JPH0434206B2

JPH0434206B2 -

Info

Publication number: JPH0434206B2
Application number: JP58057255A
Authority: JP
Inventors: Kyobumi Chikuma; Yoshihiro Uchiumi; Tadashi Ogawa
Original assignee: Pioneer Electronic Corp
Current assignee: Pioneer Corp
Priority date: 1983-03-31
Filing date: 1983-03-31
Publication date: 1992-06-05
Also published as: JPS59146455A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は光学式デジタルオーデイオデイスクプ
レーヤ、ビデオデイスクプレーヤ等の光学式情報
記録再生装置に使用されるピツクアツプ装置に関
する。

斯かるピツクアツプ装置の基本的構造図を第１
図に示す。１は半導体レーザ装置等の光源、２は
光源１より発せられた発散ビームを略平行にする
コリメータレンズ、３は偏光ビームスプリツタ、
４は1/4波長板、５は対物レンズ、６は光学式反
射デイスク、７，８はその軸方向が略直交する方
向に配されたシリンドリカルレンズ、９は分割線
がシリンドリカルレンズ７，８の軸と45度をなす
ように配置された４分割の光検知器である。

光源１より発せられたビームはコリメータレン
ズ２により略平行光とされ、ビームスプリツタ
３、1/4波長板４を経た後対物レンズ５によりデ
イスク６上に集束される。デイスク６上に記録さ
れた信号により変調されたビームはデイスク６に
て反射され、対物レンズ５、1/4波長板４を経て
ビームスプリツタ３に入射し、ビームスプリツタ
３の偏光面にて反射された後シリンドリカルレン
ズ７，８を透過して光検知器９上に照射される。
シリンドリカルレンズ７，８は非点収差を呈する
ところから、光検知器９上のビームスポツトの形
状は第２図に示す如くになる。

すなわちデイスク６が対物レンズ５の焦点深度
内に位置するときは第２図ｂに示す如く光検知器
９上のスポツトは略円形となる。一方デイスク６
が対物レンズ５の焦点深度より遠い場合は、第２
図ａに示す如く長軸がシリンドリカルレンズ８の
軸８ａに沿つた楕円となり、またデイスク６が対
物レンズ５の焦点深度より近い場合は、第２図ｃ
に示す如く長軸がシリンドリカルレンズ７の軸７
ａに沿つた楕円となる。従つて４分割された光検
知器９のうち対角線上に配置された１対の光検知
器９ａ，９ｄの出力の和と、他の１対の光検知器
９ｂ，９ｃの出力の和との差を検出することによ
り、第３図に示す如きＳ字状のフオーカスエラー
信号Ｆを得ることができる。

対物レンズ５によるビーム集束点とデイスク６
の信号記録面との距離（焦点離れ量）ｃが、Cn，
Cfのときフオーカスエラー信号Ｆに正及び負の
ピークが各々生じるが、これは第４図ａ及びｂに
示す如くシリンドリカルレンズ７又は８により光
検知器９ａ，９ｄ上又は９ｂ，９ｃ上に各々線像
が結像された場合に対応する、このフオーカスエ
ラー信号Ｆを図示せぬアクチユエータに供給して
対物レンズ５を光軸方向（第１図において上下方
向）に移動せしめれば、デイスク６が面振れして
もデイスク６の信号記録面上にビームを常に正確
に集束させることができる。その結果光検知器９
ａ乃至９ｄの出力の和より得られるRF信号Ｓを
復調して記録情報を再生することができる。

斯かる原理に基づくフオーカスサーボ装着を実
現するためには、デイスク６の信号記録面が対物
レンズ５の焦点深度内に位置するときフオーカス
エラー信号Ｆが零になるように上記各光学部品が
所定位置に配置されていなければならない。しか
しながら上記各光学部品の精度あるいはその取付
精度は完全なものではなく、またバツ付きもある
ので上記光学部品を設計された所定位置に配置し
ただけでは上記条件を直ちに満足することはでき
ない。そこで上記光学部品の位置を微調整するこ
とが必要となる。

