JPS5855319A - ダイヤモンド状炭素膜の作成方法 - Google Patents
ダイヤモンド状炭素膜の作成方法Info
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- JPS5855319A JPS5855319A JP56153946A JP15394681A JPS5855319A JP S5855319 A JPS5855319 A JP S5855319A JP 56153946 A JP56153946 A JP 56153946A JP 15394681 A JP15394681 A JP 15394681A JP S5855319 A JPS5855319 A JP S5855319A
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- Japan
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- carbon film
- carbon
- substrate
- film
- ion
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/0605—Carbon
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、炭素を母材とした真空蒸着ま九紘スパッタ蒸
着を行うと同時に、水素ガスまたは炭化水素ガスをイオ
ン種としたイオン流を照射することによるダイヤモンド
状炭素膜の作成方法に関するものである〇 従来炭素膜は、グラファイト電極の通電加熱あるいは炭
素粉末の塗布によシ作成されてきたが。
着を行うと同時に、水素ガスまたは炭化水素ガスをイオ
ン種としたイオン流を照射することによるダイヤモンド
状炭素膜の作成方法に関するものである〇 従来炭素膜は、グラファイト電極の通電加熱あるいは炭
素粉末の塗布によシ作成されてきたが。
この方法は制御性に乏しく、かつ作成される膜は黒色不
透明で軟かく、又基板との密着性の劣るものでめった。
透明で軟かく、又基板との密着性の劣るものでめった。
また、より簡便で制御性に優れた方法として、母材にグ
ラファイトまたはダイヤモンドを用い、これにイオンビ
ームまたはレーザビームないし電子ビームを照射し、ス
パッタま九は蒸着によシ炭素膜を作成する方法がある０
この方法で、さらに同時に基板上に荷電粒子を照射する
ことにより％硬く透明で電気抵抗の高い膜を形成する方
法が提案されてきた（特願昭５５−１８０５０４号）。
ラファイトまたはダイヤモンドを用い、これにイオンビ
ームまたはレーザビームないし電子ビームを照射し、ス
パッタま九は蒸着によシ炭素膜を作成する方法がある０
この方法で、さらに同時に基板上に荷電粒子を照射する
ことにより％硬く透明で電気抵抗の高い膜を形成する方
法が提案されてきた（特願昭５５−１８０５０４号）。
これらの方法で得られる膜は、ダイヤモンド部分とグラ
ファイト部分の混在した炭素膜である。一般に炭素膜で
はダイヤモンド部分の多いほど膜は硬く透明で、電気抵
抗が高くなるとされている。
ファイト部分の混在した炭素膜である。一般に炭素膜で
はダイヤモンド部分の多いほど膜は硬く透明で、電気抵
抗が高くなるとされている。
しかし、＠ｔダイヤモンド部分でのみ構成すること社非
常に難しく、グラフアイ）ｔｆ１分がかなりの割合で存
在するため、膜質が劣化し、透明性および電気抵抗が減
少するという欠点があった。
常に難しく、グラフアイ）ｔｆ１分がかなりの割合で存
在するため、膜質が劣化し、透明性および電気抵抗が減
少するという欠点があった。
本発明は、炭素膜中のグラファイト部分を選択的に除去
して、ダイヤモンド部分の割合の多い炭素膜の作成方法
全提供しようとするものである。
して、ダイヤモンド部分の割合の多い炭素膜の作成方法
全提供しようとするものである。
ここでは荷電粒子として、水素ガスあるいはメタンなど
の炭化水素ガスから得られるイオン流を使用し、これ全
基板上に照射して、形成される薄膜のダイヤモンド化を
促進せしめるものである０水素原子は、グラファイトと
の反応性が強いのに対し、ダイヤモンドとの反応性が弱
いことが知られている。１０００℃、５０気圧の水素雰
囲気の下では、グラファイト社、その９９．９ ％が除
去されるのに対し、ダイヤモンドは、 ０．０２ ’Ｉ
Ｉ Ｌか除去されない０この水素原子金イオン化するこ
とによシ反応性を高めて基板上に照射すれば、炭素膜中
のグラファイト部分のみ選択的に除去され、ダイヤモン
ド部分の圧倒的に多い膜が形成される０ 以下１図面について本発明の詳細な説明する０第１図は
本発明で用いる装置の概ｉｔ示したものであり、１は真
空容器、２は炭素母材をスパッタするためのイオン源、
３はイオンビーム、４は母材の炭素（たとえばグラファ
