JPS61137066A - 自動化学分析装置の測光方式 - Google Patents
自動化学分析装置の測光方式Info
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- JPS61137066A JPS61137066A JP59257406A JP25740684A JPS61137066A JP S61137066 A JPS61137066 A JP S61137066A JP 59257406 A JP59257406 A JP 59257406A JP 25740684 A JP25740684 A JP 25740684A JP S61137066 A JPS61137066 A JP S61137066A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野１
本発明は試料を収納した反応セルを反応カセットに装着
し、この反応カセットを測光系の光路を通過させて直接
測光を行う自動化学分析装置の測光方式に関するもので
ある。
し、この反応カセットを測光系の光路を通過させて直接
測光を行う自動化学分析装置の測光方式に関するもので
ある。
［発明の技術的背景とその問題点１
分析すべき試料を収納した反応セルに対し光学系による
光線を当てて直接測光を行う自動化学分析装置が最近特
に多く、臨床分析での主流になりつつある。
光線を当てて直接測光を行う自動化学分析装置が最近特
に多く、臨床分析での主流になりつつある。
この装置は、反応セル若しくは反応セルを装着した反応
カセットが光学系の光路を通過する際に所定のトリガー
パルス信号により測光点を指定し、このときの反応セル
からの透過信号を演算し吸光分析を行うようにしている
。
カセットが光学系の光路を通過する際に所定のトリガー
パルス信号により測光点を指定し、このときの反応セル
からの透過信号を演算し吸光分析を行うようにしている
。
このような装置の従来例を第４図を参照して説明する。
同図に示す装置は、光源１とこの光源１からの光線を反
応セル２に照射し、その透過光線を回折格子を有する分
光器６に入射させ、その回折格子からの回折光を受光し
てこれを電気信号に変換する検出器７とからなる光学系
と、試料を収納した複数個の反応セル２を内部に装着し
、かつ、これらの反応セル２に直接光線を当てるための
ウィンドウ３ａを設けた反応カセット３と、トリガー用
光源４と反応カセット３の外壁面の所定の位置に貼付さ
れた反射マーク９と前記トリガー用光１１！４から放射
され反射マーク９により反射されたトリガー光線を受光
して電気信号（トリガーパルス信号）に変換する反射型
検出器５からなるトリガー系（以下「外部トリガー系」
という）と、この外部トリガー系からのトリガーパルス
信号を基にｆｔｉ記光常光学系光点を指定し、このとき
の信号をＣＰＵ １０へ送出する判断回路８とを有して
構成されている。
応セル２に照射し、その透過光線を回折格子を有する分
光器６に入射させ、その回折格子からの回折光を受光し
てこれを電気信号に変換する検出器７とからなる光学系
と、試料を収納した複数個の反応セル２を内部に装着し
、かつ、これらの反応セル２に直接光線を当てるための
ウィンドウ３ａを設けた反応カセット３と、トリガー用
光源４と反応カセット３の外壁面の所定の位置に貼付さ
れた反射マーク９と前記トリガー用光１１！４から放射
され反射マーク９により反射されたトリガー光線を受光
して電気信号（トリガーパルス信号）に変換する反射型
検出器５からなるトリガー系（以下「外部トリガー系」
という）と、この外部トリガー系からのトリガーパルス
信号を基にｆｔｉ記光常光学系光点を指定し、このとき
の信号をＣＰＵ １０へ送出する判断回路８とを有して
構成されている。
上記構成の装置は、外部トリガー系の反射マーク９の貼
付位置を反応セル２の形状に対応させて予め選定するす
ることにより、反応セル２が丸型の場合はその中心位置
を、角型の場合はその同一点をそれぞれ正確かつ再現性
良く測光することができる。
付位置を反応セル２の形状に対応させて予め選定するす
ることにより、反応セル２が丸型の場合はその中心位置
を、角型の場合はその同一点をそれぞれ正確かつ再現性
良く測光することができる。
しかし、この装置は外部トリガー系を採用しているため
、反射マーク９の貼付位置の誤差やトリガー用光源４の
配置に誤差が生じた場合、反射型検出器５によるトリガ
ー光線の検出再現性が著しく悪化し、この結果反応セル
２の同一点での測光精２度が低下するという問題があっ
た。
、反射マーク９の貼付位置の誤差やトリガー用光源４の
