JPS59145949A - 広域温湿度雰囲気試験装置 - Google Patents
広域温湿度雰囲気試験装置Info
- Publication number
- JPS59145949A JPS59145949A JP58020903A JP2090383A JPS59145949A JP S59145949 A JPS59145949 A JP S59145949A JP 58020903 A JP58020903 A JP 58020903A JP 2090383 A JP2090383 A JP 2090383A JP S59145949 A JPS59145949 A JP S59145949A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- gas supply
- supply chamber
- humidity
- high temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
- Ecology (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Environmental Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Air-Conditioning Room Units, And Self-Contained Units In General (AREA)
- Central Air Conditioning (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は小型精密機器やその機器部品、或いは１０、
ＬＥＩＩ等の電子部品などの恒温試験、耐寒試験、耐湿
試験や温度サイクル試験等の熱雰囲気、或いは湿度尊囲
気に対する耐久性、強度等の試祿を、試験室内にて高温
域から極低温域或いは恒温域までの範囲に切換えて実施
できるようにした熱雰囲気試験装置に関するものである
。
ＬＥＩＩ等の電子部品などの恒温試験、耐寒試験、耐湿
試験や温度サイクル試験等の熱雰囲気、或いは湿度尊囲
気に対する耐久性、強度等の試祿を、試験室内にて高温
域から極低温域或いは恒温域までの範囲に切換えて実施
できるようにした熱雰囲気試験装置に関するものである
。
従来、精密機器や電子部品等についての熱界囲気試験、
或いは湿度算囲気試験を行なう装置にあっては、試験室
内に設置の空調部冷却器内を流れる冷媒が約１５０℃付
近で分解するため、その温度近くが限界高温域とされて
いた。従って極低温から高温までの温度サイクル試験、
或いは耐湿試験では１５０℃を越える条件となる場合別
に高温用試験機を使用して行なっている。そのために連
続自動試験等を行うには二種を必要とし、熱衝撃試験機
等によって温度サイクル試験を行っているが、耐湿試練
を併用する場合には自動サイクル試験を行うことは困難
である。
或いは湿度算囲気試験を行なう装置にあっては、試験室
内に設置の空調部冷却器内を流れる冷媒が約１５０℃付
近で分解するため、その温度近くが限界高温域とされて
いた。従って極低温から高温までの温度サイクル試験、
或いは耐湿試験では１５０℃を越える条件となる場合別
に高温用試験機を使用して行なっている。そのために連
続自動試験等を行うには二種を必要とし、熱衝撃試験機
等によって温度サイクル試験を行っているが、耐湿試練
を併用する場合には自動サイクル試験を行うことは困難
である。
本発明は所かる従来の問題点を解決して、冷却手段の運
転に支障を米九すことのないように構成して、極低温か
ら高温域、又は恒温恒湿から高温域までの自動サイクル
試験ができる熱雰囲気試験装置を目的とするものである
。
転に支障を米九すことのないように構成して、極低温か
ら高温域、又は恒温恒湿から高温域までの自動サイクル
試験ができる熱雰囲気試験装置を目的とするものである
。
本発明は冷却手段及びこの冷却手段により冷却された低
温の気体、或いは調湿手段及びこの調湿手段により調湿
された気体を、移動させるファンを備えた低温・調湿気
体供給室と、加熱手段及びこの加熱手段により加熱され
た高温の気体を移動させるファンを備えた高温気体供給
室とを、一つのｌν１熱構造にてなる試験室内に配設し
、両気体供給室の吸気口及び送気口に設置した断熱扉を
外部から制御して、高温域での運転時には低温・調湿気
