JPS59130424A - フオトマスク形成方法 - Google Patents

フオトマスク形成方法

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Publication number
JPS59130424A
JPS59130424A JP58232710A JP23271083A JPS59130424A JP S59130424 A JPS59130424 A JP S59130424A JP 58232710 A JP58232710 A JP 58232710A JP 23271083 A JP23271083 A JP 23271083A JP S59130424 A JPS59130424 A JP S59130424A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photomask
developing
transferred
plate
conveyer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58232710A
Other languages
English (en)
Inventor
Takao Kawanabe
川那部 隆夫
Soichi Tsuuzawa
通沢 壮一
Masahiro Dan
檀 昌宏
Susumu Kano
加納 行
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58232710A priority Critical patent/JPS59130424A/ja
Publication of JPS59130424A publication Critical patent/JPS59130424A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/66Containers specially adapted for masks, mask blanks or pellicles; Preparation thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、フォトマスク形成方法に関し特にフォトマス
クへの自動印字方法に関する。
半導体装&特にICの製作にあたっては、フォトマスク
を使用してシリコンウェーハ等の被処理体に微細なパタ
ーンの遮蔽膜を形成し、これをマスクとして選択酸化2
選択不純物拡散4選択エツチング等を行なっている。こ
のようなフォトマスクは通常パターンジェネレータによ
り10倍の原版を製作し、これをステップ・アンドリピ
ータにより行列に配列しながら縮小投影露光し、これを
現像、ベーク、エツチング等の処理を行って完成する。
すなわち、上記縮小投影露光により上記フォトマスクに
は、上記した微細なパターンの遮蔽膜を形成するfこめ
の所望のパターンが露光される。
この種のフォトマスクには、投入されたシリコンウェー
ハ等の被処理体が、半導体装置の製作工程においていか
に処理されるかを、被処理体の流れに浴って知るために
、品種名等のインデックスが設けられているのが一般的
である。
従来、このインデックス(印字)を設ける作業は、上記
現像作業の前に作業者が行い、印字、現像、ベークとい
う各作業を作業者が各装置間を持ち廻って行なっている
。そのため、各作業間に人間による手作業が入るため、
フォトマスクばぎずつぎやすく、破損することがあると
ともに、塵埃などによる汚染により、この工程の歩留ま
りに太ぎな影響をおよぼしていると共に、フォトマスク
の品質を低下させているという問題がある。
それゆえ、本発明の目的は、フォトマスクに印字する作
業を、自動化して、印字、現像、ベークを−貫して行な
い、人間による手作業をなくして、高品質でかつ高歩留
まりのものを得ることができるフォトマスク形成方法を
提供することにある。
以下、本発明の一実施例を、本発明を実施する上で用い
られるフォトマスク用自動印字現像ベーク装置を用いて
詳述する。
図面は、上記したフォトマスク用自動印字現像ベーク装
置を示す概略斜視図である。
上記のフォトマスク用自動印字現像ベーク装置は、基台
1表面の一方向に印字すべきフォトマスクすなわち所望
のパターンが露光されたフォトマスクを自動印字装置3
に自動的に供給するローダ2と、自動印字装置3.自動
現像装置4.ベーク炉5それに処理されたフォトマスク
を自動的にカセット8に収納するアンローダ6が具設さ
れ、これらの装置間を通して被処理体であるフォトマス
クを移送させるエアベアリング、吸着アームまたはベル
トコンベア等の搬送具7が装備されているものである。
また、基体1内には図示していないが、上記各装置の駆
動機構や制御機構が内蔵されており、これらはコントロ
ールパネル9により自動的に動作¥ることができろよう
になっている。
]0はキーボード装置、11はテレビジョン等のディス
プレイ装置であり1、これらは、自動印字装置3の一部
であり、印字作業を遠隔操作できるようになっており、
印字すべき文字(品種名、製作番号等のインデノータス
)を入力表示等を行なうことができるものである。
本発明によれば、上記ローディングカセット12にチャ
ージされている印字すべきフォトマスク(以下、プレー
トと略称する)をローダ2により1枚ずつ取り出し、か
つ搬送具7によって移送し、自動印字装置3に入れる。
ここで、プレートに品種名、製作番号等をキーボード装
置10およびディスプレイ装置11によって遠隔操作す
ることにより印字したのち、ふたたび搬送具7により移
送して自動現像装置4に入れる。ここで、現像、水洗処
理を行なったのち、搬送具7によりグレートを移送し、
ベーク炉に入れる。ここで必要時間ベーク(熱処理)を
行なったのち、搬送具7によってプレートを移送し、ア
ンローダ6によってアンローディングカセット8に収納
(7て一連の処理を終了させる。なお、本実施例では、
4個のアンローティングカセット8を用意して、処理後
のプレートの保管も兼用させている。
上述したように本発明によれば、所望のパターンが露光
された印字すべきフォトマスク(プレート)の供給から
印字作業、現像作業、ベーク作業を通して処理後のグレ
ートの収納までを一貫して人手によらず行なうことがで
きるものである。したがって、人手作業によるものとは
異なり、フォトマスクの汚染や外観不良がなく、傷がつ
いたり破損したりすることもない。そのため、この工程
での歩留まりや品質が改善でき、省力化と合理化が達成
できる。
本発明は、上述したような実施態様に限定されず種々の
態様とすることができる。
【図面の簡単な説明】
図面は、本発明を実施する上で用いられるフォトマスク
用自動印字現像ベーク装置を示す概略斜視図である。 1・・・基台、2・・ローダ、3・・・自動印字装置、
4・・・自動現像装置、5・・・ベーク炉、6・・・ア
ンローダ、7・・・搬送具、8・・・アンローディング
カセット、9・・コントロールパネル、1o・・キーボ
ード装置、11・・・ディスプレイ装置、12・・・ロ
ーディングカセット。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 被処理体に微細なパターンを形成するための所望の
    パターンを有するフォトマスクの形成方法であって、上
    記所望のパターンが露光されたフォトマスクに印字処理
    、現像、ベーク処理をその順番で自動的に行うことを特
    徴とするフォトマスク形成方法。
JP58232710A 1983-12-12 1983-12-12 フオトマスク形成方法 Pending JPS59130424A (ja)

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JP15093776A Division JPS5375863A (en) 1976-12-17 1976-12-17 Sutomatic printing develop and baking devices for photo masks

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Publication Number Publication Date
JPS59130424A true JPS59130424A (ja) 1984-07-27

Family

ID=16943563

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JP58232710A Pending JPS59130424A (ja) 1983-12-12 1983-12-12 フオトマスク形成方法

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4939313A (ja) * 1972-08-15 1974-04-12
JPS5091273A (ja) * 1973-12-12 1975-07-21
JPS5375863A (en) * 1976-12-17 1978-07-05 Hitachi Ltd Sutomatic printing develop and baking devices for photo masks

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4939313A (ja) * 1972-08-15 1974-04-12
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