JPS5865744A - コンデンサ−フイルム用ポリエチレンテレフタレ−ト - Google Patents

コンデンサ−フイルム用ポリエチレンテレフタレ−ト

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JPS5865744A
JPS5865744A JP16346681A JP16346681A JPS5865744A JP S5865744 A JPS5865744 A JP S5865744A JP 16346681 A JP16346681 A JP 16346681A JP 16346681 A JP16346681 A JP 16346681A JP S5865744 A JPS5865744 A JP S5865744A
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JP
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polyethylene terephthalate
film
polyester
haze
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JP16346681A
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Yuzo Shimizu
有三 清水
Satoru Kamaya
釜谷 悟
Masaru Suzuki
勝 鈴木
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Toray Industries Inc
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Toray Industries Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はコンデンサーフィルム用ポリエチレンテレフタ
レートに関するものである。
さらに詳しくは電気特性、滑り性が改良されたコンデン
サーフィルム用ポリエチレンテレフタレー20関するも
のである。
ポリエステル、特にポリエチレンテレフタレートニ軸延
伸フィルムは優れた物理的、化学的性質および電気的性
質を示し、写真用、金属蒸着用、包装雑貨用、電気絶縁
用、誘導体用、磁気テープ、用、粘着テープ用として多
用されていることはよく知られている。
これら各種用途のうちコンデンサーの誘導体として使用
されるコンデンサーフィルムは近年電子機器の超小型化
がおしすすめられている中で5μ以下の極薄物、さらに
は2μ以下の超極薄物コンデンサーフィルムの要求が強
くなって来−でいる。
しかし、電子機器の小型化とそれにともなうフィルムの
極薄化は、フィルムの電気特性およびフィルム取扱い時
の作業性に種々の問題を引き起こしている。
たとえば、コンデンサーポリエステルフィルムは他のグ
ラスチックコンデンサーフィルムと同様tこ電極箔と重
ね合わせて巻き込む箔巻きコンデンサータイプのものと
、電極が蒸着しである金属積層フィルムを巻き込む蒸着
コンデンサータイプのものとある。いずれもロール巻き
、素子巻きなどの製造加工工程が必要であるが、該工程
をこおける作業性の問題点はフィルムの滑り不良に起因
しており、この問題を解消するためtこはフィルムの滑
り性が良好なことが必須である。
一方、コンデンサーフィルムの電気特性としては常温か
ら150℃の実質的に電気機器が上昇する温度範囲で体
積固有抵抗、絶縁破壊電圧が高く保持されていることが
必要である。
従来からポリエチレンテレフタレートの電気特性を改良
する方法として特公昭55−5395号−′公報、特公
昭41−4600号公報など各種P化合物を添加する方
法が一般tこ知られている。しかしこれらの方法で得た
フィルムはある程度電気特性が改良されるものの、滑り
性が著しく低下するため、ロール巻き加工、素子巻き加
工が困難になる欠点がある。
一方、フィルムの加工性を向上させるにはフィルム表面
に凹凸を与えフィルム同志のブロッキングを防止する必
要があり、このためにたとえば炭酸カルシウム、硫酸バ
リウム、炭酸リチウム、酸化チタン、カオリン、タルク
、酸化ケイ素などの粒子をポリエステル中に添加するな
どの方法が知られている。
しかしながら、単に前記のような粒子をポリエステル中
に添加したフィルムは電気特性、特に絶縁破壊電圧が著
