出されたレーザ光が、記録媒
体としての光磁気デイスク上に正しく集光して、光スポ
ツトを形成するために、レーザ光の光磁気デイスクから
の戻り光を用いてフオーカスエラーを検出するフオーカ
ス検出装置を有するものが用いられている。
すなわち、第３図に示すように光磁気デイスク装置１
において、半導体レーザ装置２から射出されたレーザ光
L0は、コリメータレンズ３において平行光に変換された
後、ビームスプリツタ４を介して対物レンズ５に入射さ
れ、対物レンズ５が当該平行光を光磁気デイスク６上に
入射光ビームL1の光スポツトとして結像させる。
において、半導体レーザ装置２から射出されたレーザ光
L0は、コリメータレンズ３において平行光に変換された
後、ビームスプリツタ４を介して対物レンズ５に入射さ
れ、対物レンズ５が当該平行光を光磁気デイスク６上に
入射光ビームL1の光スポツトとして結像させる。
光磁気デイスク６から得られる反射光ビームL2は、対
物レンズ５、ビームスプリツタ４、1/2波長板７及び集
光レンズ８を介して偏光ビームスプリツタ９に入射され
る。偏光ビームスプリツタ９は、例えばプリズムで構成
されており、1/2波長板７を介して所定分だけ偏光方向
が回転されて到来した反射光ビームL2に含まれるＰ成分
及びＳ成分を分割して、それぞれ偏光ビームスプリツタ
９の下面に接着等の手法で設けられた基板10上の第１及
び第２の３分割デイテクタ11及び12に導入する。
物レンズ５、ビームスプリツタ４、1/2波長板７及び集
光レンズ８を介して偏光ビームスプリツタ９に入射され
る。偏光ビームスプリツタ９は、例えばプリズムで構成
されており、1/2波長板７を介して所定分だけ偏光方向
が回転されて到来した反射光ビームL2に含まれるＰ成分
及びＳ成分を分割して、それぞれ偏光ビームスプリツタ
９の下面に接着等の手法で設けられた基板10上の第１及
び第２の３分割デイテクタ11及び12に導入する。
かくして光磁気デイスク装置１としては、第１及び第
２の３分割デイテクタ11及び12からそれぞれ得られる受
光出力の総和の差分を用いて、ノイズ成分を低減した再
生出力を得るようになされている。
２の３分割デイテクタ11及び12からそれぞれ得られる受
光出力の総和の差分を用いて、ノイズ成分を低減した再
生出力を得るようになされている。
ここで、第１及び第２の３分割デイテクタ11及び12は
第４図に示すように、基板上でそれぞれの分割線L11A、
L11B及びL12A、L12Bが同一直線上に存在するように配置
されており、再生出力を得ることに加えて、第１及び第
２の３分割デイテクタ11及び12から得られる各受光出力
を所定の演算を行うことにより、偏光ビームスプリツタ
９、基板10、第１及び第２の３分割デイテクタ11及び12
は全体としてフオーカス検出装置13を構成して、光磁気
デイスク６上のフオーカスエラーを検出するようになさ
れている。
第４図に示すように、基板上でそれぞれの分割線L11A、
L11B及びL12A、L12Bが同一直線上に存在するように配置
されており、再生出力を得ることに加えて、第１及び第
２の３分割デイテクタ11及び12から得られる各受光出力
を所定の演算を行うことにより、偏光ビームスプリツタ
９、基板10、第１及び第２の３分割デイテクタ11及び12
は全体としてフオーカス検出装置13を構成して、光磁気
デイスク６上のフオーカスエラーを検出するようになさ
れている。
すなわち、偏光ビームスプリツタ９においては、入射
される反射光ビームL2は、半導体レーザ装置２から射出
された入射光ビームL1が光磁気デイスク６上に正しく集
光したとき（すなわち、ジヤストフオーカス状態のと
き）、偏光ビームスプリツタ９の偏光面9A及びミラー面
9B間の真中の位置Ｏに焦点を形成するようになされてお
り、逆に入射光ビームL1が光磁気デイスク６上に正しく
集光していないとき（すなわち、フオーカスエラー状態
のとき）、偏光面9A及びミラー面9B間の真中の位置Ｏか
らずれて焦点が形成されるようになされている。
される反射光ビームL2は、半導体レーザ装置２から射出
された入射光ビームL1が光磁気デイスク６上に正しく集
光したとき（すなわち、ジヤストフオーカス状態のと
き）、偏光ビームスプリツタ９の偏光面9A及びミラー面
9B間の真中の位置Ｏに焦点を形成するようになされてお
り、逆に入射光ビームL1が光磁気デイスク６上に正しく
集光していないとき（すなわち、フオーカスエラー状態
