JPS5826655B2 - ケツシヨウセイチヨウホウ - Google Patents

ケツシヨウセイチヨウホウ

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JPS5826655B2
JPS5826655B2 JP13587475A JP13587475A JPS5826655B2 JP S5826655 B2 JPS5826655 B2 JP S5826655B2 JP 13587475 A JP13587475 A JP 13587475A JP 13587475 A JP13587475 A JP 13587475A JP S5826655 B2 JPS5826655 B2 JP S5826655B2
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JP
Japan
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group
aluminum
crystal
compound
substrate
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JP13587475A
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English (en)
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JPS5260069A (en
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保夫 関
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NEC Corp
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Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はアルミニウム(Al)を含むI−V族化合物半
導体結晶のエピタキシャル成長法に係るものである。
上記アルミニウムを含む■−■族化合物半導体結晶とし
てはガリウム・アルミニウム・砒素Ga。
xA7xAs (0≦X≦1)結晶などがあり、現に半
導体レーザの形成材料として極めて重要になっている。
これら材料の形成法としては、現在半導体レーザでは溶
液成長法が用いられている。
しかし半導体レーザ以外の多くのI−V族化合物を用い
た半導体素子、例えばガン発振器、インバットダイオー
ドなどでは溶液成長法および気相成長法のいずれかを用
いて作られており、両者の間で少くとも結晶特性に本質
的な差違はないと考えられている。
一般的に言って、気相成長法は量産性に優れ、キャリヤ
濃度や成長層膜厚制御に関しても現在所定の値に対して
±5%程度以内で制御出来る様な技術レベルにあり、こ
の技術を用いて十分高品質のレーザダイオードを作るこ
とができると考えられる。
また気相成長技術を用いることにより現在溶液成長法で
問題になっているレーザ活性領域のより精密な制御が可
能であり、この手法によりレーザダイオードの量産が可
能になると考えられる。
従来気相成長法がアルミニウムを含む■−■族化合物結
晶成長に用いられなかった第1の理由は、通常のハロゲ
ン輸送法ではアルミニウムのハロゲン化物が出来、この
ハロゲン化物の化学的な活性が極めて強く、これが石英
製の結晶成長装置と激しく反応し石英管を侵蝕するため
であった。
本発明の最たる特徴は、この化学活性の強いアルミニウ
ム塩化物を使わず、代りにアルキルアルミニウムに着目
しそれを使いこなした点にあるといえる。
アルミニウムのアルキル化合物は熱不安定性が大きく、
一見使用し得ないもののように思われるが、この熱不安
定性が逆に幸いして、結晶成長装置に導入されたアルキ
ルアルミニウムはほとんどハロゲン化物を形成すること
なく分解しアルミニウムとなり、成長結晶中に組み込ま
れ望み通りアルミニウムを含む化合物半導体結晶を生成
する。
次に図を用いて本発明の方法を詳細に説明する。
第1図は■族元素および■族元素の3塩化物を用いたI
−V族化合物結晶成長装置の概観図であり、第2図は同
成長装置内の温度分布を示す。
以下アルミニウムを含む■−■族化合物の一例としてG
aAlAsを挙げ、その結晶成長を詳述することにより
本発明の詳細な説明する。
第1図において、1は石英製の反応管であり、2は石英
容器3に入れた原料ガリウム(Ga)である。
ガリウム砒素(GaAs)結晶基板4は石英製ホールダ
ー5の上部に固定されている。
GaAlAsの結晶成長を行うにはまず石英反応管中を
水素あるいはアルゴンなどの不活性ガスで置換したのち
、第2図の様に温度を設定する。
このときガリウムの温度を850℃、基板の温度を75
0℃とする。
あらかじめ砒素(As)で飽和されたガリウム2の上方
に6より3塩化砒素(AsC13)を含む水素あるいは
アルゴンなどの不活性気体を流すと、この条件では基板
4上にはGaAs化合物がエピタキシャル成長する。
この際、トリエチル、アルミニウムを含む水素あるいは
アルゴンなどの不活性ガスを7より反応管に導入すると
GaAlAs結晶が得られ、混晶の組成制御は7より導
入するトリエチルアルミニウム濃度を変化させることに
より行うことが出来る。
実施例 あらかじめ砒素で飽和された原料Gaの温度を850℃
、GaAs基板温度を750’Cとし、毎分200 c
cの水素をキャリヤガスとして3.OX 10−”モル
分率の3塩化砒素を流し、同時にI X 10−’モル
分率のトリエチルアルミニウムを含む水素を毎分100
cc導入口より基板上に流し、Ga1xAAxAs混
晶をGaAs基板上に成長させたところ、この混晶の組
成Xは0.2であった。
以上の実施例では、Ga/AsC13/H2を用いる場
合について説明したが、本発明の原理は、Ga /He
I)/As H3/H2系やさらにキャリヤガスとし
て不活性気体を用いた結晶成長系に応用することも可能
であり、当然その他の元素の組合せからなる■−■族化
合物中にアルミニウムを結晶させた結晶のエピタキシャ
ル成長に用いることが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は結晶成長装置の断面図の一例である。 図中、1は石英製反応管、2は■族元素、例えばガリウ
ム金属、3は石英容器、4は基板結晶、5は基板支持具
、6は■族元素の3塩化物、例えば3塩化砒素を含むキ
ャリヤガスの導入口、7はアルキルアルミニウム化合物
を含むキャリヤガス導入口、8は排出口、9はアルミニ
ウム化合物を含むガスを基板付近に導入するための導管
である。 第2図は結晶成長装置内の温度分布の一例を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 アルミニウムを除く■族元素および■族元素3塩化
    物の反応により形成される■族元素の1塩化物および■
    族元素を含む気体を基板上に導入して■−■族化合物を
    エピタキシャル成長する方法の反応系にさらにアルキル
    アルミニウムを含む気体を導入して成長させることによ
    り、前記I−V族化合物中にアルミニウムを混晶させる
    結晶成長法。
JP13587475A 1975-11-12 1975-11-12 ケツシヨウセイチヨウホウ Expired JPS5826655B2 (ja)

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