従来斯かる微調整は光検知器９により行なわれ
ていた。すなわち光検知器９を光軸と垂直な面内
において２方向に微調整移動させる第１の調整を
先ず行い、フオーカスエラー信号Ｆの正負のピー
ク位置が零点を中心として対称になるようにす
る。この第１の調整だけでは、デイスク６の信号
記録面が対物レンズ５の焦点深度内に位置したと
しても、その時フオーカスエラー信号Ｆは必ずし
も零にはならない。けだしデイスク６の信号記録
面が対物レンズ５の焦点深度内に位置した時ビー
ムの断面形状が略真円となる光軸上の位置は所定
の１点しかなく、光検知器９が光軸上その所定の
１点に対応する位置に必ずしも正確に配置されて
いないからである。従つてデイスク６の信号記録
面が対物レンズ５の焦点深度内に位置する時RF
信号Ｓのレベルは最大となるから、第１の調整の
段階においては、第３図のフオーカスエラー信号
Ｆの零クロス点０より右又は左にずれた位置C₁
又はC₂においてRF信号Ｓのレベルが最大となる。
そこでビーム断面形状が真円となる位置に光検知
器９を正確に配置するための第２の調整を、光検
知器９を光軸方向に移動させることによつて行う
のである。

しかしながら斯かる調整は１つの光学部品（光
検知器９）を３軸方向に移動させるための調整機
構を必要とし、構成が複雑になるばかりでなく一
方向の調整が他方向の調整に影響を与え易く、調
整に時間がかかり、正確な調整が困難であつた。

本発明は斯かる状況に鑑みなされたもので、構
成が簡単であり、また調整も容易な光学式ピツク
アツプ装置を提供することを目的とする。

以下図を参照して本発明の実施例を説明する。
尚以下に参照する図において第１図乃至第４図と
対応する部分には同一符号が付しており、その詳
述は省略する。

第５図において１０は筐体であり、光源１、コ
リメータレンズ２を支持するホルダ１１、1/4波
長板４が固定されたビームスプリツタ３、対物レ
ンズ５、シリンドリカルレンズ７，８、光検知器
９を各々所定位置に収容しており、またビームを
通過させるための通路１２，１３が形成されてい
る。尚対物レンズ５は対物レンズ５をフオーカス
方向に駆動するアクチユエータ（図示せず）を介
して筐体１０に取付けられている。外形が略円柱
状のホルダ１１は光源１より発せられたビームを
通過させる断面が略円形の通路１２の内壁１２ａ
内に嵌挿されており、内壁１２ａをガイドとして
光軸方向に摺動可能となつている。ホルダ１１の
略中央には光軸方向と垂直な溝１１ａが形成され
ており、筐体１０に形成された中心孔１４、貫通
孔１５に偏心ドライバの２軸（図示せず）を各々
挿通し、偏心ドライバを中心孔１４を中心として
図中時計方向又は反時計方向に回転させ、溝１１
ａと係合した偏心ドライバの一方の軸でホルダ１
１を光軸方向に移動させることができるようにな
つている。１６は筐体１０に螺合されたネジであ
り、その一端は筐体１０の外部より回転可能とな
つおり、その他端はホルダ１１と当接してホルダ
１１を所定位置で光軸と垂直な方向より固定でき
るようになつている。ビームスプリツタ３は平行
６面体形状のプリズム３１と３角柱形状のプリズ
ム３２とより構成されており、その接合面３３が
偏光面、接合面３３と平行な面３４が反射面とし
て形成されている。従つて光源１より発せられた
ビームがホルダ１１に固定されたコリメータレン
ズ２を通過した後、面３４、面３３によつて各々
反射され、1/4波長板４、対物レンズ５を介して
デイスク６に照射されるようになつている。デイ
スク６にて反射されたビームは対物レンズ５、1/
４波長板４、面３３、シリンドリカルレンズ７，
８を経て光検知器９上に照射される。

第６図は第５図におけるシリンドリカルレンズ
７の保持機構の原理を模式的に示している。シリ
ンドリカルレンズ７は略直方体形状のホルダ１７
の略中央に固定されている。筐体１０の光検知器
９に向かうビームを通過させる通路１３を形成す
る面であつて、シリンドリカルレンズ７の軸７ａ
と略45度をなす面のうち少くとも１つの面１０ａ
は平面とされ、面１０ａには光軸と垂直な方向に
溝１８が形成されている。溝１８にはホルダ１７
が嵌合されており、ホルダ１７はその底平面及び
左右側平面が、溝１８の底平面及び左右側平面と
各々接触してガイドされ、溝１８に沿つて光軸と
垂直な面内において軸７ａと略45度をなす方向に
摺動自在となつている。１９は筐体１０の貫通孔
２０に挿通され、ホルダ１７に螺合しているネジ
である。２１は筐体１０に固定された板バネ（ウ
レタンゴム等であつてもよい）であり、ホルダ１
７を溝１８の底面に押圧する方向及び面１０ａと
平行で貫通孔２０と離れる方向に付勢している
（図示は省略されているが、ホルダ１７は光軸方
向にも板バネ等にて付勢されている）。従つてネ
ジ１９を回転させることによつてホルダ１７（従
つてシリンドリカルレンズ７）を軸７ａと45度を
なす方向に移動させることができる。

