JPS59120845A - 自動原子吸光分析装置 - Google Patents
自動原子吸光分析装置Info
- Publication number
- JPS59120845A JPS59120845A JP23001082A JP23001082A JPS59120845A JP S59120845 A JPS59120845 A JP S59120845A JP 23001082 A JP23001082 A JP 23001082A JP 23001082 A JP23001082 A JP 23001082A JP S59120845 A JPS59120845 A JP S59120845A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hollow cathode
- hcl
- cathode lamp
- turret
- motor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はホローカソードランプを光源とする多元素自動
分析用原子吸光分析装置に関するものである。
分析用原子吸光分析装置に関するものである。
自動原子吸光分析装置では各測定元素用のホローカソー
ドランプ（ＨＣＬ と略称する）を円板に円周状に配
列して数例はターレット式に各ＨＣＬを交換できるよう
に１７で、成る元素の測定時にｔよその元素用のＨＣＬ
を測定光路−にに位置させるようになっている。
ドランプ（ＨＣＬ と略称する）を円板に円周状に配
列して数例はターレット式に各ＨＣＬを交換できるよう
に１７で、成る元素の測定時にｔよその元素用のＨＣＬ
を測定光路−にに位置させるようになっている。
ＨＣＬはその名のように孔の中で発光し５ているので、
孔の中心線が測定光路の丸軸と−・致しでいるとき最も
効率的に光が利用できる。しかし上述したターレット式
交換機構では交換機構の工作誤差及び組立て誤差によっ
て各ＨＣＬの取イーｊ座の中心が測定光路の光軸と必ず
しも一致しないし、仮にこれが一致できたとしてもＨＣ
Ｌ自身の製作りの誤差でＨＣＬの外囲器の中心線と陰極
の発光中心とが一致していないから、ＨＣＴＪの発光中
心と測定光路の光軸との一致は得難いのである。
孔の中心線が測定光路の丸軸と−・致しでいるとき最も
効率的に光が利用できる。しかし上述したターレット式
交換機構では交換機構の工作誤差及び組立て誤差によっ
て各ＨＣＬの取イーｊ座の中心が測定光路の光軸と必ず
しも一致しないし、仮にこれが一致できたとしてもＨＣ
Ｌ自身の製作りの誤差でＨＣＬの外囲器の中心線と陰極
の発光中心とが一致していないから、ＨＣＴＪの発光中
心と測定光路の光軸との一致は得難いのである。
従って本発明は自動原子吸光分析装置におけるターレッ
ト弐ＨＣＬ交換機構でＨＣＬの位置調整をＩＩＪ能にす
ることを目的としてなされた。
ト弐ＨＣＬ交換機構でＨＣＬの位置調整をＩＩＪ能にす
ることを目的としてなされた。
本発明ｉ；Ｉ ＨＣＩ・をターレット円盤に回転可能に
数句け、測定位置におけるＨ ＣＬを回転させて分析計
の光検出器の出力が最大になる点を検出し、その位置で
ＨＣＬを停止させて元素分析を行うように［７た１目ｆ
ｈ原子吸光分析装置を掃供するものである。
数句け、測定位置におけるＨ ＣＬを回転させて分析計
の光検出器の出力が最大になる点を検出し、その位置で
ＨＣＬを停止させて元素分析を行うように［７た１目ｆ
ｈ原子吸光分析装置を掃供するものである。
本発明によるときは各ＨＣＬが”Ｊ能な範囲で光の利用
効率最高の状態で使用できるので測定上のＳ／Ｎ比が向
−ト［〜、もしこのような調整を手動で行うものとすれ
ば自動分析を始める前に各元素用のＨＣＬを全部予めタ
ーレット円板−１−で位置調整しておく必要があり、そ
の場合分光器の波長を一々ＨＣＬの波長に合せる必要が
あるので調整作業は大へん面倒で時間がか＼る。ｔ〜か
し本発明によればＨＣ： Ｌの位置調整は予め行わなく
ても自動分析の途中測定元素切換えのとき自動的して行
われるので分光器の波長はそのＨＣＬの波長に自動的に
７合されており、調整操作の面倒さと云うものが全＜ｒ
■在しない。以ト実施例によって本発明を説明する。
効率最高の状態で使用できるので測定上のＳ／Ｎ比が向
−ト［〜、もしこのような調整を手動で行うものとすれ
