JPS58204871A - セラミツク組成物 - Google Patents
セラミツク組成物Info
- Publication number
- JPS58204871A JPS58204871A JP57086509A JP8650982A JPS58204871A JP S58204871 A JPS58204871 A JP S58204871A JP 57086509 A JP57086509 A JP 57086509A JP 8650982 A JP8650982 A JP 8650982A JP S58204871 A JPS58204871 A JP S58204871A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceramic
- ceramic composition
- present
- dielectric constant
- zircon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(1)発明の技術分野
本発明はセラミック組成物、特に、電子部品搭載基板用
のセラミック組成物に係る。
のセラミック組成物に係る。
(2)従来技術と問題点
亀子部品において、重子間の配線がa雑になると多くの
交差が必賛になり、これを処理する技術として多−配線
か党達し、今日も開発が進められている。へにセラミッ
ク基板内に導体を壌込んだ多層配線方式は、耐圧が高く
、分布8kが小さく、機械的・熱的強度が大で、表面の
凹凸やそりも少なく、基本的には層数の制約もないなど
の優れた特長があり、複雑な混成ICやLSI用として
最も注目されている。
交差が必賛になり、これを処理する技術として多−配線
か党達し、今日も開発が進められている。へにセラミッ
ク基板内に導体を壌込んだ多層配線方式は、耐圧が高く
、分布8kが小さく、機械的・熱的強度が大で、表面の
凹凸やそりも少なく、基本的には層数の制約もないなど
の優れた特長があり、複雑な混成ICやLSI用として
最も注目されている。
このセラミック多層配m基板用のセラミック材料として
、今日では専らアルミナCAL*Om + 通常90
wt%に越える純度)が利用されている。 その理由は
IFlに械的・熱的強糺、熱伝導率等の特性が優れてい
るからであるが、誘′−率が高いので(92−Alto
sで約10.5 )、 基板寸法を大きくし、又層数を
増加する場合、実質的な配線長さの増大に伴い、その静
電容量が無視で籾なくなシ、高速回路用に適さなくなる
という問題がある。
、今日では専らアルミナCAL*Om + 通常90
wt%に越える純度)が利用されている。 その理由は
IFlに械的・熱的強糺、熱伝導率等の特性が優れてい
るからであるが、誘′−率が高いので(92−Alto
sで約10.5 )、 基板寸法を大きくし、又層数を
増加する場合、実質的な配線長さの増大に伴い、その静
電容量が無視で籾なくなシ、高速回路用に適さなくなる
という問題がある。
この静電容量の問題は特VC多層配線基板において看し
い問題であるが、必すしもその場合に限られるものでは
ないことは明らかであろう。
い問題であるが、必すしもその場合に限られるものでは
ないことは明らかであろう。
(3) 発明の目的
本発明は、以上の如き従来技術に鑑み、誘電率の低い電
子部品搭載用セラミンク基板を得るためVこ、機械的・
熱的強度その他の一般的特性のIよか、特に、低いI!
8−率を杢するセラミック組成物を提供することt目的
としている。
子部品搭載用セラミンク基板を得るためVこ、機械的・
熱的強度その他の一般的特性のIよか、特に、低いI!
