JPS5910596B2 - 半導体レ−ザ装置 - Google Patents

半導体レ−ザ装置

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JPS5910596B2
JPS5910596B2 JP1693676A JP1693676A JPS5910596B2 JP S5910596 B2 JPS5910596 B2 JP S5910596B2 JP 1693676 A JP1693676 A JP 1693676A JP 1693676 A JP1693676 A JP 1693676A JP S5910596 B2 JPS5910596 B2 JP S5910596B2
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JP
Japan
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semiconductor laser
light
laser device
diffraction grating
layer
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Expired
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JP1693676A
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JPS52100884A (en
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豊 植松
直人 茂木
陽一 海野
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/06209Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in single-section lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
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    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
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    • H01S5/06243Controlling other output parameters than intensity or frequency controlling the position or direction of the emitted beam

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体レーザ装置に係り、特に出力レーザ光の
方向を可変する半導体レーザ装置に関する。
一般に回折格子を介して光をとり出す半導体レーザ装置
は2重ヘテロ構造をもつた例えば第1図に示すようなも
のである。
第1図に示す装置は、n型GaAs基板11上に順次n
型GayAj、−yAs層12、p型GaAs層13、
p型Gax1V!1−xAs層14最後に一部回折格子
18を有するp型GaAs層15を設けたものである。
なおn型GaAs基板11及びp型GaAs層15の一
部から夫々電極11a、15aが取り出されている。ま
た上記した層の側面は臂開面16となる。このように構
成された半導体レーザ装置は、上記回折格子18の部分
から光を取り出すもので、この時の出射角θはmλ0 slnθ=−−neff・・・・・・・・・・・・・・
・・・・(1)Λで与えられる。
ここでmは回折格子の次数、λoは発振波長、Λは回折
格子の同期、neffは構造によつて決まる等価屈折率
である。ところで第1図のような構成においては、レー
ザの発振波長が固定されており、角度θの一定方向にの
み光が出射する。
しかしながら角度θを変え光の出て来る方向を変えるに
は、レーザの発振波長を何等かの方法で変化させる必要
がある。しかし従来このような発想や工夫は見られなか
つた。本発明は上記した点に対処してなされたもので、
回折格子により光を取り出す半導体レーザ装置で光の方
向を変化させ得る半導体レーザ装置を提供するものであ
る。以下本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
まず第2図は液相成長法により製造された半導体レーザ
装置の本体を示す構成概略図である。
これは例えば厚さ100μm程度のn型GaAs型基板
21上に順次厚さ3μm程度のn型(]ao、7At0
.3AS層22、厚さ0.1μm程度のp型GaAs層
J23、最後に厚さ0.5μm程度のp型Gao、、A
to、3As層24を形成したものである。なおp型G
ao、7Alo、3As層24には、例えばレーザ干渉
法及びケミカルエッチング法で回折格子25を周期約5
000A)深さ約2000λに形成した。この; よう
に構成された半導体レーザ本体21に両側に電極を形成
すれば、半導体レーザ装置が得られる。次にこの半導体
レーザ装置において、レーザ発振波長を変化させ光の波
長を変化させる点について説明する。通常半導体レーザ
装置の発振波長は、利得又は損失の波長依存性によつて
決められ、両者の和が励起を上昇させるにつれて最初に
零になる波長で発振する。従つて共振器の構造を工夫す
ることにより、利得又は損失の波長依存性を変化させる
ことが可能になる。例えば第3図に示すようにGaO.
