JPS59144179A - 光電変換装置作製方法 - Google Patents
光電変換装置作製方法Info
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- JPS59144179A JPS59144179A JP58018621A JP1862183A JPS59144179A JP S59144179 A JPS59144179 A JP S59144179A JP 58018621 A JP58018621 A JP 58018621A JP 1862183 A JP1862183 A JP 1862183A JP S59144179 A JPS59144179 A JP S59144179A
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- B32B17/00—Layered products essentially comprising sheet glass, or glass, slag, or like fibres
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- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、非単結晶半導体を用いた光電変換装置であっ
て、特に高効率高信頼性を求めた半導体装置およびその
作製方法に関する。
て、特に高効率高信頼性を求めた半導体装置およびその
作製方法に関する。
この発明は、透光性の第1の絶縁基板と、この基板上の
第1の透光性導電B% (以下単にCTFIという)を
有する第1の電極と、この電極上に光照射により光起電
力を発生させる少なくとも1つの。
第1の透光性導電B% (以下単にCTFIという)を
有する第1の電極と、この電極上に光照射により光起電
力を発生させる少なくとも1つの。
PNまたはPIN接合を有する非単結晶半導体と、該半
導体上第2の透光性導電膜(以下単にCrF2という)
よりなる第2の電極により設けられた光電変換素子(以
下単にPvCまたは素子という)を設けてこれをパネル
化して光電変換装置とした構造を有する。本発明は光電
変換素子の第2の電極(裏面電極ともいう)をCTF2
とすることにより、太陽光等の照射光のうち600n
m以上の長波長光を第2の電極より後方に放射せしめる
電極構造を有する。
導体上第2の透光性導電膜(以下単にCrF2という)
よりなる第2の電極により設けられた光電変換素子(以
下単にPvCまたは素子という)を設けてこれをパネル
化して光電変換装置とした構造を有する。本発明は光電
変換素子の第2の電極(裏面電極ともいう)をCTF2
とすることにより、太陽光等の照射光のうち600n
m以上の長波長光を第2の電極より後方に放射せしめる
電極構造を有する。
即ち本発明は、非単結晶導体に密接する第1および第2
の電極がともに金属ではなり、酸化スズ酸化インジュー
ム、酸化インジューム・スズ等の酸化物よりなるCTF
とし、従来より知られた電極を構成する金属一般的には
アルミニュームが半導体中にマイブレイト(異常拡散)
をして150°C以上における高温放置テスl〜におけ
る信頼性の低下をもたらすことを防ぐことを目的として
いる。
の電極がともに金属ではなり、酸化スズ酸化インジュー
ム、酸化インジューム・スズ等の酸化物よりなるCTF
とし、従来より知られた電極を構成する金属一般的には
アルミニュームが半導体中にマイブレイト(異常拡散)
をして150°C以上における高温放置テスl〜におけ
る信頼性の低下をもたらすことを防ぐことを目的として
いる。
本発明はさらに第1、第2の電極をともにCTFとする
ことにより、複合集積化構造を施すに際しレーザスクラ
イブ法(単にLSという)を採用することができ、高生
産性および複合化部における必要面積の減示即ち実効変
換効率の向上をもたらすことができるという他の特徴を
有する。
ことにより、複合集積化構造を施すに際しレーザスクラ
イブ法(単にLSという)を採用することができ、高生
産性および複合化部における必要面積の減示即ち実効変
換効率の向上をもたらすことができるという他の特徴を
有する。
本発明は第2の電極より外部に放射された長波長光をさ
