JPS59104819A - パルス発生回路 - Google Patents

パルス発生回路

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JPS59104819A
JPS59104819A JP57215190A JP21519082A JPS59104819A JP S59104819 A JPS59104819 A JP S59104819A JP 57215190 A JP57215190 A JP 57215190A JP 21519082 A JP21519082 A JP 21519082A JP S59104819 A JPS59104819 A JP S59104819A
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JP
Japan
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circuit
pulse
voltage
switching
transistor
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JP57215190A
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English (en)
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JPH0412049B2 (ja
Inventor
Masaki Nakai
中井 昌喜
Kiyoshi Nishimura
清 西村
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Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/023Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of differential amplifiers or comparators, with internal or external positive feedback
    • H03K3/0231Astable circuits

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はパルス発生回路に係り、特に、時間とともに
変化する電圧レベルを検出してパルスを発生させるパル
ス発生回路に関する。
第1図は従来のパルス発生回路を示している。
このパルス発生回路は、エツジトリガタイプの単(1) 安定マルチパイプレークを使用し、時定数回路2のコン
デンサ4が放電するとき、この放電に同期したパルスを
発生させている。このパルス発生回路には単安定マルチ
バイブレータ6とコンパレータ8が設置されており、時
定数回路2は単安定マルチバイブレータ6とコンパレー
タ8に共用されている。
時定数回路2は電圧印加端子10と基準電位点との間に
抵抗12を介して前記コンデンサ4を接続して構成され
ている。なお、パルス発生回路は集積回路で構成され、
端子14は外部接続用のビンである。
単安定マルチバイブレーク6にはコンデンサ4の充放電
を切り換えるスイッチング回路16と、このスイッチン
グ回路16を制御するスイッチング制御回路1Bと、コ
ンデンサ4の端子電圧を検出してスイッチング制御回路
18を制御する電圧比較回路20とが設置されている。
コンデンサ4の両端子間には前記スイッチング回路16
が設置され、このスイッチング回路16(2) にはコンデンサ4の端子間に抵抗22を介してトランジ
スタ24がエミッタを基準電位点側にして接続されてい
る。
スイッチング制御回路18はNANDゲート26.28
.30.32及びフリップフロップ回路34.36で構
成され、フリップフロップ回路34はNANDゲート3
8.40、フリップフロップ回路36はNANDゲート
42.44で構成されている。NANDゲート26.3
0.32はインバータとして使用され、NANDゲート
26にはトリガパルスが与えられる入力端子46が形成
されている。即ち、このスイッチング制御回路18はト
リガパルスに応動してスイッチング回路16を制御し、
前記電圧比較回路20の出力に基づいて初期状態に復帰
し得るように構成されている。
また、電圧比較回路20はトランジスタ48.50.5
2.54.56、抵抗58.60.62.64.65で
構成されている。トランジスタ48゜50はエミッタを
共通に接続し、トランジスタ48のベースには前記コン
デンサ4の端子電圧が印(3) 加され、他方のトランジスタ50のベースには抵抗60
.62の分圧回路で基準電圧が設定されている。トラン