,んム.3AS層22,24によつてはさまれたp型G
aAs層23によりなる活性層は、そのどちらかの側に
、p−n接合を構成し電流注入によつて発光する。また
レーザ発振を生じるために臂開面36を有し、さらに反
射率を上げるために例えば蒸着膜等を付けて、共振器の
Qを上げるようにしてもよい。従つてレーザ発振波長は
、共振器(レーザ装置)の長さLで決り、ある間隔をも
つた縦モードで発振する。ところで第3図において電源
37を電極21a,24a間に設けてこの共振器に注入
発光を生じさせ、発振させるようにする。この場合図中
4及びT2の長さの非励起部分が、存在するためp型G
aO.,AtO.3AS全面に電極をつけた場合より若
干しきい値は上昇する。この発振光は、回折格子による
取出し口25aより外部に取り出される。また非励起部
分は波長依存性を有する損失をもつようになる。そこで
、外部より信号電力fを流せるように、電極24aと別
個に電極24bを設けて、そこに電源38を接続する。
すると図中T,の部分の損失は小さくなる。従つてレー
ザ装置全体をみた場合、発振波長は短波長側にシフトす
る。なお電極24bに流す電流を変えることにより89
50λから8850人まで、発振波長を変化させること
が可能となり、出射角θはおよそ2゜の範囲内で変化す
るようになる。以上説明したようにp型GaO.7んら
,As層24ににもう1つの電極を設け(外部制御部材
)て、そこに新たに別の電流を流すことにより発振波長
を変化させることが可能となる。但しこの場合流す電流
を変化させる。次に本発明の他の実施例を第4図を参照
して説明する。
なお第3図と同じ部分は同じ符号で示す。この第4図に
おいてもp型GaQ.7AtO.3AS層24に周期的
に回折格子を設けてある。第4図では外部制御部材とし
てレンズ40、回折格子42を有する物体41を用いて
いる。第3図と異なるのはp型GaAs層23よりなる
活性層からの光をレンズ40を介して別の回折格子42
を有する物体41に照射させ、これの回折格子の角度を
変化させて行う点である。即ち外部の回折格子42の角
度の変化を利用して、半導体レーザ装置の発振波長を変
えた装置である。また上記実施例においては外部制御部
材として別個の回折格子の角度変化を利用したもの、電
流可変を利用したものについて説明したが素子の温度制
御部材による温度変化を利用したもの或いは圧力制御部
材による圧力変化を利用したものでも良い。
さらに実施例においては、GaAsを主体とした半導体
レーザ装置で説明したが、本発明はGaAsを主体とし
た半導体レーザ装置に限られるものでない。
さらに、磁性半導体であれば、磁場制御部材による磁場
変化或いは圧力制御部材による圧力変化等によつて波長
を変えることも可能であり、波長を変える方法には種々
考えられ上述したものに限定されない。又構造は、二重
ヘテロ構造で説明したが、この構造にかぎられるもので
なく、回折格子と、共振器内の電磁波が結合して、光を
取り出せる構造であればよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の半導体レーザ装置を示す構成概略図、第
2図は本発明を説明するための用いた半導体レーザ装置
の本体を示す構成図、第3図は本発明の一実施例を説明
するための構成概略図、第4図は本発明の他の実施例を
説明するための構成概略図である。 第3図において21はn型GaAs基板、22はn型G
aQ.7AtO.3AS層、23はp型GaAs層所謂
る活性層、24はn型GaO.7PJ.O.3AS層、
25は回折格子、26は臂開面、24bは電極で38は
電源で夫々によつて外部制御部材を構成するもの、21
aは基板の電極である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 劈開面を光反射部とした半導体レーザ装置において
    、光を取り出す部分を一定の周期をもつた回折格子とし
    、前記光の波長を変えて前記回折格子からの前記光の出
    射角度を変化させる外部制御部材を構成してなる半導体
    レーザ装置。
JP1693676A 1976-02-20 1976-02-20 半導体レ−ザ装置 Expired JPS5910596B2 (ja)

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JP1693676A JPS5910596B2 (ja) 1976-02-20 1976-02-20 半導体レ−ザ装置

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JPS52100884A JPS52100884A (en) 1977-08-24
JPS5910596B2 true JPS5910596B2 (ja) 1984-03-09

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5895887A (ja) * 1981-12-02 1983-06-07 Omron Tateisi Electronics Co 可変波長半導体レ−ザ
JPH03129890A (ja) * 1989-10-16 1991-06-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 波長可変半導体レーザ光源装置

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JPS52100884A (en) 1977-08-24

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