JPS5882371A - 偽造防止マ−クを備えた書類およびその真偽検査方法 - Google Patents
偽造防止マ−クを備えた書類およびその真偽検査方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は偽造防止マークを備えた書類およびその真偽検
査方法(−関する。
査方法(−関する。
今日用いられている紙幣、クレジットカーF。
身分証明書5乗車券、小切手等の書類の殆んどは、現代
の再生方法でそれほど費用をかけず(二偽造することが
できる。このような書類に機器(二より読み取り可能な
偽造防止マークを形成し、それにより偽造を成功させる
ためには費用が高くつくよう(−させて偽造防止を高め
ることを狙った提案が数多(知られている。入射光を特
徴的に回折させる光学的(−微視的な構造の形で偽造防
止マークを書類(−埋設すれ(ば高度の偽造防止となる
。このような微視的な構造、例えばホログラフィ−によ
る構造や位相回折格子、あるいはギノフォームなどは高
J片の技術を使用しないと製作(′:′きない5、基板
が熱可塑性の材料からなる書類のJLy合C−は微視的
な構造は直接基板(二形成(刻印)される(スイス連邦
特許第574144月)、、また書類が紙の場合には、
微視構造を内部に形成する前に薄い熱=r塑性の層で被
覆される(ドイツ特π1第2555214弓)。またラ
ミネート箔形状(スイス連邦特許第588358号)の
保護層またはラッカ一層(スイス連邦特許出願第638
2AO−91う)ζ二tり微視構造は機械的な損傷から
保強される。また微視構造を人間に見えないように隠す
ために保護層を111視光線が透過できないものにする
ことが−Cきる。
の再生方法でそれほど費用をかけず(二偽造することが
できる。このような書類に機器(二より読み取り可能な
偽造防止マークを形成し、それにより偽造を成功させる
ためには費用が高くつくよう(−させて偽造防止を高め
ることを狙った提案が数多(知られている。入射光を特
徴的に回折させる光学的(−微視的な構造の形で偽造防
止マークを書類(−埋設すれ(ば高度の偽造防止となる
。このような微視的な構造、例えばホログラフィ−によ
る構造や位相回折格子、あるいはギノフォームなどは高
J片の技術を使用しないと製作(′:′きない5、基板
が熱可塑性の材料からなる書類のJLy合C−は微視的
な構造は直接基板(二形成(刻印)される(スイス連邦
特許第574144月)、、また書類が紙の場合には、
微視構造を内部に形成する前に薄い熱=r塑性の層で被
覆される(ドイツ特π1第2555214弓)。またラ
ミネート箔形状(スイス連邦特許第588358号)の
保護層またはラッカ一層(スイス連邦特許出願第638
2AO−91う)ζ二tり微視構造は機械的な損傷から
保強される。また微視構造を人間に見えないように隠す
ために保護層を111視光線が透過できないものにする
ことが−Cきる。
しかし多くの場合この種の黒いi′A’、護層は望まし
くなく、特巾美観上の理由とそれが1)イ、された偽造
防[に素子かそこにあることをはっきりと示してしまう
との理由から望ましくないものである3、さらに保欣層
が熱可塑性の−7−り形成層(刻印層)と異なった屈折
率を有する書類も知られている(ドイツ特許第2555
214写)。
くなく、特巾美観上の理由とそれが1)イ、された偽造
防[に素子かそこにあることをはっきりと示してしまう
との理由から望ましくないものである3、さらに保欣層
が熱可塑性の−7−り形成層(刻印層)と異なった屈折
率を有する書類も知られている(ドイツ特許第2555
214写)。
この種の書類を機器により真偽検査する場合、所定の波
長ないし所定の狭い波長領域を有する一定方向に向けた
光線(二上り微視構造が照射される。
長ないし所定の狭い波長領域を有する一定方向に向けた
光線(二上り微視構造が照射される。
微視構造巾より回折された光線の1個また1J複数の光
束成分は光検知装置(二より受光され、これらの光束成
分の光量ないし光量比が所定の限界値内(−あるか否か
が電子検出処理装置により検査される(スイス連邦特許
第589897号)。また、種々の異なった微視構造を
ある順序で書類中(−内設し、真偽検査を行なう場合(
言よ、書類内に設けられた微視構造の順序が読み取り装
置内に記憶された基準の順序に一一致するか否かを検査
することも知られている(ドイツ特許第2731726
号)。
束成分は光検知装置(二より受光され、これらの光束成
分の光量ないし光量比が所定の限界値内(−あるか否か
が電子検出処理装置により検査される(スイス連邦特許
第589897号)。また、種々の異なった微視構造を
ある順序で書類中(−内設し、真偽検査を行なう場合(
言よ、書類内に設けられた微視構造の順序が読み取り装
置内に記憶された基準の順序に一一致するか否かを検査