尚図示は省略されているが、シリンドリカルレ
ンズ８もシリンドリカルレンズ７と同様の構成で
シリンドリカルレンズ７と独立に摺動自在となる
ように筐体１０に保持されている。

第７図はシリンドリカルレンズ７，８と光検知
器９との位置関係を模式的に表わしている。すな
わち光検知器９の２つの分割線をＸ軸及びＹ軸方
向とした場合、シリンドリカルレンズ７，８の軸
７ａ，８ａはＸ軸及びＹ軸に対して各々45度をな
すようになされており、デイスク６に形成された
トラツク（図示せず）の方向はＹ軸方向とされ、
シリンドリカルレンズ７，８の調整移動方向はＸ
軸方向とされる。

第８図は光検知器９より電気信号を出力させる
ための回路図を表わしており、光検知器９ａと９
ｃの出力差が減算器２２によつて、また光検知器
９ｂと９ｄの出力差が減算器２３によつて各々得
られ、それらが加算器２４によつて加算されてフ
オーカスエラー信号Ｆが得られる。加算器２５は
光検知器９ａ乃至９ｄの出力を加算するからデイ
スク６に記録された信号のRF信号Ｓに対応した
信号を出力する。

次に本発明に係る光学式ピツクアツプ装置の調
整方法について述べる。先ず第１の調整を行う。
すなわち光検知器９に入射するビームの光軸（ス
ポツトの中心）を光検知器９の中心と一致させる
調整を行う。そのために対物レンズ５に対向して
設けたデイスク又はミラーを充分大きく（少くと
も光検知器９上に第４図に示す如き線像が形成さ
れる程度に）面振れさせ、フオーカスエラー信号
Ｆをシンクロスコープ等で観測する。この時フオ
ーカスサーボループは開放されているので面振れ
に対応して第３図に示す如きＳ字状の特性が観測
される。そしてネジ１９を回転させ先ずシリンド
リカルレンズ７を第７図におけるＸ軸方向に移動
させる。そうすると光検知器９上におけるビーム
スポツトは軸７ａと垂直な方向（シリンドリカル
レンズ８の軸８ａの方向）に移動し、第３図にお
けるフオーカスエラー信号Ｆの正のピーク（点
Cnにおけるピーク）が増減するので、このピー
クが最大となつたところでネジ１９を固定する。
点Cnにおけるピークが最大となるのは第４図ａ
に示す如く線像が光検知器９ａ，９ｄにのみ結像
され、光検知器９ｂ，９ｃには結像されないとき
である。

次にシリンドリカルレンズ８が対応するネジ１
９を回転させシリンドリカルレンズ８を第７図に
おいてＸ軸方向に移動させる。シリンドリカルレ
ンズ８の移動方向は後述する如くシリンドリカル
レンズ７の移動方向と平行である必要はないが、
平行とすることにより調整作業を同一方向から行
うことができ調整作業が容易となる。シリンドリ
カルレンズ８を移動させると光検知器９上におけ
るビームスポツトは軸８ａと垂直な方向（シリン
ドリカルレンズ７の軸７ａの方向）に移動し、第
３図におけるフオーカスエラー信号Ｆの負のピー
ク（点C_fにおけるピーク）が増減するので、この
ピークが最小（負に最大）となつたところでネジ
１９を固定する。点C_fにおけるピークが最小とな
るのは第４図ｂに示す如く線像が光検知器９ｂ，
９ｃにのみ結像され、光検知器９ａ，９ｄには結
像されないときである。

以上の調整により光軸と垂直な面内（Ｘ，Ｙ面
内）における２方向においてビームの光軸が光検
知器９の中心に合わされたので、ビームの光軸は
光検知器９の中心と略一致したことになる。