ジスタ50のコレクタと電圧印加端子lOとの間には、
ダイオード接穂されたトランジスタ52が接続され、こ
のトランジスタ52のベース・コレクタにはトランジス
タ54のベースが接続され、このトランジスタ54のコ
レクタは抵抗65を介して基準電位点に接続されている
とともに、トランジスタ56のベースに接続されている
。このトランジスタ56のコレクタに発生するパルス出
力は、スイッチング制御回路18のNANDゲート30
に与えられている。
また、コンパレータ8はトランジスタ66.68.70
.72.74、抵抗76.78.80.82.84で構
成され、単安定マルチバイブレーク6の電圧比咬口12
&20と同様の回路構成となっている。即ち、トランジ
スタ66のベースにはコンデンサ4の端子電圧が印加さ
れ、他方のトランジスタ68には抵抗78.80の分圧
回路で基準電圧が設定されている。
(4) そして、フリップフロップ回路36のNANDゲート4
4から取り出される単安定マルチパイプレーク6の出力
パルスと、コンパレータ8の出力パルスとは、NAND
ゲート86に与えられ、このNANDゲート86の出力
はインバータ88を介して反転され、出力端子90から
取り出されるように成っている。
このようなパルス発生回路において、第2図Aに示すト
リガパルスが入力端子46に与えられると、このトリガ
パルスに同期してスイッチング制御回路18は、NAN
Dゲート32から低(L)レベル出力を発生し、トラン
ジスタ24は不導通状態となる。コンデンサ4は抵抗1
2を介して第2図Bに示すように充電され、その端子電
圧は電圧比較回路20に与えられる。
コンデンサ4の充電電圧が電圧比較回路20の基準電圧
vMに到達すると、トランジスタ48.50の動作は反
転し、トランジスタ50は不導通状態になる。抵抗60
.62の抵抗値をR60%R62とすると、基準電圧V
Mは、 (5) VM  =R62VCC/  (R6o  +Rs  
2  )・ ・ ・ (1) で与えられる。
トランジスタ50が不導通状態に移行すると、この動作
はトランジスタ52.54を介して!・ランジスタ56
を付与され、トランジスタ56は不導通状態に移行し、
そのコレクタ電位は高(■()レベルとなる。このコレ
クタ出力はNANDゲート30に与えられ、この結果、
NANDゲート32の出力はHレベルとなり、トランジ
スタ24は導通状態に移行する。この場合、NANDゲ
ート42には第2図Cに示すパルスが発生し、NAND
ゲート44には第2図りに示すパルスが発生する。
また、コンパレータ8には、抵抗78.80で基準電圧
V、より低い値の基準電圧VL  (<VM)が設定さ
れているので、コンデンサ4の端子電圧がこの電圧を越
えているとき、トランジスタ74には第2図Eに示すパ
ルスが発生する。ここで、抵抗78.80の抵抗値をR
7B 、R80とする(6) と、基準電圧Vt、は、 VL =Rg o VCC/ (RT a +Ra o
 )・・・ (2) で与えられる。
このパルスはNANDゲート44で与えられる第2図り
に示すパルスとともにNANDゲート86に与えられ、
出力端子90には第2図Fのパルスが発生する。
このようなパルス発生回路では、構成が複雑化して隼積
回路化に手数を要するとともに、コンパレータ8のトラ
ンジスタ66が導通状態にあるとき(端子14の電位が
VLより高いとき)、この構成トランジスタのベース電
流の影響で時定数が変化し、パルス幅に誤差を生じる欠
点がある。
この発明は、構成を簡略化するとともに、時定数の変化
によるパルス幅の誤差を無くしたパルス発生回路の提供
を目的とする。
この発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する。第
3図はこの発明のパルス発生回路の実施例を示し、第1
図のパルス発生回路と同一部分に(7) は同一符号が付しである。図において、このパルス発生
回路は、電圧比較回路20の内部にヒステリシス回路9
2を付加して構成したものである。
即ち、電圧印加端子10と基準電位点との間には基準電
圧を設定するための抵抗94.96.98が直列に接続
され、抵抗94と抵抗96.98との分圧点にはトラン
ジスタ50のベースが接続されるとともに、抵抗9Bの
端子間にスイッチング用のトランジスタ100がエミッ
タを基準電位点側にして接続されている。このトランジ
スタ100のベースにはトランジスタ56のコレクタが
抵抗102を介して接続されるとともに、出力端子10
4が形成されている。
そして、このパルス発生回路において、スイッチング回
路16及びスイッチング制御回路18は第1図のパルス
発生回路と同様に構成され、前記コンパレータ8は不要
に成っている。
以上の構成に基づき、その動作を第4図の動作波形を参
照して説明する。第4図Aは入力端子46に与えられる