らに透光性充填物を介して設しすられた裏面保護膜の内
部に設けられた反射性表面一般的にはアルミニューム箔
により反射せしめ、再び第2の電極をへて半導体中に注
入せしめ、さらに光起電力の発生を促すことにより、長
波長光を利用して効率の向上を図っている。
らに透光性充填物を介して設しすられた裏面保護膜の内
部に設けられた反射性表面一般的にはアルミニューム箔
により反射せしめ、再び第2の電極をへて半導体中に注
入せしめ、さらに光起電力の発生を促すことにより、長
波長光を利用して効率の向上を図っている。
さらに本発明は、この裏面保護物をフ・7累系樹脂例え
ばPVF(1弗化ビニール)(商品名をテトラ−ともい
う)を用い、加えてこのPVFを1年以上の長期間にお
いて少しづつ含浸してくる湿度に対するブロッキング作
用をもアルミニューム箔に有せしめるという他の効果を
も併有している。
ばPVF(1弗化ビニール)(商品名をテトラ−ともい
う)を用い、加えてこのPVFを1年以上の長期間にお
いて少しづつ含浸してくる湿度に対するブロッキング作
用をもアルミニューム箔に有せしめるという他の効果を
も併有している。
即ち、本発明の光電変換装置は低価格であるとともに耐
高温信頼性および耐湿度信頼性をも有せしめることがで
きる。加えて電極に金属材料を用いないため、複合集積
化の際、高温処理工程のLSにおいてスクライブと同時
に異常拡散をしてしまうことがな(、複合集積化におい
ても高信頼性を有することができる。さらに従来より知
られた蒸着マスクまたはスクリーン印刷法でのマスクを
まったく必要としないマスクレス工程法である。LSを
もちいることによりパネル全体に対する複合化に伴う各
素子間の連結部の割合を全体の10%以下一般には5〜
7%にすることができた。パネルレベルでの高効率化を
図ることができるという他の特徴を有することができる
。
高温信頼性および耐湿度信頼性をも有せしめることがで
きる。加えて電極に金属材料を用いないため、複合集積
化の際、高温処理工程のLSにおいてスクライブと同時
に異常拡散をしてしまうことがな(、複合集積化におい
ても高信頼性を有することができる。さらに従来より知
られた蒸着マスクまたはスクリーン印刷法でのマスクを
まったく必要としないマスクレス工程法である。LSを
もちいることによりパネル全体に対する複合化に伴う各
素子間の連結部の割合を全体の10%以下一般には5〜
7%にすることができた。パネルレベルでの高効率化を
図ることができるという他の特徴を有することができる
。
従来光電変換装置は第1図にその縦断面図か示されてい
る如く、透光性基板例えばガラス(1)上に透光性導電
膜(2)として約0.2.sの厚さにI T O+ S
n 07等を形成せしめ、さらにプラズマ気相法によ
りPIN接合、PrNPIN・・・PIN接合を形成し
て非単結晶半導体(3)を約0.νの厚さに積層する。
る如く、透光性基板例えばガラス(1)上に透光性導電
膜(2)として約0.2.sの厚さにI T O+ S
n 07等を形成せしめ、さらにプラズマ気相法によ
りPIN接合、PrNPIN・・・PIN接合を形成し
て非単結晶半導体(3)を約0.νの厚さに積層する。
次に裏面電極をアルミニュームの金属を真空蒸着法によ
り0.3〜νの厚さに形成した。さらにエポキシ樹脂(
5)をコーティングし作製した。
り0.3〜νの厚さに形成した。さらにエポキシ樹脂(
5)をコーティングし作製した。
照射光(10)は太陽光等が用いられる。しかしかかる
従来の構造においては、信頼性の点において十分でない
。その原因を詳しく調べた結果、裏面電極(4)を構成
する金属が半導体(3)と合金を作らず、100°C以
上代表的には150°Cの高温放置テストにおいて半導
体中に異常拡散してしまし1、約12〜50時間で0.
Vもの深さに混入し、特性例えば変換効率を6%より1
%以下にまで劣化させ、ふたつの電極間が実質的にショ
ートしてしまうことが判明した。
従来の構造においては、信頼性の点において十分でない
。その原因を詳しく調べた結果、裏面電極(4)を構成
する金属が半導体(3)と合金を作らず、100°C以
上代表的には150°Cの高温放置テストにおいて半導
体中に異常拡散してしまし1、約12〜50時間で0.