することも知られている(ドイツ特許第2731726
号)。
従って本発明の目的は、このような書類、特に光学的(
二理想的でない基板を用いた1類(ユおいて、偽造防止
マークか目視されないだけでなく、目立たないよう(−
1類の中に隠せるような偽造防11ニマークを備えた書
類を提供することにある。更(二このような偽造防11
−マークであるにもかかわらすそれを確実(二真偽検査
することができる真偽検査方法を提供することをも目的
としている。
二理想的でない基板を用いた1類(ユおいて、偽造防止
マークか目視されないだけでなく、目立たないよう(−
1類の中に隠せるような偽造防11ニマークを備えた書
類を提供することにある。更(二このような偽造防11
−マークであるにもかかわらすそれを確実(二真偽検査
することができる真偽検査方法を提供することをも目的
としている。
(7)
以下、図面に示された実施例(二もとすいて本発明の詳
細な説明する。
細な説明する。
第1図と第2図において符号1は岩類1例えば紙幣、ク
レジットカード、身分証明書1乗車券。
レジットカード、身分証明書1乗車券。
小切手等の1類を示し、基板2と熱I11塑性で透明な
マーク形成層3および透明な保護層4(第2図)から成
っている。マーク形成層3は基板表面5の少なくとも一
部分の面を覆っており、例えば細長い帯状あるいは平坦
な環状、平坦な円状等の形状を有する。マーク形成層3
(二は光学的な微視的な構造6が刻印して形成されてお
り、その構造は入射光回折して特徴的Z[回折光を発生
させる構造のものであって、それ(−よって川−類1の
偽造防11−マークが形成される3、これらは、例えば
所定の順序で配置されたボロダラムや回折格子あるいは
ギノフォームから形成される。微視イ14造がマーク形
成層3(−形成された後、マーク形成層3にに保護層4
(例えばラッカー、ワニスの層から成る)が被覆される
。保護層4の一方の面はマーク形成層3の微視構造6(
:密着している。一方他方の外側に(8) 向かった保護層表面7は2ttらかであるかまたは多少
起伏している。マーク形成層3の厚みは通常約10ミク
ロンであり、保護層4の厚みは約3ミクロンである。
マーク形成層3および透明な保護層4(第2図)から成
っている。マーク形成層3は基板表面5の少なくとも一
部分の面を覆っており、例えば細長い帯状あるいは平坦
な環状、平坦な円状等の形状を有する。マーク形成層3
(二は光学的な微視的な構造6が刻印して形成されてお
り、その構造は入射光回折して特徴的Z[回折光を発生
させる構造のものであって、それ(−よって川−類1の
偽造防11−マークが形成される3、これらは、例えば
所定の順序で配置されたボロダラムや回折格子あるいは
ギノフォームから形成される。微視イ14造がマーク形
成層3(−形成された後、マーク形成層3にに保護層4
(例えばラッカー、ワニスの層から成る)が被覆される
。保護層4の一方の面はマーク形成層3の微視構造6(
:密着している。一方他方の外側に(8) 向かった保護層表面7は2ttらかであるかまたは多少
起伏している。マーク形成層3の厚みは通常約10ミク
ロンであり、保護層4の厚みは約3ミクロンである。
マーク形成層3も保護層4も透明であるので微視構造6
は2つの層の境界層を介して形成される。
は2つの層の境界層を介して形成される。
微視構造が光学的に有効であるようf二するために、保
護層4の屈折孫+n、とマーク形成層n2の屈折率は異
なった大きさになっている。マーク形成層3側の基板表
面5は、少なくとも微視構造6の領域(ユおいて高い反
射率の拡散反射特性を有する。すなわち、」ユ記の両層
3,4は、凹凸が多く明かるい基板表面5上に配置され
ている。
護層4の屈折孫+n、とマーク形成層n2の屈折率は異
なった大きさになっている。マーク形成層3側の基板表
面5は、少なくとも微視構造6の領域(ユおいて高い反
射率の拡散反射特性を有する。すなわち、」ユ記の両層
3,4は、凹凸が多く明かるい基板表面5上に配置され
ている。
第り図Cユ示すように、保護層4によって被覆されてい
ない微視構造6(−光線8が、例えば垂直(−照射され
ると少なくとも一つの所定の方向C二回折光9ないし1
0が生じる。白色光が照射された場合(二は、例えばは
っきりとした分光作用(二より回折現象が目視される。
ない微視構造6(−光線8が、例えば垂直(−照射され
ると少なくとも一つの所定の方向C二回折光9ないし1
0が生じる。白色光が照射された場合(二は、例えばは
っきりとした分光作用(二より回折現象が目視される。
分光作用は基板表面5での拡散散乱を介して若干乱され
るが、それにもかがわらず充分に目視される。
るが、それにもかがわらず充分に目視される。
微視構造6を介して形成される偽造防11ニマークを人