のとき）、偏光面9A及びミラー面9B間の真中の位置Ｏか
らずれて焦点が形成されるようになされている。
これにより、ジヤストフオーカス状態のとき第１及び
第２の３分割デイテクタ11及び12上に等しい大きさの光
スポツトSP1及びSP2を形成し、フオーカスエラー状態の
とき異なる大きさの光スポツトSP1及びSP2を形成するよ
うになされ、第１及び第２の３分割デイテクタ11及び12
から得られる各受光出力を所定の演算を行うことによ
り、光磁気デイスク６上のフオーカスエラーを検出し得
る。
第２の３分割デイテクタ11及び12上に等しい大きさの光
スポツトSP1及びSP2を形成し、フオーカスエラー状態の
とき異なる大きさの光スポツトSP1及びSP2を形成するよ
うになされ、第１及び第２の３分割デイテクタ11及び12
から得られる各受光出力を所定の演算を行うことによ
り、光磁気デイスク６上のフオーカスエラーを検出し得
る。
なお実際上、第１及び第２の３分割デイテクタ11及び
12に入射する反射光ビームL2の光量は、光磁気デイスク
６上に記録されたデータに応じて異なるため、例えば第
１の３分割デイテクタ11の第２及び第３のフオトデイテ
クタ11B及び11Cから得られる第２及び第３の受光出力を
それぞれ電圧変換して加算し、この加算結果から第２の
３分割デイテクタ12の第１のフオトデイテクタ12Aから
得られる第１の受光出力を電圧変換して減算した第１の
演算結果と、第２の３分割デイテクタ12の第２及び第３
のフオトデイテクタ12B及び12Cから得られる第２及び第
３の受光出力をそれぞれ電圧変換して加算し、この加算
結果から第１の３分割デイテクタ11の第１のフオトデイ
テクタ11Aから得られる第１の受光出力を電圧変換して
減算した第２の演算結果とをさらに減算してフオーカス
エラー電圧を得るようになされている。
12に入射する反射光ビームL2の光量は、光磁気デイスク
６上に記録されたデータに応じて異なるため、例えば第
１の３分割デイテクタ11の第２及び第３のフオトデイテ
クタ11B及び11Cから得られる第２及び第３の受光出力を
それぞれ電圧変換して加算し、この加算結果から第２の
３分割デイテクタ12の第１のフオトデイテクタ12Aから
得られる第１の受光出力を電圧変換して減算した第１の
演算結果と、第２の３分割デイテクタ12の第２及び第３
のフオトデイテクタ12B及び12Cから得られる第２及び第
３の受光出力をそれぞれ電圧変換して加算し、この加算
結果から第１の３分割デイテクタ11の第１のフオトデイ
テクタ11Aから得られる第１の受光出力を電圧変換して
減算した第２の演算結果とをさらに減算してフオーカス
エラー電圧を得るようになされている。
Ｄ 発明が解決しようとする問題点 ところがかかる構成のフオーカス検出装置13において
は、プリズムで構成された偏光ビームスプリツタ９と、
第１及び第２の３分割デイテクタ11及び12が形成された
基板10とを接着等の手法を用いて、貼り付ける際に高い
取付け角度精度が必要とされる。
は、プリズムで構成された偏光ビームスプリツタ９と、
第１及び第２の３分割デイテクタ11及び12が形成された
基板10とを接着等の手法を用いて、貼り付ける際に高い
取付け角度精度が必要とされる。
すなわち偏光ビームスプリツタ９と、基板10とを貼り
付ける際に、第５図に示すように、偏光ビームスプリツ
タ９の光軸方向と第１及び第２の３分割デイテクタ11及
び12の分割線L11A、L11B及びL12A、L12Bの方向との間に
角θ１だけのずれが生じると、第１及び第２の３分割デ
イテクタ11及び12上に形成されるそれぞれの光スポツト
SP11及びSP12にずれが生じ、結局検出されるフオーカス
エラー電圧に誤差を生じるおそれを回避できなかつた。
付ける際に、第５図に示すように、偏光ビームスプリツ
タ９の光軸方向と第１及び第２の３分割デイテクタ11及
び12の分割線L11A、L11B及びL12A、L12Bの方向との間に
角θ１だけのずれが生じると、第１及び第２の３分割デ
イテクタ11及び12上に形成されるそれぞれの光スポツト
SP11及びSP12にずれが生じ、結局検出されるフオーカス
エラー電圧に誤差を生じるおそれを回避できなかつた。
因にこのようなずれ角θ１が生じると、Ｚ軸方向から
入射する反射光ビームL2に対して、フオーカス検出装置
13全体をＸ軸、Ｙ軸方向に任意の調整量Δx、Δyだけ動