Vもの深さに混入し、特性例えば変換効率を6%より1
%以下にまで劣化させ、ふたつの電極間が実質的にショ
ートしてしまうことが判明した。
このためアモルファスまたはセミアモルファスシリコン
等を主成分として用いる非単結晶半導体においては、こ
の半導体と密接する材料は金属ではなく、金属酸化物ま
たは金属窒化物等の化合物の導体であることが最も重要
であることが判明した。
等を主成分として用いる非単結晶半導体においては、こ
の半導体と密接する材料は金属ではなく、金属酸化物ま
たは金属窒化物等の化合物の導体であることが最も重要
であることが判明した。
本発明はかかる実験事実に基づきなされたものであって
、半導体(3)が一つのPIN接合を有する場合、その
P型半導体には酸化スズを主成分とするCTFを密接し
て電極を構成せしめ、またN型半導体には酸化インジュ
ームまたはITOUll、化スズを10重量%以下含有
させた酸化インジューム)を密接せしめ、金属を用いな
い構造とせしめたことを第一の特徴としている。
、半導体(3)が一つのPIN接合を有する場合、その
P型半導体には酸化スズを主成分とするCTFを密接し
て電極を構成せしめ、またN型半導体には酸化インジュ
ームまたはITOUll、化スズを10重量%以下含有
させた酸化インジューム)を密接せしめ、金属を用いな
い構造とせしめたことを第一の特徴としている。
第2図は本発明の光電変換装置の縦断面図を示す。
この光電変換装置は同一透光性基板上に複数の素子を複
合集積化するとともに、パネル構造に枠組みして設けた
ものである。
合集積化するとともに、パネル構造に枠組みして設けた
ものである。
図面において透光性基板(1)上にITOを1500〜
250OAの厚さに設け、さらに酸化スズを200〜5
00Δの厚さに設けたCTFI(2)が設けられている
。
250OAの厚さに設け、さらに酸化スズを200〜5
00Δの厚さに設けたCTFI(2)が設けられている
。
さらにPIN接合を有する非単結晶半導体(3)をP型
5ixC+< (0<x<1例えはx =o、s >
oooK>−I型Si (約0.47)−N型微結
晶Si (粒径100〜200Δ)の構造にプラズマ気
相法にて作製した。さらにこのN型半導体に密接したI
TOを1000〜3000λ例えば20005.の厚さ
にCTF2(4)として設けた。
5ixC+< (0<x<1例えはx =o、s >
oooK>−I型Si (約0.47)−N型微結
晶Si (粒径100〜200Δ)の構造にプラズマ気
相法にて作製した。さらにこのN型半導体に密接したI
TOを1000〜3000λ例えば20005.の厚さ
にCTF2(4)として設けた。
この複合化は基板(1)上の全面にCTFIを形成した
後、LSにより約20/Aの1tにこのCTFIをスク
ライブして複数の領域に分離(17) して、さらに半
導体(3)を全面に形成した後、半導体(3)およびC
TFIを再びLSにより分離(18) した。さらにC
TF2(4)を全面に形成した後、LSにより複数の領
域に分離(19) シたものである。かくすると第1の
素子(20)第2の素子、(2/L)、第3の素子(2
2)等に分割される。そして例えばその連結部は外部連
結電極(16)に連結した第1の外部引出し電極用バッ
ト(15)が第1の素子の第2の電極と連結しこの第1
の素子の第1の電極が(18)にて第2の素子の第2の
電極と連結して直列接続をして設けられた。さらに第3
の素子(22)の第1の電極は他の外部引出し電極用バ
ット(15)と連結し、外部接続電極(16’)に連な
っている。
後、LSにより約20/Aの1tにこのCTFIをスク
ライブして複数の領域に分離(17) して、さらに半
導体(3)を全面に形成した後、半導体(3)およびC
TFIを再びLSにより分離(18) した。さらにC
TF2(4)を全面に形成した後、LSにより複数の領
域に分離(19) シたものである。かくすると第1の
素子(20)第2の素子、(2/L)、第3の素子(2
2)等に分割される。そして例えばその連結部は外部連
結電極(16)に連結した第1の外部引出し電極用バッ
ト(15)が第1の素子の第2の電極と連結しこの第1
の素子の第1の電極が(18)にて第2の素子の第2の
電極と連結して直列接続をして設けられた。さらに第3
の素子(22)の第1の電極は他の外部引出し電極用バ