トリガパルス、第4図Bはコンデ(8) ンサ4の充放電波形を示し、トリガパルスが与えられて
からコンデンサ4の充放電波形が形成されるまでの動作
は第1図のパルス発生回路における単安定マルチバイブ
レーク6の動作と同様である。
従って、NANDゲート42に形成された出力端子10
6には第4図Cに示すパルスが発生し、NANDゲート
44に形成された出力端子108には第4図りに示すパ
ルスが発生する。
ここで、基準電圧の形成について説明すると、抵抗94
.96.98の抵抗値をR94、R96、R2Oとする
と、」二限基準電圧V、4はトランジスタ100が不導
通状態にあるとき与えられ、その値は、 VM = (R9s +Rs e ) VCC/ (R
9a 十R96+R91り    ・・・ (3)とな
り、また、トランジスタ100が導通状態にあるとき設
定される下限基準電圧VLは、VL =R9s VCC
/ (R94+Rs 6 )・・・ (4) で与えられる。
(9) コンデンサ4が上限基準電圧VMに到達すると、トラン
ジスタ48.50の動作は反転し、トランジスタ50が
不導通状態に移行するため、トランジスタ52.54及
びトランジスタ56が不導通状態に移行し、出力端子1
04は■ルベルに移行する。このとき、トランジスタ1
00は導通状態に移行してトランジスタ50のベースに
下限基準電圧vLが設定されるため、コンデンサ4の端
子電圧が放電によって低下しても、その端子電圧の値が
下限基準電圧VLより高い場合には、出力端子104は
Hレベルとなる。この結果、出力端子104には第4図
Eに示すパルスが発生し、このパルスは第2図Fに示す
パルスと同等のものである。
このパルス発生回路によれば、第3図に示すように、第
F図に示したコンパレータ8を要することなく同様のパ
ルスを形成することができ、トランジスタ等の素子を削
減等によりその構成の簡明化を図ることができ、従来回
路のコンパレータ8に代わる単一の電圧比較回路20の
みで構成され(10) るため、ベース電流による充電時の時定数の変化に伴う
パルス幅の乱れがなく、精度の高いパルスを形成するこ
とができる。
以上説明したようにこの発明によれば、構成の簡略化で
集積回路化が簡単になるとともに、時定数の変化による
パルス幅の誤差を無くすることができ、精度の高いパル
スを形成することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のパルス発生回路を示す回路図、第2図は
その動作波形を示す説明図、第3図はこの発明のパルス
発生回路の実施例を示す回路図、第4図はその動作波形
を示す説明図である。 2・・・時定数回路、4・・・コンデンサ、16・・・
スイッチング回路、18・・・スイッチング制御回路、
20・・・電圧比較回路、92・・・ヒステリシス回路
。 (11) 第3図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 時定数回路のコンデンサの充放電を切り換えるスイッチ
    ング回路と、上限基準電圧と下限基準電圧とが設定され
    コンデンサの端子電圧が上限基準電圧から下限基準電圧
    に至る範囲内にあるときパルスを発生する電圧比較回路
    と、トリガパルスに応動して前記スイッチング回路を不
    導通状態に制御するとともに前記電圧比較回路の出力パ
    ルスの前縁に応動してスイッチング回路を導通状態に制
    御するスイッチング制御回路とを具備したことを特徴と
    するパルス発生回路。
JP57215190A 1982-12-07 1982-12-07 パルス発生回路 Granted JPS59104819A (ja)

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JP57215190A JPS59104819A (ja) 1982-12-07 1982-12-07 パルス発生回路

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JP57215190A JPS59104819A (ja) 1982-12-07 1982-12-07 パルス発生回路

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JPH0412049B2 JPH0412049B2 (ja) 1992-03-03

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102608410A (zh) * 2011-12-12 2012-07-25 中国电力科学研究院 一种脉冲发生电路、电压测量电路及其测量方法

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