間の目から隠すため(:は、微視構造6による回折現象
が肉眼では目視できないように、屈折率の差n2− n
、を小さくし、基板表面5の拡散反射率を大きくする。
間の目から隠すため(:は、微視構造6による回折現象
が肉眼では目視できないように、屈折率の差n2− n
、を小さくし、基板表面5の拡散反射率を大きくする。
それにより回折現象により発生する光量は目視可能な限
界値より少なくなるようC二抑圧され基板表面5で反射
される散乱光11(第2図)だけしか目で識別されなく
なる。散乱光11は、回折光9.10(第1図)(′−
より与える有効な光学信号が人間の目にはみえなくなっ
てしまう」;うな強い撹乱的な性質をもつ。それ(二加
えて例えば基板2が紙からなる場合等には反射された散
乱光には部分的に変動があり、その変動c二より微視構
造6の回折光かさら(−カモフラーシュされる3、マー
ク形成層3と保護層4とは非常に薄くまた透明であるの
で、観察者に目立たず、両者の間(−[i視できない偽
造防止マークが隠されていることの疑いを起こさせない
。
界値より少なくなるようC二抑圧され基板表面5で反射
される散乱光11(第2図)だけしか目で識別されなく
なる。散乱光11は、回折光9.10(第1図)(′−
より与える有効な光学信号が人間の目にはみえなくなっ
てしまう」;うな強い撹乱的な性質をもつ。それ(二加
えて例えば基板2が紙からなる場合等には反射された散
乱光には部分的に変動があり、その変動c二より微視構
造6の回折光かさら(−カモフラーシュされる3、マー
ク形成層3と保護層4とは非常に薄くまた透明であるの
で、観察者に目立たず、両者の間(−[i視できない偽
造防止マークが隠されていることの疑いを起こさせない
。
基板表面5の拡散反射率が少な(とも80%であり、屈
折率の差n2−1.が高くとも02である時には回折光
は目視可能な限界値より少なくなる。
折率の差n2−1.が高くとも02である時には回折光
は目視可能な限界値より少なくなる。
屈折率の差を更に小さく例えば01の値1ユ1−ること
により、回折光は目視可能な限界値より更に少なくなり
偽造防止マークの機器による真偽検査は特別な以下に述
べる方法(二よる以外確実にはできなくなる。
により、回折光は目視可能な限界値より更に少なくなり
偽造防止マークの機器による真偽検査は特別な以下に述
べる方法(二よる以外確実にはできなくなる。
好ましくは基板2は、微視構造6の領域(−おいて白色
で殆ど印刷されておらず、かつ基板表面5の状態が必要
な反射率を有する紙からなっている。
で殆ど印刷されておらず、かつ基板表面5の状態が必要
な反射率を有する紙からなっている。
さら(二基板としてつや消しした金属表面を有するプラ
スチックを用いてもよい。
スチックを用いてもよい。
さらに偽造防止マークなキ会芒隠す方法は保護層表面7
がわずかに凹凸を有し光線を拡散するものであって一部
拡散体として作用させることにより得られる。この凹凸
を有した保護層表面7は光線8が入射する場合だけでな
く回折した光線が射射の立体角をも拡大する。
がわずかに凹凸を有し光線を拡散するものであって一部
拡散体として作用させることにより得られる。この凹凸
を有した保護層表面7は光線8が入射する場合だけでな
く回折した光線が射射の立体角をも拡大する。
(11)
その他に偽造防止マークを隠幣する方法は、基板表面5
の微視構造6の領域のつや消の度合を場所ととC二液化
させることである3゜ 微視構造は、光線8を所定方向1l−17ilけて検査
する場合に光学軸を中心(−グループ分けされる回折光
9,10を所定方向(二同時C−複数発生ずるように形
成するのが好ましい。それ(−より偽造防止マークをよ
り効果的に隠すことができる。その理由は観察者の目に
はせいぜい一つの弱い信号部分しか入らないからである
。一方、複数の方向の回」JN光(−相当する数装置さ
れた光センサにより全部の信号部分を授受し、電気的な
加算器じより加算し全体信号を得ることができる。
の微視構造6の領域のつや消の度合を場所ととC二液化
させることである3゜ 微視構造は、光線8を所定方向1l−17ilけて検査
する場合に光学軸を中心(−グループ分けされる回折光
9,10を所定方向(二同時C−複数発生ずるように形
成するのが好ましい。それ(−より偽造防止マークをよ
り効果的に隠すことができる。その理由は観察者の目に
はせいぜい一つの弱い信号部分しか入らないからである
。一方、複数の方向の回」JN光(−相当する数装置さ
れた光センサにより全部の信号部分を授受し、電気的な
加算器じより加算し全体信号を得ることができる。
微視構造が多数の位相回折構造5例えば位相格子あるい
はボ「1グラ/・からなる場合にも偽造1υjI1.。
はボ「1グラ/・からなる場合にも偽造1υjI1.。
マークを隠すことができる。その場合それぞれの位相回
