JPH0352575B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0352575B2
JPH0352575B2 JP57001090A JP109082A JPH0352575B2 JP H0352575 B2 JPH0352575 B2 JP H0352575B2 JP 57001090 A JP57001090 A JP 57001090A JP 109082 A JP109082 A JP 109082A JP H0352575 B2 JPH0352575 B2 JP H0352575B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
sample
excitation light
polarization
optical device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP57001090A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57136142A (en
Inventor
Renii Hoperuka Suuzan
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Abbott Laboratories
Original Assignee
Abbott Laboratories
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Abbott Laboratories filed Critical Abbott Laboratories
Publication of JPS57136142A publication Critical patent/JPS57136142A/ja
Publication of JPH0352575B2 publication Critical patent/JPH0352575B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/6445Measuring fluorescence polarisation

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は螢光性偏光分析器に関し、特にこのよ
うな分析器のための改良された光学装置に関す
る。
螢光性偏光機器およびその臨床的応用はたとえ
ば“Design,Construction,and Two
Applications for an Automated Flow−Cell
Polarization Fluorometer with Digital Read
Out:etc.”;R.D.Spencer,F.D.Toledo,B.T.
Williams,and N.L.Yoss;Clinical
Chemistry,19/8,pp838−344(1973)に記載
されている。このような機器は螢光性物質で標識
した体液サンプルを迅速に分析することができ
る。
上記の文献において、螢光性偏光機器は線状に
偏光され一方が垂直に他方が水平に光を励起する
2つの光束によつて照射される螢光性サンプルを
含むものとして説明されている。このサンプルに
垂直および水平の偏光を交互に通過させる区分チ
ヨツピング鏡によつて交互偏光サンプルの励起が
与えられる。励起光はサンプルの吸収スペクトル
のピークに対応して単色である。照明された螢光
性サンプルは2次放射源となり、励起光よりも長
波長のピークをもつスペクトルの光を放出する。
放出光の通路中にある垂直分光器は垂直偏光を、
サンプルからえられた放出光を検出するための光
電子増倍管に送る。光電子増倍管の出力信号は分
析されて偏光度Pを与える。これは次式I(VV)
−I(HV)/I(VV)+I(HV)によつて求め
られる。ここにI(VV)は垂直偏光がサンプル
を励起して放出光の垂直成分が分析されるときの
検出された光電子増倍管の信号の測定強度であ
り、I(HV)は水平偏光がサンプルを励起して
放出光の垂直成分が分析されるときの検出された
光電子増倍管の信号である。
この種の周知の機器は、低ノイズ光電増倍管お
よび付属電子機器による検出および増幅に十分な
低水準のノイズ比の信号でサンプルから所望の放
射線をうるために、比較的高いワツト数の強い光
源たとえば200〜250ワツトの水銀またはキセノン
のガスの放電ランプを必要とする。このような高
いワツト数の明るい光また光学系の一体性を保持
するためにかなりな冷却を必要とする。それ故、