配置に誤差が生じた場合、反射型検出器５によるトリガ
ー光線の検出再現性が著しく悪化し、この結果反応セル
２の同一点での測光精２度が低下するという問題があっ
た。
［発明の目的］
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、測光系
以外の外部の要因の影響を受けることなく正確にかつ再
現性良く反応セルの測光を行うことができる自動化学分
析装置の測光方式を提供することを目的とするものであ
る。
以外の外部の要因の影響を受けることなく正確にかつ再
現性良く反応セルの測光を行うことができる自動化学分
析装置の測光方式を提供することを目的とするものであ
る。
〔発明の概要］
上記目的を達成するための本発明の概要は、試料を収納
した反応セルを反応カセットに装着し、この反応カセッ
トを光学系の光路を通過させて直接測光を行う自動化学
分析装置の測光方式において、前記反応カセント若しく
は反応セルが光路を通過する際に生じる測光信号の変化
分をトリガー信号として前記反応セルの直接測光を行う
こ□とにより、外部の要因の影響を受ける“ことなく正
確でかつ再現性良く反応セルの測光を行うことを特徴と
するものである。
した反応セルを反応カセットに装着し、この反応カセッ
トを光学系の光路を通過させて直接測光を行う自動化学
分析装置の測光方式において、前記反応カセント若しく
は反応セルが光路を通過する際に生じる測光信号の変化
分をトリガー信号として前記反応セルの直接測光を行う
こ□とにより、外部の要因の影響を受ける“ことなく正
確でかつ再現性良く反応セルの測光を行うことを特徴と
するものである。
Ｃ発明の実施ＦＩ４］
以下に本発明の第１の実施例を第１図を参照して説明す
る。尚、第１図に示す装置において、第４図に示すもの
と同一の機能を有するものには同一の符号を付しその詳
細な説明は省略する。
る。尚、第１図に示す装置において、第４図に示すもの
と同一の機能を有するものには同一の符号を付しその詳
細な説明は省略する。
第１図に示ｔ 配置が第４図に示すものと異なる点は、
外部トリガー系を省略し、この代りに光学系の検出器７
Ａとしてダイオードアレイを使用したちのを用い分光器
６の回折格子からの回折光を測光信号とトリガー用信号
との２種類の電気信号に変換して出力するようにしたこ
と、一定周波数のパルス（本実施例ではパルス幅を０．
２５１１とする）を発生するパルス発生器１１とこのパ
ルス発生器１１からのパルスを計数し、そのパルス計数
値を出力する計数部１２とを具備したこと、前記検出器
７Ａからのトリガー用信号と計数部１２からの出力信号
とを入力しパルス計数値が所定の値になったときにトリ
ガーパルス信号を出力するトリガー発生器１３と、前記
測光信号を入力し前記トリガーパルス信号を塁に測光信
号に対する測光点を指定する測光回路１４とにより判断
回路８Ａを構成したこと、前記パルス発生器１１からの
パルスを塁に反応カセット３を第１図に示すＸ方向に一
定速度でかつ直線的に駆動するパルスドライバ１５を具
備したことである。尚、前記パルス発生器１１は、光学
系の光路を反応カセット３のエツジが通過する際の信号
（挿入時信号）を基にパルスの発生を開始するようにな
っている。
外部トリガー系を省略し、この代りに光学系の検出器７
Ａとしてダイオードアレイを使用したちのを用い分光器
６の回折格子からの回折光を測光信号とトリガー用信号
との２種類の電気信号に変換して出力するようにしたこ
と、一定周波数のパルス（本実施例ではパルス幅を０．
２５１１とする）を発生するパルス発生器１１とこのパ
ルス発生器１１からのパルスを計数し、そのパルス計数
値を出力する計数部１２とを具備したこと、前記検出器
７Ａからのトリガー用信号と計数部１２からの出力信号
とを入力しパルス計数値が所定の値になったときにトリ
ガーパルス信号を出力するトリガー発生器１３と、前記
測光信号を入力し前記トリガーパルス信号を塁に測光信
号に対する測光点を指定する測光回路１４とにより判断
回路８Ａを構成したこと、前記パルス発生器１１からの
パルスを塁に反応カセット３を第１図に示すＸ方向に一
定速度でかつ直線的に駆動するパルスドライバ１５を具
備したことである。尚、前記パルス発生器１１は、光学
系の光路を反応カセット３のエツジが通過する際の信号
（挿入時信号）を基にパルスの発生を開始するようにな
っている。
次に上記構成の装置による測光方式について説明する。
尚、説明の便宜上反応カセット３のウィンドウ３ａを除
く他の部分は光線を透過しないものとして以下の説明を
行う。
く他の部分は光線を透過しないものとして以下の説明を