折部分は、それぞれが肉眼で解読されないよう(二少な
くとも一方向の寸法に1)いて小さくなるよう(ユ選択
される。このことは、位相回折部分の少なくとも一方向
の寸法が大きくとも(1,I mmで(12) ある場合(二可能である。一方、位相回折構造の寸法は
回折光の分布が大きくなりすぎない程度に十分(二大き
くしてよい。例えば位相格子は少なくとも5条の格子か
ら構成してもよい。
折部分は、それぞれが肉眼で解読されないよう(二少な
くとも一方向の寸法に1)いて小さくなるよう(ユ選択
される。このことは、位相回折部分の少なくとも一方向
の寸法が大きくとも(1,I mmで(12) ある場合(二可能である。一方、位相回折構造の寸法は
回折光の分布が大きくなりすぎない程度に十分(二大き
くしてよい。例えば位相格子は少なくとも5条の格子か
ら構成してもよい。
回折現象が目視可能限界値より大幅Cユ低い場合には、
情報を伝える回折信号は情報のない強い拡散反射信号が
あるので、それぞれの回折光が機器(−よっても検知で
きない程に弱くすることができる。従って微視構造6は
、少なくとも方向付けられた光線(−より検査する場合
、書類1を所定速度で移動または回転させた時回折光が
所定方向(−所定の時間的な順序で発生するように形成
するのが好ましい。このような書類1を自動的(ユ作動
する読み取り装置で真偽検査する場合には、少くとも1
個の光センサ(二より回折光が検知され、電子的な処理
回路(二より光センサ信号の時間的な順序が基準となる
順序と比較され、回折光により与えられ且つ基準となる
順序に対応した有効な回折光成分が合計される。一方、
拡散反痢(−より得られ基準となる順序(一対応しない
ノイズ成分は抑圧される。以下このような真偽検査につ
いて詳しく説明する。
情報を伝える回折信号は情報のない強い拡散反射信号が
あるので、それぞれの回折光が機器(−よっても検知で
きない程に弱くすることができる。従って微視構造6は
、少なくとも方向付けられた光線(−より検査する場合
、書類1を所定速度で移動または回転させた時回折光が
所定方向(−所定の時間的な順序で発生するように形成
するのが好ましい。このような書類1を自動的(ユ作動
する読み取り装置で真偽検査する場合には、少くとも1
個の光センサ(二より回折光が検知され、電子的な処理
回路(二より光センサ信号の時間的な順序が基準となる
順序と比較され、回折光により与えられ且つ基準となる
順序に対応した有効な回折光成分が合計される。一方、
拡散反痢(−より得られ基準となる順序(一対応しない
ノイズ成分は抑圧される。以下このような真偽検査につ
いて詳しく説明する。
第3図(ユは書類1aが図示されており、その微視構造
6は、規制的な間隔で一列[1配置された多数の同一の
ホログラム12からなっている。第4図に示された書類
1bの微視構造6は、交互に相接して一列に配置された
2種類の異なったホ「Iグラム13.14から形成され
ている。第5図による書類1cの場合は微視構造6は同
一の種類のホログラム15から形成されているが、ホ[
Jグラノ\15はそれぞれ異なる長さで異なった間隔で
一列(′−配装されている。これらの書類1a、lb、
lcの微視構造6を一方向(−向けられた読み取り用の
光線で検査する場合、書類はホログラム列の方向に並進
的に所定の速度で移動され、それにより少なくとも一つ
の所定の方向(−所定の時間的な順序で回折光が現われ
る。この順序は書類1aと1bの場合には周期的であり
、書類1Cの場合は非周期的である。
6は、規制的な間隔で一列[1配置された多数の同一の
ホログラム12からなっている。第4図に示された書類
1bの微視構造6は、交互に相接して一列に配置された
2種類の異なったホ「Iグラム13.14から形成され
ている。第5図による書類1cの場合は微視構造6は同
一の種類のホログラム15から形成されているが、ホ[
Jグラノ\15はそれぞれ異なる長さで異なった間隔で
一列(′−配装されている。これらの書類1a、lb、
lcの微視構造6を一方向(−向けられた読み取り用の
光線で検査する場合、書類はホログラム列の方向に並進
的に所定の速度で移動され、それにより少なくとも一つ
の所定の方向(−所定の時間的な順序で回折光が現われ
る。この順序は書類1aと1bの場合には周期的であり
、書類1Cの場合は非周期的である。
第6図Cユは書類1dが示されており、書類1dの微視
構造6は円板形状であり、一種類のホログラム16から
形成されている。ホログラム16は垂直(−入射された
光線を回折(−より例えば錐面形状in、複数の部分光
線17〜20(二分割する。書類1dが光線8の軸と一
致するホログラム16の軸を中心(二回転移動する場合
、光センサ21(:より部分光線17〜20が順次検知
され、少なくとも一つの所定方向(ニ一定の時間的な順
