JPS5848581Y2 - レベルスイツチカイロ - Google Patents
レベルスイツチカイロInfo
- Publication number
- JPS5848581Y2 JPS5848581Y2 JP1975117768U JP11776875U JPS5848581Y2 JP S5848581 Y2 JPS5848581 Y2 JP S5848581Y2 JP 1975117768 U JP1975117768 U JP 1975117768U JP 11776875 U JP11776875 U JP 11776875U JP S5848581 Y2 JPS5848581 Y2 JP S5848581Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- terminal
- measured
- circuit
- level switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、被測定材料の容器中の空・充填等を検知す
るレベルスイッチ信号を得る回路の構造に係り、その目
的とするところは、ＩＣ素子を組合せて、簡単に構成で
き、調整が簡単で、精度良く検知でき、コンピュータコ
ントロールに適するレベルスイッチ回路を提供するにあ
る。
るレベルスイッチ信号を得る回路の構造に係り、その目
的とするところは、ＩＣ素子を組合せて、簡単に構成で
き、調整が簡単で、精度良く検知でき、コンピュータコ
ントロールに適するレベルスイッチ回路を提供するにあ
る。
以下、図面によって、この考案の構成ならびに作用を説
明するに、１は検知発振回路であり、測定端子ＩＡ，Ｉ
Ｂ間に被測定材料が介在すると、測定端子ＩＡ，ＩＢ間
の容量ＣＸが変化し、検知発振回路１のインバータ１Ｃ
の帰還抵抗１Ｄと容量（ＣＸ十ＣＴ＋ＣＭ）との時定数
で決まる発振周波数も変化する。
明するに、１は検知発振回路であり、測定端子ＩＡ，Ｉ
Ｂ間に被測定材料が介在すると、測定端子ＩＡ，ＩＢ間
の容量ＣＸが変化し、検知発振回路１のインバータ１Ｃ
の帰還抵抗１Ｄと容量（ＣＸ十ＣＴ＋ＣＭ）との時定数
で決まる発振周波数も変化する。
２は基準となる一定周波数を発振する基準周波数発振回
路であり、インバータ２Ａと帰還抵抗２Ｂ、固定容量２
Ｃとで固定の発振周波数を得ている。
路であり、インバータ２Ａと帰還抵抗２Ｂ、固定容量２
Ｃとで固定の発振周波数を得ている。
３は検知発振回路１の出力をＤ端子の入力とし、基準周
波数発振回路２の出力をクロック端子の入力とした遅延
フリップフロップ回路（以下、単にＤＦＦという）であ
り、このＤＦＦにおいて基準周波数ｆ８と発振周波数ｆ
ｍとの差周波数信号ｆＤが取り出される。
波数発振回路２の出力をクロック端子の入力とした遅延
フリップフロップ回路（以下、単にＤＦＦという）であ
り、このＤＦＦにおいて基準周波数ｆ８と発振周波数ｆ
ｍとの差周波数信号ｆＤが取り出される。
４は差周波数信号ｆＤのトレイリングエツジをトリガ入
力とする単安定マルチバイブレータ（以下単に単安定マ
ルチという）である。
力とする単安定マルチバイブレータ（以下単に単安定マ
ルチという）である。
５は単安定マルチ４の出力をＤ端子入力とし、ＤＦＦ
３の出力をクロック端孔入力とするＤＦＦで゛あり、そ
の出力は被測定材料の空・充填等の検知信号とされる。
３の出力をクロック端孔入力とするＤＦＦで゛あり、そ
の出力は被測定材料の空・充填等の検知信号とされる。
なお、単安定マルチ４の出力パルス幅Ｔを決めるのはコ
ンテ゛ンサ４Ａ、抵抗４Ｂの時定数であり、パルス幅Ｔ
の値は被測定材料の空−充填による差周波数信号ｆＤの
範囲に基づいて設定される。
ンテ゛ンサ４Ａ、抵抗４Ｂの時定数であり、パルス幅Ｔ
の値は被測定材料の空−充填による差周波数信号ｆＤの
範囲に基づいて設定される。
