JP3145634B2 - 温度分布調整式恒温装置 - Google Patents

温度分布調整式恒温装置

Info

Publication number
JP3145634B2
JP3145634B2 JP11540096A JP11540096A JP3145634B2 JP 3145634 B2 JP3145634 B2 JP 3145634B2 JP 11540096 A JP11540096 A JP 11540096A JP 11540096 A JP11540096 A JP 11540096A JP 3145634 B2 JP3145634 B2 JP 3145634B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
air
temperature
bypass
ventilation path
room
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP11540096A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09276715A (ja
Inventor
榮久 服部
Original Assignee
タバイエスペック株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by タバイエスペック株式会社 filed Critical タバイエスペック株式会社
Priority to JP11540096A priority Critical patent/JP3145634B2/ja
Publication of JPH09276715A publication Critical patent/JPH09276715A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3145634B2 publication Critical patent/JP3145634B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Devices For Use In Laboratory Experiments (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、空調された気体が
循環される室を備えた恒温装置に関し、例えば恒温又は
恒温恒湿環境試験器(冷熱を含む)、低温(冷凍)保存
庫又は冷凍装置、熱処理装置、培養装置等に利用され
る。
【0002】
【従来の技術】例えば環境試験装置では、一定の条件に
温度又は温湿度を調整される試験室内に試料を入れて環
境試験が行われる。この場合、試料にはできるだけ均一
な温度条件を付与することが望ましいが、器内温度分布
を均一化する技術は必ずしも確立されておらず、最初に
風向ダンパの調整をすると、それ以後は、試験される試
料が相違してもダンパ調整等は行われず、空気流れは成
り行きにまかせられていて、試料にとって良好な温度条
件が必ずしも付与されていなかった。又、従来の装置に
おける試験室の出入口ダンパの調整のみでは、例えば図
9に示す如く、試料Wの寸法や形状等によっては、試験
室1内において循環空気の滞留部Dが発生する等、空気
流れが不均一になり、試料W周辺の均一な温度分布が得
られないという問題があった。
【0003】一方、均一な温度分布を得ようとすると、
試験室の中央部分の僅かなスペースのみに試料を配置し
なければならないこともあり、試験室容積の利用率が悪
くなるという問題があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は従来技術に於
ける上記問題を解決し、温度分布が改善され対象物に精
度の良い試験や処理条件を付与できると共に、室内容積
の利用率の高い恒温装置を提供することを課題とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、空調された気体が室内を循環するように構
成された恒温装置において、該空調された気体の室内循
環経路から分岐して該空調された気体の少なくともその
一部を短絡的に空調室に送気可能なバイパス通風路を設
、該バイパス通風路と前記室とを連通させる複数の
開口部と、該開口部に設けられた開閉自在な通風調整手
段と、を有することを特徴とする。
【0006】
【発明の実施の形態】図1は本発明を適用した恒温装置
の一例である環境試験装置の概略構成を示す。環境試験
装置は、空調された気体が循環される室としての試験室