序で回折光が現われる。
構造6は円板形状であり、一種類のホログラム16から
形成されている。ホログラム16は垂直(−入射された
光線を回折(−より例えば錐面形状in、複数の部分光
線17〜20(二分割する。書類1dが光線8の軸と一
致するホログラム16の軸を中心(二回転移動する場合
、光センサ21(:より部分光線17〜20が順次検知
され、少なくとも一つの所定方向(ニ一定の時間的な順
序で回折光が現われる。
順序が周期的であるが、光センサ21の電気信号の「選
択的(ユ検知される」有効成分の位相位置が未知である
場合には、電気信号の時間的な順序が基準となる順序と
比較されるが、この場合第7図に符号22で示す狭帯域
の周波数フィルタ(二より比較するのが好ましい。第7
図(二よる真偽検査装置の場合光源23により小さな断
面と所定の波長を有する光線8が書類1の微視構造61
−の一部(二投射される。少なくとも一つの光センサ2
4が回折方向に対応した立体角内に配置されている。
択的(ユ検知される」有効成分の位相位置が未知である
場合には、電気信号の時間的な順序が基準となる順序と
比較されるが、この場合第7図に符号22で示す狭帯域
の周波数フィルタ(二より比較するのが好ましい。第7
図(二よる真偽検査装置の場合光源23により小さな断
面と所定の波長を有する光線8が書類1の微視構造61
−の一部(二投射される。少なくとも一つの光センサ2
4が回折方向に対応した立体角内に配置されている。
搬
搬送機構2Bの録送ローラ25により微視構造が(15
) 連続して検査されるように、書類1が光線81対して横
ぎる方向に移動される。好ましくは搬送機構26は、周
波数フィルタ22の透過平均周波数が自動的にその時の
移動速度に比例して調整されるように、周波数フィルタ
22を制御する。それにより搬送速度の変化の影響が除
去される。光センサ24は、増幅器27と周波数フィル
タ22並び(ニコンパレータ28からなる検出回路に接
続されている。
) 連続して検査されるように、書類1が光線81対して横
ぎる方向に移動される。好ましくは搬送機構26は、周
波数フィルタ22の透過平均周波数が自動的にその時の
移動速度に比例して調整されるように、周波数フィルタ
22を制御する。それにより搬送速度の変化の影響が除
去される。光センサ24は、増幅器27と周波数フィル
タ22並び(ニコンパレータ28からなる検出回路に接
続されている。
有効成分が非常に弱くノイズ成分が大きな光センサ24
からの電気信号が増幅器27で増幅され、周波数フィル
タ22C′−印加される。有効成分の周波数が周波数フ
ィルタ22の透過層θυ数(−相当し、有効成分が累積
する時には、周波数フィルタ22の出力端に電圧が出力
される。それ(一対してノイズ成分は、主に他の周波数
部分からなるので、周波数フィルタ22(書ま所定の電
圧は出力されない。
からの電気信号が増幅器27で増幅され、周波数フィル
タ22C′−印加される。有効成分の周波数が周波数フ
ィルタ22の透過層θυ数(−相当し、有効成分が累積
する時には、周波数フィルタ22の出力端に電圧が出力
される。それ(一対してノイズ成分は、主に他の周波数
部分からなるので、周波数フィルタ22(書ま所定の電
圧は出力されない。
周波数フィルタ22の出力電圧が所定のしきい値を越え
ると、コンパレータ28は[真正−1の信号を発生する
。
ると、コンパレータ28は[真正−1の信号を発生する
。
(I6)
検知すべき有効成分の時間的な順序が周期的であり、そ
の位相位置が判っている場合ζ暑ま、好ましくは第8図
に符号29で示され位相を感知するいわゆるロック・イ
ン増幅器(例えばプリンストン・アプライド・リサーチ
社の刊行物T351−15M−8/75−CP l二よ
り知られている)により、基準の順序との比較が行なわ
れる。第8図の真偽検査装置において第7図と同一の部
分には同一の符男が付しである。ロック・イン増幅器2
9の信号入力は光セン+24に、またその制御入力は位
置信号発生器3(N二接続されている。ロック・イン増
幅器29の出力はコンパレータ28(二接続されている
制御信号を出力する。図においてこの同期は搬送機構2
6と位置信号発生器30との間の接続線を介して行なわ
れる。この同期は例えば書類1の前縁を検知することに
よりあるいは書類I J−に配置された同期マークを検
知することにより行なわれる。
の位相位置が判っている場合ζ暑ま、好ましくは第8図
に符号29で示され位相を感知するいわゆるロック・イ
ン増幅器(例えばプリンストン・アプライド・リサーチ
社の刊行物T351−15M−8/75−CP l二よ
り知られている)により、基準の順序との比較が行なわ
れる。第8図の真偽検査装置において第7図と同一の部
分には同一の符男が付しである。ロック・イン増幅器2
9の信号入力は光セン+24に、またその制御入力は位