上記構成により、測定端子ＩＡ，ＩＢ間に被測定材料が
空の状態にある場合には、ＤＦＦ３の出力端子Ｑ１から
の出力波形は、第２図の期間Ｅで示すように、単安定マ
ルチ４の出力端子Ｑ２からの出力期間Ｔの経過後（論理
Ｏ）であり、ＤＦＦ ５の出力端子Ｑ３からの出力は常
に論理０になる。
空の状態にある場合には、ＤＦＦ３の出力端子Ｑ１から
の出力波形は、第２図の期間Ｅで示すように、単安定マ
ルチ４の出力端子Ｑ２からの出力期間Ｔの経過後（論理
Ｏ）であり、ＤＦＦ ５の出力端子Ｑ３からの出力は常
に論理０になる。
一方、被測定材料が測定端子ＩＡ，ＩＢ間に充填される
と、ＤＦＦ ３の出力波形は第２図の期間Ｆで示すよう
に、単安定マルチ４の出力期間Ｔの間（論理１）に係る
ので、ＤＦＦ５の出力波形は常に論理１になる。
と、ＤＦＦ ３の出力波形は第２図の期間Ｆで示すよう
に、単安定マルチ４の出力期間Ｔの間（論理１）に係る
ので、ＤＦＦ５の出力波形は常に論理１になる。
従って、レベル表示として被測定材料の空の場合と、充
填の場合をＤＦＦ ５の出力レベルの変化として検出で
゛きる。
填の場合をＤＦＦ ５の出力レベルの変化として検出で
゛きる。
そして、ＤＦＦ５の出力レベルが論理０から論理１に切
換わるスレッショールドレベルは、ＤＦＦ ３の出力周
波数ｆＤと単安定マルチ４と期間Ｔとに関連し、単安定
マルチ４の時定数を変えることにより、被測定材料の充
填レベルの変更、充填度合の検出もできる。
換わるスレッショールドレベルは、ＤＦＦ ３の出力周
波数ｆＤと単安定マルチ４と期間Ｔとに関連し、単安定
マルチ４の時定数を変えることにより、被測定材料の充
填レベルの変更、充填度合の検出もできる。
なお、上記実施例においては、単安定マルチ４の出力パ
ルス幅ＴがｆＤの最高周波数の周期１／ｆＤｍａｘより
小さい場合を示し、Ｔ〉１／ｆＤｍａＸにおいてＤＦＦ
５の出力が変化する不都合を無くしているが、これは
単安定マルチ４に再トリガ可能単安定マルチを用いれば
Ｔ＞１／ｆ、ｍａｘにもできる。
ルス幅ＴがｆＤの最高周波数の周期１／ｆＤｍａｘより
小さい場合を示し、Ｔ〉１／ｆＤｍａＸにおいてＤＦＦ
５の出力が変化する不都合を無くしているが、これは
単安定マルチ４に再トリガ可能単安定マルチを用いれば
Ｔ＞１／ｆ、ｍａｘにもできる。
また、差周波数信号ｆＤの変化範囲（空と充填との差に
よる）が小さければ、再トリガのできない単安定マルチ
でも実用上問題にならない。
よる）が小さければ、再トリガのできない単安定マルチ
でも実用上問題にならない。
以上間らかにしたように、この考案によるレベルスイッ
チ回路によれば、各素子はテ゛ジタルＩＣ素子により簡
単に組合せるのみで空・充填の標示信号、充填度合の標
示信号を取り出すことができ、従来のように多数の部品
を必要とせず、３個のＩＣ（インバータとＤＦＦと単安
定マルチ）による小型化、低価格したレベル検出回路部
を構成できる。
チ回路によれば、各素子はテ゛ジタルＩＣ素子により簡
単に組合せるのみで空・充填の標示信号、充填度合の標
示信号を取り出すことができ、従来のように多数の部品
を必要とせず、３個のＩＣ（インバータとＤＦＦと単安
定マルチ）による小型化、低価格したレベル検出回路部
を構成できる。
また、信号系がディジタル化されるので、製造上の調整
は検知発振回路１と単安定マルチ４の時定数のみで良く
、調整が簡単になる。
は検知発振回路１と単安定マルチ４の時定数のみで良く
、調整が簡単になる。
また、デ゛イジタル化により温度変動などに対しても強
く、十分な精度でレベル検出をすることかで゛きるし、
コンピュータコントロールの場合にそのまま利用できる
利点がある。
く、十分な精度でレベル検出をすることかで゛きるし、
コンピュータコントロールの場合にそのまま利用できる
利点がある。
なお、このレベルスイッチ回路を被測定材料を収容する