低ワツト数および低強度のランプを使用し然も従
来技術のものと同等もしくはそれ以上の感度を与
えることのできる螢光性偏光機器のための改良さ
れた光学装置を提供することが望まれている。
本発明は低ワツト数、低強度の集中光源、狭い
帯幅のフイルタ、偏光器、および螢光性液体サン
プル上に励起光を集中させる励起通路中のフイー
ルド効果液晶を含む、螢光性偏光機器のための改
良された光学系を提供するものである。
ここにフイールド効果液晶とは液晶(すなわち
高度に異方性の流体)に電場が適用されないとき
は液晶に侵入する光を90゜だけ回転させ、液晶に
電場が適用されるときは入射光の偏光面を回転さ
せない伝達性シヤツター型の液晶をいう。すなわ
ちこの液晶に電場が適用されないと、液晶は励起
光の偏光面を90゜回転させるが、液晶に電場が適
用されると偏光面は90゜回転しない。それ故、液
晶に電場を交互に適用すると、励起光がサンプル
に対して、相互に垂直な偏光角度で適用されるこ
とになる。サンプルからの放出光はロ波され、偏
光され、そして処理用の光電子増倍管上に集中せ
しめられる。
低ワツト数、低強度の光源は液体サンプルの量
に応じて十分な量の光を与える大きさの穴に光を
集中させる反射器の付いた50ワツトのタングステ
ン−ハロゲンランプである。赤外線吸収要素が励
起通路中に備えてあつて励起通路中のサンプルお
よび成分の温度感受性を最小にするようランプか
ら穴を通して伝達される赤外放射線を吸収させ
る。薄い、裏打ち金属ストリツプから作られた一
連のバツフルをサンプルのまわりに置いて、放出
通路に望ましくなく入る励起光による表明反射を
減少させる。励起光を検知してランプ出力供給を
調節する部材を装備して実質的に一定水準の励起
光強度を保持する。
第1図は本発明の原理に従う螢光性偏光機器の
ための改良された光学装置を示す図式的ブロツク
ダイヤグラムである。
第1図を参照して、集中光源を構成する低ワツ
ト数、低強度のタングステン−ハロゲンランプ1
0は、光遮蔽要素16中に形成された穴14中に
ランプからの光を集める反射器12を含む。反射
器12は楕円形の反射鏡の形体をしている。光遮
蔽要素16は両端に黒い非反射性表面をもつ約3/
4mmの厚さの薄い金属プレートからなる。穴14
は約3mmの直径をもち、円周横断面の試験管20
中に含まれる約1mlの螢光性液体サンプル18に
一致するに十分な量の光を与える。ランプ10お
よび反射器12は、購入部品として容易に入手し
うる50ワツトのタングステン−ハロゲン投光ラン
プによつて装備することができる。
穴あき光遮蔽要素16のいづれかの一面には、
反射器22および赤外線吸収要素24が備えてあ
り、ランプから伝達される赤外放射線をそれぞれ
反射および吸収し、これによつて励起通路中のサ
ンプルおよび化合物の温度感受性を最小にする。
反射器は二色性フイルム多層反射器で与えること
ができる。赤外線吸収要素はコリオンコーポレー
シヨンから入手しうるような容易に入手しうる型
のBG−38吸収器着色ガラスで与えることができ
る。
平−凸レンズ26は穴14からの光を平行にす
る。この平行にされた光は次いで螢光性サンプル
の吸収ピークにほぼ相当する狭い帯幅フイルタ2
8中を通過する。透明ガラスの光束スプリツタ3
0は入射光の約4%を平−凸レンズ32上へ反射
する。平−凸レンズ32は次いで基準検出器34
へこの光を集中させる。基準検出器の出力はラン
プ出力供給器36を介してランプの強度を検知し
調節するために使用する。ランプのフイラメント
は基準検出器34からの検知基準信号水準に応じ
てランプ出力供給器36を介した調節され、サン
プル18へ向けられた励起光の強度を一定水準に
保持する。光束スプリツタ30は、透明であつて
入射光の約4%を反射させながら96%を透過させ
る顕微鏡ガラスによつて与えることができる。
光束スプリツタから伝達された光は、次いで偏
光回転器としての機能を果す第1の偏光器38と
フイールド効果液晶40との組合せに入射する。
第1の偏光器38は偏光の固定面をもつている。
この固定面はたとえば水平面Hでありうる。フイ
ールド効果液晶40は電場が液晶に適用されない
ときは90゜だけ液晶に侵入する光を回転させ、電
場が液晶に適用されると入射光の偏光面を回転さ
せない伝達性シヤツター型のものである。フイー
ルド効果液晶40への電場の選択的適用は図中に
閉鎖用回路42として図示してある。この回路は
電圧をかけて液晶に電場を与えるものである。
このようにして、図示する具体例において、偏
光器/フイールド効果液晶の組合せは、はじめに
スイツチ42を開放にして液晶がこれに侵入する
光を90゜だけ回転させてサンプルを垂直光によつ
て励起させ、その後にスイツチ42を閉じて回転