置信号発生器3(N二接続されている。ロック・イン増
幅器29の出力はコンパレータ28(二接続されている
制御信号を出力する。図においてこの同期は搬送機構2
6と位置信号発生器30との間の接続線を介して行なわ
れる。この同期は例えば書類1の前縁を検知することに
よりあるいは書類I J−に配置された同期マークを検
知することにより行なわれる。
光センサ24(二より発せられた電気信号はロック・イ
ン増幅器29(−よりまず交流増幅され、次(′−その
極性が基準の順序に同期して切り換えられ、それぞれプ
ラスあるいはマイナスの有効信号のピーク値、例えばプ
ラスの信号が「1ツクイン増幅器29の出力に現われる
。一方、重畳されたノイズ信号は、切り換えの同期と一
定の関係がなく、従って十分な長さの時間間隔内(二間
頻度でプラスとマイナスの出力電圧が発せられ、それ(
二1り時間的に平均すると消えてしまう。従って7cの
出力電圧はホログラフィ−が有する順序と基準の順序と
の相関関係の尺度となる。
ン増幅器29(−よりまず交流増幅され、次(′−その
極性が基準の順序に同期して切り換えられ、それぞれプ
ラスあるいはマイナスの有効信号のピーク値、例えばプ
ラスの信号が「1ツクイン増幅器29の出力に現われる
。一方、重畳されたノイズ信号は、切り換えの同期と一
定の関係がなく、従って十分な長さの時間間隔内(二間
頻度でプラスとマイナスの出力電圧が発せられ、それ(
二1り時間的に平均すると消えてしまう。従って7cの
出力電圧はホログラフィ−が有する順序と基準の順序と
の相関関係の尺度となる。
さらC二検知すべき有効成分の時間的な順序が非周期的
である場合(−は、電子的な相関器31(′−よって比
較を行なうのが好ましい。第9図(二よる〕ケ偽検査装
置の場合、相関器の第1の入力は増幅器27の出力(二
、第2の入力はメモリ32に接続されている。基準とな
る順序はメモリ32に記憶されており、メモリ32は、
位置信号発生器3oによってクロックされ相関器31に
比較偏けを出力する。比較信号は基準の順序(二対応し
、また光線8丁(−ある書類1のその時の位置に正確に
同期している。相関器31の出力はコンパレータ28の
入力C二接続されている。
である場合(−は、電子的な相関器31(′−よって比
較を行なうのが好ましい。第9図(二よる〕ケ偽検査装
置の場合、相関器の第1の入力は増幅器27の出力(二
、第2の入力はメモリ32に接続されている。基準とな
る順序はメモリ32に記憶されており、メモリ32は、
位置信号発生器3oによってクロックされ相関器31に
比較偏けを出力する。比較信号は基準の順序(二対応し
、また光線8丁(−ある書類1のその時の位置に正確に
同期している。相関器31の出力はコンパレータ28の
入力C二接続されている。
ロック・イン増幅器29(第81gl )と同様に相関
器31(二おいては、光センサ24によって発生する電
気信号の基準の順序と一致する有効成分は増幅されるが
、ノイズ成分は抑圧される。
器31(二おいては、光センサ24によって発生する電
気信号の基準の順序と一致する有効成分は増幅されるが
、ノイズ成分は抑圧される。
微視構造6が複数の立体角に回折光を発生するような種
類の構造である場合(醤よ、それぞれの方向に光センサ
が1個ずつ配置され、それぞれの電気信号は、第7図か
ら第9図で説明した方法C″−よって、それぞれの検出
回路で分析される。これらの検出回路の出力信号は論理
回路で処理され、その結果複数個の検知回路が「真正]
の信号を発する時I’4類が真正とされる。
類の構造である場合(醤よ、それぞれの方向に光センサ
が1個ずつ配置され、それぞれの電気信号は、第7図か
ら第9図で説明した方法C″−よって、それぞれの検出
回路で分析される。これらの検出回路の出力信号は論理
回路で処理され、その結果複数個の検知回路が「真正]
の信号を発する時I’4類が真正とされる。
複数個の光センサの信号を互い(二処理したトでる構成
の場合、光センサ24が回折光(二対応する(19) ような立体角(ユ装置されている。さらに他の光センサ
33が回折光の期待されない方向に配置され書類1で散
乱された光を受ける。差動増幅器34(二よって光セン
サ24と33の電気信号の差が形成される。差動増幅器
34の出力は第7図〜第S)図の検tJ」回路C二接続
される。検査されるへき書類が真正の微視構造ではなく
光を吸収し肉fllJで見える周期的な色模様を有し、
その色模様が真正の微視構造と同一の順序で反射光の変
化を発生させるものであったどしても書類は拒否される
。というのは光セン−9−24、33の電気信号は差が
形成されることにより時間的な平均値ではかなり相殺さ
れるからである。
の場合、光センサ24が回折光(二対応する(19) ような立体角(ユ装置されている。さらに他の光センサ