8−率を杢するセラミック組成物を提供することt目的
としている。
(4)発明の摘成
そして、本発明は上記の目的を達成するために、
(a) ムライ)3A/1.tO,−2SiO,〜2
At、0.・Si0゜30〜8(’) wt% (b) ジルコ7 Zr Si 04
0〜40 wt%(c) マグネシア
Mg0 1〜5 wt%(
d)Cab、Bad、SrOの群中の少なくとも一柚類
の酸化物 9〜40wt%を含む調合物を
焼成(5て成るセラミック組成物を提供する。
At、0.・Si0゜30〜8(’) wt% (b) ジルコ7 Zr Si 04
0〜40 wt%(c) マグネシア
Mg0 1〜5 wt%(
d)Cab、Bad、SrOの群中の少なくとも一柚類
の酸化物 9〜40wt%を含む調合物を
焼成(5て成るセラミック組成物を提供する。
本発明では、誘電率の尚いA40.(g〜10)成分t
aX率の比較的低イムライト(3At*Os ・2 S
i Ox〜2 A40B ・S 102 r l−c
−F−ILI」じ)(g〜6.5)の形で配合し、〃
・つ、=′TkL*【低下せしめるのに一般的に有用で
あるアルカリ土類元素の酸化物を付加しの誘電率を低下
せしめるものである。しかし、ムライトは機械的強度が
一般に小さいので、更にジルコン(ZrSiOn)を−
緒に配合することが好ましい。ただし、ジルコンは誘電
率が比較的高い(g−8)ので、40wt%以下の瀘で
配合すべきでおり、用途上の機械的強度が許すならばジ
ルコンは宮まなくともよい。また、本発明でアルカリ土
類元素の酸化物中、マグネシア(kigo)k必須のも
のとして加えているのは、それが焼成体の機械的強度を
改良するll1IJきかあるがらであるが、しかし、こ
れが多すぎると焼結性を悪くするので、1〜5wt%の
範囲内で使用する。
aX率の比較的低イムライト(3At*Os ・2 S
i Ox〜2 A40B ・S 102 r l−c
−F−ILI」じ)(g〜6.5)の形で配合し、〃
・つ、=′TkL*【低下せしめるのに一般的に有用で
あるアルカリ土類元素の酸化物を付加しの誘電率を低下
せしめるものである。しかし、ムライトは機械的強度が
一般に小さいので、更にジルコン(ZrSiOn)を−
緒に配合することが好ましい。ただし、ジルコンは誘電
率が比較的高い(g−8)ので、40wt%以下の瀘で
配合すべきでおり、用途上の機械的強度が許すならばジ
ルコンは宮まなくともよい。また、本発明でアルカリ土
類元素の酸化物中、マグネシア(kigo)k必須のも
のとして加えているのは、それが焼成体の機械的強度を
改良するll1IJきかあるがらであるが、しかし、こ
れが多すぎると焼結性を悪くするので、1〜5wt%の
範囲内で使用する。
本発明に依るセラミック組成物のM造に用いるMgO及
び、Coo、 Bad、 SrOは一般的に反応しやす
く、不安定なので、例えばそして好ましくは戻藺化物等
を使用するが、あるいはそれら全仮焼し、微粉砕した酸
化物を使用−1墨。
び、Coo、 Bad、 SrOは一般的に反応しやす
く、不安定なので、例えばそして好ましくは戻藺化物等
を使用するが、あるいはそれら全仮焼し、微粉砕した酸
化物を使用−1墨。
本発明に依るセラばツク組成物は、成分:(a)ムライ
ト、(b)ジルコン、 (C) マグネシア、及ヒ(d
) 酸化@ Cab、 Ba(J Aび/又をまSrO
からなる総′ji100wt%Oセラミック原料倣粉体
(通當数μ屏の粒tt1.)の1!、′7J・、b剤(
イソプロピルアルコール、トルエンなト)、 バイン
ダ(ポリビニルブチラール、メタクリレートなど)、史
に必嶽に応じて可塑剤(フタル絃ジプチルなど)、離型
剤(ポリエチレングリコールなど)、 解膠剤等を出発
原料として、これらを混練、泥漿化したものを(多層セ
ラミック基板では、成形、積層恢)、焼成して得られる
焼結物である。(a)〜(d)以外の縫加物は焼成過程
においてすべて飛散、円失する。得られる焼成体の微細
栴造は、必すしも明らかではないが、(a)ムライト及
び(b)ジルコンの結晶は基本的に残留する一方、他方
では%VC(e)マグネシア、(d)酸化物Cab、
BaO及び/又はSrOIよかなり同相反応し、(aJ
、 tbJ紙分も部分6」?(反五〇シているものと考
えられる。別途の実験において、成分(&)をAtt
O畠及び/又はSin、 の形で、そして/又は、成
分(b) k ZrOR及び/メはSing の形で
