JPS5897849A - 半導体素子 - Google Patents

半導体素子

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JPS5897849A
JPS5897849A JP56197344A JP19734481A JPS5897849A JP S5897849 A JPS5897849 A JP S5897849A JP 56197344 A JP56197344 A JP 56197344A JP 19734481 A JP19734481 A JP 19734481A JP S5897849 A JPS5897849 A JP S5897849A
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JP
Japan
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bumps
bump
size
chip
semiconductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP56197344A
Other languages
English (en)
Inventor
Toru Tachikawa
立川 透
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS5897849A publication Critical patent/JPS5897849A/ja
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    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • H01L24/13Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
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  • Power Engineering (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は高密度の実装をOT能とし、かつ高速のポンデ
ィング作業の可能な半導体素子として使用される7リツ
プチツプ型の半導体素子に関するものである。
7リツプチツヲ型の半導体素子においては、千尋俸チッ
プのトランジスタ、抵抗等の機能素子を′形成した側の
主面上に、電極取り出し用の端子を設けている。この電
惟取り出し川の端子は、通常バンプと称され、半導体チ
ップ主面上の電極金とり出すべき位置に、例えば蒸層に
よりアルミ、クロム、鋼、ニッケル等の材料による薄膜
層を順次重ねて形成した後、さらに半田ノーを形成する
などして、最終的に突出した端子を作るわけであろうこ
の突出したバンプと、バンプの配@ vC肘必して半導
体装置F@谷器側に設けられた外部電極接続口(橿常バ
ッドと称する。)を蛍合することにより、半導体チップ
の主面上の′@極を外部、即ち、半導体装置用容器側に
とり′出すのである。フリップチップ型の半導体素子は
、既述のように高速のポンディング作業の実現とともに
、高密度の実装を目的とするものであり、当然バンプを
もなるべく小さく形成し、子導体チップ主向上なるべく
小面積に設置することが望ましいが、従来の7リングチ
ツプ型半導体系子は、それ故に、ポンディング作業を困
雌にするという欠点を有していた。即ち、形成可能な範
囲で、なるべく小さな、同一寸法のバンプを設けたが為
にポンディング作業に一+1%L、半導体チップと、半
導体装置用容器、換言すれば、バンプとバンドとを厳密
に位置合せしなければならないという欠点を有してい之
第1図によってこれを説明する。ポンディングVど当っ
ては、半導体チップ炙りと、半導体装置用容器(3)τ
、半導体チップ1のバンプ(2)と半導体装置用g ’
a mのバンド(4)が相接して対向する状態に配置し
、かつ複数のバンプ群、複数のパッド群のりちり「定の
もの同志が正確に対向するように位置合せした後、IM
侵の龜度、あるいは荷直等ゲかけて両4iを接合しよう
とするのであるか、史実には光壁Vc所疋のバンプとバ
ンドを位置合せする墨は困雌であって、図に示す如く、
位置丁れを発生する。
しかるに接合(ボンディング)終了後ニまでもこの11
1Mずれが残っていると接合の機械的、電気的特性が不
充分となるので、位置すれに、接合の間沈浴融もしくは
軟化したバンプ構成材料、及びバッド惰吠材料間に拗〈
表面張力によって修正される事が必要である。つまり、
バンプ、及びバンド間に拗〈表面張力の大きいほど、換
ゴすれば、バンプ及びパッドの面積の総和が大きいほど
、接合時の位置修正能力が大となり、バンプ、パッド両
者の接合前位置合せは容易となるのである。しかるに、
従来の7リツプチツプ型千尋体索子においては、バンプ
をことごとく最小寸法に選択し、いたずらに実装密度の
向上を狙ったが為に、上述の位置修正能力の不足をもた
らし、その結果生産性が低ドするという欠点を生じたの
である。
本発明は、前記の従来の7リツプチツプ型半導体素子の
欠点を、少なくとも1個の寸法の犬なるバンプを設けて
、萌述の表面張力の増加ゲはかる事により克服しようと
するものである。プリンブチツブ型半導体素子は、ll
1i’#度の実装金目的とするとはいえ、半導体チップ
上には、各機能系子ノ配置上余裕面積の生ずる部分も存
在するので、少なくとも該部分のバンプを大きくしよつ
というわけである。
以下、実施例により本発明を説明する。第2図は、本発
明になる7リップチップ型千尋体素子の第1の実施例を
示すものである。図において、半導体チップ(1)は、