33が回折光の期待されない方向に配置され書類1で散
乱された光を受ける。差動増幅器34(二よって光セン
サ24と33の電気信号の差が形成される。差動増幅器
34の出力は第7図〜第S)図の検tJ」回路C二接続
される。検査されるへき書類が真正の微視構造ではなく
光を吸収し肉fllJで見える周期的な色模様を有し、
その色模様が真正の微視構造と同一の順序で反射光の変
化を発生させるものであったどしても書類は拒否される
。というのは光セン−9−24、33の電気信号は差が
形成されることにより時間的な平均値ではかなり相殺さ
れるからである。
第11図(二よる構成の場合、2 fili類の異な−
〕たホログラム13.14を備えた第4図の書類11〕
の真偽検査(二対して、4個の光七ンーリー35〜38
が設けられ、これらのセンサは演算増幅器39に接続さ
れている。また演%増幅器39の出力は第71閃〜第9
図の検出回路に接続される。 光センサ35はホログラ
ム13の通常の回折次数の方向に、光(20) センサ36はホログラム13の共役の回折次数の方向(
:、また光センサ37はボログラム14の通常の回折次
数の方向に、また光センサ38はホログラム14の共役
の回折次数の方向にそれぞれ配置されている。光セン−
9−35〜38の電気信号には符号S1〜S4が付され
ている。演算増幅器39はこれらの電気信号から S、=(S、−1−52)−(S3+S、 )の式に示
す信号Sを形成する。信号Sの順序は交互のホログラム
13.14の順序(二対応している。
〕たホログラム13.14を備えた第4図の書類11〕
の真偽検査(二対して、4個の光七ンーリー35〜38
が設けられ、これらのセンサは演算増幅器39に接続さ
れている。また演%増幅器39の出力は第71閃〜第9
図の検出回路に接続される。 光センサ35はホログラ
ム13の通常の回折次数の方向に、光(20) センサ36はホログラム13の共役の回折次数の方向(
:、また光センサ37はボログラム14の通常の回折次
数の方向に、また光センサ38はホログラム14の共役
の回折次数の方向にそれぞれ配置されている。光セン−
9−35〜38の電気信号には符号S1〜S4が付され
ている。演算増幅器39はこれらの電気信号から S、=(S、−1−52)−(S3+S、 )の式に示
す信号Sを形成する。信号Sの順序は交互のホログラム
13.14の順序(二対応している。
差ないし商を形成することにより、回折Cユよらない色
模様の順序(−よって生ずる真正でない信号はかなり抑
圧される。
模様の順序(−よって生ずる真正でない信号はかなり抑
圧される。
図は本発明の詳細な説明するもので、第1図は保護層な
しの書類の概略断面図、第2図は第1図の書類の保護層
を設けた概略断面図、第3図〜第5図はそれぞれ異なっ
たホログラムの配列の書類を示す説明図、第6図はさら
に他のポログラノ、の配置の書類とそれを検査する光セ
ンサーの説明図、第7図〜第9図はそれぞれ異なる(′
ξ偽検査装置の概略構成の説明図、第10図および第1
1図はさらに他の真偽検査装置の要部梠成の説1す1図
である。、1.1a〜1d・・書類 2・・・基
イ;jζ3・・・マーク形成層 4・・・保瞬層5
・・基板表面 6・・・微視構造7・・・保護
層表面 12〜16・・;i aグラム21.2
4.35〜38・1.光センサ−22・・・周波数フィ
ルタ 23・・・光源25・・搬送ローラ 2
6・・搬送機構21・・tlJ m 器2 s・・コン
パレータ29・・・ロック・イン増幅器 30・・位置信号発生器 31・・・相関イ:932
・・・メモリ
しの書類の概略断面図、第2図は第1図の書類の保護層
を設けた概略断面図、第3図〜第5図はそれぞれ異なっ
たホログラムの配列の書類を示す説明図、第6図はさら
に他のポログラノ、の配置の書類とそれを検査する光セ
ンサーの説明図、第7図〜第9図はそれぞれ異なる(′
ξ偽検査装置の概略構成の説明図、第10図および第1
1図はさらに他の真偽検査装置の要部梠成の説1す1図
である。、1.1a〜1d・・書類 2・・・基
イ;jζ3・・・マーク形成層 4・・・保瞬層5
・・基板表面 6・・・微視構造7・・・保護
層表面 12〜16・・;i aグラム21.2
4.35〜38・1.光センサ−22・・・周波数フィ
ルタ 23・・・光源25・・搬送ローラ 2
6・・搬送機構21・・tlJ m 器2 s・・コン
パレータ29・・・ロック・イン増幅器 30・・位置信号発生器 31・・・相関イ:932
・・・メモリ
Claims (10)
- (1)裁板(2)と、機器(二より読み取りでき光学的
に微視構造(6)の形体をなす少くとも一つの偽造防止
マークを備えた熱可塑性のマーク形成層(3)と、透明
な保護層とからなり、その場合−7−り形成層(3)と
保護層(4)の屈折率が異なり、微視構造(6)が入射