行う。
光学系に反応カセット３が挿入されない状態では、検出
器７Ａから測光信号が測光回路１４へ、また、トリガー
用信号がトリガー発生器１３へそれぞれ送出されている
。。この状態では計数部１２の出力信号はないため判断
回路８Ａは測光点の指定を行うことはない。
器７Ａから測光信号が測光回路１４へ、また、トリガー
用信号がトリガー発生器１３へそれぞれ送出されている
。。この状態では計数部１２の出力信号はないため判断
回路８Ａは測光点の指定を行うことはない。
反応カセット３のエツジが光学系の光路に挿入された瞬
間、この光路は遮られるため測晃信号及びトリガー用信
号はゼロレベルに降下する。この測光信号及びトリガー
用信号の変化によりパルス発生器１１はパルスの発生を
開始し、一定周波数のパルスを計数部１２及びパルスド
ライバ１５へ送出する。
間、この光路は遮られるため測晃信号及びトリガー用信
号はゼロレベルに降下する。この測光信号及びトリガー
用信号の変化によりパルス発生器１１はパルスの発生を
開始し、一定周波数のパルスを計数部１２及びパルスド
ライバ１５へ送出する。
パルスドライバ１５は、前記パルスを基に反応カセット
３を一定速度でＸ方向へ駆動する。一方、計数部１２は
前記パルスを計数しパルス計数値を順次トリガー発生器
１３へ送出する。
３を一定速度でＸ方向へ駆動する。一方、計数部１２は
前記パルスを計数しパルス計数値を順次トリガー発生器
１３へ送出する。
検出器７Ａから６測光信号及びトリガー用信号は、反応
カセット３が移動しその最初のウィンドウ３ａの部分が
光路を通過している間中第２図に示すように方形波状に
なる。反応カセット３のエツジから第１番目の反応セル
２の中心までの距離ｄ１を２５ｍｍ、各ウィンドウ３ａ
に臨ませた各反応セル２の中心間の距離ｄ２を１５１１
１１、ウィンドウ３ａの幅を１〇−園とした場合、トリ
ガー発生器１３によりトリガー用信号が存在している状
態でかつパルス計数値Ｐ１が１００の瞬間にトリガーパ
ルス信号を測光回路１４に送出して測光点を指定すれば
、このときの測光信号は丁度第１番目の反応セル２の中
心を透過した光線に対応したものと、なり、反応セル２
の中心を正確に測光することができる。このような測光
方式を内部トリガ一方式というものとする。
カセット３が移動しその最初のウィンドウ３ａの部分が
光路を通過している間中第２図に示すように方形波状に
なる。反応カセット３のエツジから第１番目の反応セル
２の中心までの距離ｄ１を２５ｍｍ、各ウィンドウ３ａ
に臨ませた各反応セル２の中心間の距離ｄ２を１５１１
１１、ウィンドウ３ａの幅を１〇−園とした場合、トリ
ガー発生器１３によりトリガー用信号が存在している状
態でかつパルス計数値Ｐ１が１００の瞬間にトリガーパ
ルス信号を測光回路１４に送出して測光点を指定すれば
、このときの測光信号は丁度第１番目の反応セル２の中
心を透過した光線に対応したものと、なり、反応セル２
の中心を正確に測光することができる。このような測光
方式を内部トリガ一方式というものとする。
次に、反応カセット３がパルスドライバ１５により一定
速度で駆動され、ざらにＸ方向に移動し最初のウィンド
ウ３ａと第２番目のウィンドウ３ａとの間の壁面に光源
１からの光線が当っているときには測光信号及びトリガ
ー用信号は再びゼロレベルに降下する。やがて第２番目
のウィンドウ３ａが光路を通過する状態に至ると、再び
測光信号及びトリガー用信号は方形波状となる。
速度で駆動され、ざらにＸ方向に移動し最初のウィンド
ウ３ａと第２番目のウィンドウ３ａとの間の壁面に光源
１からの光線が当っているときには測光信号及びトリガ
ー用信号は再びゼロレベルに降下する。やがて第２番目
のウィンドウ３ａが光路を通過する状態に至ると、再び
測光信号及びトリガー用信号は方形波状となる。
トリが一発生器１３は、第１回目のトリガーパルス信号
を送出した後、パルス計数値Ｐ２が６０となる瞬間に第
２回目のトリガーパルス信号を測光回路１４へ送出して
第２番目の測光点を指定する。このときの測光信号は丁
度第２番目の反応セル２の中心に対応している。第３番
目以降の反応セル２に対する測光ら全く同様に実行され
、各反応セル２の中心が次々と正確にかつ再現性良く測
光される。
を送出した後、パルス計数値Ｐ２が６０となる瞬間に第
２回目のトリガーパルス信号を測光回路１４へ送出して
第２番目の測光点を指定する。このときの測光信号は丁
度第２番目の反応セル２の中心に対応している。第３番
目以降の反応セル２に対する測光ら全く同様に実行され
、各反応セル２の中心が次々と正確にかつ再現性良く測
光される。