ット(15)と連結し、外部接続電極(16’)に連な
っている。
かくして同一基板(1)上に複数の素子が複合化されて
いる。さらにこの素子はPVB(商品名をシーフレック
スともいわれている〉の透光性を有する加熱熔融充填材
(7) (0,2〜lmm一般には0.5mmの厚さ
)により充填されている。
いる。さらにこの素子はPVB(商品名をシーフレック
スともいわれている〉の透光性を有する加熱熔融充填材
(7) (0,2〜lmm一般には0.5mmの厚さ
)により充填されている。
さらにこの上面には、裏面保護物(8)がテトラ−(1
2) (30〜5い)とアルミ箔(11) (約3
0点の厚さ)により設けられている。このアルミ−箔は
耐湿性の向上とともに照射光(10)の素子(20)(
21) (22)にて吸収しきれずに透過された長波
長光(>600nm ’) (10)を反射せしめ再
び素子にもどして光電変換をさせることができる。
2) (30〜5い)とアルミ箔(11) (約3
0点の厚さ)により設けられている。このアルミ−箔は
耐湿性の向上とともに照射光(10)の素子(20)(
21) (22)にて吸収しきれずに透過された長波
長光(>600nm ’) (10)を反射せしめ再
び素子にもどして光電変換をさせることができる。
さらに第2図において、パネルは外側をアルミサツシの
枠(13) ’(13’)により囲まれ、これと素子
との間はブチルゴム(14) (14)により充填さ
れ、パネル構成がなされている。
枠(13) ’(13’)により囲まれ、これと素子
との間はブチルゴム(14) (14)により充填さ
れ、パネル構成がなされている。
以上の構造とすることにより工業的に多量生産が可能で
あり、さらに安価な太陽電池パネルを供給することがで
きる。
あり、さらに安価な太陽電池パネルを供給することがで
きる。
さらに150’Cでの高温信頼性テスト1000時間に
おいても、特性に5%以下の変化しがみられながった。
おいても、特性に5%以下の変化しがみられながった。
またサンプル数50のうち不良は0であった。
さらに60’C90%の高温高湿テストにおいても、サ
ンプル数30のうち10%以下の特性劣化をするものは
0%であった。
ンプル数30のうち10%以下の特性劣化をするものは
0%であった。
第2図より明らかなごとく、本発明は裏面電極として金
属を用い、そこでの反射光を利用して高効率化を図るの
ではなく、裏面電極から離間して透過光を反射せしめる
ことにより、裏面金属電極が有していたマイグレイジョ
ンによる信頼性低下を除き、かつ反射光をも同時に利用
するという高効率化、高信頼性化を促すものである。
属を用い、そこでの反射光を利用して高効率化を図るの
ではなく、裏面電極から離間して透過光を反射せしめる
ことにより、裏面金属電極が有していたマイグレイジョ
ンによる信頼性低下を除き、かつ反射光をも同時に利用
するという高効率化、高信頼性化を促すものである。
加えて図面より明らかなごとく、反射板は各素子に設け
られているのではなく、共通してひとつ(11)がアル
ミニューム箔により設けられている点は単に素子より反
射板が離間しているに加えて多量生産を促すことができ
る。
られているのではなく、共通してひとつ(11)がアル
ミニューム箔により設けられている点は単に素子より反
射板が離間しているに加えて多量生産を促すことができ
る。
第3図は本発明の光電変換装置の製造に関する工程を示
したものである。
したものである。
即ち第3図(A)はガラス基板(1)上にCTFI(2
)を電子ビーム蒸着法、スプレー法またはCVD法によ
り0.15〜0.25fの厚さに形成した。このCTF
はITO(0,15〜0.2$ ) +SnO,
(200〜500 A )とした。またハロゲン元
素を添加したSnO2であってもよい。
)を電子ビーム蒸着法、スプレー法またはCVD法によ
り0.15〜0.25fの厚さに形成した。このCTF
はITO(0,15〜0.2$ ) +SnO,
(200〜500 A )とした。またハロゲン元
素を添加したSnO2であってもよい。
さらにこの上にPINまたはPN接合を少なくとも一つ
有する非単結晶半導体をPCVD (プラズマ気相法)
により積層する。一般にはP型半導体をシランとメタン
との反応による5ixC,q(0<x<1 x=0.
