JPS59104650A - レジスト膜形成装置 - Google Patents

レジスト膜形成装置

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Publication number
JPS59104650A
JPS59104650A JP21434282A JP21434282A JPS59104650A JP S59104650 A JPS59104650 A JP S59104650A JP 21434282 A JP21434282 A JP 21434282A JP 21434282 A JP21434282 A JP 21434282A JP S59104650 A JPS59104650 A JP S59104650A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
hard mask
holder
frame
mask holder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP21434282A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahiro Morimatsu
森松 高弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP21434282A priority Critical patent/JPS59104650A/ja
Publication of JPS59104650A publication Critical patent/JPS59104650A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/16Coating processes; Apparatus therefor
    • G03F7/162Coating on a rotating support, e.g. using a whirler or a spinner

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明(−1、ハードマスクm 透過8において、マ
スク表面にレノスト膜を塗布する際に使用されるレノス
ト膜形成装置に関する。
〔発明の技術的背景〕
半導体ウェハに、例メーはLSI等の回路パターンを7
4トエ,チング形成するには,ハードマスクが用いられ
る。このハードマスクには、上記回路・ぐターンに対応
したマスクパターンが形成されるもので、このマスク・
千ターン形成の際には、その表面にレノスト膜を形成す
る必要がある。
すなわち第1図に示すように例えは四角形状のハードマ
スク11本体は、マスクホルダ12により水平状にして
保持され、このホルダ12の四方の各辺部中央に突設し
た固定片12a〜12dに位置設定される。この場合、
固定片12a〜12dは、マスク1ノの保持を容易にす
るため、マスク11面からやや突出する状態に設定され
ている。
このハードマスク11の表面にはレジスト液を滴下する
もので、このレジスト液滴下の後に、上記マスクホルダ
12を指定回転数(低速回転2 0 O rpm、時間
5秒〜高速回転1 5 0 0 rpm 。
時間40秒)にて回転して、レノスト液をマスク11表
面全体表面布形成するようにしている。
〔背景技術の問題点〕
しかしこのようにしてノ・−ドマスク11の表面にレノ
スト膜を形成したのでは、マスク1ノの形状が四角形で
ある為に、その四隅のレノスト膜厚/バ44端に厚みを
帯びた状態で形成されてし捷う。すなわち第2図(、)
に示すように、ハードマスク11表面の中心と隅とを結
ぶ4点(A。
〜、D)の測定点においてレノスト膜厚を測定した場合
、第2図(b)に示すように、横軸を測定点、縦軸をレ
ノスト膜厚とすると、その膜厚は測定点c−1)の卸、
囲、つまりマスク1ノ端から一定幅a(約25個)の領
域内で極端に厚く形成されているととカ・解かる。した
がってこのように厚みの均一でないレノスト膜を用いて
マスクパターンを形成するような場合、マスク11表面
の場所によってレノスト現像時間が異〃るようになり、
上記マスクパターンの寸法にrj′らつきか生じてし寸
い好オしくない。
〔発明の目的〕
との強明け、上記のような問題点を解決するためになさ
、f+だもので、ハードマスク製造過程においてマスク
表面にレノスト液を塗布する除に、マスクの四隅でレジ
スト膜厚が極端に変化することなく、マスク表面全体に
均一な厚みのレノスト膜を形成することができるレジス
ト膜形成装置を提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
すなわちこの発明に係るレジスト膜形成装置は、ハード
マスクを固定保持するマスクホルダの形状を、マスクの
周囲全体を同一平面状にして囲むような形状にし、見か
け上のレノスト液塗布面積をマスク面積よシ拡大するよ
うC(シたものである。
〔発明の実施例〕
以下第3図を用いてこの発明の一実施例を説明する、 すなわちこの装置は四角形状のノ・−上マスク1ノをは
め込むようにして固定保持する枠状のマスクホルダ2θ
を備えている。このマスクホルダ20の枠幅寸法aは、
ある一定幅(25mm)以上に設定されるもので、さら
にその枠の表面がハードマスク1ノの表面と同一平面状
になるようにして形成する。そして、このマスクホルダ
2θ下面の中心部に支柱2ノを設け、この支柱21を指
T回転藪(低速回転200 rpm、時間5秒〜市速回
転1500 rpm、時間40秒)で回転するようにし
てなる。
ずなわちマスクホルダ2oに固定保持されたハードマス
ク1ノの表面には、レノスト液が滴下されるもので、こ
のレジスト液滴下の後にマスクホルダ2θを指定回転数
で回転させ、レノスト液が表面全体に11に布塗布され
るようにする。
この場合、レノスト塗亜面積は、見かけ上マスクホルダ
200枠の面精の分んけハードマスク11の表面積より
も拡大されるようになるもので、こt′Lによりレノス
ト液か塗布されるmlの端ヨリ約251餅以内の領域で
発生するレノスト膜厚の極G7ijな変化11、マスク
ホルダ2oの枠面上で発生ずるようになる。
し/こかって上記のように構成される装置によしrat
 、第4図に示すようにハードマスク1ノ@面の前記マ
0す定点(A、〜、D)それぞれにおけるレノスト膜は
、全体的にけは吻−化した刀鉋厚て形成されるよりにな
る。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、ハードマスク表面のレ
ノスト膜を、全体的にほぼ均一化しだ膜厚で形成するこ
とが可能となシ、場所により極端に厚みを帯びるような
状態を防止できる。
すなわちハードマスク上の如何なる場所においてもレノ
スト現像時間を平均化することができ、マスクパターン
の寸法等にほらつきが生じることを防止できるものであ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のレノスト膜を形成する装置を説明する図
で(a)は平面から見た図、(b)は断面図、第2図は
同じくそのレノスト膜厚を説明する図、第3図はこの発
明の一実施例に係るレノスト膜形成装置を説明する図で
あり(、)は平面から見た図、(b)は断面図、第4図
は上記形成装置により形成されたレノスト膜厚を説明す
る図である。 1ノ・・・ハードマスク、20・・・マスクホルダ。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第 1 (a) (b) BCD −未皮月。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. マスクホルダに固定保持されるハードマスクの表面にレ
    ノスト液を塗布する工程において、上にマスクホルダは
    ハードマスクの周囲を同一平面状にして一定幅で囲むよ
    うな枠状に形成されたことをq!f徴とするレノスト膜
    形成装置。
JP21434282A 1982-12-07 1982-12-07 レジスト膜形成装置 Pending JPS59104650A (ja)

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JP21434282A JPS59104650A (ja) 1982-12-07 1982-12-07 レジスト膜形成装置

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JP21434282A JPS59104650A (ja) 1982-12-07 1982-12-07 レジスト膜形成装置

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Publication Number Publication Date
JPS59104650A true JPS59104650A (ja) 1984-06-16

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ID=16654172

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21434282A Pending JPS59104650A (ja) 1982-12-07 1982-12-07 レジスト膜形成装置

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JP (1) JPS59104650A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62103478U (ja) * 1985-12-19 1987-07-01
JPH0356128U (ja) * 1989-10-04 1991-05-30
JPH0582434A (ja) * 1991-09-24 1993-04-02 Toppan Printing Co Ltd 回転塗布用スピナーヘツド

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JPS62103478U (ja) * 1985-12-19 1987-07-01
JPH0446858Y2 (ja) * 1985-12-19 1992-11-05
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