、それぞれ添加して焼成したセラミック組成物の誘電率
は、期待されるほどには低下しなかった。
ト、(b)ジルコン、 (C) マグネシア、及ヒ(d
) 酸化@ Cab、 Ba(J Aび/又をまSrO
からなる総′ji100wt%Oセラミック原料倣粉体
(通當数μ屏の粒tt1.)の1!、′7J・、b剤(
イソプロピルアルコール、トルエンなト)、 バイン
ダ(ポリビニルブチラール、メタクリレートなど)、史
に必嶽に応じて可塑剤(フタル絃ジプチルなど)、離型
剤(ポリエチレングリコールなど)、 解膠剤等を出発
原料として、これらを混練、泥漿化したものを(多層セ
ラミック基板では、成形、積層恢)、焼成して得られる
焼結物である。(a)〜(d)以外の縫加物は焼成過程
においてすべて飛散、円失する。得られる焼成体の微細
栴造は、必すしも明らかではないが、(a)ムライト及
び(b)ジルコンの結晶は基本的に残留する一方、他方
では%VC(e)マグネシア、(d)酸化物Cab、
BaO及び/又はSrOIよかなり同相反応し、(aJ
、 tbJ紙分も部分6」?(反五〇シているものと考
えられる。別途の実験において、成分(&)をAtt
O畠及び/又はSin、 の形で、そして/又は、成
分(b) k ZrOR及び/メはSing の形で
、それぞれ添加して焼成したセラミック組成物の誘電率
は、期待されるほどには低下しなかった。
(5〕 発明の実施例
以下本発明の実施例について説明する。
A4,0.1212.(1(6モル)、 81(h
244.4F、4モル)にメチルアルコール820x/
i分割して添加しつつ湿式ボールミルしたものを、電気
炉中駒1350℃で約5時間仮焼し、それを平均粒径数
μオーダーに粉砕し、ムライト粉末を*fco次に、M
gC0,、CaC0,、BaCO5、5rCO) lc
それぞれ湿式ミリングし、電気炉中駒1150℃の温度
で約3時間仮焼し、それらを平均粒径数μmオーダーに
粉砕し、それぞれMgO,Cab、 Bad、 SrO
粉末を得た。
244.4F、4モル)にメチルアルコール820x/
i分割して添加しつつ湿式ボールミルしたものを、電気
炉中駒1350℃で約5時間仮焼し、それを平均粒径数
μオーダーに粉砕し、ムライト粉末を*fco次に、M
gC0,、CaC0,、BaCO5、5rCO) lc
それぞれ湿式ミリングし、電気炉中駒1150℃の温度
で約3時間仮焼し、それらを平均粒径数μmオーダーに
粉砕し、それぞれMgO,Cab、 Bad、 SrO
粉末を得た。
こうして侍たムライト、MgO,Cab、Bad、、S
rO粉床を所定讐秤菫し、それに丈にジルコン粉末(平
均粒径数μ罵オーダー)kP)T定駕加えた(又は加え
ない)セラミック原料組成物(64,4wt%)に、メ
チルアルコール(25,8wtチ)、ポリビニルブチラ
ール(7,1wtチ又ポリエチレングリコール(0,3
wt96)、フタ匹酸ルーフチル(2,4wt%)ta
加して、ボールミルで入念に混合して均慕歓させた。こ
の@ff1ikドクターブレードで’l’j 100
” r #さQ、 7 M ノシート状に蝙ばし、48
時間放短シ、て乾jA後、厚さの均一な部分〃・ら約6
0篩0のソート全灯ち抜き、七れ7ILa&、重ねた。
rO粉床を所定讐秤菫し、それに丈にジルコン粉末(平
均粒径数μ罵オーダー)kP)T定駕加えた(又は加え
ない)セラミック原料組成物(64,4wt%)に、メ
チルアルコール(25,8wtチ)、ポリビニルブチラ
ール(7,1wtチ又ポリエチレングリコール(0,3
wt96)、フタ匹酸ルーフチル(2,4wt%)ta
加して、ボールミルで入念に混合して均慕歓させた。こ
の@ff1ikドクターブレードで’l’j 100
” r #さQ、 7 M ノシート状に蝙ばし、48
時間放短シ、て乾jA後、厚さの均一な部分〃・ら約6
0篩0のソート全灯ち抜き、七れ7ILa&、重ねた。
それt温反50℃、圧力100階々2で約5分間処理し
て一体化(核層)し、七の積鳩体を逝元雰囲気(Ni+
11.2)の−気炉中で#J1350℃のに度にて約
3時1jjlfe成E7、目的のセラミック組口 酸物を得た。その寸法は約50+w+ 、厚さ約1.
5鰭であった。
て一体化(核層)し、七の積鳩体を逝元雰囲気(Ni+
11.2)の−気炉中で#J1350℃のに度にて約
3時1jjlfe成E7、目的のセラミック組口 酸物を得た。その寸法は約50+w+ 、厚さ約1.