ば自動分析を始める前に各元素用のＨＣＬを全部予めタ
ーレット円板−１−で位置調整しておく必要があり、そ
の場合分光器の波長を一々ＨＣＬの波長に合せる必要が
あるので調整作業は大へん面倒で時間がか＼る。ｔ〜か
し本発明によればＨＣ： Ｌの位置調整は予め行わなく
ても自動分析の途中測定元素切換えのとき自動的して行
われるので分光器の波長はそのＨＣＬの波長に自動的に
７合されており、調整操作の面倒さと云うものが全＜ｒ
■在しない。以ト実施例によって本発明を説明する。
第４図は本発明の一実施例におけるＴ（（： Ｔ・交換
機構を示す。１はターレ゛刈・基板、２はターレ゛ノド
面板で両者は連結柱３で結合されて一体化されでいる。
機構を示す。１はターレ゛刈・基板、２はターレ゛ノド
面板で両者は連結柱３で結合されて一体化されでいる。
基板］−には一つの円周に浴ってＨＣＬのボルダ−４＋
４・・・が設けらＪｌている。）これらのｄ＝ルダー
と基板１−との間にはヘアリング（図では見えない）が
介在させてあり、各ホルダーはその位置で基板１に垂直
な軸周りに回転可能である。面板２には基板１上の各ホ
ルダー４の中心軸線グ）延反が交わる点を中心にＨＣＬ
の頭部を支承する受ＴＬ５が穿っである。ＨＣＬはその
脚ピンがホ）ｌｙダー４に挿入さ牙１、頭部が受孔５に
支承され、ホノトダー４を回転させるとＨＣＬも回転す
る。基−４４，１と面板２との一体構成物はターレット
円盤Ｘを中心に回転できるように軸支されており、面板
２の外板］の外周には各ＨＣ，Ｌに対応させてビン８カ
；）ｒ。
４・・・が設けらＪｌている。）これらのｄ＝ルダー
と基板１−との間にはヘアリング（図では見えない）が
介在させてあり、各ホルダーはその位置で基板１に垂直
な軸周りに回転可能である。面板２には基板１上の各ホ
ルダー４の中心軸線グ）延反が交わる点を中心にＨＣＬ
の頭部を支承する受ＴＬ５が穿っである。ＨＣＬはその
脚ピンがホ）ｌｙダー４に挿入さ牙１、頭部が受孔５に
支承され、ホノトダー４を回転させるとＨＣＬも回転す
る。基−４４，１と面板２との一体構成物はターレット
円盤Ｘを中心に回転できるように軸支されており、面板
２の外板］の外周には各ＨＣ，Ｌに対応させてビン８カ
；）ｒ。
ててあり、ピン８の通過軌跡をはさんでビン８を検出す
る検出器９が配置４Ｌ、である。このピン８と検出器９
とによ１）てＨＣＬ交換時のターレット回転停市イ＼装
置が決められる。基板１の背面には更に一つのビン１０
が立て＼あり、このビンを検出する検出器１」−が配置
されている。検出器１］−によってピン１０が検出され
る位置がターレット交換装置のＩＪａ点であり、原点か
ら反時計廻りに数えて何番目のｌ（ＣＩ’、＋と云う形
でＨＣＴ、の指定がなされる。またＨ ＣＴＪのホルダ
ー４をめぐって一本の伝動用ワイヤ１２か掛は渡してあ
り、このワイヤはモータ１３の回転軸に取付けだゾーリ
１４に掛って０る。従ってモータ］３を回わすとホルダ
ー４が−・斉に回転する。図でＬは測定光学系の光軸で
一番上の位置にあるＨＣＬがこの光軸り上にある。
る検出器９が配置４Ｌ、である。このピン８と検出器９
とによ１）てＨＣＬ交換時のターレット回転停市イ＼装
置が決められる。基板１の背面には更に一つのビン１０
が立て＼あり、このビンを検出する検出器１」−が配置
されている。検出器１］−によってピン１０が検出され
る位置がターレット交換装置のＩＪａ点であり、原点か
ら反時計廻りに数えて何番目のｌ（ＣＩ’、＋と云う形
でＨＣＴ、の指定がなされる。またＨ ＣＴＪのホルダ
ー４をめぐって一本の伝動用ワイヤ１２か掛は渡してあ
り、このワイヤはモータ１３の回転軸に取付けだゾーリ
１４に掛って０る。従ってモータ］３を回わすとホルダ
ー４が−・斉に回転する。図でＬは測定光学系の光軸で
一番上の位置にあるＨＣＬがこの光軸り上にある。
第２図は上述実施例における面板２の正面図である３、
Ｃは受孔５の中心の回転軌跡で面板２と同心である。点
りは測定光学系の光軸を示す。設削十光１１Ｑｌ＋ Ｉ
叶」、受孔５の回転軌跡Ｃと交わる筈であるが一■６作
」・２組）シ上の誤差により図のように両者は離ｆｔ−
Ｃいる。５は云うまでもなく受孔で図では測定位置にあ
る一個だけが示しである。Ｄはｎ ｃ ｒ。
Ｃは受孔５の中心の回転軌跡で面板２と同心である。点