かしても、結局ずれ角θ１を解消することができず、ず
れ角θ１が所定角以上に大きくなるとフオーカスエラー
電圧のみならず、再生出力も得ることができないという
問題があった。
入射する反射光ビームL2に対して、フオーカス検出装置
13全体をＸ軸、Ｙ軸方向に任意の調整量Δx、Δyだけ動
かしても、結局ずれ角θ１を解消することができず、ず
れ角θ１が所定角以上に大きくなるとフオーカスエラー
電圧のみならず、再生出力も得ることができないという
問題があった。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、従来の
フオーカス検出装置の問題を一挙に解決して偏光ビーム
スプリツタと、基板とを貼り付ける際にずれが生じても
容易に調整して正しくフオーカスエラー信号を検出し得
るフオーカス検出装置を提案しようとするものである。
フオーカス検出装置の問題を一挙に解決して偏光ビーム
スプリツタと、基板とを貼り付ける際にずれが生じても
容易に調整して正しくフオーカスエラー信号を検出し得
るフオーカス検出装置を提案しようとするものである。
Ｅ 問題点を解決するための手段 かかる問題点を解決するため本発明においては、第１
の方向に分割された複数の光検出部を有する第１のデイ
テクタ22と、第２の方向に分割された複数の光検出部を
有する第２のデイテクタ23と、第１及び第２のデイテク
タ22、23が並んで配置される基板21と、基板21の上方に
配置され、かつ光学記録媒体６にレーザ光L1を集光した
ときに当該光学記録媒体６からの反射光L2を第１及び第
２のデイテクタ22、23に導く光学素子９とを備え、第１
及び第２のデイテクタ22、23の検出出力に基づいてレー
ザ光L1が光学記録媒体６上に正しく集光された否かを示
すフオーカスエラー信号を検出するようになされたフオ
ーカス検出装置20において、第１及び第２のデイテクタ
22、23は、当該第１のデイテクタ22の各光検出部を分割
する分割線L22A、L22Bと当該第２のデイテクタ23の各光
検出部を分割する分割線L23A、L23Bとが互いに交差する
ように基板上21に配置されるようにした。
の方向に分割された複数の光検出部を有する第１のデイ
テクタ22と、第２の方向に分割された複数の光検出部を
有する第２のデイテクタ23と、第１及び第２のデイテク
タ22、23が並んで配置される基板21と、基板21の上方に
配置され、かつ光学記録媒体６にレーザ光L1を集光した
ときに当該光学記録媒体６からの反射光L2を第１及び第
２のデイテクタ22、23に導く光学素子９とを備え、第１
及び第２のデイテクタ22、23の検出出力に基づいてレー
ザ光L1が光学記録媒体６上に正しく集光された否かを示
すフオーカスエラー信号を検出するようになされたフオ
ーカス検出装置20において、第１及び第２のデイテクタ
22、23は、当該第１のデイテクタ22の各光検出部を分割
する分割線L22A、L22Bと当該第２のデイテクタ23の各光
検出部を分割する分割線L23A、L23Bとが互いに交差する
ように基板上21に配置されるようにした。
Ｆ 作用 複数に分割された第１及び第２のデイテクタ22、23
を、各分割線L22A、L22B及びL23A、L23Bが互いに交差す
るように基板上に配置したことにより、当該第１及び第
２のデイテクタ22、23が配置された基板21と光学素子９
とがずれた状態で取り付けられたときにも、フオーカス
検出装置20全体を基板21を含む平面上で、Ｘ軸及び又は
Ｙ軸方向に任意の調整量だけ移動させることにより、第
１及び第２のデイテクタ22、23上にそれぞれ正しく反射
光L2の光スポツトを形成するように調整できる。
を、各分割線L22A、L22B及びL23A、L23Bが互いに交差す
るように基板上に配置したことにより、当該第１及び第
２のデイテクタ22、23が配置された基板21と光学素子９
とがずれた状態で取り付けられたときにも、フオーカス
検出装置20全体を基板21を含む平面上で、Ｘ軸及び又は
Ｙ軸方向に任意の調整量だけ移動させることにより、第
１及び第２のデイテクタ22、23上にそれぞれ正しく反射
光L2の光スポツトを形成するように調整できる。
Ｇ 実施例 以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。
第３図との対応部分に同一符号を付して示す第１図に
おいて、20は全体として本発明によるフオーカス検出装