5鰭であった。
こうして得た本発明の′−に施例のセラミック組成物、
及び従来技術のアルミナ基板について、JIS規柘に従
い、−電率、熱伝導率(cal 、′の、嘗0℃)、2
5℃〜100℃における平均線膨張率(、/℃ハ杯積抵
抗(Ω)、曲をフ強展(kf/口2)をそれぞれ−り足
したO これらのセラミックの調合割合及び測定結果を表にまと
めて示す。
及び従来技術のアルミナ基板について、JIS規柘に従
い、−電率、熱伝導率(cal 、′の、嘗0℃)、2
5℃〜100℃における平均線膨張率(、/℃ハ杯積抵
抗(Ω)、曲をフ強展(kf/口2)をそれぞれ−り足
したO これらのセラミックの調合割合及び測定結果を表にまと
めて示す。
以1ζ余白
第1表から表らかなように、本発明の実施例のセラミッ
ク組成物は従来技術のセラミック材料たるアルミナの誘
電率10.5より実賞的に低い紡電24A5.5〜8t
−達成している。その他の特性も−・応満足なものであ
る。
ク組成物は従来技術のセラミック材料たるアルミナの誘
電率10.5より実賞的に低い紡電24A5.5〜8t
−達成している。その他の特性も−・応満足なものであ
る。
(むン 発明の効果
本発明に依υ、vj1jL4Sが低い多hII配線基板
用セラミック材料が提供され、従って配線部の静電容i
iを原因とする篩速特性の劣化を防止することが可能に
なる。
用セラミック材料が提供され、従って配線部の静電容i
iを原因とする篩速特性の劣化を防止することが可能に
なる。
喝豹出願人
富士連体式会社
特i’l出1代理人
弁理士 肯 木 朗
弁理士 四 鮨 相 之
弁理士 内 1)辛 男
弁理士 山 口 昭 之
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 (a) Aライト 3 k4Or’ 281
0t〜2140m・81 Ox30−80wt% 缶) ジにコア Zr Si O,O〜40 wt91
(c) マグネシアMg0 1〜5
wt%(d) Cab、 Bad、 SrOの群中の
少なくとも1棹類の酸化物 9〜40 w
t%を含む調合物を焼成1.て成ることf特徴とするセ
ラミック組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57086509A JPS58204871A (ja) | 1982-05-24 | 1982-05-24 | セラミツク組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57086509A JPS58204871A (ja) | 1982-05-24 | 1982-05-24 | セラミツク組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58204871A true JPS58204871A (ja) | 1983-11-29 |
Family
ID=13888944
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57086509A Pending JPS58204871A (ja) | 1982-05-24 | 1982-05-24 | セラミツク組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58204871A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6175588A (ja) * | 1984-09-21 | 1986-04-17 | 株式会社日立製作所 | セラミツク多層配線基板材料 |
JPS61186260A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-19 | 日本特殊陶業株式会社 | セラミツクス焼結体 |
JPS61230204A (ja) * | 1985-04-05 | 1986-10-14 | 株式会社日立製作所 | セラミック基板の製造方法 |
JPS62148365A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-02 | 富士通株式会社 | 低誘電性セラミツク板 |
CN109305807A (zh) * | 2018-09-01 | 2019-02-05 | 李延靖 | 一种抗裂复合陶瓷 |
-
1982
- 1982-05-24 JP JP57086509A patent/JPS58204871A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6175588A (ja) * | 1984-09-21 | 1986-04-17 | 株式会社日立製作所 | セラミツク多層配線基板材料 |
JPS61186260A (ja) * | 1985-02-14 | 1986-08-19 | 日本特殊陶業株式会社 | セラミツクス焼結体 |
JPS61230204A (ja) * | 1985-04-05 | 1986-10-14 | 株式会社日立製作所 | セラミック基板の製造方法 |
JPS62148365A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-02 | 富士通株式会社 | 低誘電性セラミツク板 |
EP0228889A2 (en) * | 1985-12-20 | 1987-07-15 | Fujitsu Limited | Low dielectric constant ceramic plate |
CN109305807A (zh) * | 2018-09-01 | 2019-02-05 | 李延靖 | 一种抗裂复合陶瓷 |
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