8)として約100λの厚さに形成する。I型半導体と
しては水素または弗素が添加された珪素をシランまたは
S i F、LのPCVDにより約0身の厚さGこ形成
させた。この時この珪素中の酸素を5〆10 c m℃
下好ましくは5〆10cm’D下とした。さら41:N
型半導体を水素にて10〜20倍に希釈されたシランを
pcvop、+cこよりフォスヒンを混入させ作製した
。すると微か吉晶化するため、その光吸収特性を少なく
することができるに加え、電気伝導度も’ > 10’
(A cm)を得ることができる。このN型珪素は1
00〜200Aの厚さを有し”、光がこの領域で吸収さ
れなし)ようGこ多結晶化することはきわめて重要であ
る。
有する非単結晶半導体をPCVD (プラズマ気相法)
により積層する。一般にはP型半導体をシランとメタン
との反応による5ixC,q(0<x<1 x=0.
8)として約100λの厚さに形成する。I型半導体と
しては水素または弗素が添加された珪素をシランまたは
S i F、LのPCVDにより約0身の厚さGこ形成
させた。この時この珪素中の酸素を5〆10 c m℃
下好ましくは5〆10cm’D下とした。さら41:N
型半導体を水素にて10〜20倍に希釈されたシランを
pcvop、+cこよりフォスヒンを混入させ作製した
。すると微か吉晶化するため、その光吸収特性を少なく
することができるに加え、電気伝導度も’ > 10’
(A cm)を得ることができる。このN型珪素は1
00〜200Aの厚さを有し”、光がこの領域で吸収さ
れなし)ようGこ多結晶化することはきわめて重要であ
る。
次にITOを電子ビーム蒸着法またはCVD法Gこより
0.1〜0士一般には0.りの厚さに形成した。開放電
圧を大きくするため、本発明において番よP型半導体は
酸化スズと密接せしめ、またN型半導体は酸化インジュ
ームまたはITOと密接せしめた。
0.1〜0士一般には0.りの厚さに形成した。開放電
圧を大きくするため、本発明において番よP型半導体は
酸化スズと密接せしめ、またN型半導体は酸化インジュ
ームまたはITOと密接せしめた。
得られなかった。
かくして第3図(A)を得た。
次に第3図(B)に示すごとくにした。即ち図面におい
て素子(6)上に加熱溶融性透光性充填材を配置させた
。この充填材としてPVB (ポ1ノビニールブチラ
ール)を用いた。つまりこのPVBは室温にて表面に粉
末状の重曹が散布されているため、まず水洗しこの重曹
(重炭酸すl−リューム)を除去し、さらに十分に乾燥
させた。これは20〜25 Cにて行った。次にこのP
VB箔を素子(6)状に配設した。さらにその上面にア
ルミニューム箔が内側にはられたテトラ−(12)より
なる裏面保護物を配置させた。
て素子(6)上に加熱溶融性透光性充填材を配置させた
。この充填材としてPVB (ポ1ノビニールブチラ
ール)を用いた。つまりこのPVBは室温にて表面に粉
末状の重曹が散布されているため、まず水洗しこの重曹
(重炭酸すl−リューム)を除去し、さらに十分に乾燥
させた。これは20〜25 Cにて行った。次にこのP
VB箔を素子(6)状に配設した。さらにその上面にア
ルミニューム箔が内側にはられたテトラ−(12)より