小なる寸法の〉くンプ(,2−1)とともに、1個の大
なる寸法のバンプ(2−2)を備えている。大なる寸法
のバンプ(2−2)r/i、半纏体チップの表面上、余
裕1相積の得られる部分にのみ設けたもので、第2図(
b)に示すごとく、その高さは小なる寸法のバンプとほ
ぼ同一である。
この実施例になる半導体素子を用いてフリップチソズボ
ンデイングを行う場合には、大なる寸法のバンプが存在
する故に、接合時、バンプとパッド間に生ずる表面張力
の4相は、従来の如く均一な小寸法のバンプのみを形成
した場合と比べて、大となるので、表面張力による位置
修正能力も大となり、その結果、バンプとパッド相互の
接合時の位置合せは、この大なる張力によって修正可能
な程度の積度で行えばよいので、半導体装置の製造上、
生産性の同上という幼果をもたらすものである。
男3図は本発明vCf!る7リツプチツプ型半導体A子
の躬2の実施例を示すものである。この例では小なる寸
法のバンプ(2−1)とともに、211!の大16寸法
のバンプ(2−2)を備えている。この実施例でeま大
なる寸法のバンプが2 If!Itある故に、既述の位
置修正能力は一層犬となり、第1の実施例の場合と同様
、半導体装置の製造上、生産性の同上、歩留の同上とい
う効果を発揮するものである。
以上述べたように本発明になる半導体素子によれば、半
導体チップと半導体装置用容器を、容易に正確な位置に
接合できるので、半導体装置の製造上、生産性、歩留り
の同上という効果を得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の7リップチップ型千尋体素子を用いた
例を示すもので、第11四は平面図、(D)は断面図で
ある。第2図は本発明になる7リソプチツプ型半碑休素
子の第1の実施例を示すもので(a)は平面図、(b)
は断面図である。第3図は本発明になる7リツプチツプ
型半纏体素子の第2の実施例を示す平面図である。 図中、(1)ld半専体チップ、(2)はハンダ、(2
−1)は小なる寸法のバンプ、(2−2)は大なる寸法
のバンプ。(3) Vi半導体装置用容器、(4)はパ
ッド。 図中、同一符号は同−又は相当部分金示す。 代理人葛野 信− 第1図 第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ftJ(ffのバンプを有する7リツプチツプ型半導体
    本子において、前記バンプ中の少なくとも1蘭は他のバ
    ンプよりも寸法が大きいことt特徴とする半導体素子。
JP56197344A 1981-12-07 1981-12-07 半導体素子 Pending JPS5897849A (ja)

Priority Applications (1)

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JP56197344A JPS5897849A (ja) 1981-12-07 1981-12-07 半導体素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56197344A JPS5897849A (ja) 1981-12-07 1981-12-07 半導体素子

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JPS5897849A true JPS5897849A (ja) 1983-06-10

Family

ID=16372908

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JP56197344A Pending JPS5897849A (ja) 1981-12-07 1981-12-07 半導体素子

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6157523U (ja) * 1984-09-21 1986-04-17
US5478007A (en) * 1993-04-14 1995-12-26 Amkor Electronics, Inc. Method for interconnection of integrated circuit chip and substrate
US5795818A (en) * 1996-12-06 1998-08-18 Amkor Technology, Inc. Integrated circuit chip to substrate interconnection and method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6157523U (ja) * 1984-09-21 1986-04-17
US5478007A (en) * 1993-04-14 1995-12-26 Amkor Electronics, Inc. Method for interconnection of integrated circuit chip and substrate
US5795818A (en) * 1996-12-06 1998-08-18 Amkor Technology, Inc. Integrated circuit chip to substrate interconnection and method
US6163463A (en) * 1996-12-06 2000-12-19 Amkor Technology, Inc. Integrated circuit chip to substrate interconnection

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