JPS61198433A - 光学ヘツド装置 - Google Patents
光学ヘツド装置Info
- Publication number
- JPS61198433A JPS61198433A JP3740585A JP3740585A JPS61198433A JP S61198433 A JPS61198433 A JP S61198433A JP 3740585 A JP3740585 A JP 3740585A JP 3740585 A JP3740585 A JP 3740585A JP S61198433 A JPS61198433 A JP S61198433A
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- light receiving
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光学的情報記録再生装置において用いられる光
学ヘッド装置に関する。
学ヘッド装置に関する。
光学的情報記録においては、光源から発せられたレーデ
光を光学系により集束せしめてディスク等の記録媒体に
スポット照射し、この際レーザ光に光学的変調をかけて
おくことにより該記録媒体に情報が記録される。また、
光学的情報記録媒体から記録情報を再生するには、同様
にして光源からのレーデ光を記録媒体にスポット照射し
、記録媒体により変調を受けた反射光を検出する。この
様な記録または再生のための光学系を含むものとして光
ヘツド装置が用いられる。
光を光学系により集束せしめてディスク等の記録媒体に
スポット照射し、この際レーザ光に光学的変調をかけて
おくことにより該記録媒体に情報が記録される。また、
光学的情報記録媒体から記録情報を再生するには、同様
にして光源からのレーデ光を記録媒体にスポット照射し
、記録媒体により変調を受けた反射光を検出する。この
様な記録または再生のための光学系を含むものとして光
ヘツド装置が用いられる。
記録媒体への情報の記録の方式には稽々のものがあるが
、以下光磁気記録を例にとシ説明する。
、以下光磁気記録を例にとシ説明する。
第２図は光磁気記録に用いられる光学ヘッド装置の構成
を示す概略図である。
を示す概略図である。
図において、３２は半導体レーザ光源であり、３４はコ
リメータであシ、３６は偏光ビームスプリッタであり、
３８は対物レンズであり、４０は集束レンズであり、４
２は検光子であシ、４４゜４６はいづれも受光素子であ
る。光学ヘッド４８は以上の構成要素を含んでなる。ま
た、５０は記録媒体である光磁気ディスクであシ、５２
はスピンドルモータである。
リメータであシ、３６は偏光ビームスプリッタであり、
３８は対物レンズであり、４０は集束レンズであり、４
２は検光子であシ、４４゜４６はいづれも受光素子であ
る。光学ヘッド４８は以上の構成要素を含んでなる。ま
た、５０は記録媒体である光磁気ディスクであシ、５２
はスピンドルモータである。
再生時において、光源３２から発せられた偏光レーザ光
はコリメータレンズ３４により平行光とされ、該平行光
は偏光ビームスグリツタ３６を通って対物レンズ３８に
より集束せしめられて、光磁気ディスク５０上にスポッ
トを形成する。ディスク５０の該スポットからの反射光
は記録情報に対応した偏光面を有し、該反射光は対物レ
ンズ３８によりほぼ平行にされ、偏光ビームスプリッタ
３６により光路な直角に曲げられ、集束レンズ４０によ
り集束光とされた状態で検光子４２に入射し、該入射光
はその偏光面に応じた量が検光子４２を通過し、受光素
子４４に到達する。尚、光ディスク５０はスピンドルモ
ータ５２によりｘ−２面内で回転せしめられ、スポット
照射位置において情報トラックは２方向に走行する。
はコリメータレンズ３４により平行光とされ、該平行光
は偏光ビームスグリツタ３６を通って対物レンズ３８に
より集束せしめられて、光磁気ディスク５０上にスポッ
トを形成する。ディスク５０の該スポットからの反射光
は記録情報に対応した偏光面を有し、該反射光は対物レ
ンズ３８によりほぼ平行にされ、偏光ビームスプリッタ
３６により光路な直角に曲げられ、集束レンズ４０によ
り集束光とされた状態で検光子４２に入射し、該入射光