なる裏面保護物を配置させた。
かくして第3図(B)を得た。
さらにこの後これらをオートクレーブ炉内に設置し、此
のクレープ炉内を真空引きした。するとこの素子とPV
B間、PVBと裏面保護物との間の空気を除去すること
ができた、即ち脱気できたゝば10気圧/crの圧力を
加えて、この加熱された空気をクレープ炉内に充填する
ことで成就した。
のクレープ炉内を真空引きした。するとこの素子とPV
B間、PVBと裏面保護物との間の空気を除去すること
ができた、即ち脱気できたゝば10気圧/crの圧力を
加えて、この加熱された空気をクレープ炉内に充填する
ことで成就した。
かくしてPVBは溶融し、全体は一体化して第3図(C
)を得た。
)を得た。
図面において明らかなごとく、素子(6)は照射光側は
ガラス(無機材料)よりなる透光性基板を有し、裏面は
金属箔とフン素樹脂にてカバーされ保護されている。
ガラス(無機材料)よりなる透光性基板を有し、裏面は
金属箔とフン素樹脂にてカバーされ保護されている。
かかる構造とすることにより、内部に水分等が侵入する
ことがなく、さらに半導体(3)と金属との反応がまっ
たくない理想的な構造を有せしめることができた。
ことがなく、さらに半導体(3)と金属との反応がまっ
たくない理想的な構造を有せしめることができた。
以下に本発明の実施例を加えてさらにその内容を補完す
る。
る。
実施例1
第2図は本発明の実施例の縦断面図である。
図面において、ガラス基板は20c+n X 60cm
を有している。ひとつの素子は15mmX 20cmを
有しており40段の直列接続構造ををする。
を有している。ひとつの素子は15mmX 20cmを
有しており40段の直列接続構造ををする。
変換効率の比較は以下のごとくである。
従来例 本発明1 本発明2 本発明3開放電圧(V)
0.82 0.91 32 33短絡電
流(mA/cm) 13.1 15.2 336
364曲線因子(%)58 65 54
53効率(%) 6.3 9.0 4.
84 5.3111Ts (時間) 3
>1000 >1000 >11000HU
(時間)〜200〜200 〜200 > 1
000上記表において従来例は第1図の構造を有し、且
つ面積が3mn+x3cm (1cmL)とした場合
の構造である。本発明1は第3図(A)の構造を有し、
裏面電極はCTF2としITOにより段けられた場合で
る。あり、面積は3mm’3cm (1cm”)とし
た場合の特性である。本発明2は第2図の構造であって
、20cm X 60cmの基板′に40段直列接続さ
せて設け、充填材(7)裏面保護物(8)が設けられて
いない場合の特性である。さらに効率はAM 1 (
100mW / cm)での変換効率を示す。またHT
Sは150C大気中での高温放置テストにおいて初期値
に対し効率が10%以上の変化が発生するまでの時間を
しめす。またHUMは55’CRH90%の雰囲気での
湿度テストにおいて10%以上の変化の効率を示すまで
の時間を示す。
0.82 0.91 32 33短絡電
流(mA/cm) 13.1 15.2 336
364曲線因子(%)58 65 54
53効率(%) 6.3 9.0 4.