を起こさせずサンプルを水平光によつて励起させ
る、という操作によつて螢光性サンプル18を垂
直偏光および水平偏光により交互に励起させるた
めに使用する。偏光され、水平にされた励起光は
次いで平−凸レンズ44によつて円周横断面の試
験管20中の螢光性サンプル18の中心に集中せ
しめられる。サンプルを入れた試験管20の空気
−ガラスの界面およびガラス−液体の界面におけ
る反射によつて、それた光が放出光中に導入され
ることがある。この効果を最小にするために、ラ
ンプ10は試験管20の中心に集光させ、すべて
の光線(入射および反射)を試験管20にその表
面に対して直角に出入させる。以後に記述される
べき放出光は最適の効率で螢光性サンプル18の
中心区域に像を結ぶので、ランプを試験管の中心
に集光させることは系の効率を増大させ、全系の
処理性を最大にする。本発明の装置による処理効
率を高めたのは比較的低いワツト数の、低強度タ
ングステン−ハロゲンランプを光源として使用す
ることを可能ならしめたことにある。この点に関
して本出願人に譲渡されたS.R.Popelkaの米国特
許第4,195,932号を参照することができる。そ
こには光を円周横断面の試験管の中心に集中させ
て試験管の偏りによる誤差を非常に減少させた吸
収分光計が論じられている。
励起光チヤンネル中の偏光器38とフイールド
効果液晶40との組合せは本発明の重要な面であ
る。放出チヤンネル中の光電装置の使用は他の者
によつて提案されていた。然しながら、放出チヤ
ンネル中の偏光成分のスペクトルに付せられる液
晶によりえられる固有の回転誤差は、正確ではな
い偏光測定値をもたらした。このような提案にお
いて、放出チヤンネル中に液晶を使用するときの
固有の回転誤差が適切な初期基準データを使用し
てあとで測定した偏光回転誤差を補償することに
よつて著るしく減少させうるということが示唆さ
れた。然しながら、この示唆された補償は追加デ
ータの貯蔵成分、および補償データを誘導するた
めの時間のかかる初期修正法を必要とする。
これとは対照的に、従来技術で経験したこれら
の誤差は、本発明において励起チヤンネル中にフ
イールド効果液晶40を置くことにより、そして
液晶の前に固定面の偏光器を置き偏光の唯一面の
みが液晶に入射するようになしたことにより、消
滅する。それ故、液晶は目立つた誤差なしに偏光
成分の単一面を回転させる。
黒い、実質的に非反射性の表面をもつ薄いプラ
スチツクまたは金属のストリツプからなる一連の
バツフル46がサンプル18のまわりに配置され
ていて、試験管20による励起光の全反射ならび
にそれた光としての放出光の周囲区域への侵入を
防いでいる。図示するように、励起光チヤンネル
および放出光チヤンネルは相互に直角をなして励
起光が放出チヤンネルに望ましくなく入る可能性
を減少させている。螢光性サンプルから放出され
る放射線の量は非常に少ないので、放出チヤンネ
ル中のそれた励起光の存在を可能な限り減少させ
るのが望ましい。螢光性サンプルのまわりに境界
を作るバツフル46なしでは、それた励起光が測
定偏光値にその絶対値の増大ならびに再現性の悪
化の点でかなりな影響を及ぼすが、バツフルを使
用すると、これらの望ましくない性質は実質的に
消滅する。
サンプル18はたとえば、ナトリウムフルオレ
セインのような螢光標識を付けた物質を添加した
体液を含むことができる。標識を付けた生理学的
分子は次いで励起光チヤンネルからの入射光によ
り励起されてより長波長の光を放出する。平−凸
レンズ48は放出光を平行にする。この平行にさ
れた光は螢光性サンプルの放出光ピークにほぼ相
当する広い帯幅のフイルタ50ならびに垂直偏光
の固定面をもつ第2偏光器52を横断する。平行
にされた、垂直偏光の放出光は次いで光電子増倍
管60への入口における実質的に非反射性の光遮
蔽要素58中の穴56に平−凸レンズからなる放
出光集中レンズ類54によつて集光され、周知技
術により更に処理される。放出光の穴56は3.0
×8.0mmであり、サンプルを入れた試験管20中
の光可視容積に一致する。
サンプルがナトリウムフルオレセインで標識さ
れている本発明の構成原型の具体例において、励
起フイルタ28は485nmの波長において集中し、
強度の半減する帯幅は10nmである。放出フイル
タ50は540nmの中心波長をもち、強度の半減す
る帯幅は30nmである。図面に示すすべてのレン
ズは抗反射性被覆をもち、16.7mmの焦点距離、15
mmの直径、14.4mmの後方焦点距離および1.785の
屈折率をもつている。この構成原型について
10-11モルのオーダーのナトリウムフルオレセイ
ンの感度がえられた。
図面を参照しての上記の記述は本発明を具体的