このようにして得られた各反応セル２の中心に対応する
測光信号は、順次ＣＰＵ１０へ送出され、ＣＰＬＪ １
０により演算処即されて臨床分析に供される。
測光信号は、順次ＣＰＵ１０へ送出され、ＣＰＬＪ １
０により演算処即されて臨床分析に供される。
第３図（ａ ）は、上記装置による測光方式の他制を示
すもので、上述した測光方式と異なる点は反応カセット
３の最初のウィンドウ３ａのエツジが光路を通過する際
の測光信号及びトリガー用信号の変化を基にパルス発生
器１１を始動させ、前記エツジから角型反応セル２Ａの
中心までの距離ｄ３ （＝５１１）に相当するパルス計
数ＩＩＰ３ （＝２０）の瞬間にトリガーパルス信号を
トリガー発生器１３から測光回路１４に送出して測光点
を指定するようにしたものである。尚、第２番目以降の
測光点の指定は前述した測光方式の場合と同様である。
すもので、上述した測光方式と異なる点は反応カセット
３の最初のウィンドウ３ａのエツジが光路を通過する際
の測光信号及びトリガー用信号の変化を基にパルス発生
器１１を始動させ、前記エツジから角型反応セル２Ａの
中心までの距離ｄ３ （＝５１１）に相当するパルス計
数ＩＩＰ３ （＝２０）の瞬間にトリガーパルス信号を
トリガー発生器１３から測光回路１４に送出して測光点
を指定するようにしたものである。尚、第２番目以降の
測光点の指定は前述した測光方式の場合と同様である。
この測光方式によれば、角型反応セル２Ａの中心に対す
る測光を正確に実行することができる。
る測光を正確に実行することができる。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、その要
旨の範囲内で種々の変形が可能である。
旨の範囲内で種々の変形が可能である。
例えば、反応カセットのウィンドウのサイズより反応セ
ルの外径が小さい場合に、反応セルの外周部、すなわち
、エツジを基準としてパルス発生器を始動させるように
しても実施できる。また、上述した実施例におけるパル
ス発生器の代りに、ダゝ 一定のパルス列を発生するエンコーｌを用いることによ
っても実施できる。
ルの外径が小さい場合に、反応セルの外周部、すなわち
、エツジを基準としてパルス発生器を始動させるように
しても実施できる。また、上述した実施例におけるパル
ス発生器の代りに、ダゝ 一定のパルス列を発生するエンコーｌを用いることによ
っても実施できる。
［発明の効果］
以上詳述した本発明によれば、反応カヒツ１−自体又は
反応セルが光学系を通過する際に生じる測光光線の変化
分を塁に反応セルの直接測光を行うようにしたものであ
るから、他の外部要因に影響されることなく正確かつ再
現性良く反応セルの測光を実行できる自動化学分析装置
の測光方式を提供することができる。
反応セルが光学系を通過する際に生じる測光光線の変化
分を塁に反応セルの直接測光を行うようにしたものであ
るから、他の外部要因に影響されることなく正確かつ再
現性良く反応セルの測光を実行できる自動化学分析装置
の測光方式を提供することができる。
Ｍ１図は本発明の測光方式を行うための自動化学分析装
置の一実施例を示す説明図、第２図は第１図に示す装置
における測光信号及びトリガー用信号と、トリガーパル
ス信号との関係を示す説明図、第３図（ａ ）は第１図
に示す装置による測光方式の他側を示す説明図、第３図
（ｂ ）は第３図（ａ ）に対応する測光信号及びトリ
ガー用信号とトリガーパルス信号との関係を示す説明図
、第４図は従来の測光方式を行うための自動化学分析装
置の一例を示す説明図である。 ２．２Ａ・・・・・・反応セル、 ３・・・・・・反応
カセット、８Ａ・・・・・・判断回路。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑（ほか１名）第１図 第２図 （ｂ）
置の一実施例を示す説明図、第２図は第１図に示す装置
における測光信号及びトリガー用信号と、トリガーパル
ス信号との関係を示す説明図、第３図（ａ ）は第１図
に示す装置による測光方式の他側を示す説明図、第３図
（ｂ ）は第３図（ａ ）に対応する測光信号及びトリ
ガー用信号とトリガーパルス信号との関係を示す説明図
、第４図は従来の測光方式を行うための自動化学分析装
置の一例を示す説明図である。 ２．２Ａ・・・・・・反応セル、 ３・・・・・・反応
カセット、８Ａ・・・・・・判断回路。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑（ほか１名）第１図 第２図 （ｂ）
Claims (4)
- （１）試料を収納した反応セルを反応カセットに装着し
