JPS5840121B2 - ゲ−ジ - Google Patents

ゲ−ジ

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Publication number
JPS5840121B2
JPS5840121B2 JP48103333A JP10333373A JPS5840121B2 JP S5840121 B2 JPS5840121 B2 JP S5840121B2 JP 48103333 A JP48103333 A JP 48103333A JP 10333373 A JP10333373 A JP 10333373A JP S5840121 B2 JPS5840121 B2 JP S5840121B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
support
frame
mechanical
fixed
gauge
Prior art date
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Expired
Application number
JP48103333A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS4966366A (ja
Inventor
ソラローリ セルジオ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Finike Italiana Marposs SpA
Original Assignee
Finike Italiana Marposs SpA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Finike Italiana Marposs SpA filed Critical Finike Italiana Marposs SpA
Publication of JPS4966366A publication Critical patent/JPS4966366A/ja
Publication of JPS5840121B2 publication Critical patent/JPS5840121B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/12Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring diameters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/22Feeler-pin gauges, e.g. dial gauges
    • G01B3/24Feeler-pin gauges, e.g. dial gauges with open yoke, i.e. calipers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はゲージに係り、特に、置換可能な要素をもつ装
置を具えると共にゲージそれ自体の迅速かつ自動的な機
械的零点設定が可能な機械的物体を検定する直接々触々
子をもつ比較器に係る。
公知のように、直接々触々子を具えたゲージは、測定さ
れるべき物体と接触する触了が絹み合わされた移動要素
を有している。
触子の変位は、マスターの寸法に関する指示を与える位
置トランスデユーサによって検出される。
これらのゲージの機械的零点設定は、触子がマスターに
接触したとき、繰り返えし可能な好ましくは線形の応答
がその付近で良好な感変で得られる位置にトランスデユ
ーサがあるように触子とトランスデユーサの位置を調節
することである。
この機械的な零点設定の後、触子がマスターに触れてい
る間、ポテンショメータ装置等でゲージの読みとり指示
を零に設定する電気的な零点設定が行われる。
ゲージの機械的零点設定は長時間を要する微妙な操作で
ある。
又、機械的零点設定が正しくないとゲージの精度を極め
て疑わしいものとする。
従って、その精度は操作する人の手腕と注意力によって
決まり十分に信頼できるものでない。
本発明が解決しよとする技術的問題点は、製造上の原因
にのみ依存しゲージを操作する人の働きには依存せずに
機械的零点設定を極めて正確かつ信頼できるように迅速
に行えるゲージを提供することである。
この問題点は、触子と位置トランスデユーサをもつ少く
とも1個の測定ヘッドを翁するゲージによって解決され
、本発明によれば、このゲージにおける測定ヘッドは、
フレーム自体に関して変位する支持装置を介してゲージ
のフレームと絹み合わされ、同測定ヘッドは同フレーム
と連結された照合装置と共働する接触要素と組み合わさ
れ、同照合装置は測定されるべき物体の寸法変化に応じ
機械的な零点設定を行えるよう置換しつるようになって
いる。
以下、本発明によるゲージの概略図を示す図面に基いて
本発明の好ましい実施例を説明する。
この実施例のゲージは自動測定機上で機械的な物体を検
定するのに用いることができる。
図において、2つの平らなスプリング2,3によってゲ
ージのフレーム4に支持板1が枢着されている。