84 5.3111Ts (時間) 3
>1000 >1000 >11000HU
(時間)〜200〜200 〜200 > 1
000上記表において従来例は第1図の構造を有し、且
つ面積が3mn+x3cm (1cmL)とした場合
の構造である。本発明1は第3図(A)の構造を有し、
裏面電極はCTF2としITOにより段けられた場合で
る。あり、面積は3mm’3cm (1cm”)とし
た場合の特性である。本発明2は第2図の構造であって
、20cm X 60cmの基板′に40段直列接続さ
せて設け、充填材(7)裏面保護物(8)が設けられて
いない場合の特性である。さらに効率はAM 1 (
100mW / cm)での変換効率を示す。またHT
Sは150C大気中での高温放置テストにおいて初期値
に対し効率が10%以上の変化が発生するまでの時間を
しめす。またHUMは55’CRH90%の雰囲気での
湿度テストにおいて10%以上の変化の効率を示すまで
の時間を示す。
以上の結果より明らかなごとく、裏面をCTF2とず、
ることにより従来例の6.3%より9%にまで効率を向
上させることができた。ちなみにこのCTF2を105
0λの厚さとし、さらにその上にアルミニー−ムを電極
として形成させる場合は、さらに1%の効率の向上がで
きた。
ることにより従来例の6.3%より9%にまで効率を向
上させることができた。ちなみにこのCTF2を105
0λの厚さとし、さらにその上にアルミニー−ムを電極
として形成させる場合は、さらに1%の効率の向上がで
きた。
かくのごとく、本発明の第1および第2の電極をCTF
とすることにより、効率を向上させることができるに加
えてHTSにおいて従来例が3時間しか特性を有せなか
ったのに対して1000時間以上も安定な特性を有する
ことができた。
とすることにより、効率を向上させることができるに加
えてHTSにおいて従来例が3時間しか特性を有せなか
ったのに対して1000時間以上も安定な特性を有する
ことができた。
さらに本発明を第2図に示すごとく複合集積化すると実
効変換効率において4.84%を得ることができ電圧も
32Vを得ることができた。HTSにおいても、100
0時間以上を有するかしがしHUMがやはり約200時
間とまだ十分でばないことが判明した。
効変換効率において4.84%を得ることができ電圧も
32Vを得ることができた。HTSにおいても、100
0時間以上を有するかしがしHUMがやはり約200時
間とまだ十分でばないことが判明した。
このため裏面保護物を第2図の(7) (11)
(12)として設けると、本発明3に示す如く、実効変
換効率を5.31%と約0.5%の向上に加えてIiU
Mをも1000時間以上とHTSと同様に高信頼性をを
せしめることができた。
(12)として設けると、本発明3に示す如く、実効変
換効率を5.31%と約0.5%の向上に加えてIiU
Mをも1000時間以上とHTSと同様に高信頼性をを
せしめることができた。
即ち本発明はこれら裏面電極での信頼性低下を起こす反
応を防ぎ、かつ裏面電極での反射をアルミニューム箔に
より行うことにより、高信頼性高効率の双方を初めて有
せしめることができた。
応を防ぎ、かつ裏面電極での反射をアルミニューム箔に
より行うことにより、高信頼性高効率の双方を初めて有
せしめることができた。
また本発明の実施例において、従来例が変換効率6.3
%を有していたが、これは他の手段例えばガラス−CT
F界面をテスクチア−化して入射光側の光の反射を少な
くする等により、8〜10%と向上させることができる
場合、同様に実施例1における本発明L2,3.におい
ても特性の向上を図ることができることはいうまでもな
い。
%を有していたが、これは他の手段例えばガラス−CT
F界面をテスクチア−化して入射光側の光の反射を少な
くする等により、8〜10%と向上させることができる
場合、同様に実施例1における本発明L2,3.におい
ても特性の向上を図ることができることはいうまでもな
い。
本発明において反射用金属箔のアルミ箔の上面に1以下
の厚さで透光性有機樹脂を予めコートしておき、このア
ルミ箔と外部引出し電極、裏面電極とが万が一導通状態
となることをふせくことは有効である。
の厚さで透光性有機樹脂を予めコートしておき、このア
ルミ箔と外部引出し電極、裏面電極とが万が一導通状態
となることをふせくことは有効である。
また本発明においてはひとつ(75PIN接合を有する
場合を主として示した。しかしこれにPINPIN・・
・PIN接合と少なくとも一つのPNまたはPIN接合
をさせればよく、かかる面から考えると、本発明は光電
変換装置パネルとしてさらに商品化を促進するきわめて
重要な特徴を有していることが判明した。
場合を主として示した。しかしこれにPINPIN・・
・PIN接合と少なくとも一つのPNまたはPIN接合
をさせればよく、かかる面から考えると、本発明は光電
変換装置パネルとしてさらに商品化を促進するきわめて
重要な特徴を有していることが判明した。
加えて例えば40cmy120cmのNEDO規格のパ
ネルを20cm xT 60cmを4枚、また20cm
X 40cmを6枚、20cmx20cmを12枚、
40cm x 40cmを3枚と複合化してアルミサツ
シ等を枠組みすることが可能である。