イト板）、ｓＦｉ蒸着基板、６は蒸着基板上に同時にイ
オンを照射するためのイオン銃、７はイオンＲ（たとえ
ば水素イオン流）％８は蒸着基板上に形成される炭素膜
である。これを動作するには、まず真空容器１の内部を
高真空に排気した後、イオン源２にアルゴンガスなどの
不活性ガス金導入し、放電によシイオンを生成せしめ、
５〜ｌ０ＫＶ程度に加速してイオンビーム３を引き出し
、炭素母材４に照射する。イオンの衝撃をうけた母材の
炭素原子はスパッタされ、基板５上に堆積し、膜を形成
する。第２図は作成した膜の電子回折パターンから得ら
れるｄ−スペーシングを示した図である。線の位置は回
折リングの径から得られるｄ−スペーシング、線の太さ
は回折リングの強度を示す。また（ａ）はイオンビーム
スパッタ蒸着のみで作成した膜、伽）はイオンビームス
パッタ蒸着に水素イオンの同時照射を加えて作成した膜
に対するものである。この方法で得られる膜について、
電子回折にょ多結晶性の評価をすると、その回折パター
ンから第２図（＆）に示すような結果が得られる。（こ
の図で線の位置は回折リングから求まるｄ−スペーング
、線の太さは回折リングの強度を示す。）ここでｄ−ス
ペーシング２．０７および１．１７ Ａはグラファイト
結合とダイヤモンド結合の混在した非晶質炭素膜に特有
のものである０次に、上記のイオンビームスパッタと同
時に、イオン銃６に水素ガスを導入してイオン化し、数
十から数百Ｖに加速したイオン流７を蒸着基板５上に照
射する。この活性化された水素イオンは、基板上で堆積
しつつある炭素膜中のグラファイト部分と反応し、炭化
水素ガスとなシ脱離する。しかるに、ダイヤモンド部分
鉱水素とｔｌとんど反応しないため、膜中に残存する。
の炭化水素ガスから得られるイオン流を使用し、これ全
基板上に照射して、形成される薄膜のダイヤモンド化を
促進せしめるものである０水素原子は、グラファイトと
の反応性が強いのに対し、ダイヤモンドとの反応性が弱
いことが知られている。１０００℃、５０気圧の水素雰
囲気の下では、グラファイト社、その９９．９ ％が除
去されるのに対し、ダイヤモンドは、 ０．０２ ’Ｉ
Ｉ Ｌか除去されない０この水素原子金イオン化するこ
とによシ反応性を高めて基板上に照射すれば、炭素膜中
のグラファイト部分のみ選択的に除去され、ダイヤモン
ド部分の圧倒的に多い膜が形成される０ 以下１図面について本発明の詳細な説明する０第１図は
本発明で用いる装置の概ｉｔ示したものであり、１は真
空容器、２は炭素母材をスパッタするためのイオン源、
３はイオンビーム、４は母材の炭素（たとえばグラファ
イト板）、ｓＦｉ蒸着基板、６は蒸着基板上に同時にイ
オンを照射するためのイオン銃、７はイオンＲ（たとえ
ば水素イオン流）％８は蒸着基板上に形成される炭素膜
である。これを動作するには、まず真空容器１の内部を
高真空に排気した後、イオン源２にアルゴンガスなどの
不活性ガス金導入し、放電によシイオンを生成せしめ、
５〜ｌ０ＫＶ程度に加速してイオンビーム３を引き出し
、炭素母材４に照射する。イオンの衝撃をうけた母材の
炭素原子はスパッタされ、基板５上に堆積し、膜を形成
する。第２図は作成した膜の電子回折パターンから得ら
れるｄ−スペーシングを示した図である。線の位置は回
折リングの径から得られるｄ−スペーシング、線の太さ
は回折リングの強度を示す。また（ａ）はイオンビーム
スパッタ蒸着のみで作成した膜、伽）はイオンビームス
パッタ蒸着に水素イオンの同時照射を加えて作成した膜
に対するものである。この方法で得られる膜について、
電子回折にょ多結晶性の評価をすると、その回折パター
ンから第２図（＆）に示すような結果が得られる。（こ
の図で線の位置は回折リングから求まるｄ−スペーング
、線の太さは回折リングの強度を示す。）ここでｄ−ス
ペーシング２．０７および１．１７ Ａはグラファイト
結合とダイヤモンド結合の混在した非晶質炭素膜に特有
のものである０次に、上記のイオンビームスパッタと同
時に、イオン銃６に水素ガスを導入してイオン化し、数
十から数百Ｖに加速したイオン流７を蒸着基板５上に照
射する。この活性化された水素イオンは、基板上で堆積
しつつある炭素膜中のグラファイト部分と反応し、炭化
水素ガスとなシ脱離する。しかるに、ダイヤモンド部分
鉱水素とｔｌとんど反応しないため、膜中に残存する。
したがって、結果的に基板上に形成される膜はダイヤモ
ンド部分が圧倒的に多いものであシ、膜硬度。
ンド部分が圧倒的に多いものであシ、膜硬度。
透明性、電気抵抗、いずれも増加し、結晶性の面でも、
第２図Ｑｌ＋）に示すようにｄ−スペーシング２．０８
、１．２８ 、および１，０７＾と、ダイヤモンド多
結晶と同定可能の電子回折パターンが観察される。
第２図Ｑｌ＋）に示すようにｄ−スペーシング２．０８
、１．２８ 、および１，０７＾と、ダイヤモンド多