スプリング2の1端はブロック5を介して支持板1に剛
く固定され、他端はブロック6を介してフレーム4に固
定されている。
休止位置においてスプリング2に対し直交しているスプ
リング3は1端をブロックを介してフレーム4に固定さ
れ、その反対の端はブロック8を介して支持板1に剛く
固定されている。
支持板1にはアーム9が固定され、これに戻りスプリン
グ10の1端が連結され、その他端はフレーム4と連結
されている。
アーム9の運動は、ゲージのフレーム4と絹み合わされ
た2つの表面11.12によって制限されている。
更に、支持板1には測定されるべき物体の寸法を検出す
る測定ヘッド13が固定されている。
ヘッド13は内部に寸法検出装置が在る殻15によって
形成されている。
検出装置は、可動要素17及び殻15と1体の支持具1
9に剛く固定された要素18を設けられた誘導型のトラ
ンスデユーサ16を有しているのが普通である。
トランスデユーサ16の巻線は、ケーブル20によって
外部から供給される。
要素17はロッド21に固定され、ロッド21は触子2
4を支持しているアーム22に連結されている。
触+24は、殻15によって支持された支点23まわり
のロッド21及びアーム22の回転の結果として測定さ
れるべき物体25.25’と接触させられる。
触子24の機械的な変位はトランスデユーサ16によっ
て検出され対応した電気信号に変換される。
更に、支持板1には照合装置27が連結されている。
照合装置27には、軸29と絹み合わされた先端28が
形成され、軸29は、これを調節させるネジ30によっ
て、支持板1に剛く固定された支持具31にねじ込むこ
とができる。
支持具31上には、ネジ33を介して支持具を引き締め
ると共に後記する軸29従って先端28を固定するノツ
チ32がある。
図示した実施例では、測定されるべき物体25はステッ
プ状に移動するコンベアベルト35上に置かれたベアリ
ングリングである。
各物体25は、本質的に公知のユニット37によって制
御される支持ピン36を操作することによって測定位置
へ持って来られる。
実際上、このように作動されるピン36は物体25を押
し上げ、ネジ43.44によってゲージのフレーム4に
剛く固定された置換可能な支持具40内に得られるシー
ト38内に位置させる。
シート38に対応して支持具40内には、物体25上で
必要な寸法測定を行うため触子24を通す孔41がある
更に、支持具40には極めて硬い物質製のブロック46
が結合されていて先端28に対する照合を形成している
スプリング10によって先端28はブロック46上に確
実に押される。
以上述べたゲージは次のように働く。
初期の機械的零点設定が次のように行われる。
マスター25が測定位置即ちシート38上に置かれその
位置にピン36によって維持されている間、先端28は
、機械的零点設定が得られる迄、触子24が物体25に
当りつつ板1が適切に回転してトランスデユーサ16の
アーマチャ17,18が相対的に変位するように調節さ
れる。
次いで、公知の装置によって電気的零点設定がなされ、
これは図示していない公知の指示器上に目にみえるもの
とすることができる。
この照合された状態を設定した後、即ち、測定ヘッドと
読みとり器がマスター上で零点に設定された後、検定す
べき物体の寸法が次々に零点に対する変位として検出さ
れる。
異った寸法、例えば物体25の寸法より大きい寸法をも
つ物体25′の絹の直径を測定する必要があれば、支持
具40は、その新しい物体を容易に収めるシー)38’
及び、触−F24が新しい物体25ノに接している間ト
ランスデユーサ16の要素17,18が最適の零点設定
距離にあるように支持板1を回転させる厚さをもつよう
なブロック46′をもつ同じ型の別の支持具と交換しな
ければならない。
このようにして置換された支持具40によって機械的な
零点設定が自動的に行われ、その精度は製造上の因子の
みによって決まる。
以上述べたゲージは、本発明の範囲内で構造上、及び作
動上からみて均等な変形や変更をなしうろことは明らか
であろう。
例えば、このゲージは、それぞれが多数の触子をもつ数
個の測定ヘッドを崩しこれによって検査物体を位置決め
するシートを用いる必要をなくすることができるし、又
、例えば解放接手を介することによってネジ43,44
と異る取付は手段で支持具40をフレーム1に固定でき
るし、又、ヘッド13を支持する支持板1は、回転によ
って可動とされる代りに、並進によって可動なように(
例えばシリンダ状の案内によって)造ってもよい。
【図面の簡単な説明】
図面は、本発明によるゲージの1実施例を示す概要図で
ある。 1・・・・・・支持板、2,3・・・・・・スプリング
、4・・・・・・フレーム、5,6,7,8・・・・・
・ブロック、9・・・・・・アーム、10・・・・・・
戻りスプリング、13・・・・・・測定ヘッド、16・
・・・・・トランスデユーサ、17,18・・・・・・
トランスデユーサのアーマチャ、19・・・・・・支持
具、21・・・・・・ロッド、22・・・・・・アーム
、23・・・・・・支点、24・・・・・・触子、25
・・・・・・被測定物体、27・・:・・・照合装置、
28・・・・・・先端、29・・・・・・軸、30・・