体供給室側を閉じ、低温域での運転時には高温気体供給
室側を閉じるように切換えて、試験室内に設置した試料
に対して所望の温湿度を加えて拭動が行えるように構成
したものである。
温の気体、或いは調湿手段及びこの調湿手段により調湿
された気体を、移動させるファンを備えた低温・調湿気
体供給室と、加熱手段及びこの加熱手段により加熱され
た高温の気体を移動させるファンを備えた高温気体供給
室とを、一つのｌν１熱構造にてなる試験室内に配設し
、両気体供給室の吸気口及び送気口に設置した断熱扉を
外部から制御して、高温域での運転時には低温・調湿気
体供給室側を閉じ、低温域での運転時には高温気体供給
室側を閉じるように切換えて、試験室内に設置した試料
に対して所望の温湿度を加えて拭動が行えるように構成
したものである。
以下本発明装置について実施例を図面により詳述すｔＬ
ば次の辿りである。
ば次の辿りである。
第１図乃至第３図に示すものは本発明装置の代表１１（
Ｊな一具体例であって、主要部を断熱壁体１２）により
囲繞して所要寸法の箱形躯体に形成した本体＋＋）の内
部は、前位１１イに所要容積の試験室（３）を１設け、
この試１引３）の後方には断熱仕切壁（４）によって仕
切らね、た高温気体供給室（６）と、更にその後部に断
熱仕切壁（６）でもって仕切った低温気体及び恒湿気体
供給室（７）を配してあり、試験室１＋ｌの正面には試
料の出し入れ口（８）を大きく設けて、ここに断熱性を
有する扉（９）が収寸けである。この試験室（１）の内
部には試料出し入れ１コとほぼ同幅の寸法の縦、横に交
叉した整流板Ｈを収付けた吹出口（ｌＯ）を上部に、同
様な横水平板を付けた吸込口（１２）を下部に収付けて
後部の風洞部１１１４と仕切っである。
Ｊな一具体例であって、主要部を断熱壁体１２）により
囲繞して所要寸法の箱形躯体に形成した本体＋＋）の内
部は、前位１１イに所要容積の試験室（３）を１設け、
この試１引３）の後方には断熱仕切壁（４）によって仕
切らね、た高温気体供給室（６）と、更にその後部に断
熱仕切壁（６）でもって仕切った低温気体及び恒湿気体
供給室（７）を配してあり、試験室１＋ｌの正面には試
料の出し入れ口（８）を大きく設けて、ここに断熱性を
有する扉（９）が収寸けである。この試験室（１）の内
部には試料出し入れ１コとほぼ同幅の寸法の縦、横に交
叉した整流板Ｈを収付けた吹出口（ｌＯ）を上部に、同
様な横水平板を付けた吸込口（１２）を下部に収付けて
後部の風洞部１１１４と仕切っである。
試験％ｔｘｌの背後位置の高温気体供給室（５）の内部
にはヒーター幀とファン傾とが配置されており、ファン
吐出口（１６を上側風洞部ｄに向は位置するように配し
である。
にはヒーター幀とファン傾とが配置されており、ファン
吐出口（１６を上側風洞部ｄに向は位置するように配し
である。
更に該高温気体供給室（５）の後方に位置する低温気体
及び恒湿気体供給室（７）の内部には冷却機の蒸発器（
冷却用蒸発器用と調湿用蒸発器桶）と、温度制御用ヒー
ターＱη及び調湿用加混器０段七が配置され、ファン■
は吐出口（１４を上部出口（７ｊに向けて配してあり、
該ファン（１ｇ）の吸込口（１勤に対してと、断熱性Ｖ
Ｊ壁（６）内面と蒸発器１１〜・１６やヒーター（１η
設置部との間には適当な間隔をおいて冷気循環路（７）
が形成されるよう仕切板＠１）が設けである。更にファ
ン（１鎌の吐出口１１９１近くには温度検出端□□□と
湿度検出端瞥とを配し、推断扉の開閉にかかわりなく低
温・恒湿気体供給室（７）内を常に一定の温・＃度に保
つよう配慮しである。
及び恒湿気体供給室（７）の内部には冷却機の蒸発器（
冷却用蒸発器用と調湿用蒸発器桶）と、温度制御用ヒー
ターＱη及び調湿用加混器０段七が配置され、ファン■
は吐出口（１４を上部出口（７ｊに向けて配してあり、
該ファン（１ｇ）の吸込口（１勤に対してと、断熱性Ｖ
Ｊ壁（６）内面と蒸発器１１〜・１６やヒーター（１η
設置部との間には適当な間隔をおいて冷気循環路（７）
が形成されるよう仕切板＠１）が設けである。更にファ
ン（１鎌の吐出口１１９１近くには温度検出端□□□と
湿度検出端瞥とを配し、推断扉の開閉にかかわりなく低
温・恒湿気体供給室（７）内を常に一定の温・＃度に保
つよう配慮しである。
而して断熱仕切壁体（６）の上部送気口（７）及び下部
吸気口（７′）には、高温気体供給室（５）と低温（恒
湿）気体供給全（７）とを切換えることができる断熱構