はその偏光面に応じた量が検光子４２を通過し、受光素
子４４に到達する。尚、光ディスク５０はスピンドルモ
ータ５２によりｘ−２面内で回転せしめられ、スポット
照射位置において情報トラックは２方向に走行する。
受光素子４４は第３図に示される様な構成を有する。即
ち、受光素子４４の受光面は３つの部分４４Ａ、４４Ｂ
、４４Ｃに分割されておシ、各分割部分の出力はコンデ
ンサ４６Ａ、４６Ｂ、４６Ｃにより低周波成分をカット
された後に合計されて増幅器４８により増幅され記録情
報信号となる。
ち、受光素子４４の受光面は３つの部分４４Ａ、４４Ｂ
、４４Ｃに分割されておシ、各分割部分の出力はコンデ
ンサ４６Ａ、４６Ｂ、４６Ｃにより低周波成分をカット
された後に合計されて増幅器４８により増幅され記録情
報信号となる。
一方、分割部分４４Ａの出力と分割部分４４Ｃの出力と
は合計され、該合計出力と分割部分４４Ｂの出力とが差
動増幅器６０により差動増幅されてフォーカシング誤差
信号となる。尚、光磁気ディスク５０からの反射光の一
部はＸ方向に関し対物レンズ３８０両側に配置された一
対の受光素子４６に入射し、これら一対の受光素子４６
の出力は差動増幅器（図示せず）により差動増幅されて
トラ、キング誤差信号となる。
は合計され、該合計出力と分割部分４４Ｂの出力とが差
動増幅器６０により差動増幅されてフォーカシング誤差
信号となる。尚、光磁気ディスク５０からの反射光の一
部はＸ方向に関し対物レンズ３８０両側に配置された一
対の受光素子４６に入射し、これら一対の受光素子４６
の出力は差動増幅器（図示せず）により差動増幅されて
トラ、キング誤差信号となる。
かくして検出されたフォーカシング誤差信号及びトラッ
キング誤差信号は対物レンズ駆動手段（図示せず）に送
られる。そして、該誤差信号に基づいて、誤差をなくす
る様に対物レンズ３８をＹ方向及びＸ方向にそれぞれ独
立に移動させる制御が行なわれる。
キング誤差信号は対物レンズ駆動手段（図示せず）に送
られる。そして、該誤差信号に基づいて、誤差をなくす
る様に対物レンズ３８をＹ方向及びＸ方向にそれぞれ独
立に移動させる制御が行なわれる。
ここで、フォーカシング誤差検出は次の様にして行なわ
れる。即ち、光磁気ディスク５０が対物レンズ３８の焦
点位置にある時に第４図（ｂ）に示される様に受光素子
４４０分割部分４４Ｂに入射する光量と分割部分４４Ａ
、４４Ｃに入射する光量の合計とが等しいスポット６２
が得られる様に予め光学ヘッド装置４８内における受光
素子４４の位置をｖ４整する。こうしておくことにより
、対物レンズ３８とディスク５０との距離が対物レンズ
３８の焦点位置からずれた場合には、第４図（ａ）。
れる。即ち、光磁気ディスク５０が対物レンズ３８の焦
点位置にある時に第４図（ｂ）に示される様に受光素子
４４０分割部分４４Ｂに入射する光量と分割部分４４Ａ
、４４Ｃに入射する光量の合計とが等しいスポット６２
が得られる様に予め光学ヘッド装置４８内における受光
素子４４の位置をｖ４整する。こうしておくことにより
、対物レンズ３８とディスク５０との距離が対物レンズ
３８の焦点位置からずれた場合には、第４図（ａ）。
（ｃ）に示される様に受光素子４４上に形成されるスポ
ット６２の径が変化するので、分割部分４４Ｂに入射す
る光量と分割部分４４Ａ、４４０に入射する光量の合計
とが異なる様になり、かくして定量的に正確なフォーカ
シング誤差信号を得ることができる。
ット６２の径が変化するので、分割部分４４Ｂに入射す
る光量と分割部分４４Ａ、４４０に入射する光量の合計
とが異なる様になり、かくして定量的に正確なフォーカ
シング誤差信号を得ることができる。
しかして、従来、光学ヘッド装置組立ての際の受光素子
４４の位置調整のための機構としては第５図に示される
様なものが用いられていた。第５図は第２図における集
束レンズ４０、検光子４２及び受光素子４４の近傍の具
体的構造を示す断面図である。
４４の位置調整のための機構としては第５図に示される
様なものが用いられていた。第５図は第２図における集
束レンズ４０、検光子４２及び受光素子４４の近傍の具
体的構造を示す断面図である。
図において、６４は光ヘッドのフレームであり、６６は