に説明するために行なつたものであつて、本発明
を限定するものと解すべきではない。当業者によ
つて変形は自明のことだからである。
【図面の簡単な説明】
添付の図面は本発明の原理に従う螢光偏光機器
のための改良された光学装置を示す図式的ブロツ
クダイヤグラムである。 10……ランプ、12……反射器、14……
穴、16……光遮蔽要素、18……サンプル、2
0……円周横断面の試験管、22……反射器、2
4……赤外線吸収要素、26……平−凸レンズ、
28……狭い帯幅のフイルタ、30……光束スプ
リツタ、32……平−凸レンズからなる放出光集
中レンズ類、34……基準検出器、36……出力
供給器、38……第1の偏光器、40……フイー
ルド効果液晶、42……スイツチ、44……平−
凸レンズ、46……バツフル、48……平−凸レ
ンズ、50……広い帯幅のフイルタ、52……第
2の偏光器、54……平−凸レンズからなる放出
光集中レンズ類、56……穴、58……光遮蔽要
素、60……光電子増倍管。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 螢光性液体サンプルに励起光を照射して放出
    光を放射させ、この放出光から偏光度Pを式I
    (Z)−I(Y)/I(Z)+I(Y)により求める
    〔ただし式中のI(Z)は該液体サンプルに第1の
    偏光角度で偏光励起光を照射したときの第1の偏
    光角度の放出光の一偏光成分の測定強度であり、
    I(Y)は該液体サンプルに該第1の偏光角度に
    対して垂直の第2の偏光角度で偏光励起光を照射
    したときの第1の偏光角度の放出光の該偏光成分
    の測定強度である〕螢光性偏光分析器のための光
    学装置であつて; 該液体サンプルを入れるための実質的に円周横
    断面の形状をもつ試験管; 該液体サンプルの中心に実質的に集中させた励
    起光を該液体サンプルに照射するための集中光
    源; 該集中光源を構成する比較的低いワツト数の低
    強度タングステン−ハロゲンランプ; 該集中光源と該サンプルとの中間にあつて、該
    螢光性サンプルの吸収帯に実質的に対応する励起
    光を通過させる狭い帯幅のフイルタ; 上記の狭い帯幅のフイルタと該サンプルとの中
    間にあり、且つ該第1の偏光角度において固定し
    た偏光面をもつ第1の偏光器; 該偏光器と該サンプルとの中間にあるフイール
    ド効果液晶であつて、該液体サンプルに対して第
    1および第2の角度で偏光させた励起光を交互に
    適用すべく該液晶に電場を交互に適用するための
    部材を含むフイールド効果液晶; 光電子増倍管によつて検出される放出光を制限
    する入口穴を含む光電子増倍管検出器; 上記の試験管に近接して存在し、励起光の反射
    が光電子増倍管の入口穴への放出光の通路に侵入
    するのを実質的に防ぐバツフル; 該サンプルと該光電子増倍管との中間にあつ
    て、放出光を上記の光電子増倍管の入口穴に集中
    させるための放出光集中レンズ類; 該サンプルと該光電子増倍管との中間にあり、
    且つ該第1の偏光角度において固定した偏光面を
    もつ第2の偏光器;および 該サンプルと該光電子増倍管との中間にあつ
    て、該螢光性サンプルの放出帯に実質的に対応す
    る放出光を通過させる広い帯幅のフイルタ; からなることを特徴とする光学装置。 2 第1および第2の偏光器が垂直偏光器からな
    る特許請求の範囲第1項記載の光学装置。 3 集中光源が更に、タングステン−ハロゲンラ
    ンプ用の反射器;該ランプから反射される励起光
    を受入れる穴をもつ光遮蔽要素;および上記の穴
    とサンプルとの中間にあつて、サンプルの中心に
    励起光を集中させるための励起光集中レンズ;を
    含む特許請求の範囲第2項記載の光学装置。 4 上記の穴と上記の励起光集中レンズとの中間
    にある赤外線吸収要素を含む特許請求の範囲第3
    項記載の光学装置。 5 励起光の強度を検知してその光の強度を実質
    的に一定に保つための励起光検知器を含む特許請
    求の範囲第4項記載の光学装置。
JP57001090A 1981-01-09 1982-01-08 Optical apparatus for fluorescent polaroid equipment Granted JPS57136142A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US22363381A 1981-01-09 1981-01-09