造をもった遮断扉□□□、姑が設けてあり、これら摘断
□□□、１２西は操作軸処、ｄ）にそれぞれ基端を固着
し、一端を断熱壁体外に突出させて、これを本体（１）
外側に配設した往復直線駆動体（たとえばエアシリング
−） ＋２７１ 、’２７１とリンク機構１娼とで各々
繋ぎ、それぞれ９ヂ回制させてＬ４（至）、−が切換え
られて開閉するようになされている。これら各遮断扉（
ハ）、シロ１ｄ：第３図に示す如く試験室ｎｌの風洞部
断熱仕切壁（６）側で回紡するようになされており、シ
ールパツキン四をＩ！ｆＴ熱仕四劃ａ）側＋Ｊｉｉに当
接して気密を保つよりになっている（高温域操作の場合
）。従って、高温での運転を行った場合でも、低温・恒
湿気体供給室（７）内は設定温湿度を保っていることが
できる。
吸気口（７′）には、高温気体供給室（５）と低温（恒
湿）気体供給全（７）とを切換えることができる断熱構
造をもった遮断扉□□□、姑が設けてあり、これら摘断
□□□、１２西は操作軸処、ｄ）にそれぞれ基端を固着
し、一端を断熱壁体外に突出させて、これを本体（１）
外側に配設した往復直線駆動体（たとえばエアシリング
−） ＋２７１ 、’２７１とリンク機構１娼とで各々
繋ぎ、それぞれ９ヂ回制させてＬ４（至）、−が切換え
られて開閉するようになされている。これら各遮断扉（
ハ）、シロ１ｄ：第３図に示す如く試験室ｎｌの風洞部
断熱仕切壁（６）側で回紡するようになされており、シ
ールパツキン四をＩ！ｆＴ熱仕四劃ａ）側＋Ｊｉｉに当
接して気密を保つよりになっている（高温域操作の場合
）。従って、高温での運転を行った場合でも、低温・恒
湿気体供給室（７）内は設定温湿度を保っていることが
できる。
本発明装置の各部の配置については上記の具体例が最も
コンパクトにまとめられて好適な構成であるが、これに
限定されるものではなく、必要に応じて他の状逅に組合
せて構成することも任意なし得る。
コンパクトにまとめられて好適な構成であるが、これに
限定されるものではなく、必要に応じて他の状逅に組合
せて構成することも任意なし得る。
なお、本体（１）のＦ都は断熱壁体で仕切られて機械室
側とし、ここに前記低温・恒湿気体供給室（７）の冷却
機動力部やその凝縮器などが収納され、本体側部には制
御用電気機器などが配設されて試験室内の各種機器や各
機器などと繋いで操作できるようにしである。
側とし、ここに前記低温・恒湿気体供給室（７）の冷却
機動力部やその凝縮器などが収納され、本体側部には制
御用電気機器などが配設されて試験室内の各種機器や各
機器などと繋いで操作できるようにしである。
斯くの■く構成された本発明装置によれば、試験室（３
）の前向の扉（９）を開いてその内部に試料となる品物
を入れ、その試料のテスト要件に従ってそのま＼静置し
、または機器において外部から電動部に通電（予め試験
室の適所に通電用コンセント（耐熱・耐湿のもの）を設
けるか、リード線を外部に出してリード線挿通孔をシー
ルする）して、熱：Ｉ Ｉｔ＠気試瞼試験湿試験、温度
プ゛イクル試験を行うのであり、念とえば温度サイクル
試験を行うについて１は試料を試験室ｉｌｌに入れた後
、先づ高温（たとえば３５（１℃）に曝すには高温気体
供給室（６）七低温・恒湿気体供給室（７）とを箇所す
るため、遮断扉１１ｒ）Ｊ ＋２４を外部の往復直線躯
劾体Ｉ２η幅による操作で起立状帽にし、ヒーターリ（
１）により加熱された「Ｑ温気体がファン１１すにより
風洞部を通じ吹出口（１ｏ）より整流板（１１）にて整
流されて試験室（３）内に吹き込まれ、試験室（３）の
下部吸気口ｆ１りから吸込まれ、再び高温供給室（５）
に入り加熱される流れを形成し、この熱風の循環を所要
時間継続することによって試料を設定の温に雰囲気に保
つのである。この際低温・恒ｌ１ｌＶＩ気体供給室（７
）は箇所扉側Ｑ６によってその出口及び入［］が閉じら
ｉＬ（いるのでその室内は冷却機の駆動による低温状態
に保たれて、高温気流の流入による影響を受けることは
ない。
）の前向の扉（９）を開いてその内部に試料となる品物
を入れ、その試料のテスト要件に従ってそのま＼静置し
、または機器において外部から電動部に通電（予め試験
室の適所に通電用コンセント（耐熱・耐湿のもの）を設
けるか、リード線を外部に出してリード線挿通孔をシー
ルする）して、熱：Ｉ Ｉｔ＠気試瞼試験湿試験、温度
プ゛イクル試験を行うのであり、念とえば温度サイクル
