JPS5841572U - 荷電粒子線用集束偏向装置 - Google Patents

荷電粒子線用集束偏向装置

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JPS5841572U
JPS5841572U JP13435881U JP13435881U JPS5841572U JP S5841572 U JPS5841572 U JP S5841572U JP 13435881 U JP13435881 U JP 13435881U JP 13435881 U JP13435881 U JP 13435881U JP S5841572 U JPS5841572 U JP S5841572U
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JP
Japan
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charged particle
focusing
deflecting device
particle beams
charged particles
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Application number
JP13435881U
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English (en)
Inventor
勝広 黒田
Original Assignee
株式会社日立製作所
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Publication date
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  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は、荷電粒子線の垂直入射の最も簡単に実現でき
る従来の光学系を示す図、第2図は、偏向収差の自己打
ち消し型と言われている低偏向収差光学系を示す図、第
3図は、第2図の荷電粒子軌道を3次元表示した図、第
4図は、第3図の荷:  重粒子軌道を試料面側から物
面側を見たときの投、  形量、第・5図は、本考案の
一実施例を示す図、第、 6図は、本考案の一実施例の
荷電粒子軌道を第4・  間開様に表わした投影図、第
7図および第8図は、それぞれ偏向器相互のねじれ角と
強さの比によるランディング角と偏向色収差係数の変化
を示した図である。 図において、1・・・・・・光軸、2・・・・・・物面
、2′・・・・・・物点、3−・・・・・・試料面、4
・・・・・・レンズ、7・・・・・・第1 1偏向器、
B・・・・・・第2偏向器、19・・・・・・第3偏向
、 器。 vI s  回 4十れ^

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 荷電粒子源より発生した荷電粒子を細く絞り試料面上に
    照射し、上記試料面上の所望の位置に上記荷電粒子を偏
    向させる荷電粒子光学系において上記荷電粒子を細く絞
    るために集束用レンズを少なくとも1個用い、上記荷電
    粒子を偏向させるために偏向器を3個用いて構成したこ
    とを特徴とする荷電粒子線用集束偏向装置。
JP13435881U 1981-09-11 1981-09-11 荷電粒子線用集束偏向装置 Pending JPS5841572U (ja)

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