、この反応カセットを光学系の光路を通過させて直接測
光を行う自動化学分析装置の測光方式において、前記反
応カセット若しくは反応セルが光路を通過する際に生じ
る測光信号の変化分をトリガー信号として前記反応セル
の直接測光を行うようにしたことを特徴とする自動化学
分析装置の測光方式。 - （２）前記測光信号の変化分を、反応カセットのエッジ
により得るようにした特許請求の範囲第１項記載の自動
化学分析装置の測光方式。 - （３）前記測光信号の変化分を反応カセットに設けたウ
ィンドウ内の反応セルエッジにより得るようにした特許
請求の範囲第１項記載の自動化学分析装置の測光方式。 - （４）前記測光信号の変化分を反応カセットに設けたウ
ィンドウエッジにより得るようにした特許請求の範囲第
１項記載の自動化学分析装置の測光方式。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59257406A JPS61137066A (ja) | 1984-12-07 | 1984-12-07 | 自動化学分析装置の測光方式 |
| US06/805,617 US4798703A (en) | 1984-12-07 | 1985-12-06 | Photometric apparatus in automatic chemical analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59257406A JPS61137066A (ja) | 1984-12-07 | 1984-12-07 | 自動化学分析装置の測光方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61137066A true JPS61137066A (ja) | 1986-06-24 |
Family
ID=17305932
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59257406A Pending JPS61137066A (ja) | 1984-12-07 | 1984-12-07 | 自動化学分析装置の測光方式 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4798703A (ja) |
| JP (1) | JPS61137066A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016509206A (ja) * | 2012-12-21 | 2016-03-24 | マイクロニクス， インコーポレイテッド | 携帯型蛍光検出システムおよびマイクロアッセイカートリッジ |
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| US10087440B2 (en) | 2013-05-07 | 2018-10-02 | Micronics, Inc. | Device for preparation and analysis of nucleic acids |
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Families Citing this family (9)
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| US5345395A (en) * | 1991-10-31 | 1994-09-06 | Baxter Diagnostics Inc. | Specimen processing and analyzing systems and methods using photometry |
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| GB2299406B (en) * | 1994-12-08 | 1997-03-05 | Hydronix Ltd | Monitoring moisture content of material in a mixing vessel |
| US6261522B1 (en) * | 1998-10-13 | 2001-07-17 | Bayer Corporation | Spectrophotometric apparatus with reagent strip detection |
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