受光素子４４の調整機構の基台であシ、６８は受光素子
取付用基板であり、７０は受光素子ホルダである。基台
６６はフレーム６４に固定されており、該基台６６には
集束レンズ４０と検光子４２とが固定されている。基板
６８は基台６６に対しＹ方向に位置調節可能であシ、ま
たホルダ７０は該基板６８に対しＸ方向に位置調節可能
である。ホルダ７０には受光素子４４が固定されており
、該受光素子４４は第３図に示される様な３つの分割部
分４４Ａ、４４Ｂ、４４Ｃからなる受光面を有し、それ
らの分割線は２方向を向いている。
受光素子４４の調整機構の基台であシ、６８は受光素子
取付用基板であり、７０は受光素子ホルダである。基台
６６はフレーム６４に固定されており、該基台６６には
集束レンズ４０と検光子４２とが固定されている。基板
６８は基台６６に対しＹ方向に位置調節可能であシ、ま
たホルダ７０は該基板６８に対しＸ方向に位置調節可能
である。ホルダ７０には受光素子４４が固定されており
、該受光素子４４は第３図に示される様な３つの分割部
分４４Ａ、４４Ｂ、４４Ｃからなる受光面を有し、それ
らの分割線は２方向を向いている。
受光素子４４の位置調整に際しては、先ず調整治具によ
り基台６６に対し基板６８をＹ方向に移動させて、受光
素子４４の中心とビームスポットの中心との位置あわせ
を行う。これは分割部分４４Ａの出力と分割部分４４Ｃ
の出力とをみながら、これらが等しくなる様に位置決め
な行ない、この配置にて基板６８を基台６６に対し固定
する。
り基台６６に対し基板６８をＹ方向に移動させて、受光
素子４４の中心とビームスポットの中心との位置あわせ
を行う。これは分割部分４４Ａの出力と分割部分４４Ｃ
の出力とをみながら、これらが等しくなる様に位置決め
な行ない、この配置にて基板６８を基台６６に対し固定
する。
次に、基板６８に対しホルダ７０をＸ方向に移動させτ
、受光素子４４上におけるビームスポットの径を変化さ
せ、受光素子４４の分割部分４４Ｂの出力と分割部分４
４Ａ、４４Ｃの出力の和とが等しくなる様に位置決めを
行ない、この配置にてホルダ７０を基板６８に対し固定
する。
、受光素子４４上におけるビームスポットの径を変化さ
せ、受光素子４４の分割部分４４Ｂの出力と分割部分４
４Ａ、４４Ｃの出力の和とが等しくなる様に位置決めを
行ない、この配置にてホルダ７０を基板６８に対し固定
する。
しかるに、上記の如き従来の受光素子位置調整機構にお
いては受光素子４４はホルダ７０及び基板６８を介して
基台６６に取付けられているので、Ｙ方向の位置調節の
後ＫＸ方向の位置調節を行なうと、嵌合ｆりに基づきＹ
方向の位置がずれて再調節が必要になることが多い。更
に、所定の位置まで受光素子４４を移動させたとしても
、ホルダ７０を基板６８に固定する段階で位置ずれが生
ずることも多い。たとえば、ホルダ７０をビス止めによ
り固定する場合にはビスによる締付けで位置ずれが生ず
ることがあシ、またホルダ７０を接着剤により固定する
場合には接着剤のヒケにより位置ずれが生ずる０とがあ
る。従って、上記従来の光学へ、ドにおいては調整にか
なシの時間を要し、更に調整がわずられしいので調整不
十分による歩留シ低下を来しやすいという問題がある。
いては受光素子４４はホルダ７０及び基板６８を介して
基台６６に取付けられているので、Ｙ方向の位置調節の
後ＫＸ方向の位置調節を行なうと、嵌合ｆりに基づきＹ
方向の位置がずれて再調節が必要になることが多い。更
に、所定の位置まで受光素子４４を移動させたとしても
、ホルダ７０を基板６８に固定する段階で位置ずれが生
ずることも多い。たとえば、ホルダ７０をビス止めによ
り固定する場合にはビスによる締付けで位置ずれが生ず
ることがあシ、またホルダ７０を接着剤により固定する
場合には接着剤のヒケにより位置ずれが生ずる０とがあ
る。従って、上記従来の光学へ、ドにおいては調整にか
なシの時間を要し、更に調整がわずられしいので調整不
十分による歩留シ低下を来しやすいという問題がある。
本発明によれば、以上の如き従来技術の問題点を解決す
るものとして、受光素子の位置に対し集束レンズを光軸
方向に移動させるためのｖ４１ｉ手段を有することを特
徴とする、光学ヘッドが提供される。