しく低下するため、コンデンサーフィルムとしての実用
性は小さい。
また、ポリエチレンテレフタレートの電気特性と滑り性
の改良を目的として特開昭55−21157号公報が知
られている。これはOtx化合物の存在下でポリエステ
ルのエステル交換反応を行ない、 Oa化合物に対して
1〜2倍モルのP化合物を添加し、かつ特定の不活性粒
子を添加してなるポリエステルフィルムである。シかシ
このフィルムは、不活性粒子を添加しない場合ポリエス
テル中にca化合物に起因するフィルムの滑り性に寄与
する粒子の発生が少なく、また滑り性を改良するため不
活性粒子を添加していくと十分な電気特性が得られにく
い欠点がある。
シタがって、ポリエチレンテレフタレートフィルムをコ
ンデンサー用途に適用できるようにするためには電気特
性と滑り性を同時に満足させなければならない。そのた
めには電気特性を良好となし、かつ滑り性を発現する方
法を見い出すことが極めて重要となるのである。
本発明者らは絶縁破壊電圧などの電気特性と滑り性を兼
備したコンデンサーポリエチレンテレフタレートフィル
ムについて検討し、本発明に到達したのである。
すなわち、本発明はCa 、Mg 、Mn元素を有する
少なくとも一種の化合物とP元素を有する少なくとも一
種の化合物を下記割合で含有した溶液ヘイズが3〜15
%であるポリエチレンテレフタレーhtこ、平均粒子径
が0.5〜4μのケイ素含有不活性無機粒子を配合せし
めて溶液ヘイズを20%以下としたコンデンサーフィル
ム用ポリエチレンテレフタレートである。
1.1≦M/P≦1.4 本発明の主成分は、テレフタル酸を車とするジカルボン
酸またはそのアルキルエステル、特に低級アルキルエス
テルであるが、その一部を10モルチ以下の範囲で7タ
ル酸、イソフタル酸、5−ナトリウムスルホイソフタル
酸、ナフタリンジカルボン酸、アジピン酸、セバシン酸
およびこれらのエステル形成性誘導体で置き換えること
ができる。
また、グリコールはエチレングリコールを主とするがエ
チレングリコール以外の他のジオキシ化合物、たとえば
プロピレングリコール、トリメチレングリコール、ネオ
ペンチルグリコ−、ルウ1.4−シクロヘキサンジメタ
ツール、ビスフェノールA、ポリオキシエチレンクリコ
ールなども使用することができる。
また、トリメリット酸、ピロメリット酸、グリセリンな
どの多官能化合物を生成するポリエステルが製膜できる
範囲で添加しても良い。
かかるポリエチレンテレフタレートを製造するtこあた
り、重縮合に使用される代表的な触媒はTi 、Ge 
、Sbなどの金属化合物を挙げることができる。
本発明で使用するOa 、Mg 、Mn元素を含む化合
物の具体例としては、酢酸カルシウム、塩化マグネシウ
ム、酢酸マグネシウム、塩化マンガン。
酢酸マンガンなどを挙げることができるが、ポリエステ
ルを製造する際のエステル交換触媒として使用すること
が好ましい。
また、本発明におけるP元素を含む化合物とは、1)ン
酸、唾すン酸、リン酸のモノ、ジあるいはトリエステル
(メチルアシッドホスフェート、トリフェニルホスフェ
−) 、 ) リメチルホスフエート、エチルアシッド
ホスフェートなど)あるいはホスホン酸、ホスホネート
(フェニルホスホネート、ジメチルホスホネートなど)
などの化合物を挙げることができる。
これらP化合物はポリエステル中eこ添加したCa 、
Mg 、Mn元素を含む化合物のボ1Jエステル中の残
存量に対して、下記の式を満足するようeこ含有せしめ
る必要があり、好ましくをよ1.1≦M/P≦1.3で
ある。
1.1≦M/P≦1.4 M/Pが1.1未満では重縮合速度が低下して高重合度
のポリエステルを得ることが困難tf−なるほか、ポリ
エステルの軟化点が低下し、フィルム製膜速度を低下す
るなどの欠点を有する。
一方、M/Pが1.4を越えると得られたボ1ノエステ
ルフイルムの電気特性などの改善力;達成できない。
また、上記本発明の基質となるポリエステルの溶液ヘイ
ズは3〜15%で好ましくをよ5〜10%である。
本発明でいう溶液ヘイズとはポリエステル1、Ogをフ
ェノール/テトラクロルエタン=674重量比の混合溶
媒20ccに溶解したのち、ヘイズメーターにおいて2
01EII石英ガラスセルでヘイズ(濁度)を測定した
値であり、この溶液ヘイズはポリエステル中に添加する
金属化合物およびP化合物あるいはポリエステルオリゴ
マどの反応によって生成する化合物、すなわち粒子(内
部粒子という)の量を判定する値として使用している。