する光線(8)を特徴的(″−回折させる種類のもので
ある偽造防止マークを備えた書類において、マーク形成
層(3)に対面する基板表面(5)は微視構造(6)の
領域(−おいて拡散反射特性を有し、さらζ−マーク形
成層は透明であり、かつ前記屈折率の差を小さくすると
ともに基板表面(5)の拡散反射率を大きくし微視構造
Cユよる回折現象が肉眼で目視できないようにしたこと
を特徴とする偽造防止マークを備えた書類。 - (2)前記の基板表面(5)の拡散反射率は微視構造(
6)の領域C二おいて少くとも80チであり、前記の側
屈折率の差は高くとも02であることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の偽造1≦)j+l:マークを備
えた書類1、 - (3) 基板(2)が紙からなり、基板表面(5)が微
視構造(6)の領1ii二おいて白色であることを特徴
とする特許請求の範囲第1項または第2 J’tiに記
載の偽造防11−マークを備えた書類。 - (4)基板表面(5)は微視+7.7造(6)の領域(
二おいて場所(二よりつや消しの度合が異なるものであ
ることを特徴とする特許請求の範囲第3項に記載の偽造
防止マークを備えた書類。 - (5)保護層(4)は、起伏を有し光線を拡散する構造
1υJ止マークを備えた書類。 - (6)微視構造(6)は複数の一種類の位相回折構造か
らなり、全ての位相回折構造は、肉眼で読み取れないよ
う(二少なくとも一方向の寸法が小さいことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項から第5項までのいずれか−項
Cユ記載の偽造防止マークを備えた書類。 - (7)一方向に向けられた光線【二より書類を検査する
場合であってその書類(1)が所定の速度で並進的(−
あるいは回転的(二移動される時少くとも所定方向に所
定の時間的な順序で回折光(9,10)が現われるよう
(′−書類(1)の微視構造(6)が構成されている偽
造防止マークを備えた書類の真偽検査方法において、回
折光(9,10)は少なくとも一つの光センサ(21,
24,33,35〜38)C二より検知され、電子的な
検出処理回路(27,22,28; 29,30,28
; 31,30,32゜28) t:より光センサ(2
1,24,33,35〜3日)の電気信号の時間的な順
序が基準となる順序と比較され、回折光を介して得られ
かつ基準どなる順序に対応した有効な信号成分は加算さ
れ、基準の順序(二対応しないノイズ信号成分は抑圧さ
れることを特徴とする偽造防止マークを備えた1類の真
偽検査方法。 - (8)前記基準の順序は周期的であり、前記電気信号の
時間的な順序は、狭帯域の周波数フィルタ(3) (−より基準の順序と比較されることをlt、:1″徴
とする特許請求の範囲第7項(一記載の4j!−類の真
偽検査方法。 - (9)記憶された前記基準の順序は周期的であり、前記
電気信号の時間的な順序は、位相を感知するロック・イ
ン増幅器(29)により基準の順序と比較されることを
特徴とする特π「請求の範囲εp、7珀に記載の書類の
真偽検査方法4、 - (10)前記基準の順序は非周期的であり、前記の電気
信号の時間的な順序は、電子的な相関2i4じより基準
の順序と比較されることを!1j1徴ど同一7.4t:
i、〆1請求の範囲第7項(二記載の書類の真偽検査方
法3、(]I) 少なくども2個の光セン〜リー(2
4; 33 ; 35〜38)が設けられ、これらのセ
ンサからの電気信号が減算あるいは除算されることを唱
−徴とする(t、l許請求の範囲第7項から第10項ま
でのいずれか一項に記載の1類の真偽検査方法、。 (+21 −一方向(二向けられた光線(二tり検査す
る場合で同時i1複数の所定方向(叫ijl 437尤
(9;10)が現れるような微視構造(6)を有する書
類の真偽険捏力(4) 法であって、前記の複数の方向のそれぞれの方向(−一
つの光センサ(21; 24)が配置され、これらの光
センサ(21; 24)の電気信号が加算されることを
特徴とする特許請求の範囲第7項C二記載の書類の真偽
検査方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH6835/81-5 | 1981-10-27 | ||
CH6835/81A CH653161A5 (de) | 1981-10-27 | 1981-10-27 | Dokument mit einem sicherheitsmerkmal und verfahren zur echtheitspruefung des dokumentes. |
Publications (2)
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