置を示し、その基板21上に、エツチング等により設けら
れた１対の第１及び第２の３分割デイテクタ22、23の各
分割線L22A、L22B及びL23A、L23Bはそれぞれの３分割デ
イテクタ22、23の中心を結んでなる基板21の中心線21L
に対して、符号の異なる所定の角度（この実施例の場
合、それぞれ±５°）だけ傾けて配置されており、これ
によりその各分割線L22A、L22B及びL23A、L23Bが交差す
るようになされている。
おいて、20は全体として本発明によるフオーカス検出装
置を示し、その基板21上に、エツチング等により設けら
れた１対の第１及び第２の３分割デイテクタ22、23の各
分割線L22A、L22B及びL23A、L23Bはそれぞれの３分割デ
イテクタ22、23の中心を結んでなる基板21の中心線21L
に対して、符号の異なる所定の角度（この実施例の場
合、それぞれ±５°）だけ傾けて配置されており、これ
によりその各分割線L22A、L22B及びL23A、L23Bが交差す
るようになされている。
以上の構成において、例えば偏光ビームスプリツタ９
を基板21上に取り付ける際に、それぞれの３分割デイテ
クタ22、23の中心を結んでなる基板21の中心線9Lの方向
（これをＸ軸方向と呼び、これと直交する方向をＹ軸方
向、さらに反射光ビームL2の入射方向をＺ軸方向と呼
ぶ）に対して偏光ビームスプリツタ９の光軸9Lが、ずれ
角θ10だけずれて貼り合わされると、第１及び第２の３
分割デイテクタ22及び23上に形成されるそれぞれの光ス
ポツトSP21、SP22にずれが生じる。
を基板21上に取り付ける際に、それぞれの３分割デイテ
クタ22、23の中心を結んでなる基板21の中心線9Lの方向
（これをＸ軸方向と呼び、これと直交する方向をＹ軸方
向、さらに反射光ビームL2の入射方向をＺ軸方向と呼
ぶ）に対して偏光ビームスプリツタ９の光軸9Lが、ずれ
角θ10だけずれて貼り合わされると、第１及び第２の３
分割デイテクタ22及び23上に形成されるそれぞれの光ス
ポツトSP21、SP22にずれが生じる。
この場合、先ずフオーカス検出装置20を例えば顕微鏡
等で目視確認しながら、基板21を含む平面上においてＸ
軸及びＹ軸方向に任意の移動量だけ移動させて、第１の
３分割デイテクタ22を基準にしてその中心位置に光スポ
ツトSP21が正しく照射されるように調整する。このよう
にすると第２の３分割デイテクタ23上には、その中心位
置からΔy10だけずれた位置に光スポツトSP22が照射さ
れる。
等で目視確認しながら、基板21を含む平面上においてＸ
軸及びＹ軸方向に任意の移動量だけ移動させて、第１の
３分割デイテクタ22を基準にしてその中心位置に光スポ
ツトSP21が正しく照射されるように調整する。このよう
にすると第２の３分割デイテクタ23上には、その中心位
置からΔy10だけずれた位置に光スポツトSP22が照射さ
れる。
この状態でさらに続いて、第２図に示すようにフオー
カス検出装置20を第１の３分割デイテクタ22の分割線L
22A、L22Bと平行な方向に任意の移動量だけ移動させる
ことにより、第２の３分割デイテクタ23上を照射する光
スポツトSP32が、その分割線L23A、L23Bと平行な方向の
第２の３分割デイテクタ23の中心線上を照射するように
調整することができる。
カス検出装置20を第１の３分割デイテクタ22の分割線L
22A、L22Bと平行な方向に任意の移動量だけ移動させる
ことにより、第２の３分割デイテクタ23上を照射する光
スポツトSP32が、その分割線L23A、L23Bと平行な方向の
第２の３分割デイテクタ23の中心線上を照射するように
調整することができる。
実験によれば、第１及び第２の３分割デイテクタ22、
23の中心間の距離を、例えば距離２〔mm〕、第１及び第
２の３分割デイテクタ22、23の中心線に対する傾きをそ
れぞれ角θ20（＝５°（又は＝10°））とし、さらにＸ
軸方向の移動可能範囲Δxを0.1〔mm〕とすると、これに
よるＹ軸方向の調整可能範囲Δy、すなわち許容誤差
は、次式、 Δy＝２・Δx tanθ20 ……（１） で表されるように移動量Δy（＝17.5〔μｍ〕（又は＝3
5.3〔μｍ〕））だけの許容誤差を有する。これにより
偏光ビームスプリツタ９を基板21上に取り付ける際の、
３分割デイテクタ22、23の中心を結んでなる基板21の中
心線21Lの方向に対する偏光ビームスプリツタ９の光軸9