試験を行うについて１は試料を試験室ｉｌｌに入れた後
、先づ高温（たとえば３５（１℃）に曝すには高温気体
供給室（６）七低温・恒湿気体供給室（７）とを箇所す
るため、遮断扉１１ｒ）Ｊ ＋２４を外部の往復直線躯
劾体Ｉ２η幅による操作で起立状帽にし、ヒーターリ（
１）により加熱された「Ｑ温気体がファン１１すにより
風洞部を通じ吹出口（１ｏ）より整流板（１１）にて整
流されて試験室（３）内に吹き込まれ、試験室（３）の
下部吸気口ｆ１りから吸込まれ、再び高温供給室（５）
に入り加熱される流れを形成し、この熱風の循環を所要
時間継続することによって試料を設定の温に雰囲気に保
つのである。この際低温・恒ｌ１ｌＶＩ気体供給室（７
）は箇所扉側Ｑ６によってその出口及び入［］が閉じら
ｉＬ（いるのでその室内は冷却機の駆動による低温状態
に保たれて、高温気流の流入による影響を受けることは
ない。
而して高温域での設定時間経過後直ちに低温（たきえは
−７０℃）域に試料を曝す罠は、先づ高温気体供給室（
５）との連通を断つため、その出口（５′）、により）
閉鎖し、低温・・Ｉｍ湿気体供給室（７）の出］コ（７
）と入口（ｉ）とを開き、既に冷却機の運訳により所要
温度になっている低温気体を試験室１３）内に７アン・
、Ｉ＠により送気し、吸気口（嗜から吸引して高温気体
の場αと同様循環させ、所要時間継続することにより試
料を設定温度の低温雰囲気に保ち、所要のテストを行な
うことができる。
−７０℃）域に試料を曝す罠は、先づ高温気体供給室（
５）との連通を断つため、その出口（５′）、により）
閉鎖し、低温・・Ｉｍ湿気体供給室（７）の出］コ（７
）と入口（ｉ）とを開き、既に冷却機の運訳により所要
温度になっている低温気体を試験室１３）内に７アン・
、Ｉ＠により送気し、吸気口（嗜から吸引して高温気体
の場αと同様循環させ、所要時間継続することにより試
料を設定温度の低温雰囲気に保ち、所要のテストを行な
うことができる。
同様にして耐湿試験を行うには低温・恒湿気体供給室（
７）内を恒温恒湿状態に設定しくこの場合主として冷却
用蒸発器（＋ｅｌの作動を市めておき、加湿器ｆ１８１
及び高温ヒーター（１ηを作１１のさせる）、遮断扉（
ハ）、３６は高温気体供給室（７）の出口及び入口を閉
じ之状惑で気流を循環させれば、試料を設定の雰囲気に
保ってテストすることができるのである。
７）内を恒温恒湿状態に設定しくこの場合主として冷却
用蒸発器（＋ｅｌの作動を市めておき、加湿器ｆ１８１
及び高温ヒーター（１ηを作１１のさせる）、遮断扉（
ハ）、３６は高温気体供給室（７）の出口及び入口を閉
じ之状惑で気流を循環させれば、試料を設定の雰囲気に
保ってテストすることができるのである。
これらのテストを行なっている間の各種データは試料に
直接接続した測定機器のリード線や装置に設けである計
器によって測定し、ま念温度差等によって生ずる試料の
外的結果を確認することができる。
直接接続した測定機器のリード線や装置に設けである計
器によって測定し、ま念温度差等によって生ずる試料の
外的結果を確認することができる。
なお、温度サイクル試験を行うには予め設定したプログ
ラムにより各温度雰囲気設定のためのヒータや冷却機な
どの駆！１１１Ｊを行なうと共に、遮断扉の切換操作を
行うようにすることで、冷気が高温気体供給室に流入し
たり、或いは高温気流が低温・恒温気体供給室に流入し
て蒸発器を加熱し冷媒を分解するようなことがなく、そ
れぞれ気体供給源に障害を起させることなく、従って温
度条件のｙ換も容易に行ない得ることになったのである
。
ラムにより各温度雰囲気設定のためのヒータや冷却機な
どの駆！１１１Ｊを行なうと共に、遮断扉の切換操作を
行うようにすることで、冷気が高温気体供給室に流入し
たり、或いは高温気流が低温・恒温気体供給室に流入し
て蒸発器を加熱し冷媒を分解するようなことがなく、そ
れぞれ気体供給源に障害を起させることなく、従って温
度条件のｙ換も容易に行ない得ることになったのである
。
勿論両気体供給室間はＵＴ熱仕切壁体及び！！！８断扉
による断熱効果によってそれぞれへ熱移動が防止でき、
殊に試験室と高温気体供給室及び高温気体供給室 供給室内での循環用閑間部翰又は１２４）により気体断
熱；１・１を形１ｊスし、ｒＡ移ｇＪの防止に役立ち得
ることになり、（Ｉに実な操作が行えることになるので
ある。
による断熱効果によってそれぞれへ熱移動が防止でき、