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57136142A JPS57136142A (en) 1982-08-23
JPH0352575B2 true JPH0352575B2 (ja) 1991-08-12

Family

ID=22837366

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57001090A Granted JPS57136142A (en) 1981-01-09 1982-01-08 Optical apparatus for fluorescent polaroid equipment

Country Status (9)

Country Link
JP (1) JPS57136142A (ja)
AU (1) AU544788B2 (ja)
BE (1) BE891736A (ja)
CA (1) CA1165585A (ja)
DE (1) DE3200391C2 (ja)
FR (1) FR2497951B1 (ja)
GB (1) GB2090971B (ja)
IT (1) IT1149428B (ja)
NZ (1) NZ199413A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022259989A1 (ja) 2021-06-08 2022-12-15 キヤノン株式会社 検体検査用偏光発光粒子
WO2022259946A1 (ja) 2021-06-08 2022-12-15 キヤノン株式会社 偏光異方性の測定に基づく標的物質の検出、測定方法およびそのための粒子
WO2023095865A1 (ja) 2021-11-26 2023-06-01 キヤノン株式会社 検体検査用粒子
EP4276447A1 (en) 2022-05-13 2023-11-15 Canon Kabushiki Kaisha Analysis method involving measurement based on polarization anisotropy, test kit, and test reagent
EP4276446A1 (en) 2022-05-13 2023-11-15 Canon Kabushiki Kaisha Analysis method and analysis apparatus each employing measurement based on polarization anisotropy
WO2023219139A1 (ja) * 2022-05-13 2023-11-16 キヤノン株式会社 偏光異方に基づく測定による解析方法及び解析装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU581917B2 (en) * 1984-09-25 1989-03-09 Richard Distl Dual-beam real-time polarimeter
JPS6350741A (ja) * 1986-08-20 1988-03-03 Nippon Tectron Co Ltd 蛍光偏光分析装置
WO1991007652A1 (en) * 1989-11-21 1991-05-30 Source Scientific Systems, Inc. Optics and method for measuring fluorescence polarization
US5387527A (en) * 1992-06-26 1995-02-07 Beckman Instruments, Inc. Use of pH dependence for scatter correction in fluorescent methods
DE19544481A1 (de) * 1995-11-29 1997-06-05 Laser Sorter Gmbh Beleuchtungseinrichtung mit Halogen-Metalldampflampen
US7880396B2 (en) 2007-06-14 2011-02-01 Seiko Epson Corporation Projector device employing ballast with flyback converter

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5356078A (en) * 1976-10-30 1978-05-22 Nippon Bunko Kogyo Kk Poralized fluorescence measuring apparatus