・・・・ネジ、31・・・・・・支持具、32・・・・
・・ノツチ、35・・・・・・コンベアベルト、36・
・・・・・支持ピン、37・・・・・・制御ユニット、
38・・・・・・シート、40・・・・・・支持具、4
1・・・・・・孔、46・・・・・・ブロック。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被測定片の寸法をチェックするゲージであって、 イ)フレーム4; 口)支持体1; ノ\)所定の位置38に置かれた被測定片25に向い又
    はそれから離れる方向に動き得る測定アーム22を含み
    支持体1に固定された測定ヘッド13; 二)支持体1に固定された第1の照合手段27;ホ)フ
    レーム4に固定された第2の照合手段46;並びに へ)前記被測定片25の前記所定の位置38に対して相
    対的に測定ヘッド13の照合位置を設定するために、支
    持体1とフレーム4との間の相対的変位を許すように支
    持体をフレームに連結して、第1の照合手段27を第2
    の照合手段46と定常的接触状態にもたらす連結手段2
    ゜3.5,6.γ、8,9,10; を具備し、前記第1の照合手段27若しくは前記第2の
    照合手段46又はそれら両者が、異る公称寸法を有する
    被測定片を測定するための測定ヘッド13の機械的零点
    設定に相当する測定ヘッド13の複数の照合位置を、異
    る寸法の照合手段を利用することにより設定するように
    、置換可能になっている処の、ゲージ。 2 前記連結手段が前記支持体と測定ヘッドを前記フレ
    ームと相対的に回動させるピボット手段をもち、前記第
    1の機械的照合手段が前記支持体に調節可能に固定され
    前記第2の機械的照合手段と接触するようにされた接触
    先端を有すると共に同第2の照合手段は同第1の照合手
    段と共働するように適合された所定厚みのブロックを有
    し、かつ、前記測定ヘッドの新しい零点設定を自動的に
    与えるよう所定の異った厚みのブロックをもつ同様の第
    2の機械的照合手段と置換可能であることを特徴とする
    前記1記載のゲージ。 3 前記第2の機械的照合手段が前記フレームに置換可
    能に固定され、かつ、前記フレーム上の所定位置へ所定
    の公称寸法をもつ被測定片を位置させるためのシートを
    与える部材を有し、同部材は前記測定アームの1端に取
    付けられた触子を通すよう前記シートへの孔をもつこと
    を特徴とする前記1記載のゲージ。
JP48103333A 1972-09-15 1973-09-14 ゲ−ジ Expired JPS5840121B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT3534/72A IT974574B (it) 1972-09-15 1972-09-15 Micrometro comparatore con disposi tivo rapido ed automatico di azzera mento

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS4966366A JPS4966366A (ja) 1974-06-27
JPS5840121B2 true JPS5840121B2 (ja) 1983-09-03

Family

ID=11109193

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP48103333A Expired JPS5840121B2 (ja) 1972-09-15 1973-09-14 ゲ−ジ

Country Status (8)

Country Link
US (1) US3863350A (ja)
JP (1) JPS5840121B2 (ja)
CH (1) CH563565A5 (ja)
DE (1) DE2342720C2 (ja)
FR (1) FR2200503B1 (ja)
GB (1) GB1449006A (ja)
IT (1) IT974574B (ja)
SE (1) SE385047B (ja)

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Also Published As

Publication number Publication date
IT974574B (it) 1974-07-10
DE2342720C2 (de) 1983-01-20
DE2342720A1 (de) 1974-03-21
GB1449006A (en) 1976-09-08
US3863350A (en) 1975-02-04
FR2200503A1 (ja) 1974-04-19
SE385047B (sv) 1976-05-31
CH563565A5 (ja) 1975-06-30
FR2200503B1 (ja) 1979-10-19
JPS4966366A (ja) 1974-06-27

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