殊に試験室と高温気体供給室及び高温気体供給室 供給室内での循環用閑間部翰又は１２４）により気体断
熱；１・１を形１ｊスし、ｒＡ移ｇＪの防止に役立ち得
ることになり、（Ｉに実な操作が行えることになるので
ある。
叙−ヒの如く木発１月によれば、試料を試軌室丙に定置
して、この試験室に対し熱風を送り込んで循環させるこ
とで高温に、また冷気を送り込むことで低温に、更に湿
気を帯びた気体を送り込むことで恒温状態に、それぞれ
、曝して試験することができ、これらはそれぞれの４囲
気に保つため気体供給室がその出口及び入口を遮断扉を
切換え開閉することで直ちに所望の気体を試験室に供給
循環でき、その場合必ず不使用側の熱源が使用側の温度
雰囲気の影響を受けないようになるので、速やかに設定
温度に到達できると共に、殊に低温側の機器に障害を起
させることがないので、３５０℃程度の高温域まで一基
の試験装置でテストすることが可能になり、従って各種
条件のテストプログラムを組んでテストが行えるように
なったのであり、プログラム設定器或いはコンピュータ
ーからの入力にて自助制御ができる等多くの利点を具備
したものとなし得たのである。
して、この試験室に対し熱風を送り込んで循環させるこ
とで高温に、また冷気を送り込むことで低温に、更に湿
気を帯びた気体を送り込むことで恒温状態に、それぞれ
、曝して試験することができ、これらはそれぞれの４囲
気に保つため気体供給室がその出口及び入口を遮断扉を
切換え開閉することで直ちに所望の気体を試験室に供給
循環でき、その場合必ず不使用側の熱源が使用側の温度
雰囲気の影響を受けないようになるので、速やかに設定
温度に到達できると共に、殊に低温側の機器に障害を起
させることがないので、３５０℃程度の高温域まで一基
の試験装置でテストすることが可能になり、従って各種
条件のテストプログラムを組んでテストが行えるように
なったのであり、プログラム設定器或いはコンピュータ
ーからの入力にて自助制御ができる等多くの利点を具備
したものとなし得たのである。
ちなみにプログラム制彷１では入力信号に応じて高温、
低温切換用遮断扉を高温側、低温側と切換えられ、プロ
グラムの温度勾配に応じて冷・熱ｊ＠を交互に試験室に
送り込み所要のプログラムに従った運転もできるのであ
る。なお手動による定侑制御も行い得ることは勿１倫で
ある。
低温切換用遮断扉を高温側、低温側と切換えられ、プロ
グラムの温度勾配に応じて冷・熱ｊ＠を交互に試験室に
送り込み所要のプログラムに従った運転もできるのであ
る。なお手動による定侑制御も行い得ることは勿１倫で
ある。
図面は本発明装置〆ｔの一実施例を示すものであって、
第１図は機械収容部を除く縦断面図、第２図は外側面図
、第３図は型部の拡大断面図である。 （１）・・・木 休 １２）・・・断熱壁体
（３）・・・試 験 室 １４＋ １６１・・・
断熱仕切壁（５）・・・高温気体供給室 （７）・・
・低温・恒湿気体供給室（９）・・・扉
１１０）・・・吹 出 口側・・・吸 込 １コ
；Ｊ（１）・・・ヒーターｄ５）Ｉｌｎ）・・・
ファン ｕｌ・・・冷却用蒸発器（１４・・・
調１昇用蒸発器 Ｊη・・・温度制御用ヒーター、
ｌＩ’９・・・調湿相加＃４ 、渕・・・冷気循環
路１２４） ・・・ｐピ５乏Ｕら、を門（イｆｆＭ（シ
同シＦ♂ｔ゛ ヴ均昏す５・・・ｉ四ｒ ｂｌ−
１２７１（７！６・・・扉操作用の往復ＩＢ線駆動体暖
鏑・・・リンク機構
第１図は機械収容部を除く縦断面図、第２図は外側面図
、第３図は型部の拡大断面図である。 （１）・・・木 休 １２）・・・断熱壁体
（３）・・・試 験 室 １４＋ １６１・・・
断熱仕切壁（５）・・・高温気体供給室 （７）・・
・低温・恒湿気体供給室（９）・・・扉
１１０）・・・吹 出 口側・・・吸 込 １コ
；Ｊ（１）・・・ヒーターｄ５）Ｉｌｎ）・・・
ファン ｕｌ・・・冷却用蒸発器（１４・・・
調１昇用蒸発器 Ｊη・・・温度制御用ヒーター、
ｌＩ’９・・・調湿相加＃４ 、渕・・・冷気循環
路１２４） ・・・ｐピ５乏Ｕら、を門（イｆｆＭ（シ
同シＦ♂ｔ゛ ヴ均昏す５・・・ｉ四ｒ ｂｌ−
１２７１（７！６・・・扉操作用の往復ＩＢ線駆動体暖
鏑・・・リンク機構
Claims (1)
- 冷却手段及びこの冷却手段により冷却された低温気体、
或いは調湿手段及びこの調湿手段により調湿された気体
を移動させるファンを備えた低温・調湿気体供給室と、
加熱手段及びこの加熱手段により加熱された高温気体を