Lのずれ角θ10が角θ10＝0.5°（＝１°）以内のとき、
フオーカス検出装置20の調整により第１及び第２の３分
割デイテクタ22、23上にそれぞれ正しく光スポツトSP3
1、SP32を形成することができた。
23の中心間の距離を、例えば距離２〔mm〕、第１及び第
２の３分割デイテクタ22、23の中心線に対する傾きをそ
れぞれ角θ20（＝５°（又は＝10°））とし、さらにＸ
軸方向の移動可能範囲Δxを0.1〔mm〕とすると、これに
よるＹ軸方向の調整可能範囲Δy、すなわち許容誤差
は、次式、 Δy＝２・Δx tanθ20 ……（１） で表されるように移動量Δy（＝17.5〔μｍ〕（又は＝3
5.3〔μｍ〕））だけの許容誤差を有する。これにより
偏光ビームスプリツタ９を基板21上に取り付ける際の、
３分割デイテクタ22、23の中心を結んでなる基板21の中
心線21Lの方向に対する偏光ビームスプリツタ９の光軸9
Lのずれ角θ10が角θ10＝0.5°（＝１°）以内のとき、
フオーカス検出装置20の調整により第１及び第２の３分
割デイテクタ22、23上にそれぞれ正しく光スポツトSP3
1、SP32を形成することができた。
因に従来の構成において、Ｙ軸方向の調整可能範囲す
なわち許容誤差を移動量Δy（＝５〔μｍ〕）とする
と、ずれ角θ10が角θ10＝0.14°以内となる。
なわち許容誤差を移動量Δy（＝５〔μｍ〕）とする
と、ずれ角θ10が角θ10＝0.14°以内となる。
以上の構成によれば、一対の３分割デイテクタ22、23
を、その中心を結んでなる基板21の中心線21Lに対し
て、符号の異なる所定の角度θ20だけ傾けて配置してそ
の各分割線L22A、L22B及びL23A、L23Bが交差するように
したことにより、基板21と偏光ビームスプリツタ９とが
ずれた状態で取り付けられたときにも、フオーカス検出
装置20全体を基板21を含む平面上で、Ｘ軸及び又はＹ軸
方向に任意の調整量だけ移動させることにより、１対の
３分割デイテクタ22、23上にそれぞれ正しく光スポツト
SP31、SP32を形成するように調整し得るフオーカス検出
装置20を容易に実現できる。
を、その中心を結んでなる基板21の中心線21Lに対し
て、符号の異なる所定の角度θ20だけ傾けて配置してそ
の各分割線L22A、L22B及びL23A、L23Bが交差するように
したことにより、基板21と偏光ビームスプリツタ９とが
ずれた状態で取り付けられたときにも、フオーカス検出
装置20全体を基板21を含む平面上で、Ｘ軸及び又はＹ軸
方向に任意の調整量だけ移動させることにより、１対の
３分割デイテクタ22、23上にそれぞれ正しく光スポツト
SP31、SP32を形成するように調整し得るフオーカス検出
装置20を容易に実現できる。
さらに上述の実施例によれば、偏光ビームスプリツタ
９を基板21上に取り付ける際の、３分割デイテクタ22、
23の中心を結んでなる基板21の中心線21L方向に対する
偏光ビームスプリツタ９の光軸9Lのずれ角θ10の許容誤
差が従来と比して大きな値となされていることにより、
組立て精度を格段的に簡略化し得ると共にプラスチツク
パケージ化し得、さらに自動組み立て機械を用いて自動
的に製造することのできるフオーカス検出装置を実現で
きる。
９を基板21上に取り付ける際の、３分割デイテクタ22、
23の中心を結んでなる基板21の中心線21L方向に対する
偏光ビームスプリツタ９の光軸9Lのずれ角θ10の許容誤
差が従来と比して大きな値となされていることにより、
組立て精度を格段的に簡略化し得ると共にプラスチツク
パケージ化し得、さらに自動組み立て機械を用いて自動
的に製造することのできるフオーカス検出装置を実現で
きる。
なお、上述の実施例においては、本発明を光磁気デイ
スク装置の光ヘツドにおいてレーザ光のフオーカスエラ
ーを検出するフオーカス検出装置に適用したが、本発明
はこれに限らず、例えばコンパクトデイスク装置、ビデ
オデイスク装置等他の光情報記録再生装置の光ヘツドに
おいて用いられるフオーカス検出装置に適用して好適な
ものである。
スク装置の光ヘツドにおいてレーザ光のフオーカスエラ
ーを検出するフオーカス検出装置に適用したが、本発明
はこれに限らず、例えばコンパクトデイスク装置、ビデ
オデイスク装置等他の光情報記録再生装置の光ヘツドに
おいて用いられるフオーカス検出装置に適用して好適な
ものである。
Ｈ 発明の効果 上述のように本発明によれば、各分割線が互いに交差