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB903165A (en) * 1955-01-26 1962-08-15 Zeiss Stiftung Improvements in or relating to photo-electric polarimeters
US3679309A (en) * 1970-05-04 1972-07-25 Japan Spectroacopic Co Ltd Instruments for measuring molecular orientations with the aid of fluorescence
DD107989A1 (ja) * 1973-06-07 1974-08-20
IL43224A (en) * 1973-09-14 1979-07-25 Yeda Res & Dev Fluorescence polarization measurements
US4203670A (en) * 1977-04-21 1980-05-20 Bromberg Nathan S System and method of fluorescence polarimetry
US4115699A (en) * 1977-06-16 1978-09-19 Kabushiki Kaisha Nihon Kotai Kenkyujo Apparatus for sensitive detection and quantitative analysis of biological and biochemical substances
JPS5468263A (en) * 1977-11-10 1979-06-01 Stanley Electric Co Ltd Liquid crystal indicator

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5356078A (en) * 1976-10-30 1978-05-22 Nippon Bunko Kogyo Kk Poralized fluorescence measuring apparatus

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022259989A1 (ja) 2021-06-08 2022-12-15 キヤノン株式会社 検体検査用偏光発光粒子
WO2022259946A1 (ja) 2021-06-08 2022-12-15 キヤノン株式会社 偏光異方性の測定に基づく標的物質の検出、測定方法およびそのための粒子
WO2023095865A1 (ja) 2021-11-26 2023-06-01 キヤノン株式会社 検体検査用粒子
EP4276447A1 (en) 2022-05-13 2023-11-15 Canon Kabushiki Kaisha Analysis method involving measurement based on polarization anisotropy, test kit, and test reagent
EP4276446A1 (en) 2022-05-13 2023-11-15 Canon Kabushiki Kaisha Analysis method and analysis apparatus each employing measurement based on polarization anisotropy
WO2023219139A1 (ja) * 2022-05-13 2023-11-16 キヤノン株式会社 偏光異方に基づく測定による解析方法及び解析装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS57136142A (en) 1982-08-23
NZ199413A (en) 1985-08-30
FR2497951A1 (fr) 1982-07-16
IT1149428B (it) 1986-12-03
CA1165585A (en) 1984-04-17
GB2090971B (en) 1984-04-26
DE3200391A1 (de) 1982-07-29
FR2497951B1 (fr) 1985-06-28
GB2090971A (en) 1982-07-21
AU7919482A (en) 1982-07-15
DE3200391C2 (de) 1985-10-24
IT8219044A0 (it) 1982-01-08
BE891736A (fr) 1982-07-08
AU544788B2 (en) 1985-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4516856A (en) Optical apparatus for fluorescence polarization instrument
Teale et al. Ultraviolet fluorescence of the aromatic amino acids
Crosby et al. Measurement of photoluminescence quantum yields. Review
US6455861B1 (en) Fluorescence polarization assay system and method
Lakowicz et al. Instrumentation for fluorescence spectroscopy
Eisinger A variable temperature, UV luminescence spectrograph for small samples
US4053229A (en) 2°/90° Laboratory scattering photometer
JPS6116010B2 (ja)
JPH0352575B2 (ja)
JPH11201959A (ja) Hplc用円二色性検出器
JPH08304282A (ja) ガス分析装置
EP1373856A4 (en) FLUORESCENCE DETECTOR GEOMETRY
JP3176770B2 (ja) 流体検査装置
Brewer et al. Phase Fluorometer to Measure Radiative Lifetimes of 10− 5 to 10− 9 Sec
Harpst et al. Low‐angle light‐scattering instrument for DNA solutions
TW480332B (en) Contaminant identification and concentration determination by monitoring the wavelength, or intensity at a specific wavelength, of the output of an intracavity laser
JP2003521670A (ja) 蛍光偏光を測定する装置及びその方法
JP2002098631A (ja) 小型試料濃度測定装置
CN212722750U (zh) 液相色谱的二极管阵列检测器
US7504641B2 (en) Polarisation fluorometer
JP2977534B1 (ja) 二酸化硫黄濃度測定器
JPH04168347A (ja) 液体クロマトグラフィー用示差屈折率検出装置
JP2003098078A (ja) 試料濃度測定装置
JP2536901B2 (ja) 蛍光測定装置
JPH0372245A (ja) 蛍光試薬で処理した試料を分析するための測定法および測光装置