容器壁に沿って多数設置すれば、被測定材料ルベルをオ
ン・オフスイッチから多値レベルスイッチで測定するこ
ともできる。
容器壁に沿って多数設置すれば、被測定材料ルベルをオ
ン・オフスイッチから多値レベルスイッチで測定するこ
ともできる。
第１図はこの考案によるレベルスイッチ回路の一実施例
を示す回路図、第２図はこの考案を説明するためのタイ
ムチャートである。 １・・・・・・検知発振回路、２・・・・・・基準周波
数発振回路、３．５・・・・・・遅延フリップフロップ
、４・・・・・・単安定マルチバイブレータ、Ｉ Ａ、
Ｉ Ｂ・・・・・・測定端子、１Ｃ・・・・・・インバ
ータ、１Ｄ・・・・・・帰還抵抗、２Ａ・・・・・・イ
ンバータ、２Ｂ・・・・・・帰還抵抗、２Ｃ・・・・・
・コンデンサ、４Ａ・・・・・・コンデンサ、４Ｂ・・
・・・・抵抗。
を示す回路図、第２図はこの考案を説明するためのタイ
ムチャートである。 １・・・・・・検知発振回路、２・・・・・・基準周波
数発振回路、３．５・・・・・・遅延フリップフロップ
、４・・・・・・単安定マルチバイブレータ、Ｉ Ａ、
Ｉ Ｂ・・・・・・測定端子、１Ｃ・・・・・・インバ
ータ、１Ｄ・・・・・・帰還抵抗、２Ａ・・・・・・イ
ンバータ、２Ｂ・・・・・・帰還抵抗、２Ｃ・・・・・
・コンデンサ、４Ａ・・・・・・コンデンサ、４Ｂ・・
・・・・抵抗。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 検知すべき被測定材料が測定端子間に介在することによ
って周波数が変化する検知発振回路と、基準となる一定
周波数を発振する基準周波数発振回路との出力を、それ
ぞれ第１遅延フリップフロップ回路のＤ端子とクロック
端子とに接続し、その出力を第２遅延フリップフロップ ク端子および単安定マルチバイブレークに加え、この単
安定マルチバイブレータの出力を第２遅延フリップフロ
ップ回路のＤ端子に加え、第２遅延フリップフロップ回
路の出力状態から被測定材料の空・充填等を検知するよ
うにしたことを特徴とするレベルスイッチ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1975117768U JPS5848581Y2 (ja) | 1975-08-27 | 1975-08-27 | レベルスイツチカイロ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1975117768U JPS5848581Y2 (ja) | 1975-08-27 | 1975-08-27 | レベルスイツチカイロ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5230965U JPS5230965U (ja) | 1977-03-04 |
| JPS5848581Y2 true JPS5848581Y2 (ja) | 1983-11-07 |
Family
ID=28598602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1975117768U Expired JPS5848581Y2 (ja) | 1975-08-27 | 1975-08-27 | レベルスイツチカイロ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5848581Y2 (ja) |
-
1975
- 1975-08-27 JP JP1975117768U patent/JPS5848581Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5230965U (ja) | 1977-03-04 |
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