尚ここにおいて特筆すべきは、シリンドリカル
レンズ７，８の各々の調整において一方の調整が
他方の調整に何等影響を与えないことである。
（シリンドリカルレンズ７又は８を移動しても点
C_f又はCnのピークはかわらない。このことをさ
らに説明すると、光検知器９上の中心と光検知器
９上に照射されるビームの光軸とを一致させる第
１の調整においては光軸と垂直な面内で光学部品
を２軸方向に移動させる必要があるが、一方向の
調整が他方向の調整に影響を及ぼすのは、一方向
の調整をした時光検知器９上のスポツトが移動す
る方向が他方向の調整をした時スポツトが移動す
る方向と直角でない場合である。しかしながら本
発明においては、シリンドリカルレンズ７又は８
を移動した時光検知器９上においてスポツトが移
動する方向は各々軸７ａ又は８ａと直角な方向で
あり、軸７ａと軸８ａとは直角に配置されている
ので結局スポツトの移動方向も相互に直角となる
のである。すなわちシリンドリカルレンズ７，８
は各々の軸７ａ，８ａと直角な方向にのみレンズ
作用（ビームを偏向させる作用）を有し、軸７
ａ，８ａと平行な方向にはレンズ作用を有してい
ないので、シリンドリカルレンズ７又は８を各々
軸７ａ又は８ａの方向に移動する場合（この場合
はスポツトの位置は変化しない）を除き、光軸と
垂直な面内のいずれの方向（本実施例においては
共にＸ軸方向）に移動してもスポツトは軸７ａ又
は８ａと直角な方向に各各移動するのである。例
えばシリンドリカルレンズ７又は８を各々軸７ａ
又は８ａと垂直な方向に移動させるようにしても
スポツトの移動方向は各々軸７ａ又は８ａと直角
な方向である（この場合は、シリンドリカルレン
ズ７のホルダ１７の光軸と垂直な面と、その面と
対向するシリンドリカルレンズ８のホルダ１７の
光軸と垂直な面とが相互に接触しており、調整時
一方の面が他方の面をガイドとするようになされ
ているようなとき、一方のホルダ１７の移動によ
り他方のホルダ１７も移動してしまうことを防止
する効果を奏する）。従つてシリンドリカルレン
ズ７又は８の移動方向についての厳密な管理は必
ずしも必要でない。ただ軸７ａと軸８ａとを略直
角に維持することは従来技術の場合と同様にフオ
ーカスエラー信号Ｆの対称性を確保するために必
要であるから、このことをより確実にするため
に、シリンドリカルレンズ７及び８のホルダ１７
が摺動する溝１８の底平面を同一平面として形成
することができる。このようにすればシリンドリ
カルレンズ７と８のホルダ１７は各々同一の基準
面上を摺動することになるので両者の相対的取付
誤差をより少くすることができる。

第１の調整が終了した後第２の調整を行う。第
２の調整は先ずネジ１６をゆるめ、孔１４，１５
に偏心ドライバを差し込んで回転させ、コリメー
タレンズ２を保持するホルダ１１を光軸方向に移
動させることによつて行う。この時フオーカスエ
ラー信号Ｆと共にRF信号に対応する信号Ｓ（RF
信号でなくともデイスク６やミラーが対物レンズ
５の焦点深度内に位置したことが判別できる信号
であればよい）を観測する。信号Ｓのレベルが最
大となる（デイスク６やミラーが対物レンズ５の
焦点深度内にある）時、フオーカスエラー信号Ｆ
が負であればホルダ１１を光源１から遠ざける方
向に、また正であれば近づける方向に各々移動さ
せ、フオーカスエラー信号Ｆの零クロス点Ｏにお
いて信号Ｓのレベルが最大となるようにし。そこ
でネジ１６を固定する。

デイスク６が焦点深度内にあるにも拘らずフオ
ーカスエラー信号Ｆが負であるということは、本
来第２図ｂに示す如く各光検知器９ａ乃至９ｄの
受光量が等しくあるべきところが、第２図ａに示
す如く光検知器９ｂ，９ｃの方が光検知器９ａ，
９ｄより多く受光していることを意味する。そこ
でコリメータレンズ２を光源１から遠ざけてコリ
メータレンズ２から出るビームをより発散する傾
向にすることにより、光検知器９ａ，９ｄの受光
量をより増加させると共に光検知器９ｂ，９ｃの
受光量をより減小させ、もつて各光検知器９ａ乃
至９ｄの受光量が等しくなる（光検知器９上のス
ポツトが光学的に真円になる）ようにするのであ
る。

一方デイスク６が焦点深度内にあるにも拘らず
フオーカスエラー信号Ｆが正であるときは、上述
した場合と逆方向に調整すれば各光検知器９ａ乃
至９ｄの受光量を等しくすることができることは
明らかである。

