JPS5847654B2 - ハンノウコンゴウブツノ キユウコウドオ ソクテイスルソツコウホウホウオヨビ ソウチ - Google Patents

ハンノウコンゴウブツノ キユウコウドオ ソクテイスルソツコウホウホウオヨビ ソウチ

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JPS5847654B2
JPS5847654B2 JP10200875A JP10200875A JPS5847654B2 JP S5847654 B2 JPS5847654 B2 JP S5847654B2 JP 10200875 A JP10200875 A JP 10200875A JP 10200875 A JP10200875 A JP 10200875A JP S5847654 B2 JPS5847654 B2 JP S5847654B2
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ジー アトウツド ジヨン
エフ デイメイ ザセカンド チヤールズ
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/251Colorimeters; Construction thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
    • G01J1/1626Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared

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  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は測定装置、さらに詳細には分析装置において使
用するための改良された測光方法およびその方法を実施
する測光器に関する。
ある種の流体等における吸光度のような量を測定するた
めの測光装置は周知である。
この種装置の改良された形式のものは既に提案されてい
る。
この測光装置の場合、光ビームを通過させるフローセル
に反応血清試料が供給される。
同時に基準として用いられる別のビーム部分が付加的な
光学路を通過せしめられる。
反応混合物を通過した後ビームの光出力を該混合物にお
ける吸光度の測定に関連する値にするためには、光レベ
ルを検出しかつ検出したレベルを有用な電圧値に増幅す
る装置を設ける必要がある。
このような出力を発生する装置は現在種々開発されてい
る。
一般的にこれら装置はすべて光検出器および増幅段から
構成される。
また、適切な形の出力を得るため、増幅作用は吸光度に
比例する出力を発生するために対数入力ないし帰還を有
する増幅器により行なう必要がある。
この種の系は数多く開発されているが、それらはすべて
精度が充分でなかったりS/Nが低い等の欠点を有して
いる。
例えば、従来周知の技術の場合、試料吸光度の僅かな変
化を測定するため感度と安定度の高い測光器を設計する
際にとられる常套手段は、ダブルビーム方式と、光学変
調系、すなわち所定のスペクトルがフィルタされた光源
からの放射光線ビームないしビーム部分が、交互に、試
料を通過する光路および試料を通過しない光路に指向せ
しめる構威の光学変調系とを用いて感度および安定度を
定めることであった。
2つの光路を通るビームはただ1つの検出器で結合され
周期的に持続時間の変化する信号が発生される。
従来周知技術による系にあっては、周期信号は、次いで
、復調されて試料光路および基準光路における吸光度の
相異の測定基準を示す信号を発生する。
この周知技術による感度の高い測光を行なう場合におけ
る最も検出しがたい吸光度変化は最適例の場合でも約5
×10’(吸光度単位)である。
以上の点に鑑みて、本発明の目的はS/N比を改善しか
つ精度を高めた、測光法および測光器を提供することで
ある。
本発明による測光器は極めて安定度が高く、しかも著し
く小さな量を測定する際非常に高い感度を示す。
本発明による測光器の構戊により問題とする特定波長に
おける流体試料の吸光度の極めて小さな変化に対する測
定感度が高められ、また、例えば酵素を触媒とする反応
の速度のダイナミック測定において所望されるような短