移動させるファンを備えた高温気体供給室とを、一つの
断熱構造にてなる試験室内に配設し、両気体供給室の吸
気口及び送気口に、外部からの制御でいずれか一方の気
体供給室側を閉じるように切換えられる断熱扉を、それ
ぞｔｌ、設けたことを特徴とする広域温湿度算囲気試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58020903A JPS59145949A (ja) | 1983-02-09 | 1983-02-09 | 広域温湿度雰囲気試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58020903A JPS59145949A (ja) | 1983-02-09 | 1983-02-09 | 広域温湿度雰囲気試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59145949A true JPS59145949A (ja) | 1984-08-21 |
| JPH0322579B2 JPH0322579B2 (ja) | 1991-03-27 |
Family
ID=12040186
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58020903A Granted JPS59145949A (ja) | 1983-02-09 | 1983-02-09 | 広域温湿度雰囲気試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59145949A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6230158U (ja) * | 1985-08-07 | 1987-02-23 | ||
| JPS63108283A (ja) * | 1986-10-24 | 1988-05-13 | Yamato Scient Co Ltd | 恒温・恒湿試験装置 |
| JPS63158472A (ja) * | 1986-12-23 | 1988-07-01 | Orion Mach Co Ltd | 冷熱衝撃試験装置 |
| JPH0310272U (ja) * | 1989-06-16 | 1991-01-31 | ||
| JPH0650877A (ja) * | 1992-07-06 | 1994-02-25 | Orion Mach Co Ltd | 環境試験装置 |
| JPH09320403A (ja) * | 1996-05-29 | 1997-12-12 | Toko Denki Kk | 配電機器の耐候性試験装置 |
| CN103528166A (zh) * | 2013-10-17 | 2014-01-22 | 深圳麦克维尔空调有限公司 | 空调系统低温启动方法 |
| CN103994967A (zh) * | 2014-05-15 | 2014-08-20 | 东莞市升微机电设备科技有限公司 | 臭氧龟裂老化试验机 |
| JP2020125901A (ja) * | 2016-09-21 | 2020-08-20 | 東洋リビング株式会社 | 保管庫 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5831469B2 (ja) * | 2013-01-29 | 2015-12-09 | 株式会社豊田中央研究所 | 冷熱装置及び冷熱装置の温度制御方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54121659U (ja) * | 1978-02-15 | 1979-08-25 | ||
| JPS5858437A (ja) * | 1981-10-02 | 1983-04-07 | Tabai Seisakusho:Kk | 冷熱サイクル装置 |
-
1983
- 1983-02-09 JP JP58020903A patent/JPS59145949A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54121659U (ja) * | 1978-02-15 | 1979-08-25 | ||