るものとして、受光素子の位置に対し集束レンズを光軸
方向に移動させるためのｖ４１ｉ手段を有することを特
徴とする、光学ヘッドが提供される。
以下、図面を参照しながら本発明の具体的実施例を説明
する。
する。
第１図は本発明による光学ヘッド装置の一実施例を示す
部分断面図であり、受光素子近傍の詳細図である。
部分断面図であり、受光素子近傍の詳細図である。
図において、２は光学ヘッド装置のフレームであシ、４
は位置調整機構の基台であり、フレーム２に固定されて
いる。６は受光素子取付用の基板であり、基台４に対し
Ｙ方向に位置調節可能である。８は受光素子である。該
受光素子８は上記第２図及び第３図において符号４４で
示されているものと同様である。１０は集束レンズであ
シ、１２は検光子でｔｊシ、これらはそれぞれ第２図に
おいて符号４０．４２で示されているものと同様である
。検光子１２は基台４に固定されている。
は位置調整機構の基台であり、フレーム２に固定されて
いる。６は受光素子取付用の基板であり、基台４に対し
Ｙ方向に位置調節可能である。８は受光素子である。該
受光素子８は上記第２図及び第３図において符号４４で
示されているものと同様である。１０は集束レンズであ
シ、１２は検光子でｔｊシ、これらはそれぞれ第２図に
おいて符号４０．４２で示されているものと同様である
。検光子１２は基台４に固定されている。
基台４の内部には圧縮コイルバネ１４がＸ方向に圧縮さ
れて収容されている。集束レンズ１０は鏡筒１６に固定
されておシ、該鏡筒１６は基台４内において集束レンズ
１０の光軸をＸ方向に保ったままでＸ方向に摺動自在で
ある。１８は押え環であシ、ネジにより基台４に嵌合さ
れている。該押え環１８をＸ方向にネジ込むことにより
、その先端部が上記鏡筒１６を押し、該鏡筒１６がコイ
ルバネを圧縮する。
れて収容されている。集束レンズ１０は鏡筒１６に固定
されておシ、該鏡筒１６は基台４内において集束レンズ
１０の光軸をＸ方向に保ったままでＸ方向に摺動自在で
ある。１８は押え環であシ、ネジにより基台４に嵌合さ
れている。該押え環１８をＸ方向にネジ込むことにより
、その先端部が上記鏡筒１６を押し、該鏡筒１６がコイ
ルバネを圧縮する。
本実施例装＆において、受光素子８の位置調整は次の様
にして行なわれる。先ず、適宜の調整治具な用いて基台
４に対し基板６ｔｔＹ方向に移動させて受光素子８の中
心と、集光し／ズ１０及び検光子１２を通過して受光素
子８に入射する光のスポットの中心との位置あわせを行
なう。この位置あわせは上記従来装置におり゛ると同様
にし”Ｃ受光素子８の各分割部分の出力をみながら行な
うことができる。次に、押え環１８を回転させることに
より、鏡筒１６ｆｔ介して集束レンズ１０をＸ方向に移
動させ、受光素子８上の光スボ、ト径が適正な大きさに
なる様にする。この位置決めは、上記従来装置における
と同様にして受光素子８の各分割部分の出力をみながら
行なうことができる。
にして行なわれる。先ず、適宜の調整治具な用いて基台
４に対し基板６ｔｔＹ方向に移動させて受光素子８の中
心と、集光し／ズ１０及び検光子１２を通過して受光素
子８に入射する光のスポットの中心との位置あわせを行
なう。この位置あわせは上記従来装置におり゛ると同様
にし”Ｃ受光素子８の各分割部分の出力をみながら行な
うことができる。次に、押え環１８を回転させることに
より、鏡筒１６ｆｔ介して集束レンズ１０をＸ方向に移
動させ、受光素子８上の光スボ、ト径が適正な大きさに
なる様にする。この位置決めは、上記従来装置における
と同様にして受光素子８の各分割部分の出力をみながら
行なうことができる。
以上の様な本発明装置によれば、受光素子の調整に際し
、集束レンズな光軸方向に移動させて受光素子上に形成
させる光スポットの径の調節を行なりことができるので
、受光素子は一方向にのみ移動させて位置調節を行なえ
ばよく、調整が簡単になり、短時間で十分な調整を行な
うことができ、歩留シも向上する。
、集束レンズな光軸方向に移動させて受光素子上に形成
させる光スポットの径の調節を行なりことができるので
、受光素子は一方向にのみ移動させて位置調節を行なえ
ばよく、調整が簡単になり、短時間で十分な調整を行な
