JPS58201049A - スペクトル表示式分光光度計 - Google Patents
スペクトル表示式分光光度計Info
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- JPS58201049A JPS58201049A JP8312882A JP8312882A JPS58201049A JP S58201049 A JPS58201049 A JP S58201049A JP 8312882 A JP8312882 A JP 8312882A JP 8312882 A JP8312882 A JP 8312882A JP S58201049 A JPS58201049 A JP S58201049A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、アレイ型光検知器を用いて吸収スペクトルの
表示を行なう分光光度計に係り、ドリフトを補正して正
しいスペクトルを得られるようにした方式に関する。
表示を行なう分光光度計に係り、ドリフトを補正して正
しいスペクトルを得られるようにした方式に関する。
分光光度計においては、光源の光強度や光検知器、電気
系統の感度の変動などのため、表示値がドリフトする現
象があることは知られている。
系統の感度の変動などのため、表示値がドリフトする現
象があることは知られている。
この対策の一つとして普及しているのが、いわゆるダブ
ルビーム方式であり、光束を二つに分は一方は対照を通
して対照信号を作り、他方は試料を通して試料信号を作
り、試料信号と対照信号の比または差を求めて表示する
方式である。
ルビーム方式であり、光束を二つに分は一方は対照を通
して対照信号を作り、他方は試料を通して試料信号を作
り、試料信号と対照信号の比または差を求めて表示する
方式である。
しかしこの方式は光を二つに分けるため、光学系が複雑
になる欠点があった。
になる欠点があった。
本発明の目的とするところは、アレイ型光検知器を用い
てスペクトル表示を行なう分光光度計において、シング
ルビーム方式によりながら、ドリフトの補正を行なうこ
とにより正しいスペクトルが得られるようにした分光光
度計を提供するにある。
てスペクトル表示を行なう分光光度計において、シング
ルビーム方式によりながら、ドリフトの補正を行なうこ
とにより正しいスペクトルが得られるようにした分光光
度計を提供するにある。
本発明の要点は試料信号と対照信号の比または差を取る
ことにより、シングルビームであリナがらダブルビーム
と同じ効果をもたせたことと、対照信号を自動的に更新
して補正効果を高めたことである。
ことにより、シングルビームであリナがらダブルビーム
と同じ効果をもたせたことと、対照信号を自動的に更新
して補正効果を高めたことである。
本発明にお贋ては第１図に示すように光源（１）として
沃素タングステンランプまたは重水素放電管を集光レン
ズ（２）と共に用い、フローセル（３） 、！： して
け内径１ｆｆ１１１１長さ５簡の石英セルを試料送υ機
構と共に用すた。分光器は入射スリット（４）と凹面回
折格子（５）を設置した。スペクトルの結像位置にアレ
イ型光検知器（６）を配置した。この出力信号は増幅器
（７）を通ってマイクロコンピュータ（８）によす記憶
、演算され、表示部（９）のブラウン管上にスペクトル
として表示される。
沃素タングステンランプまたは重水素放電管を集光レン
ズ（２）と共に用い、フローセル（３） 、！： して
け内径１ｆｆ１１１１長さ５簡の石英セルを試料送υ機
構と共に用すた。分光器は入射スリット（４）と凹面回
折格子（５）を設置した。スペクトルの結像位置にアレ
イ型光検知器（６）を配置した。この出力信号は増幅器
（７）を通ってマイクロコンピュータ（８）によす記憶
、演算され、表示部（９）のブラウン管上にスペクトル
として表示される。
マイクロコンピュータは信号が対照信号であるか否かの
判定、対照信号の記憶更新、試料信号と対照信号の比ま
たは差の計算、表示出力などを受は持っている。
判定、対照信号の記憶更新、試料信号と対照信号の比ま
たは差の計算、表示出力などを受は持っている。
この結果、ドリフトのない吸収スペクトルが効率よく得
られた。
られた。
次にコンピュータによる機能を説明する。
Ａ、対照信号であることを信号パターンから見わける方
法： （１）けじめに記憶されている対照信号は波長の関数で
あり、これをＲ６（λ）とする。判別すべき信号をＲ（
λ）とする。ΔＲ（λ）を適当に小さくとり、Ｒ（λ）
−Ｒ，０（λ）〈ΔＲ，（λ） またけＲ（λ）／Ｒ，
ｏ（λ）〈ΔＲ（λ）が成立つときＲ（λ）は対照であ
るとする。第２図（２）Ｒ，（λ）−ｋ（λ）Ｒｏ（λ
）〈ΔＲ（λ）Ｒ，（λ）／ｋ（λ）Ｒ，。（λ）〈Δ
Ｒ（λ）が成立つときＲ（λ）は対照であるとする。
法： （１）けじめに記憶されている対照信号は波長の関数で
あり、これをＲ６（λ）とする。判別すべき信号をＲ（
λ）とする。ΔＲ（λ）を適当に小さくとり、Ｒ（λ）
−Ｒ，０（λ）〈ΔＲ，（λ） またけＲ（λ）／Ｒ，
ｏ（λ）〈ΔＲ（λ）が成立つときＲ（λ）は対照であ
るとする。第２図（２）Ｒ，（λ）−ｋ（λ）Ｒｏ（λ
）〈ΔＲ（λ）Ｒ，（λ）／ｋ（λ）Ｒ，。（λ）〈Δ
Ｒ（λ）が成立つときＲ（λ）は対照であるとする。
ここでｋ（λ）は波長に依存する係数で、例えばドリフ
ト量が波長に依存しても波長に比例的に変るような場合
は対照とみなす。第３図 Ｂ、吸収のない波長でモニタする方法：溶媒の中に試料
成分が溶けている場合、試料の吸収がない波長を選ぶこ
とができる。この波長でドリフトをモニタしておき、測
定波長におけるドリフトの補正をする。第４図。図中の
Ｖがドリフト量である。
ト量が波長に依存しても波長に比例的に変るような場合
は対照とみなす。第３図 Ｂ、吸収のない波長でモニタする方法：溶媒の中に試料
成分が溶けている場合、試料の吸収がない波長を選ぶこ
とができる。この波長でドリフトをモニタしておき、測
定波長におけるドリフトの補正をする。第４図。図中の
Ｖがドリフト量である。
Ｃ５対照液がフローセルを流れるタイミングをとらえる
方法＝ フローセルには対照液が流れたり試料液が流れたりする
が、そのタイミングはあらかじめ定めておくことができ
る。
方法＝ フローセルには対照液が流れたり試料液が流れたりする
が、そのタイミングはあらかじめ定めておくことができ
る。
第５図の（ａ’ｌにおけるＳ（λ、１）は、試料の流れ