斯かる第２の調整を光源１とコリメータレンズ
２との相対距離を変化させることにより行う本発
明は、シリンドリカルレンズ７，８と光検知器９
の相対距離を変化させる従来の場合と比較して次
のような効果を奏する第１に、上記第１の調整に悪影響を与えるおそ
れが少い、すなわちシリンドリカルレンズ７，８
と光検知器９とは上述した如く光軸と垂直な面内
において所定の方向に配置される必要がある（光
検知器９の分割線とシリンドリカルレンズ７，８
の軸７ａ，８ａとは相互に略45度の角度をなすよ
うに配置される必要がある）が、シリンドリカル
レンズ７，８と光検知器９の光軸方向の相対距離
を変化させて第２の調整を行うようにすると、そ
もそも他の軸方向には影響を与えず完全に１軸
（光軸）方向にのみ物体を移動させることは困難
であることと、第１の調整のための移動をも考慮
するとシリンドリカルレンズ７，８又は光検知器
９のうち一方は少くとも２軸方向に移動自在でな
ければならないこととが相俟つて、光軸と垂直な
面内における変化が生じ易くなるのである。しか
もシリンドリカルレンズ７，８と光検知器９とは
ビームを集束させる光学系を構成しているので、
この変化は例えわずかであつても取付精度に大き
く影響してくるのである。これに対して光源１と
コリメータレンズ２との相対距離を変化させるよ
うにする場合は、第１の調整のための移動方向を
考慮しても各光学部品の移動方向を１軸方向のみ
とすることができ、光軸と垂直な面内において発
生する変化を小さくすることができる。しかも光
源１とコリメータレンズ２とは光軸と垂直な面内
における斯かる方向性を一般的に有しておらず
（光源１として半導体レーザを使用した場合放出
ビームの断面は必ずしも円形とならないことがあ
るが、光検知器９の分割線と軸７ａ，８ａの方向
性に較べれば殆んど無視することができる）、ま
た光源１より発せられたビームはコリメータレン
ズ２により略平行ビームとされるに過ぎないか
ら、例え光源１とコリメータレンズ２との光軸方
向の調整時に光軸と垂直な面内における移動が生
じたとしても、シリンドリカルレンズ７，８と光
検知器９の光軸と垂直な面内における方向性に与
える影響は極めて小さいものとなる。

第２の調整後最終的に残る取付誤差を小さくす
ることができる。すなわち光源１より放射された
ビームが対物レンズ５に平行に入射する状態が、
対物レンズ５を収差の少い状態で使用することが
できる理想的な状態である。換言すれば対物レン
ズ５によりビームが集束される位置が、第１図に
示す如くビームが対物レンズ５に対して理想的に
平行に入射した時集束する位置にできるだけ近い
方が理想的な状態に近い。光源１とコリメータレ
ンズ２との光軸方向の相対的位置に関する取付誤
差を△X₁とし、光源１、コリメータレンズ２、
ビームスプリツタ３、1/4波長板４、対物レンズ
５により構成される入射ビーム系の縦倍率をk₁
（k₁≒（f₂／f₁）²、但しf₁は対物レンズ５の焦点距
離、f₂はコリメータレンズ２の焦点距離）とした
場合、対物レンズ５によるビームの集束位置が理
想的位置よりずれる距離L₁は、L₁＝△X₁／k₁と
なる。一方シリンドリカルレンズ７，８と光検知
器９との光軸方向の相対的位置に関する取付誤差
を△X₂とし、対物レンズ５、1/4波長板４、ビー
ムスプリツタ３、シリンドリカルレンズ７，８、
光検知器９により構成される反射光学系の縦倍率
をk₂（k₂≒（f₃／f₁）²、但しf₃はシリンドリカルレ
ンズ７，８の平均焦点距離）とした場合、光検知
器９上に真円のスポツトを形成せしめるために位
置すべき対物レンズ５の集束点が理想的位置から
ずれる距離L₂は、L₂＝△X₂／k₂となる。両方の
取付誤差△X₁、△X₂を等しいと仮定しても、距
離L₁は距離L₂より大きくなるのが一般的である。
けだしコリメータレンズ２を光源１から遠ざける
と光源１より発散されるビームの有効利用率が低
下するためにコリメータレンズ２の焦点距離f₂は
余り大きくすることができないのに対して、光検
知器９とシリンドリカルレンズ７，８の光軸と垂
直な面内における取付精度の厳しさを軽減するた
めには、シリンドリカルレンズ７，８の平均焦点
距離f₃は大きい方が有利となるからである。従つ
てコリメータレンズ２と光検知器９のうちいずれ
か一方のみを光軸方向に調整するとすれば、コリ
メータレンズ２を調整した方が理想的状態に対す
る残留誤差を小さくすることができる。