| JPS5858437A (ja) * | 1981-10-02 | 1983-04-07 | Tabai Seisakusho:Kk | 冷熱サイクル装置 |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6230158U (ja) * | 1985-08-07 | 1987-02-23 | ||
| JPH0527013Y2 (ja) * | 1985-08-07 | 1993-07-08 | ||
| JPS63108283A (ja) * | 1986-10-24 | 1988-05-13 | Yamato Scient Co Ltd | 恒温・恒湿試験装置 |
| JPS63158472A (ja) * | 1986-12-23 | 1988-07-01 | Orion Mach Co Ltd | 冷熱衝撃試験装置 |
| JPH0310272U (ja) * | 1989-06-16 | 1991-01-31 | ||
| JPH0650877A (ja) * | 1992-07-06 | 1994-02-25 | Orion Mach Co Ltd | 環境試験装置 |
| JPH09320403A (ja) * | 1996-05-29 | 1997-12-12 | Toko Denki Kk | 配電機器の耐候性試験装置 |
| CN103528166A (zh) * | 2013-10-17 | 2014-01-22 | 深圳麦克维尔空调有限公司 | 空调系统低温启动方法 |
| CN103994967A (zh) * | 2014-05-15 | 2014-08-20 | 东莞市升微机电设备科技有限公司 | 臭氧龟裂老化试验机 |
| JP2020125901A (ja) * | 2016-09-21 | 2020-08-20 | 東洋リビング株式会社 | 保管庫 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0322579B2 (ja) | 1991-03-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS59145949A (ja) | 広域温湿度雰囲気試験装置 | |
| JPS6251416B2 (ja) | ||
| KR20070050311A (ko) | 메모리모듈 검사용 냉/온기 발생장치 | |
| JP3145634B2 (ja) | 温度分布調整式恒温装置 | |
| CN107850529A (zh) | 环境测试室 | |
| JP4815466B2 (ja) | 環境試験装置 | |
| US20240003586A1 (en) | Integrated Energy Recovery Base or Roof-curb for Air-conditioning Unit | |
| KR20060008379A (ko) | 반도체 검사를 위한 번인 테스터 | |
| JPH05157676A (ja) | 冷熱湿度衝撃試験機 | |
| JP2999710B2 (ja) | ワイドレンジ型環境試験装置 | |
| JP3874322B2 (ja) | 引出し式扉を持つ環境試験装置 | |
| JP2786688B2 (ja) | 冷熱サイクル装置 | |
| JP2690969B2 (ja) | 環境装置 | |
| JPS637627B2 (ja) | ||
| CN218630081U (zh) | 一种集成电路低温性测试装置 | |
| JPH0318140B2 (ja) | ||
| JPH0633335Y2 (ja) | ショーケースを設置した店舗における空調装置 | |
| CN214668726U (zh) | 高耐用性的三箱式冷热冲击试验箱 | |
| CN214668348U (zh) | 有效减少热损耗量的三箱式冷热冲击试验箱 | |
| JPH10115658A (ja) | 温度試験装置 | |
| JPS63158472A (ja) | 冷熱衝撃試験装置 | |
| JP2624500B2 (ja) | 温度サイクル装置 | |
| KR100628849B1 (ko) | 항온항습기의 점검시 외부공기 유입방지장치 | |
| CN2499818Y (zh) | 水泥试体标准湿气养护箱 | |
| JPS63292081A (ja) | 広域冷熱サイクル試験装置 |