りは測定光学系の光軸を示す。設削十光１１Ｑｌ＋ Ｉ
叶」、受孔５の回転軌跡Ｃと交わる筈であるが一■６作
」・２組）シ上の誤差により図のように両者は離ｆｔ−
Ｃいる。５は云うまでもなく受孔で図では測定位置にあ
る一個だけが示しである。Ｄはｎ ｃ ｒ。
の発光中心でＨＣＬの工作」二の誤差でＤは受孔９の中
心（円周Ｃ上にある）とは一致していないＯこのような
関係で第１図のモータ１３を回わすとＨＣＬか回転し７
、第２図のＤ点は矢印円Ｒのような軌跡を画いて移動で
きる。そこでこの回転してよってＤ点が光学的に１・点
に最も接近した位置を求めることができる。
心（円周Ｃ上にある）とは一致していないＯこのような
関係で第１図のモータ１３を回わすとＨＣＬか回転し７
、第２図のＤ点は矢印円Ｒのような軌跡を画いて移動で
きる。そこでこの回転してよってＤ点が光学的に１・点
に最も接近した位置を求めることができる。
第Ｓ口図本発明の一実施例の全体を示す。、Ｆは試料を
原子化する炎であり、Ｍけ分光器、Ｓｉ、、Ｓ２は夫々
入射スリット及び出射スリットである。。
原子化する炎であり、Ｍけ分光器、Ｓｉ、、Ｓ２は夫々
入射スリット及び出射スリットである。。
ｐ ｒａｔ光検出器、ＡはプリアンプでＱ、は信号処理
回路、ＣＰＵは装置全体を制御する制御回路でマイクロ
コンピュータが用いられている。この構成においでＨＣ
Ｉ・の位置調整の動作について説明する。
回路、ＣＰＵは装置全体を制御する制御回路でマイクロ
コンピュータが用いられている。この構成においでＨＣ
Ｉ・の位置調整の動作について説明する。
今試料中の元素Ｘを測定するだめ元素Ｘ用のＨＣＬ ｘ
が測定位置まで持って来られたと−する。この動作はモ
ータ６を回転することによって行われる。
が測定位置まで持って来られたと−する。この動作はモ
ータ６を回転することによって行われる。
ＨＣＬはターレットの原点から数えてＸ番目であり、タ
ーレットの原点位置からビン８が検出される毎ＫＣＰＵ
がその検出信号を数えているので、その旧教かＸになる
ようにモータ６の回転を制御する。ＨＣＴ、 ｘが測定
位置に来るとＣＰ Ｕはモータ１３に通電してＨＣＬ
ｘを回転させる。このときＨＣＬ ｘは発光させてあり
ＣＰＵは分光器１１４をＨＣＬｘの出す光の波長位置に
既に七ットシている。この状態で信号処理回路Ｑは光検
出器Ｐの出力のピークを検出し、ピーク検出信号をＣＰ
ｔ１に送ると、ＣＰＬＴは（：一タ」。３の回転を中止
させる。
ーレットの原点位置からビン８が検出される毎ＫＣＰＵ
がその検出信号を数えているので、その旧教かＸになる
ようにモータ６の回転を制御する。ＨＣＴ、 ｘが測定
位置に来るとＣＰ Ｕはモータ１３に通電してＨＣＬ
ｘを回転させる。このときＨＣＬ ｘは発光させてあり
ＣＰＵは分光器１１４をＨＣＬｘの出す光の波長位置に
既に七ットシている。この状態で信号処理回路Ｑは光検
出器Ｐの出力のピークを検出し、ピーク検出信号をＣＰ
ｔ１に送ると、ＣＰＬＴは（：一タ」。３の回転を中止
させる。
以」−でＨＣＬ ｘの位置調整を終る。第４図はＨＣＬ
ｘを回転させたときの光検出器Ｐの出力の変化の有様を
示Ｌ ７’ｊもので、ピーク位置で回転を止め汎ば可能
な範囲でＪ獲も効率良（ＨＣＴＪの光を利用できること
になり、Ｓ／Ｎの良好な分析が用訃となる。
ｘを回転させたときの光検出器Ｐの出力の変化の有様を
示Ｌ ７’ｊもので、ピーク位置で回転を止め汎ば可能
な範囲でＪ獲も効率良（ＨＣＴＪの光を利用できること
になり、Ｓ／Ｎの良好な分析が用訃となる。
第１図−２」〈発明の一実施例におけるＨ ＣＬ交換機
構の斜視図、第２図ｔよ同実施例のターレットの面板の
正面図、第３図は同実施例の全体の構成を示すブロック
図、第４図はＨＣＴＪを回転さぜたときの光検出器の出
ｊ−ｊの変化の状態を示すグラフである。 １・・・ターレット基板、２・・・ターレット面板、４
・・・ＨＣＬ用ホルダー、７・・・ワイーヤ、６・・・
モータ、８・・・位置決め用ビン、９・・・ビン８を検
出する検出器、１２・・・ワイヤ、１ζ３・・・モータ
、Ｍ・・・分光器、Ｆ・・・光検出器、ＣＰ Ｕ・・・
制御回路。 代理人 弁理士 蒜 浩 介 ヤ、５図
構の斜視図、第２図ｔよ同実施例のターレットの面板の
正面図、第３図は同実施例の全体の構成を示すブロック
図、第４図はＨＣＴＪを回転さぜたときの光検出器の出