1と、この中に仕切られて形成された空調室2とを備え
ている。又、図示しないが、冷凍機ユニットや制御盤等
が適宜設けられる。空調室2側には、加湿器3、冷媒が
循環されるクーラ4、ヒータ5、主循環送風機6等が設
けられている。
【0007】試験室1には、空調された気体の室内循環
経路から分岐して空調された気体の少なくともその一部
を短絡的に空調室に送気可能なバイパス通風路としての
側壁の下方部分に設けられた側壁通風路10及び床下通
風路11と、これらの通風路と試験室1とを連通させる
複数の開口部としての区分された通気孔12と、これに
設けられた開閉自在な通風調整手段としてのダンパ13
とが設けられている。又本例では、床下通風路11の出
口に通気調整手段であるバイパスファン14も設けてい
る。このファンは、必要に応じて回転数制御が可能なも
のにされる。又、ダンパ13の開閉にファンの回転数制
御を加えて制御できるようにすれば更に良い。
【0008】ダンパ13及びバイパスファン14は、試
験室1内に入れられる試料Wの大きさや形状に応じて、
開閉、開度調整、運転/停止、回転数制御される。その
結果、試料Wの温度分布の均一化を図ることができる。
なお、加湿器が必要なときは、主循環ライン用の加湿器
3に加えて、バイパス循環ラインにも補助加湿器15を
設けるようにしてもよい。これにより、一層精度の良い
湿度制御を行うことができる。
【0009】図2は環境試験装置の他の構造例を示す。
本例では、バイパス通風路として、図1のものに加えて
前通風路16及び奥壁通風路17が設けられると共に、
これらのためのダンパ13が設けられている。そのた
め、試料出し入れ用扉7は二重構造になっている。又、
下部と前後部分とを連通させる下部連通口18を設け、
扉閉鎖時に両者を連通させる。この例によれば、試料W
の前後側の温度分布も改善できる。
【0010】図3は、気体を下から上に流す構成の環境
試験装置に本発明を適用した例を示す。本例では、バイ
パス通風路として天井通風路19を有する。この例にお
いても、上記と同様に、大形の試料Wを配置してもその
温度分布を良好に保つことができる。
【0011】図4は更に他の例を示す。本例の環境試験
装置は、バイパス通風路として天井通風路19、床下通
風路11及び空調部外側通風路20を備えると共に、側
壁通風路10が側壁全体に設けられていて、上下の通風
路と連通している。又、これらに対応して、上下通風路
切換ダンパ21、22が設けられている。なお、図示の
例ではこれらのダンバーを1つのダンバーの回転位置で
使い分けるようにしているが、各通風路毎に別個のダン
バーを設けて開閉する方式にしてもよい。
【0012】この例の装置によれば、極めて多様な使い
方ができる。上下通風路切換ダンパ21、22を共に実
線で示すA位置にすれば、試料に均等な温度分布を与え
られる環境試験装置になる。上下ダンバ21、22を共
にB位置にすれば、空調室2と空調部外側壁通風路20
との間のみのバイパス循環系が形成され、空調室2内を
所定温度に保持した状態で試験室1内に試料を出し入れ
することができる。又、図示の如く外気連通口23、2
4を設ければ、これを開放することによって、試験室1
内を常温にして試料の常温さらしをすることができる。
更に、上下ダンパ21、22ををそれぞれC、A位置に
すれば、気体が殆どバイパス側を通るので、培養器のよ
うに試料に直接風を当てない使い方もできる。
【0013】図5(a)乃至(e)は本発明を冷熱衝撃
試験器に適用した例を示す。この冷熱衝撃試験器は、中
央の試験室1の上下に高温側及び低温側空調室2a、2
bを有し、高温側にはヒータ5´及び主循環送風機6´
が設けられ、試験室1との間には切換ダンパ8が設けら
れている。その切り換えによって、試験室1を含む循環
系を高温側と低温側との間で切り換え、冷熱衝撃試験を
行えるようになっている。
【0014】バイパス通風路としては、右側壁通風路1
6及び左側壁通風路17が設けられ、これらは前後方向
にバイパス部16a、17aと常温部16b、17bと
に分割され、更に上下に高温用、低温用バイパス部16
c、17c、16d、17dに仕切られている。それぞ
れの部分は、試験室1とダンパ13を介して連通してい
る。又バイパス部16a、17aは、上下通風路切換ダ
ンパ21、22及び高温側と低温側とに別個に設けられ
たバイパスファン14a、14bを介して高低温側空調
室2a、2bと連通している。常温部16b、17b
は、ダンパ25、26を介して外気と連通する。
【0015】このような冷熱衝撃試験器においても、パ
