JPH0319292A - 半導体レーザ - Google Patents

半導体レーザ

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Publication number
JPH0319292A
JPH0319292A JP1153188A JP15318889A JPH0319292A JP H0319292 A JPH0319292 A JP H0319292A JP 1153188 A JP1153188 A JP 1153188A JP 15318889 A JP15318889 A JP 15318889A JP H0319292 A JPH0319292 A JP H0319292A
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JP
Japan
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semiconductor laser
active region
width
center
reflectance
Prior art date
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Pending
Application number
JP1153188A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Ikeda
健志 池田
Kimio Shigihara
君男 鴫原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Priority to US07/523,545 priority patent/US5043994A/en
Publication of JPH0319292A publication Critical patent/JPH0319292A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/125Distributed Bragg reflector [DBR] lasers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は分布反射型(Distributed Br
agg Reflector : D B R )によ
る面発光型の半導体レーザに関し、特に高出力かつ単一
基本モードで発振できる半導体レーザに関するものであ
る。
〔従来の技術〕
第9図は例えばK.コジマ等によりアブライドフィジッ
クス レターズ(K. Kojima et al. 
App1. Phys. Lett., 50(24)
.ppl705−1707. 1987)に掲載された
従来の面発光DBRレーザの構造を示す斜視図である.
図において、1はn側電極、2は基板、3は下クラッド
層、4は活性層、5は上クラッド層、6は誘電体膜、7
は2次の回折格子、8はP側電極、9はコンタクト層、
10aは単一基本モード発振を得るための狭い活性領域
である.次に動作について説明する.共振器中を伝搬す
る光は、主に活性層4中に存在するが、その一部は上下
のクラッド層3,5にしみ出している.この上クラッド
層中に回折格子7を設けた場合、各回折格子からの反射
(散乱)光の位相がどのようになっているかで、光の進
行方向が決定される.各回折格子の間隔がλ/2(λ:
波長)の整数倍のとき元の方向へ戻るが、倍数が大きい
ほどいろいろな方向へ進むことになり、λ/2の偶数倍
のとき基板2に対して垂直方向へも光が進むことになる
.本従来例のレーザは上述の原理より面発光動作を行な
うものであり、このとき、発振するレーザ光の横方向の
モードを基本モード化するため、通常ストライブ幅を3
〜4μmと狭くしている.〔発明が解決しようとする課
題〕 従来のDBR面発光型の半導体レーザは以上のように構
成されており、活性領域ストライプの幅が狭いため、注
入電流を大きくして高出力を得ようとすると熱による端
面破壊,あるいは光学損傷(COD)が起こり出力が律
速されるという問題があった.また、高出力を得ようと
して活性領域幅を拡げると、新たに横高次モード発振が
生じるという問題点が起こった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、活性領域幅を拡げて高出力化を図るとともに
、横基本モード発振する半導体レーザを得ることを目的
とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る半導体レーザは、共振器を構或する1対
の反射鏡のうち一方をDBRとし、他方を結晶断面とし
た、幅の広い活性領域を有する半導体レーザにおいて、
上記結晶断面あるいは上記DBR側の結晶断面の活性領
域のほぼ中央部に活性領域幅の約173相当部分の高反
射率領域を備え、活性領域のその他の領域を低反射率と
したものである. また、この発明に係る半導体レーザは、共振器を構成す
る1対の反射鏡のうち少なくとも一方をDBRとした、
幅の広い活性領域を有する半導体レーザにおいて、上記
DBRの結合係数κを活性領域の中央部で大きく.側部
で小さくしたものである. また、この発明に係る半導体レーザは、共振器を構成す
る1対の反射鏡のうち少なくとも一方をDBRとした、
幅の広い活性領域を有する半導体レーザにおいて、上記
DBRのある出力面上のうち活性領域の中央部の反射率
を高くしたものである. 〔作用〕 この発明においては、DBR型の半導体レーザの結晶断
面の中央部を高反射率としたので、基本モードのしきい
値利得が一番小さくなり、かつ他の高次モードとの利得
差が非常に大きくなる.また、この発明においては、D
BR型の半導体レーザの、DBHの保合係数Kを活性領
域の中央部で大きくしたので、基本モードのしきい値が
一番小さくなりかつ、他高次モードとの利得差が非常に
大きくなる. また、この発明においては、DBR型の半導体レーザの
、DBHのある出力面上の活性領域幅の中央部の反射率
を高くしたので、基本モードのしきい債利得が一番小さ
くなりかつ他の高次モードとの利得差が非常に大きくな
る. 〔実施例〕 以下、この発明の実施例を図について説明する。
第1図は本発明の第1の実施例による半導体レーザの構
造を示す斜視図であり、図において、lはn側電極、2