期間にわたる流体試料の吸光度の変化速度に対する測定
感度も改善される。
さらに、吸光度の小変化が測定できる吸光度のダイナミ
ックレンジが拡げられ、しかもそれはすべて100pl
以下の範囲内の小量でもって行なわれる。
本発明による測光器は従来周知の技術において見られる
ような変調を必要とせずして、しかも従来周知技術によ
る測光器の場合よりもすぐれた感度を示す。
すなわち、5XICI’−5(吸光度単位)のような小
さい流体試料の吸光度変化を規則的に測定することがで
きる。
このような結果を達成せしめる測光器の特徴的構或点と
して、非変調ダブルビーム構威における高安定度光学設
計および精密な電子回路構戊があげられる。
測光器出力側における検出器としてシリコンPINダイ
オード検出器が使用され、それら検出器の出力はバラメ
トリック増幅器の入力として供給される。
おどろくべきことに、この構戒により、個々の素子につ
いて予期される信号精度よりもはるかに高い信号精度が
得られる。
次いで、各パラメトリック増幅器の出力は、各出力の対
数をとる帰還路中に対数素子を有する演算増幅器に加え
られる。
このように形威された2つの対数は、次いで、別の演算
増幅器で減算され、試料セルにおける吸光度に比例する
最終出力が得られる。
精度は、少くとも両対数増幅器を所望の値に対して所定
範囲内の温度に保持する恒温外囲器内に封入することに
よってさらに保証される。
PIN検出器は、それらの動作領域におけるレスポンス
が極めて一定であるのに特に好適である。
さらに、それら検出器のレスポンスは特に、罷明履歴に
依存することがなく、かつ該レスポンスは任意所与の温
度下で繰返しが可能である。
しかしながら、この種のPINダイオード検出器はこれ
らの感応領域上に光ビームを正確に位置ずけることので
きる上述したような光学系を必要とする極めて小さな動
作領域を有する。
したがって系の光学的部分と電子的部分との組合せによ
り、従来の場合に比してすぐれた感度および繰返し精度
を示す極めて正確な測光器が得られる。
加うるに、試料セル自体はキャビテイ内で熱的に絶縁さ
れ所定温度に保持される。
この熱絶縁のため、測光器セルを通過する途中で予熱さ
れる試料およびセルは測定サイクル中ずつと一定温度に
保持される。
試料は、温度がサーミスタおよび熱ポンプを含む制御系
によって制御される恒温金属ブロックを通過せしめられ
ることによって加熱される。
次に、本発明の実施例につき、添付図面により詳細に説
明する。
本発明による測光器の光学、機械的構戒を示す第1図に
は、その光学素子とともに試料セルが示されている。
本発明による測光器は多くの手段・装置の使用により感
度および安定度の点で改良されている。
本発明による測光器は所定波長の光を放射する光源から
出発する。
第1図に示す実施例においては、約404nmの光出力
を発生するように選定されたマンガンランプから或るホ
ローカソードランプ271aおよび約340nmの光出
力を発生するように選定されたコバ/’L/l−ランプ
から威るホローカソードランプ27lbが設けられてい
る。
放射される波長はランプ陰極の原子の有する波長である
から、これらの波長は極めて安定しており、かつ繰返し
ないし再現可能な測光器の安定性が得られるようにする
光ビームを形或するために、それぞれランプ271aお
よび271bの前方にレンズ272a,272bが設け
られている。
レンズ272aの前方には404nmのフィル?273
が配置されている。
2つの光路は点275で交差する。
この点に、軸279を中心に回転可能な鏡277が取付
けられている。
上記ランプのうちのどちらが使用されるかは実施する検
査によって決定される。
この選定に依存して、パラメータ記憶器ないし補助セッ
トパネルの出力により該鏡が404nmの光を通すため
の実線位置かまたは340nmの光を通すための点線位
置へ回転せしめられる。
これと関連して、選定波長を含む帯域のみを通過させる
ように可動フィルタ281が配置されている。
このようにして、選定波長の光は光学軸283に沿って
セ/′I/71の方へ向う。
本発明による測光装置における次の重要なことはビーム
の拡がりを決定することである。
これは既知の制側』光束量を有するビームを得るために
不可欠であり、かつそうすることによってビームを分割
して、同様にそれぞれ既知の制御光束量を有する信号路