イパス循環系を設けることによって、高温さらし及び低
温さらし時における試料Wに付与する温度条件の精度を
向上させることができる。又、常温さらし部を設けるこ
とにより、常温さらしを簡易且つ迅速に行うことができ
る。
【0016】なお、個別バイパスファンは、試験室1内
の温度分布改善に用いられる他に、図5(c)に示す如
く、各温調部が待機中に各個別バイパスファンと各バイ
パス循環系とによって各温度気体の循環経路を構成でき
るので、温度保持のときに主循環送風機6´を停止して
省エネを図ることができる効果を有する。
【0017】図6は図5(b)に相当する図である。本
例の装置は、図5のものに対して、高温側及び低温側の
バイパスファン14a、14bを中間の位置16a、1
7aに共通バイパスファン14として設けた点が相違す
る。このようにすれば、バイパスファンの台数が減り制
御も簡単になる反面、各温度気体の温度保持の為の循環
対策を別途考慮する必要がある。
【0018】図7は試料として板状のものも取り扱える
高温恒温槽に本発明を適用した例を示す。本例では、上
下方向に多数枚立設される試料Wも効率的に熱処理でき
るように、バイパス通風路として天井通風路19及び床
下通風路11を設けると共に、通気孔12及びダンパ1
3を細かいピッチで多数設けている。又、上下通風路切
換ダンパ21、22を設けている。このような高温恒温
槽では、板状の試料Wを熱処理するときには、ダンパ1
3、21、22をすべて開にして、上下方向に試料Wに
並行な風を送る。その結果、図10に示すような従来の
熱処理装置に較べて、処理室の容積利用率を大幅に向上
することができる。なお、必要によってバイパス循環系
にファンを設けてもよい。
【0019】図8も同様の恒温槽を示す。本例では、板
状の試料Wを水平方向に多数枚並設している。この場合
には、側壁通風路10と床下通風路11とを設ける。こ
れにより、風の水平方向の並行な流れを促進することが
できる。その結果、図7の例と同様に、多数枚の試料W
の熱処理が可能になり、図11に示す従来の装置に較べ
て容積利用率を大幅に向上させることができる。
【0020】
【発明の効果】以上の如く本発明によれば、、空調され
た気体の室内循環経路から分岐してその少なくとも一部
を短絡的に空調室に送気可能なバイパス通風路、空調さ
れた気体が循環される室とバイパス通風路との連通用開
口部、及び開口部に設けられた通風調整手段を設けるの
で、室から開口部を介してバイパス通風路に気体を流
ことができる。この場合、開口部が複数設けられている
ので、使用する開口部を選択したり開口部毎に気体通過
量を調整できる。その結果、室内に入れられる対象物の
大きさ、形状、数量等によって気体の円滑な流れが妨げ
られるような部分の気体流れを促進し、円滑な気体流れ
によって対象物の周囲の環境条件を均一化することがで
きる。従って、環境試験や熱処理等において、室内に試
料を一杯に詰め込んだときでも、温湿度の精度の高い厳
しい試験条件を満たすことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した恒温装置の一例である環境試
験装置の概略構成を示し、(a)は縦断面図で(b)は
下部横断面図である。
【図2】環境試験装置の他の例を示す横断面図である。
【図3】環境試験装置の他の例を示す縦断面図である。
【図4】環境試験装置の更に他の例を示す縦断面図であ
る。
【図5】本発明を適用した恒温装置の一例である冷熱衝
撃試験器の概略構成を示し、(a)は縦断面図、(b)
乃至(e)は、それぞれ(a)のb−b矢視図、c−c
矢視図、d−d矢視図及びe−e矢視図である。
【図6】冷熱衝撃試験器の他の例を示す横断面図であ
る。
【図7】本発明を適用した恒温装置の一例である高温恒
温槽の縦断面図である。
【図8】高温恒温槽の他の例を示す縦断面図である。
【図9】従来の環境試験装置の一例を示す縦断面図であ
る。
【図10】従来の高温恒温槽の一例を示す縦断面図であ
る。
【図11】従来の高温恒温槽の他の例を示す縦断面図で
ある。
【符号の説明】
1 試験室(室) 空調室 10 側壁通風路(バイパス通風路) 11 床下通風路(バイパス通風路) 12 通気孔(開口部) 13 ダンパ(通気調整手段) 14 バイパスファン(通気調整手段) 16 前通風路、右側壁通風路(バイパス通
風路) 17 奥壁通風路、左側壁通風路(バイパス
通風路) 20 空調部外側壁通風路(バイパス通風
路)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B01L 1/00 G01N 17/00