結晶と同定可能の電子回折パターンが観察される。
また、イオン銃６に導入するガスとして水素ガスのかわ
りに炭化水素ガスを用いた場合、メタン。
りに炭化水素ガスを用いた場合、メタン。
エタン、プロパンなどの気体から得られるイオンは多量
の水素イオンを含んでいることが質量分析により確認さ
れており、これらのイオンを基板に照前することによっ
ても、やはシダイヤモンド部分の多い膜が形成される。
の水素イオンを含んでいることが質量分析により確認さ
れており、これらのイオンを基板に照前することによっ
ても、やはシダイヤモンド部分の多い膜が形成される。
さらに、イオン銃６に水素と炭化水素の混合ガスを導入
してイオン化する場合でもその効果は同様である。
してイオン化する場合でもその効果は同様である。
ここでは炭素母材を蒸発させる方法としてイオンビーム
スパッタ法について説明したが、レーザある。
スパッタ法について説明したが、レーザある。
以上説明したように、本発明は、従来の技術では不可能
であったダイヤモンド状炭素膜を作成することを可能と
するものであり、その応用価値はすこぶる高いものがあ
る。また本発明の方法によれば、透明で硬く、電気抵抗
の高く、緻密な炭素膜が制御性良く作成されるため、電
子素子材料としての用途が広く期待できるという利点が
ある。
であったダイヤモンド状炭素膜を作成することを可能と
するものであり、その応用価値はすこぶる高いものがあ
る。また本発明の方法によれば、透明で硬く、電気抵抗
の高く、緻密な炭素膜が制御性良く作成されるため、電
子素子材料としての用途が広く期待できるという利点が
ある。
第１図は本発明に用いる装置の概要図、第２図は作成し
た膜の電子回折で（ターンから得られるｄ一スベシング
を示した図である。 １・・・・−・真空容器、２・・・・・・イオン源、３
・・・・・・イオンビーム、４・・・・−・母材、５・
・・−・蒸着基板、６・・・・・・基板に水素イオンを
同時照射するためのイオン銃、７・・・・・・イオン流
、８−・・−・炭素膜特許出願人 日本電信電話公社 第１図
た膜の電子回折で（ターンから得られるｄ一スベシング
を示した図である。 １・・・・−・真空容器、２・・・・・・イオン源、３
・・・・・・イオンビーム、４・・・・−・母材、５・
・・−・蒸着基板、６・・・・・・基板に水素イオンを
同時照射するためのイオン銃、７・・・・・・イオン流
、８−・・−・炭素膜特許出願人 日本電信電話公社 第１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （リ 炭素母材を真空中で昇化して基板上に炭素膜を付
着させると同時に、水素イオン流を前記炭素膜に照射す
ることを特徴とするダイヤモンド状炭素膜の作成方法。 （２） 水素イオン流が水素ガス流をイオン種とした
特許請求の範囲第１項記載のダイヤモンド状炭素膜の作
成方法。 （３）水素イオン流が炭化水素ガス流をイオン種とした
特許請求の範囲第１項記載のダイヤモンド状炭素膜の作
成方法。 （４） 水素イオン流が水素ガスと炭化水素ガスの混
合ガス流をイオン種とした特許請求の範囲第１項記載の
ダイヤモンド状炭素膜の作成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56153946A JPS5855319A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | ダイヤモンド状炭素膜の作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56153946A JPS5855319A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | ダイヤモンド状炭素膜の作成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5855319A true JPS5855319A (ja) | 1983-04-01 |
| JPS627262B2 JPS627262B2 (ja) | 1987-02-16 |
Family
ID=15573529
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56153946A Granted JPS5855319A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | ダイヤモンド状炭素膜の作成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5855319A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0155178A2 (en) * | 1984-03-13 | 1985-09-18 | Kabushiki Kaisha Meidensha | A coating film and method and apparatus for producing the same |