ここで、溶液ヘイズの値が大きいほど内部粒子がポリエ
ステル中に多量に生成している。また、逆に小さいほど
ポリエステル中の内部粒子が少ない傾向にある。
この溶液ヘイズが5%未満であるとポリエステル中の内
部粒子が少なく、後述するように他の無機化合物粒子を
添加した場合でもフィルムの滑、り性と電気特性をとも
に満足することはできない。
一方、15%を越えるとポリエステル中の内部粒子が多
量であるため、フィルムの滑り性はやや良好になるが、
やはり電気特性とのバランスがとれない。
また゛、上記溶液ヘイズは前述したM/Pと相関があり
、 M/Pが大きいほど溶液ヘイズの値は太きく、M/
Pが小さいほど溶液ヘイズの値も小さくなる。
本発明は、前述した基質となるポリエステルに平均粒子
径0.5〜4μのケイ素を含む不活性無機粒子を少なく
とも一種配合することを必須とし、かつ得られる本発明
のポリエステルの溶液ヘイズは20%を越えない範囲と
する必要がある。
また、ケイ素を含む不活性無機粒子による溶液ヘイズの
上昇分は得られたフィルムの破壊電圧の点で10%が好
ましく、さらに好ましくは5%シこととめておくことが
望ましい。
平均粒子径0.5〜4μの粒子とはポリエステル製造反
応を阻害しないものであり、具体的にはケイ酸アルミナ
、酸化ケイ素、カオリン、タルクなどの含ケイ素化合物
を挙げることができる。
なお、必要に応じて他の不活性無機粒子、たとえば炭酸
カルシウム、炭酸リチウム、硫酸バリウム、酸化チタン
、酸化アルミニウム、酸化マグネシウムを併用してもよ
い。
平均粒径0.5〜4μの含ケイ素不活性無機粒子は、一
般にポリエステル反応系で生成する内部粒子に比べ電気
特性を低下させることが少なくフィルムの滑り性を向上
せしめる効果を有する反面、粒子がポリで中で凝集しや
すく、局部的に電気特性を悪化させる欠点があり、これ
はコンデンサーの信頼性を損う重大な問題である。
該欠点はCa 、Mg 、MnおよびP化合物の存在下
で、かつ得られるポリマ中でのM/Pが1.1を越えた
場合に極めて優れた分散性が得られることを見い出し解
決するに至った。
なお、該粒子は必要に応じ粉砕、分級され、平均粒子径
0.5〜4μの粒子として使用される。
平均粒子径が0.5μ未満では得られるフィルムの表面
が平滑すぎて、本発明が目的としている滑り性付与tこ
役立たない。
一方、平均粒子径が4μを越えるとそれらの粗大粒子が
絶縁破壊の発生点になるため、絶縁破壊電圧特性が著し
く低下してくる。
また、該粒子を添加して得られる本発明のポリエステル
の溶液ヘイズは20%を越えない範囲であるが、その溶
液ヘイズを得るための該粒子の添加量としては0.01
〜0.5重量%が好ましい。
一方、20%を越えると滑り性は良好になるが、フィル
ムの電気特性、特に絶縁破壊電圧の低下を生ずるため好
ましくない。
本発明によって得られるフィルムの滑り性はC!a 、
Mg 、Mn化合物およびP化合物とポリエステルオリ
ゴマによってポリエステル中に生成する内部粒子(得ら
れるポリエステルの溶液ヘイズがパラメーターをこなる
)と該ポリエステル(こ添加する粒子の存在によって形
成されるフィルム表面の凹凸によって決定される。
しかし、内部粒子のみによるポリエステルからフィルム
を得る場合は、フィルム表面の凹凸が少ないために滑り
−に<<、特にフィルム厚み5μ以下の極薄物ではその
傾向が著しい。滑り性を改善するため内部粒子量を増大
していくと内部粒子の粗大化が起こり、フィルムの滑り
性は良好になるが、一方、粗大粒子に起因して絶縁破壊
電圧性性の低下をまねく。また、粒子を添加していない
溶液ヘイズが3%未満、あるいは15%を越える基質の
ポリエステルに平均粒子径0.5〜4μの粒子を含有し
た溶液ヘイズが20係以下である本発明のポリエステル
からフィルムをつくる場合には滑り性と電気特性、特に
絶縁破壊電圧特性がバランスしないのである。
本発明tこおいて用いられるP化合物および粒子の添加
時期はエステル化あるいはエステル交換反応が実質的に
終了した時点から重縮合反応初期任意の間に添加してよ
い。
さらtこ添加する粒子については重合終了後、あるいは
ポリエステル成形前に添加してもよい。
また、粒子を高濃度で含むポリエステルを予め製造し、
これと粒子を含まない、あるいは少量含み、かつCa、
Mg、Mn化合物を含むポリエステル中の残存量が下記
式を満足するようtこP化合物を添加し、 1.1≦M / p≦1.4 かつ得られたポリエステルの溶液ヘイズが3〜15%の