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 空調された気体が室内を循環するように
    構成された恒温装置において、該空調された気体の室内循環経路から分岐して該空調さ
    れた気体の少なくともその一部を短絡的に空調室に送気
    可能な バイパス通風路を設け、該バイパス通風路と前記
    とを連通させる複数の開口部と、該開口部に設けら
    れた開閉自在な通風調整手段と、を有することを特徴と
    する恒温装置。
JP11540096A 1996-04-11 1996-04-11 温度分布調整式恒温装置 Expired - Lifetime JP3145634B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11540096A JP3145634B2 (ja) 1996-04-11 1996-04-11 温度分布調整式恒温装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11540096A JP3145634B2 (ja) 1996-04-11 1996-04-11 温度分布調整式恒温装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09276715A JPH09276715A (ja) 1997-10-28
JP3145634B2 true JP3145634B2 (ja) 2001-03-12

Family

ID=14661634

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11540096A Expired - Lifetime JP3145634B2 (ja) 1996-04-11 1996-04-11 温度分布調整式恒温装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3145634B2 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005017155A (ja) * 2003-06-27 2005-01-20 Toyobo Co Ltd 金属基板上のアレイの作製方法
JP2006087391A (ja) * 2004-09-27 2006-04-06 Keiko Abe 微生物の胞子または細胞の調製方法、これらの胞子または細胞の水性懸濁液の調製方法、この微生物を培養するための培養片、この培養片から得られる培養済みの培養片および培養装置
JP5244458B2 (ja) * 2008-05-23 2013-07-24 エスペック株式会社 空調装置
JP5096505B2 (ja) * 2010-01-15 2012-12-12 エスペック株式会社 ダクトユニット及びこれを有する環境試験装置
JP6173792B2 (ja) * 2013-06-27 2017-08-02 株式会社ミツトヨ 恒温槽、線膨張係数測定装置、及び恒温槽の制御方法
JP5969968B2 (ja) * 2013-09-24 2016-08-17 エスペック株式会社 環境試験装置
JP6047737B1 (ja) * 2016-01-28 2016-12-21 スガ試験機株式会社 複合サイクル試験機
JP6670221B2 (ja) * 2016-10-28 2020-03-18 エスペック株式会社 環境試験装置
JP6830295B2 (ja) * 2017-05-09 2021-02-17 株式会社ダイチューテクノロジーズ 記憶媒体の評価試験装置
JP6657141B2 (ja) * 2017-05-29 2020-03-04 エスペック株式会社 環境試験装置及び熱処理装置
JP6835698B2 (ja) * 2017-10-26 2021-02-24 エスペック株式会社 処理装置
WO2019244198A1 (ja) * 2018-06-18 2019-12-26 株式会社島津製作所 サンプル温調機能を備えた装置
JP7294944B2 (ja) * 2019-08-20 2023-06-20 エスペック株式会社 環境試験装置
CN111337374B (zh) * 2020-03-30 2022-10-04 深圳市德洋实验设备有限公司 一种节能型冷热冲击试验箱
CN113559943A (zh) * 2021-08-25 2021-10-29 恒为科技(上海)股份有限公司 一种高低温试验箱

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09276715A (ja) 1997-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3145634B2 (ja) 温度分布調整式恒温装置
US9028308B2 (en) Integrated structural slab and access floor HVAC system for buildings
KR101295311B1 (ko) 빌트업 항온기
JPH08254346A (ja) 隣接複数室の個別空調システム及びその空調方法
JP2999710B2 (ja) ワイドレンジ型環境試験装置
JP2000121130A (ja) 外気冷房システム
JPH0322579B2 (ja)
JPH0348780A (ja) バーンイン装置及びバーンイン装置の温度制御方法
KR20200127508A (ko) 실내 공기질 관리를 위한 지능형 공조기 및 이의 제어방법
JPH037821A (ja) 空調設備
KR101203999B1 (ko) 혼합 공기조화 시스템 및 그 제어 방법
JPH0875191A (ja) 空調方法
CN112066455A (zh) 一种均匀换热的风管机及其控制方法
US2120883A (en) Air conditioning system
JP2534312Y2 (ja) 目的とする温度及び(又は)湿度環境を得る装置
JPS6023262B2 (ja) 空気調和における室内圧制御方法
JP2020134079A (ja) エアフローウインドウを利用した空調装置
JPH0633335Y2 (ja) ショーケースを設置した店舗における空調装置
JPS63306329A (ja) アンダ−フロア−空調システム用空調機
JPH07139768A (ja) 空調システムおよび空調パネル
JP2530731Y2 (ja) 空気調和装置
JPS63286646A (ja) ダクト式空調装置の制御方法
JPH0754776Y2 (ja) 小型空調設備用の性能測定室システム
JPH0127106Y2 (ja)
JP3788072B2 (ja) 空調システム

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090105

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090105

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100105

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110105

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110105

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120105

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120105

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130105

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130105

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140105

Year of fee payment: 13

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term