するように第１及び第２のデイテクタを基板上に配置し
たことにより、基板と光学素子とがずれた状態で取り付
けられたときにも、フオーカス検出装置全体を基板を含
む平面上で、Ｘ軸及び又はＹ軸方向に任意の調整量だけ
移動させることにより、第１及び第２のデイテクタ上に
それぞれ正しく反射光の光スポツトを形成するように調
整し得るフオーカス検出装置を容易に実現できる。
するように第１及び第２のデイテクタを基板上に配置し
たことにより、基板と光学素子とがずれた状態で取り付
けられたときにも、フオーカス検出装置全体を基板を含
む平面上で、Ｘ軸及び又はＹ軸方向に任意の調整量だけ
移動させることにより、第１及び第２のデイテクタ上に
それぞれ正しく反射光の光スポツトを形成するように調
整し得るフオーカス検出装置を容易に実現できる。
第１図は本発明の一実施例を示す略線的平面図、第２図
はその調整を示す略線的平面図、第３図は光磁気デイス
ク装置の構成を示す略線図、第４図はそのフオーカス検
出装置を示す略線的平面図、第５図はフオーカス検出装
置の基板と偏光ビームスプリツタとがずれた状態を示す
略線的平面図である。 １……光磁気デイスク装置、９……偏光ビームスプリツ
タ、10、21……基板、11、12、22、23……３分割デイテ
クタ、13、20……フオーカス検出装置、SP1、SP2、SP1
1、SP12、SP21、SP22、SP31、SP32……光スポツト、L
11A、L11B、L12A、L12B、L22A、L22B、L23A、L23B……
分割線。
はその調整を示す略線的平面図、第３図は光磁気デイス
ク装置の構成を示す略線図、第４図はそのフオーカス検
出装置を示す略線的平面図、第５図はフオーカス検出装
置の基板と偏光ビームスプリツタとがずれた状態を示す
略線的平面図である。 １……光磁気デイスク装置、９……偏光ビームスプリツ
タ、10、21……基板、11、12、22、23……３分割デイテ
クタ、13、20……フオーカス検出装置、SP1、SP2、SP1
1、SP12、SP21、SP22、SP31、SP32……光スポツト、L
11A、L11B、L12A、L12B、L22A、L22B、L23A、L23B……
分割線。
Claims (1)
- 【請求項１】第１の方向に分割された複数の光検出部を
有する第１のデイテクタと、第２の方向に分割された複
数の光検出部を有する第２のデイテクタと、 上記第１及び第２のデイテクタが並んで配置される基板
と、 上記基板の上方に配置され、かつ光学記録体にレーザ光
を集光したときに当該光学記録媒体からの反射光を上記
第１及び第２のデイテクタに導く光学素子と を備え、上記第１及び愛２のデイテクタの検出出力に基
づいて上記レーザ光が上記光学記録媒体上に正しく集光
された否かを示すフオーカスエラー信号を検出するよう
になされたフオーカス検出装置において、 上記第１及び第２のデイテクタは、 当該第１のデイテクタの各光検出部を分割する分割線と
当該第２のデイテクタの各光検出部を分割する分割線と
が互いに交差するように上記基板上に配置されている ことを特徴とするフオーカス検出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62301269A JP2605760B2 (ja) | 1987-11-28 | 1987-11-28 | フォーカス検出装置 |
| KR1019880012177A KR890008764A (ko) | 1987-11-28 | 1988-09-21 | 포커스 광검출 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62301269A JP2605760B2 (ja) | 1987-11-28 | 1987-11-28 | フォーカス検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01143026A JPH01143026A (ja) | 1989-06-05 |
| JP2605760B2 true JP2605760B2 (ja) | 1997-04-30 |
Family
ID=17894783
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62301269A Expired - Fee Related JP2605760B2 (ja) | 1987-11-28 | 1987-11-28 | フォーカス検出装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2605760B2 (ja) |