該ポリエステルをフィルム成形前に適当に混合する方法
も好ましく用いられている。
以下、本発明を実施例tこよりさらに説明するが、本発
明は以下の実施例に限定されるものではない。
なお、諸物性の測定は次の方法によった。
a)平均粒子径 平均粒子径は粒子の電子顕微鏡写真によって測定した全
粒子(30000〜5000(]コ)の50重量%の点
にあたる粒子の等価球直径により求めた。等価球直径と
は粒子と同じ容積を有する球の直径である。
b)ポリマの固有粘度 0−クロロフェノールを溶媒とし25℃で測定した。
C)摩擦係数 東洋テスター製スリップテスターヲ用い、ASTMD−
1894B法に従って測定した。
なお、フィルムの滑り性の目安として静摩擦係数を用い
た。
d)絶縁破壊電圧 交流耐圧試験器を用い、J l5−0−2518に準じ
て測定した。
e)フィルムヘイズ ASTM−I)−100s −52法に準じ、フィルム
ヘイズを測定した。
f)ポリマ中の金属分析 ポリマ中のOa、Mg、Mnの定量は原子吸光法tこよ
って測定し、Pは比色法によって測定した。
−実施例1 ジメチルテレフタレート100重量部、エチレングリコ
ール70重量部および工、ステル交換触媒として酢酸C
a0.09重量部1重合触媒として三酸化アンチモン0
.03重量部を加え。
140〜220℃の間゛で理論量のメタノールを留出さ
せ、エステル交換反応を終了した。続いて系内にジメチ
ルフェニルホスホネー)0.1重量部、亜リン酸0.0
3重量部および平均粒子径2.4μの5iO25重量多
のエチレングリコールスラリーを0.05重量部添加し
た。次いで系内金体々に減圧とし、IMHg以下の減圧
下285℃の温度にしてエチレングリコールを留去し、
4時間で反応を終了した。得られたポリエチレンテレフ
タレートの極限粘度は0.607.軟化点は261.0
℃、また溶液ヘイズは13.5%であった。
該ポリマのチップを90顛φエクストルダーを用い溶融
押出し未延伸シートを得た後、常法に−って縦延伸倍率
3.2倍、横延伸倍率3.0倍で二軸延伸した後、17
5℃で熱処理して厚さ5μのフィルムを得た。
該フィルムの静摩擦係数は0.52、絶縁破壊電圧は5
31 V/μ、フィルムヘイズは14.5%であり、滑
り性、電気的性質とも優れている。
一方、平均粒子径2.4μの6102 を添加しなで、
上記同様にエステル交換反応および重縮合反応を行なっ
た。得られたポリエチレンテレフタレートの溶液ヘイズ
は1o、2%、およびポリエチレンテレフタレート中の
金属分析を行なったところ、Caが230ppm%Fが
147ppm検出され、M/Pを計算したところ1.2
1であった。
実施例2〜4 表1に示す如く種々条件に変更した以外は実施例1と全
く同様に行なった。得られたフィルムは表1に示すよう
に、いずれも滑り性、電気的性質共に極めて良好であっ
た。
比較実施例1〜8 表2に示す如く種々の条件に変更した以外は実施例1と
全く同様にして行なった。結果を表2に示した。いずれ
の条件においてもフィルムの滑り性、電気的性質は実施
例1〜4、表1の結果に比較し劣っていた。
以上の結果から本発明によって製造されるポリエステル
は優れた滑り性および電気特性、特に絶縁破壊電圧特性
を兼ね備えたコンデンサーフ、イルムが得られることが
わかる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 Ca 、Mg、Mn 元素を有する少なくとも一種の化
    合物とP元素を有する少なくとも一種の化合物を下記割
    合で含有した溶液ヘイズが3〜15%であるポ1)エチ
    レンテレフタレートに、平均粒子径が0.5〜4μのケ
    イ素含有不活性無機粒子を配合せしめて溶液ヘイズを2
    0%以下としたコンデンサーフィルム用ポリエチレンテ
    レフタレート。 1.1≦M/P≦1.4
JP16346681A 1981-10-15 1981-10-15 コンデンサ−フイルム用ポリエチレンテレフタレ−ト Granted JPS5865744A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63118324A (ja) * 1986-11-07 1988-05-23 Toray Ind Inc シリカアルミナ粒子含有ポリエステルの製造方法
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