JPS59107200U - 基板アセンブリ検査装置の触針接触機構 - Google Patents

基板アセンブリ検査装置の触針接触機構

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Publication number
JPS59107200U
JPS59107200U JP57183U JP57183U JPS59107200U JP S59107200 U JPS59107200 U JP S59107200U JP 57183 U JP57183 U JP 57183U JP 57183 U JP57183 U JP 57183U JP S59107200 U JPS59107200 U JP S59107200U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stylus
printed circuit
circuit board
predetermined position
contact mechanism
Prior art date
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Pending
Application number
JP57183U
Other languages
English (en)
Inventor
高村唯史
Original Assignee
パイオニア株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by パイオニア株式会社 filed Critical パイオニア株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来の触針接触機構を備えた基板アセンブリ検
査装置を示す斜視図、第２図は第１図の装置中の触針接
触機構を具体的に示す断面図、第３図ａは第１図の装置
中の検査触子を具体的に示す図、第３図すは第３図ａの
検査触子の作動状態を示す図、第４図は検査触子と半田
部との接触状態を示す図、第５図ａはフラックスの流動
状態での検査触子と半田部との接触状態を示す図、第５
図すはフラックスの流動状態での検査後の触針の状態を
示す図、第６図はフラックスの乾燥状態でのフラックス
破片の落下状態を示す図、第７図は本考案による触針接
触機構を備えた基板アセンブリ検査装置を示す平面図、
第８図は第７図の装置中の触針接触機構を具体的に示す
断面図、第９図は第７図の装置中の検査触子と半田部と
の接触状態を示す図、第１０図はフラックスの流動状態
での接触状態を示す図、第１１図はフラックスの乾燥状
態でのフラックス破片の落下状態を示す図である。 主要部分の符号の説明、１・・・検査台、４・・・開口
部、５，４３．５６・・・エアシリンダ部、７，５５・
・・基板押え、９，６ｏ・・・触針ボード、１０．６１
・・・検査触子、１１．　５７．　５８・・・位置決め
ピン、１３、　７０・・・基板アセンブリ、１３ａ、７
０ａ・・・プリント基板、３１・・」基板ストッカ部、
３３・・・検査部、３４・・・不良品スト・ツカ部、４
０．　４１．　４２・・・コンベア、４５・・・接続部
。

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. （１）　　プリント基板を含む基板アセンブリを検査す
    る検査装置にあって該プリン！・基板の半田面に触針を
    接触せしめる触針接触機構であって、前記プリント基板
    の半田面を上方向に向けて前記基板アセンブリを所定位
    置に位置決め固定する固定手段と、前記所定位置の上方
    から下方に向けて前記触針を前記プリント基板の半田面
    に押圧して肖接せしめる触針駆動手段とを含むことを特
    徴とする触針接触機構。
  2. （２）　　前記プリント基板の半田面を上方に向けて前
    記基板アセンブリを担持しつつ前記所定位置下方に搬送
    する搬送手段を含み、前記触針駆動手段は前記基板アセ
    ンブリが前記所定位置に固定されたとき所定期間だけ作
    動し、前記固定手段は前記基板アセンブリが前記搬送手
    段によって前記所定位置下方に達したとき前記基板アセ
    ンブリを前記搬送手段から離間せしめて所定位置に固定
    し前記所定時間後に前記基板アセンブリを前記所定位置
    から解放せしめることを特徴とする実用新案登録請求の
    範囲第１項記載の触針接触機構。
JP57183U 1983-01-07 1983-01-07 基板アセンブリ検査装置の触針接触機構 Pending JPS59107200U (ja)

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JPS59107200U true JPS59107200U (ja) 1984-07-19

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4816757B1 (ja) * 1969-04-18 1973-05-24
JPS552115B2 (ja) * 1975-03-04 1980-01-18
JPS5593300A (en) * 1979-01-08 1980-07-15 Hitachi Ltd Device for assembling and inspecting part to substrate
JPS57200865A (en) * 1981-06-04 1982-12-09 Fujitsu Ltd Structure of contact adapter for printed board continuity tester

Patent Citations (4)

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