るタイミング、Ｒ（λ）は対照液の流れるタイミングを
示す。山）におけるＲａｄｊけこの時間内に対照信号の
記憶更新を行なうべき区間を示す。
るタイミング、Ｒ（λ）は対照液の流れるタイミングを
示す。山）におけるＲａｄｊけこの時間内に対照信号の
記憶更新を行なうべき区間を示す。
測定開始からの時間を計って：１ａｄｊ 内において
（Ｃ）のようなパルス（９）を発生させ、記憶更新の命
令とする。
（Ｃ）のようなパルス（９）を発生させ、記憶更新の命
令とする。
光源として上記以外の光源ランプを用いて本、同様の効
果を期待し得る。
果を期待し得る。
分光器として上記以外のタイプの分光器を用いても同様
の効果を期待し得る。
の効果を期待し得る。
セルはフローセルでなくても使用できる。
第１図〜第５図は本発明の詳細な説明図である。
１・・・光源ランプ、２・・・集光レンズ、３・・・フ
ローセル、４・・・入射スリット、５・・・凹面回折格
子、６・・・アレイ型光検知器、７・・・増幅器、８・
・・マイクロコンビュータ郁−９・・・表示部− 第１ 口 ／
ローセル、４・・・入射スリット、５・・・凹面回折格
子、６・・・アレイ型光検知器、７・・・増幅器、８・
・・マイクロコンビュータ郁−９・・・表示部− 第１ 口 ／
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光源、フローセルシステム、分光器、アレイ型光検
知器、電気系統、マイクロコンピュータ、及び表示部を
主な構成要素とし、その基本的機能は、対照液がフロー
セルを流れたときのアレイ型光検知器の出力を、対照信
号として記憶し、試料がフローセルを流れたときのアレ
イ型光検知器の出力を、試料信号として採取し、試料信
号と対照信号の比または差を計算して、表示部にその試
料の吸収スペクトルを表示する分光光度計において、因
ったん対照信号を記憶した後の、測定進行中におけるア
レイ型光検知器の出力を既に記憶されている対照信号と
比較して、その出力が対照信号であるのか試料信号であ
るのかをマイクロコンピュータが信号パターンの判別に
より判定する機能を設け、対照信号であるならば、記憶
されていた対照信号に入れ替えて、対照信号の記憶更新
を行ない、試料信号であるならば、対照信号との比また
は差を計算し、その結果を表示するようにしたことを特
徴とするスペクトル表示式分光光度計。 ２、特許請求の範囲第１項においてアレイ型光検知器の
受光素子のうち、そこへ入射する光の波長が試料の吸収
に無関係な受光素子を選んでモニタとし、光信号出力の
ドリフトを監視させ、このドリフト量を複圧した対照信
号を新しい対照信号として記憶更新し、試料信号と対照
信号との比または差を計算し、その結果を表示するよう
にしたことを特徴とするスペクトル表示式分光光度計。 ３、％許請求の範囲第１項において対照液がフローセル
を流れるタイミングを、あらかじめプログラミングして
おき、そのタイミングで対照信号の記憶更新を行ない、
これを用いて試料信号との比または差を計算し、その結
果を表示するようにしたことを特徴とするスペクトル表
示式分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8312882A JPS58201049A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | スペクトル表示式分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8312882A JPS58201049A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | スペクトル表示式分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58201049A true JPS58201049A (ja) | 1983-11-22 |
Family
ID=13793556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8312882A Pending JPS58201049A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | スペクトル表示式分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58201049A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010064276A1 (ja) * | 2008-12-02 | 2010-06-10 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51136474A (en) * | 1975-05-06 | 1976-11-25 | Siemens Ag | Drift correcting apparatus for gas analyzer |
-
1982
- 1982-05-19 JP JP8312882A patent/JPS58201049A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51136474A (en) * | 1975-05-06 | 1976-11-25 | Siemens Ag | Drift correcting apparatus for gas analyzer |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010064276A1 (ja) * | 2008-12-02 | 2010-06-10 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
| JP5201214B2 (ja) * | 2008-12-02 | 2013-06-05 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
| US8742351B2 (en) | 2008-12-02 | 2014-06-03 | Shimadzu Corporation | Spectrophotometer |
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