ネルを20cm xT 60cmを4枚、また20cm
X 40cmを6枚、20cmx20cmを12枚、
40cm x 40cmを3枚と複合化してアルミサツ
シ等を枠組みすることが可能である。
第1図は従来の光電変換装置の縦断面図を示す。
第2図は本発明の複合集積化した光電変換装置の縦断面
図を示す。 第3図は本発明の製造工程を示す。 特許出願人
図を示す。 第3図は本発明の製造工程を示す。 特許出願人
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、透光性の第1の絶縁基板と、該基板上の透光性導電
膜を有する第1の電極と、該電極上の光照射により光起
電力を発生ずる少な(ともひとつのPNまたはPIN接
合を有する非単結晶半導体と、該半導体上の透光性導電
膜よりなる第2の雷門(製造する工程と、前記第2の電
極上に加熱熔融性充填材を配設し、さらに該充填材上に
反射性表面を有する保護物を配設する工程と、真空引き
をして脱気した後加熱加圧を施すことにより前記充填材
を溶融せしめて一体化する工程とを有することを特徴と
する光電変換装置作製方法。 2、特許請求の範囲第1項において、反射性表面を有す
る保護物はアルミニューム箔力(−面しこ形成された弗
素系ビニールよりなり、カロ鉛シl容融性充填材はPV
B (ポリビニールブチラール)よりなり、100〜1
70°Cに加熱し7〜12気圧/
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58018621A JPS59144179A (ja) | 1983-02-07 | 1983-02-07 | 光電変換装置作製方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58018621A JPS59144179A (ja) | 1983-02-07 | 1983-02-07 | 光電変換装置作製方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59144179A true JPS59144179A (ja) | 1984-08-18 |
Family
ID=11976692
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58018621A Pending JPS59144179A (ja) | 1983-02-07 | 1983-02-07 | 光電変換装置作製方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59144179A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0536738A2 (en) * | 1991-10-08 | 1993-04-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Solar cell module with improved weathering characteristics |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5410692A (en) * | 1977-06-24 | 1979-01-26 | Philips Nv | Photoelectric generator panel and method of producing same |
JPS55108780A (en) * | 1979-02-14 | 1980-08-21 | Sharp Corp | Thin film solar cell |
JPS561582A (en) * | 1979-05-08 | 1981-01-09 | Saint Gobain Vitrage | Method of fabricating solar battery panel |
JPS56134781A (en) * | 1980-03-25 | 1981-10-21 | Mitsubishi Electric Corp | Photoelectric converter |
JPS57143872A (en) * | 1981-02-27 | 1982-09-06 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | Panel for solar cell |
JPS57162374A (en) * | 1981-03-30 | 1982-10-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Solar battery module |
JPS5817684A (ja) * | 1981-07-24 | 1983-02-01 | Fuji Electric Co Ltd | 太陽電池の封止方法 |
-
1983
- 1983-02-07 JP JP58018621A patent/JPS59144179A/ja active Pending
Patent Citations (7)
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