| EP0156069A2 (en) * | 1983-11-28 | 1985-10-02 | Kabushiki Kaisha Meidensha | Diamond-like thin film and method for making the same |
| JPS60195094A (ja) * | 1984-03-15 | 1985-10-03 | Agency Of Ind Science & Technol | ダイヤモンド薄膜の製造方法 |
| JPS60201635A (ja) * | 1984-03-27 | 1985-10-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 硬質炭素被覆膜の製造方法 |
| JPS61219709A (ja) * | 1985-03-25 | 1986-09-30 | Namiki Precision Jewel Co Ltd | ダイヤモンドライクカ−ボンの製造方法 |
| US4961958A (en) * | 1989-06-30 | 1990-10-09 | The Regents Of The Univ. Of Calif. | Process for making diamond, and doped diamond films at low temperature |
| US4981568A (en) * | 1988-09-20 | 1991-01-01 | International Business Machines Corp. | Apparatus and method for producing high purity diamond films at low temperatures |
-
1981
- 1981-09-30 JP JP56153946A patent/JPS5855319A/ja active Granted
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0156069A2 (en) * | 1983-11-28 | 1985-10-02 | Kabushiki Kaisha Meidensha | Diamond-like thin film and method for making the same |
| EP0155178A2 (en) * | 1984-03-13 | 1985-09-18 | Kabushiki Kaisha Meidensha | A coating film and method and apparatus for producing the same |
| JPS60195094A (ja) * | 1984-03-15 | 1985-10-03 | Agency Of Ind Science & Technol | ダイヤモンド薄膜の製造方法 |
| JPH0352433B2 (ja) * | 1984-03-15 | 1991-08-09 | Kogyo Gijutsu Incho | |
| JPS60201635A (ja) * | 1984-03-27 | 1985-10-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 硬質炭素被覆膜の製造方法 |
| JPS61219709A (ja) * | 1985-03-25 | 1986-09-30 | Namiki Precision Jewel Co Ltd | ダイヤモンドライクカ−ボンの製造方法 |
| US4981568A (en) * | 1988-09-20 | 1991-01-01 | International Business Machines Corp. | Apparatus and method for producing high purity diamond films at low temperatures |
| US4961958A (en) * | 1989-06-30 | 1990-10-09 | The Regents Of The Univ. Of Calif. | Process for making diamond, and doped diamond films at low temperature |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS627262B2 (ja) | 1987-02-16 |
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