対物レンズ５に平行にビームが入射するように
調整するためには、対物レンズ５を筐体１０に取
付ける前にモニタカメラ等でビームの平行状態を
観測しながら光源１とコリメータレンズ２との距
離を調整し、しかる後対物レンズ５を筐体１０に
取付けることも考えられるが、こうすると調整工
程が複雑となりコスト高となつて民生用機器に使
用する光学式ピツクアツプ装置の調整方法として
は非実用的である。

第９図は光源１とコリメータレンズ２のホルダ
１１との光軸方向の距離を調整するための第２の
実施例を原理的に表わしている。すなわち筐体１
０の段部１０ｂとホルダ１１との間にはスプリン
グ２６が介在しており、ホルダ１１を図中下方に
付勢するようになつている。２７は筐体１０に螺
合すると共に、一方の端部がホルダ１１を押圧す
るように設けられた調整ネジであり、中心にはビ
ームを通過させる孔２８が設けられている。ネジ
２７を回転させることによつてホルダ１１の位置
を光軸方向に調整可能であることは明らかであ
る。

尚上記実施例においてはコリメータレンズ２の
位置を光源１に対して光軸方向に調整するように
したが、光源１をコリメータレンズ２に対して光
軸方向に調整するようにしてもよい。

【図面の簡単な説明】

第１図は光学式ピツクアツプ装置の概略図、第
２図及び第４図は光検知器上のスポツトの形状を
示す正面図、第３図はフオーカスエラー信号の特
性図、第５図は本発明に係る光学式ピツクアツプ
装置の構造を示す部分断面図、第６図は本発明に
係るシリンドリカルレンズの保持構造の原理図、
第７図はシリンドリカルレンズと光検知器との光
軸と垂直な面内における位置関係を示す概略図、
第８図は光検知器より出力を取り出すための回路
図、第９図は光源とコリメータレンズの光軸方向
の位置を調整する第２の実施例を示す原理図を
各々表わす。１……光源、２……コリメータレンズ、３……
ビームスプリツタ、４……1/4波長板、５……対
物レンズ、６……デイスク、７，８……シリンド
リカルレンズ、９……光検知器、１１，１７……
ホルダ。

Claims

【特許請求の範囲】１筐体と、該筐体に配置された半導体レーザ、
コリメータレンズ、ビームスプリツタ、対物レン
ズ、非点収差を与える光学素子及び光検知器とを
有し、該半導体レーザより発せられたレーザ光を
該コリメータレンズにより略平行光とし、該平行
光を該ビームスプリツタを介して該対物レンズに
入射せしめ、該対物レンズにより該レーザ光を情
報が記録されたデイスクに収束して照射し、該デ
イスクにて反射された該レーザ光を該対物レン
ズ、該ビームスプリツタ、該光学素子を経て該光
検知器に照射する光学式ピツクアツプ装置であつ
て、該対物レンズは該光検知器の出力信号より得
られるフオーカスエラー信号によつて駆動される
アクチユエータを介して該筐体に固定されている
と共に、該コリメーレンズはホルダに固定されて
おり、該筐体には該半導体レーザから該ビームス
プリツタの方向に向かう該レーザ光のための通路
が形成されており、該コリメータレンズが固定さ
れたホルダは該通路内において該レーザ光の光軸
方向に移動自在となされており、該筐体には該ホ
ルダの該通路内における光軸方向の位置を外部よ
り移動調整可能とする孔と、該ホルダを所定位置
で外部より該光軸と垂直な方向から固定する固定
手段とが設けられており、さらに、該光検知器は
４分割されており、該光学素子は２個のシリンド
リカルレンズであつて、該２個のシリンドリカル
レンズはその各軸が該光検知器の分割線に対して
は略45度をなすようにさらに相互には略垂直とな
るように配置され、該２個のシリンドリカルレン
ズは該光軸と垂直な面内において相互に独立に移
動調整可能であることを特徴とする光学式ピツク
アツプ装置。２各該シリンドリカルレンズの移動調整方向は
相互に略平行であることを特徴とする特許請求の
範囲第１項の光学式ピツクアツプ装置。３各該シリンドリカルレンズの移動調整方向は
相互に略垂直であることを特徴とする特許請求の
範囲第１項の光学式ピツクアツプ装置。