ｊ−ｊの変化の状態を示すグラフである。 １・・・ターレット基板、２・・・ターレット面板、４
・・・ＨＣＬ用ホルダー、７・・・ワイーヤ、６・・・
モータ、８・・・位置決め用ビン、９・・・ビン８を検
出する検出器、１２・・・ワイヤ、１ζ３・・・モータ
、Ｍ・・・分光器、Ｆ・・・光検出器、ＣＰ Ｕ・・・
制御回路。 代理人 弁理士 蒜 浩 介 ヤ、５図
Claims (1)
- 回転可能な円板上に一つの円周に沿って複数のポローカ
ソードランプを列設し、同円板を回転させることによっ
て任意の一つのホローカソードランプを測定光路トに位
置させ得るようにしたターレット弐光源交換機構におい
て、各ホローカソードランプを」二記円板に対して回転
可能に取付け、かつ回転駆動機構と連結し、原子吸光分
析用測光系の光検出器の出力の極大値を検出する手段を
設け、上記円板を回転させて一つのホローカソードラン
グを測定光路上に位置させ、次に同ホローカソードラン
プを回転させ、そのときの光検出器の出力の変化から極
太が検出されたとき同ホローカソードランプの回転を停
止させる制御回路を設けたことを特徴とする自動原子吸
光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23001082A JPS59120845A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 自動原子吸光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23001082A JPS59120845A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 自動原子吸光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59120845A true JPS59120845A (ja) | 1984-07-12 |
| JPS6326330B2 JPS6326330B2 (ja) | 1988-05-30 |
Family
ID=16901176
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23001082A Granted JPS59120845A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 自動原子吸光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59120845A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63174050U (ja) * | 1987-01-16 | 1988-11-11 | ||
| JPH01131151U (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-06 | ||
| JPH01146145U (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-09 |
-
1982
- 1982-12-27 JP JP23001082A patent/JPS59120845A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63174050U (ja) * | 1987-01-16 | 1988-11-11 | ||
| JPH0516523Y2 (ja) * | 1987-01-16 | 1993-04-30 | ||
| JPH01131151U (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-06 | ||
| JPH01146145U (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-09 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6326330B2 (ja) | 1988-05-30 |
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