は基板、3は下クラッド層、4は活性層、5は上クラッ
ド層、6は誘電体膜、7は2次の回折格子、8はp側電
極、9はコンタクト層、10は幅の広い活性領域、11
は結晶断面に設けた低反射率部、12は結晶断面中央部
に設けた高反射率部である。
活性頷域10の幅(W0)は高出力を得るために十分広
く、横高次モードが許容される。また高・反射率部12
の幅は約W0/3である.第4図は、次式で定義するモ
ード反射率(Pr)を各モードに関して図示したもので
ある。
Prw ・・・(1) I S” Em (x) dx l” ただし、 活性領域幅(We):150μm 高反射率部の幅(2B):40μm 活性層の屈折率73.45・54 クラッド層の屈折率:3.4453 とした. 第4図から判るように全体の反射に対して幅2Bの領域
内で反射する率であるモード反射率は、基本モード(0
次)のものが最大になることが判る.また第5図は高反
射率部の幅(2B)を変化させた時の相対反射率(基本
モードのモード反射率に対する次に大きな値を示すモー
ドのモード反射率の比: pr@mX−1/pram!
 )を示す図である.同図より高反射率部の幅を活性領
域、幅の約1/3にすると基本モードが発振し易いこと
が判る.第1図のレーザでは、結晶断面の中央部に活性
領域10の幅weの約1/3の幅の高反射率部12を設
けており、前述の理由で横単一モード発振が得られるこ
とになる. 第6図,および第7図は上記第1の実施例の変形例を示
す斜視図でありゝ、これら図において、該1図と同一符
号は同一または相当部分であり、15はレーザ共振器の
後面に形威された高反射率部、16はDBR側の結晶断
面の活性領域部に形威された活性領域幅方向にグラジュ
アルな反射率を持つ部分である。
第6図のレーザは結晶断面の後面を高反射率部15とし
て効率よく光を取り出すようにしたものであり、第1図
の実施例と同様の効果を奏するとともに、しきい値電流
を下げることができる。
第7図のレーザは結晶断面にグラジュアルな反射率部1
6を設けてストライプ中央部付近の反射率を高く.側部
の反射率を低くしたものであり、第1図の実施例と同様
の効果を奏する.第2図は本発明の第2の実施例による
半導体レーザの構造を示す斜視図であり、図において、
5aはDBHの結合係数κを活性領域の中央部で大きく
nの側部で小さくするため、ストライプ中央部を薄くし
た上クラッド層である。
第2図のレーザでは、上クラッド層の厚みをストライプ
中央部で薄くしており、その近傍において、2次の回折
格子との結合係数κが強くなる.基本モードの電界分布
はストライプ中央に1つのピークをもつが、他の高次モ
ードの電界分布はピークが多数存在しかつ外側に拡がっ
ている.このため、基・本モードの結合係数κ。が最大
になり、高出力で基本モード発振が得られることになる
.第3図は本発明の第3の実施例による半導体レーザの
構造を示す斜視図であり、図において、13はDBR上
に設けた低反射率部、14はDBR上に設けた高反射率
部である. 本第3の実施例では上記第1の実施例とは異なり、DB
R上に高反射率部と低反射率部とを設けたものである.
本実施例の動作原理は上記第1の実施例の動作原理と同
様であり、活性領域の中央部分での反射率を高くするこ
とにより、基本モードのしきい値利得が一番小さくなり
、これにより活性領域の幅が広く高出力で発振が可能で
あるDBR型面発光半導体レーザにおいて基本モード発
振が得られる. 第8図は第3の実施例の変形例を示す斜視図であり、前
面および後面の結晶断面を高反射率部17.15として
効率良く光を取り出したものであり、第3図の実施例と
同様の効果を奏するとともに、しきい値電流を下げるこ
とができる.〔発明の効果〕 以上のように、この発明によればDBR面発光型の半導
体レーザにおいて、結晶断面の中央部に活性領域幅の約
1/3の高反射率部を設けたので高出力でかつ横単一モ
ードの半導体レーザが得られる効果がある. またこの発明によればストライプ中央部の上クラッド層
を薄<シて結合係数κをストライプ中央部で大きくした
ので、高出力でかつ横単一モードの半導体レーザが得ら
れる効果がある。
更にこの発明によればDBRのある出力面上の活性領域
中央部の反射率を高くしたので、高出力でかつ横単一モ
ードの半導体レーザが得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の第1の実施例による面発光DBRレ
ーザの構造を示す斜視図、第2図は本発明の第2の実施
例による半導体レーザ構造を示す斜視図、第3図は本発
明の第3の実施例による半導体レーザの構造を示す斜視
図、第4図は各モードのモード反射率を示す図、第5図
は高反射率部の幅に対する相対モード反射率を示す図、
第6図,第7図は第1の実施例の変形例を示す斜視図、
第8図は第3の実施例の変形例を示す斜視図、・第9図
は従来のDBR面発光型の半導体レーザの構造を示す斜
視図である.

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)共振器を構成する1対の反射鏡のうち、一方を分
    布反射型とし他方を劈開面あるいはエッチング面である
    結晶断面とした、幅の広い活性領域を有する半導体レー
    ザにおいて、 上記結晶断面あるいは上記分布反射型反射鏡側の結晶断
    面のうち活性領域のほぼ中央部に前記活性領域の幅の約
    1/3の部分を高反射率に、残りを低反射率にしたこと
    を特徴とする半導体レーザ。
  2. (2)共振器を構成する1対の反射鏡のうち、少なくと
    も一方を分布反射型とした幅の広い活性領域を有する半
    導体レーザにおいて、 上記分布反射型反射鏡の結合係数kを活性領域幅の中央
    部で大きく側部で小さくしたことを特徴とする半導体レ
    ーザ。
  3. (3)共振器を構成する1対の反射鏡のうち、少なくと
    も一方を分布反射型とした幅の広い活性領域を有する半
    導体レーザにおいて、 上記分布反射型反射鏡の存在する面上のうち、活性領域
    幅の中央部に相当する部分の反射率を高くしたことを特
    徴とする半導体レーザ。
JP1153188A 1989-06-15 1989-06-15 半導体レーザ Pending JPH0319292A (ja)

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