うことができ、歩留シも向上する。
第１図は本発明装置の部分断面図である。
第２図は光学ヘッド装置の構成図であり、第３図は受光
素子の構成図であシ、第４図（、）〜（、）は受光素子
の受光面上における光スＺｙ）径の変化を示す図である
。 第５図は従来の光学ヘッド装置の部分断面図である。 ２：フレーム、４：基台、６：基板、８：受光素子、１
〇二集東レンズ、１２：検光子、１４：コイルバネ、１
６：鏡筒、１８：押え環。 代理人 弁理士 山 下 穣 平 第１図 を 第２図 、７４８
素子の構成図であシ、第４図（、）〜（、）は受光素子
の受光面上における光スＺｙ）径の変化を示す図である
。 第５図は従来の光学ヘッド装置の部分断面図である。 ２：フレーム、４：基台、６：基板、８：受光素子、１
〇二集東レンズ、１２：検光子、１４：コイルバネ、１
６：鏡筒、１８：押え環。 代理人 弁理士 山 下 穣 平 第１図 を 第２図 、７４８
Claims (1)
- （１）記録媒体に光を照射し、その反射光の少なくとも
一部を集束レンズにより集束光となし、該集束光を受光
素子に入射せしめて少なくともフォーカシング誤差信号
を得る光学ヘッド装置において、受光素子の位置に対し
集束レンズを光軸方向に移動させるための調整手段を有
することを特徴とする、光学ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3740585A JPS61198433A (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 光学ヘツド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3740585A JPS61198433A (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 光学ヘツド装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61198433A true JPS61198433A (ja) | 1986-09-02 |
Family
ID=12496614
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3740585A Pending JPS61198433A (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 光学ヘツド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61198433A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5471439A (en) * | 1992-02-14 | 1995-11-28 | Sharp Kabushiki Kaisha | Magnetic head device with slidable and adjustable magnetic head |
| JP2007268449A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Japan Vilene Co Ltd | フィルタユニット |
-
1985
- 1985-02-28 JP JP3740585A patent/JPS61198433A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5471439A (en) * | 1992-02-14 | 1995-11-28 | Sharp Kabushiki Kaisha | Magnetic head device with slidable and adjustable magnetic head |
| JP2007268449A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Japan Vilene Co Ltd | フィルタユニット |
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