| KR (1) | KR890008764A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03192541A (ja) * | 1989-12-21 | 1991-08-22 | Nec Corp | 光ヘッド装置 |
-
1987
- 1987-11-28 JP JP62301269A patent/JP2605760B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-09-21 KR KR1019880012177A patent/KR890008764A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR890008764A (ko) | 1989-07-12 |
| JPH01143026A (ja) | 1989-06-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5189655A (en) | Optical head for optical disk recording/reproducing apparatus including modified wollaston prism | |
| US5488598A (en) | Optical pickup using split beams impinging on different photodetector areas | |
| US4695992A (en) | Optical information recording-reproducing apparatus in which the relative position of a primary beam and secondary beams on recording medium is varied during recording and reproduction of information | |
| US20030193866A1 (en) | Method of manufacturing optical head | |
| JP2605760B2 (ja) | フォーカス検出装置 | |
| US7002893B2 (en) | Optical head with passive temperature compensation | |
| JPH056741B2 (ja) | ||
| JP2660523B2 (ja) | 光記録再生装置 | |
| JPH0656673B2 (ja) | 光ピツクアツプ | |
| JPH0434206B2 (ja) | ||
| EP0608842B1 (en) | Optical pick-up device | |
| US5661701A (en) | Optical pickup using split beams impinging on different photodetector areas | |
| JP2733072B2 (ja) | 分離型光ピックアップ | |
| JPS6223373B2 (ja) | ||
| JPS59152529A (ja) | 光学的記録再生装置 | |
| JPH04265528A (ja) | フォーカスエラー信号検出装置 | |
| JPH0391133A (ja) | 光情報記録再生装置 | |
| JPH076401A (ja) | 光学的書き込み読み取り装置 | |
| JPH0339333B2 (ja) | ||
| JPS6190337A (ja) | 光学式情報記録再生装置 | |
| JPS6149728B2 (ja) | ||
| JPH0677348B2 (ja) | 光磁気ピックアップ装置 | |
| JPS60167132A (ja) | 光情報検出装置 | |
| JPS6310491B2 (ja) | ||
| JPS63225947A (ja) | 光磁気デイスク用情報記録再生装置の光学系 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |