JPH057562Y2 - - Google Patents

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JPH057562Y2
JPH057562Y2 JP8678186U JP8678186U JPH057562Y2 JP H057562 Y2 JPH057562 Y2 JP H057562Y2 JP 8678186 U JP8678186 U JP 8678186U JP 8678186 U JP8678186 U JP 8678186U JP H057562 Y2 JPH057562 Y2 JP H057562Y2
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JP
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test piece
levers
elongation
extensometer
lever
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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 A 産業上の利用分野 本考案は引張り試験における試験片の標点間伸
びを試験片が破断するまでの間測定できる破断伸
び計に関するものである。
B 従来の技術 従来の破断伸び計では、例えば実開昭54−
123759号「材料試験機における試験片伸び測定装
置」に示すように試験片の標点に係止された一対
のレバーの変位を、案内部材により平行移動させ
て取り出すとともに、案内部材あるいはその近傍
に取付けられた変位検出器によりレバーの変位を
検出して標点間の伸びを測定している。変位検出
器としては、磁気スケール装置や差動トランスが
用いられている。また、光学式非接触型の破断伸
び計も知られている。
C 考案が解決しようとする問題点 しかしながら、上記従来の破断伸び計において
は、上記のように案内部材が必要であり装置が大
形、複雑化するきらいがあり、また、試験片への
伸び計の装着、調整等が煩雑である。更に、伸び
が小さい領域での測定の場合、案内部材の抵抗な
どによつて精度が低下し、更にまた、試験片が破
断した際衝撃を受けやすく、また破損するおそれ
があるなどの問題がある。
本考案の目的は、このような問題点を解消し、
簡易な構成で取り扱いが容易かつ高精度な破断伸
び計を提供することにある。
D 問題点を解決するための手段 本考案は、試験片の標点位置にそれぞれ係止さ
れる第1および第2のレバーを有し、この第1お
よび第2のレバーの試験片係止部とは反対側の両
他端を両レバーが試験片の伸びに応じて変位を許
容する形で互いに連結するとともに、標点間の伸
びにより両レバーが連結支点回りに開いたときに
試験片と平行状態を保ちつつ変位して両レバー間
の距離を検出するように伸び検出機構を第1およ
び第2のレバーのそれぞれにビボツト支持する。
そして、これら全体を試験機の固定部に対して変
位可能に支持させるようにしたものである。
E 作用 試験片が伸びる第1および第2のレバーが連結
支点を中心として開く。このとき、両レバーにピ
ボツト支持されている伸び検出機構は、両レバー
の回動(揺動)に拘らず試験片と平行状態を保つ
たまま両レバー間の距離の変化を検出する。伸び
計は試験機固定部に対して変位可能であり、伸び
の検出は伸び計が試験機に対して自由な状態(浮
遊状態)で行なわれる。
F 実施例 第1図a〜cを参照して本考案の一実施例につ
いて説明する。なお、第1図aは伸び計の正面
図、第1図bは平面図、第1図cは第1図bのc
−c線から見た一部破断面図である。
図において、11および21はレバーであり、
それぞれひとつの部材を鈍角に折曲げてなり、各
レバー11,21は、一方の端部に形成された試
験片取付部110,210と、折曲げられた他方
の端部に形成された連結部120、220と、レ
バー略中央部に形成された環状の検出器保持部1
30,230とを有し、連結部120,220に
はピン13が挿通され、これにより連結機構が構
成されてレバー11および21の先端取付部11
0,210は互いにピン13を支点として開閉可
能とされている。
試験片取付部110を構成する2つの腕111
と112との間には試験片Tの厚さより大きい寸
法の間隙113が形成されている。一方の腕11
1には、固定側圧子15が、その先端が間隙11
3に突出した状態でねじ17により固着され、他
方の腕112には、可動側圧子16がばね18に
より間隙113に向けて付勢されて取付けられて
いて、試験片Tが装着されていない場合、可動側
圧子16の先端円錘部160はばね18のばね力
で固定側圧子15の端面に当接されているか、あ
るいは試験片Tの厚み以下の距離で固定側圧子1
5と対峙する。可動側圧子16にはつまみ19が
取付けられている。
レバー21の試験片取付部210はレバー11
のものと全く同一に構成できるのでその説明は省
略する。
レバー11の検出器保持部130には磁気スケ
ールホルダ20が遊嵌され、保持部130の壁面
を貫通して螺合された2本のピボツト軸21a,
21bによりピボツト支持されている。すなわ
ち、スケールホルダ20に形成された凹部200
にはボール201が埋設され、この凹部200と
ボール201とにより球面座22が構成され、ピ
ボツト軸21a,21bの先端円錘210a,2
10bの斜面がボール201とそれぞれ接触する
ことにより、ホルダ20がピボツト支持される。
なお、40a,40bはピボツト軸21a,21
bの位置を固定するナツトである。
レバー21の検出器保持部230には、磁気ス
ケール本体ホルダ24が遊嵌され、上述したと同
様に、保持部230の壁面を貫通して螺合された
2本のピボツト軸25a,25bによりピボツト
支持されている。すなわち、本体ホルダ24に凹
設された凹部240にはボール241が埋設さ
れ、この凹部240とボール241とにより球面
座26が構成され、ピボツト軸25a,25bの
先端円錘250a,250bの斜面がボール24
1とそれぞれ接触することにより、ホルダ24が
ピボツト支持される。なお41a,41bはピボ
ツト軸25a,25bの位置を固定するナツトで
ある。
27は磁気スケール装置であり、スケールホル
ダ20にその端部がねじ28により固着された円
柱上の磁気スケール270と、本体ホルダ24に
ねじ29により固着され、中央貫通孔に磁気スケ
ール270が摺動自在に挿通する磁気スケール本
体271で構成される。ここで、磁気スケール装
置27をレバー11,21にピボツト支持するこ
とにより変位検出機構が構成される。
30は2つのレバー11,21を常時閉じる方
向に付勢する弾性体(ばね)である。この伸び計
は全体が引張り試験機の固定部に対して変位可能
に吊設支持され、すなわち、32は緩衝ばね32
0を介して伸び計全体を試験機固定部に吊設する
ワイヤ(吊具)で、フツク31に連結されてい
る。このように構成された支持機構により支持さ
れて、伸び計全体は浮遊状態にあり破断時の衝撃
は少ない。
このように構成された破断伸び計を用いて試験
片Tの標点間の伸びを測定するには、まず、図示
しない引張り試験機の上下チヤツクに試験片Tを
装着する。次いで、第2図に示すように所望の標
点間距離GLのピツチで形成された2つの切欠き
330,331を有する治具33を用いて、レバ
ー11側の圧子16とレバー21側の圧子16と
の間隔をばね30のばね力に抗して開いておき、
その状態で可動側圧子つまみ19により可動側1
6をばね18に抗してレバー外側に偏倚させ、試
験片Tをレバー先端取付部110,210の間隙
113,213内に置く。つまみ19を離せば固
定側圧子15と可動側圧子16との間に試験片T
が装着されて係止される。
引張り負荷にて試験片Tの標点間距離GLが伸
びると圧子15および16が追従して変位する。
レバー11,21がピン13を中心として開か
れ、レバー11に固着された磁気スケール270
が上方に、レバー21に固着された磁気スケール
本体270が下方に移動する。磁気スケール27
0および磁気スケール本体271は各レバー1
1,21にピボツト支持されているので、磁気ス
ケール装置27は試験片Tと平行を保つことにな
る。磁気スケール装置27から、その取付け位置
に相応した比率で標点間の伸びΔGLに応じた変
位ΔGL′が検出される。この信号で試験片の伸び
を見る場合には、上記比率による演算を電気的に
行えばよい。
例えば、試験片Tにおける変位の1/2だけ変位
するように磁気スケール装置27を配置し、磁気
スケール装置27の分解能を0.001mmとすれば、
試験開始から破断に至るまで連続して0.002mmの
分解能で試験片Tの伸びを測定できる。
この実施例では伸び計が引張り試験機本体に吊
り具32を介して吊り下げられており、破断時に
飛散することもない。横形試験機の場合は吊設支
持ではなく小型移動台車上に伸び計を支持する形
になる。
試験片Tをレバー11,21に装着する圧子1
5および16を、第3図に示すようにレバー1
1,21の試験片取付け部110,210に固着
した板ばね34および35に取付け、板ばね3
4,35のばね力により試験片Tをレバー11,
21に装着してもよく、試験片Tへの各レバーの
係止機構は図示例に限定されない。
以上では伸び検出器として磁気スケール装置を
用いたが、差動トランスやその他の直線変位検出
器を用いてもよい。また、レバー11,21を試
験片Tに装着するにあたつて、治具33を用いな
くてもよい。
G 考案の効果 本考案は以上のように構成したので、従来に比
べて簡易な構成で、取扱いが容易、廉価および高
精度の破断伸び計を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の1実施例を示し、そのaは破
断伸び計の正面図、bは平面図、cは第1図のc
−c線から見た一部破断面図であり、第2図は治
具33の一例を示す正面図、第3図はレバーの先
端取付け部のみを示す正面図である。 11,21……レバー、13……ピン、15,
16……圧子、18……ばね、19……つまみ、
20,24……ホルダ、21a,21b,25
a,25b……ピボツト軸、22,26……球面
座、27……磁気スケール装置、28,29……
ねじ、30……ばね、32……吊り具、33……
治具、201,241……ボール、270……磁
気スケール、271……磁気スケール本体。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試験片の標点位置にそれぞれ係止される第1お
    よび第2のレバーと、この第1および第2のレバ
    ーの試験片と反対側のそれぞれの他端を試験片の
    伸びによる変位を許容する形で互いに連結する連
    結機構と、前記第1および第2のレバーのそれぞ
    れにピボツト支持され、前記標点間の伸びによる
    前記両レバー間の距離の変化を検出する伸び検出
    機構と、前記試験片の伸びに応じて全体を変位可
    能に試験機固定部に支持する支持機構と、を具備
    したことを特徴とする破断伸び計。
JP8678186U 1986-06-06 1986-06-06 Expired - Lifetime JPH057562Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8678186U JPH057562Y2 (ja) 1986-06-06 1986-06-06

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8678186U JPH057562Y2 (ja) 1986-06-06 1986-06-06

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Publication Number Publication Date
JPS62197046U JPS62197046U (ja) 1987-12-15
JPH057562Y2 true JPH057562Y2 (ja) 1993-02-25

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