と基準路へ導くことが可能になる。
光源が実質的に均一な輝度の領域を有することおよびこ
の均一輝度領域の偉が結偉される第4の絞りから該像が
溢れてビームの全横断面が光源の小さな機械的な動きに
もかかわらず同じ均一輝度を有することが上述のように
拡がりを定めかつビームを発生する上で不可欠である。
拡がりは中間にレンズ285を配置した視野絞りS1お
よび開口絞りS2を使用することにより定められる。
光ビームは絞りS1およびS2に達する前にシャツタ2
84を通過する。
このシャツタは通常閉鎖状態に保持され、所定期間、す
なわち下述の理由から測定が行なわれる期間にのみ開か
れる。
シャツタは適当なタイマー出力によって制御される。
定められた拡がりを有するビームは、次いで、両光路に
おいて均一照度を保持するコーティング型のビームスブ
リツタに向けられる。
ビームスプリツタ28γはビームの約90%を透過せし
め、残りの10%を反射するようにコーティングされて
いる。
したがって、このようにして形戊された2つのビームは
もとのビームより輝度は低いが、各横断面にわたって照
度は均一になる。
ビームの透過部分、すなわちエネルキーの90%を含む
部分、は先ずレンズ289を通過してセ#71に入る。
レンズ285はセル入口の近くに視野絞りSの像を結偉
し、他方レンズ289はセル出口の近くに絞りS2の像
を結噛する。
これらのレンズ装置は単に例示的に示したにすぎ?、し
たがって上記の絞りの像を結像する他の任意の等価レン
ズ装置が用いられることは云うまでもない。
この結像の目的は、光路がセルの各側部から離されかつ
ビームの境界がはっきりと形威され、その結果光学部分
の小さな機械的運動が行なわれてもビームがセルの壁部
や各光学部材の縁部にあたることがないようにすること
である。
これにより、小さな機械的ないし光学的な妨害に対して
、ビームの光束量が安定にされる。
セル71の出口端に別のレンズ291が設けられている
このレンズは集光レンズ装置300に絞りSの像を結像
fる。
2つのレンズの形で示されている集光レンズ装置は検出
器295上に絞りS2の偉を結ぶ。
これらのレンズは出来るだけ大きな入射角を有し、それ
により出来るだけ多量の散乱光を集光できるようにする
ことが重要である。
ビームは良好に形威されてセル71を通過するがセル内
部の液体によりある程度散乱せしめられるにもかかわら
ず本発明の測光器により好結果が得られるのは少くとも
部分的にはこのような散乱光のほとんどすべてを捕捉す
る上記の作用によるものである。
さらに、レンズ300が光を検出器295の活性領域の
境界内に申し分なく結偉し、それによりビームを動かす
光学部材の小さな機械的な動きにもかかわらずセル出力
のすべてが測定されることも重要である。
ビームスブリツク287からの反射路内の光はレンズ2
97および1対の集光レンズ298を通過せしめられる
レンズ297は第1レンズに視野絞りS1を、また第2
レンズに絞りS2を結偉する。
第2レンズは第2検出器299上にS,の・鐵を結ぶ。
この場合ビームのすべてが検出器299の感応領域内に
結偉されることも注目すべき点である。
以下の説明から明らかなように、基準検出器である検出
器299の出力は信号検出器である検出器295の出力
、すなわち光源271 a , 27l bの変動に基
因する出力変動を相殺するために使用される。
したがって、ビームスプリツタ287によるビーム分割
前に発生する如何なる変動も相殺される。
図示のように両検出器からの信号は各増幅器296,2
94で増幅され、次いで下達のように処理される。
シャツク284は測定サイクル期間以外閉鎖状態に保持
されている。
すなわち、試料が搬送されている際には該シャツタは閉
鎖状態にある。
これにより、検出器295,299の応答時間効果に基
因する不正確ないし誤りが防止される。
すなわち、これら両検出器に同時に適切な光レベルが加
えられる。
仮りにシャツタが開放状態に保持されていると、光は常
に基準検出器299に達し検出器295のセルに搬送さ
れた試料による応答遅延が生ずることになる。
そのような場合には2つの検出器に対する照明の履歴の
相異によりエラーが生ずることがある これらの事項が忠実に守られる場合には、2つのビーム
において検出される信号の比に著しい影響を与える現象
のみが試料の吸光度の変化になる。
どんなに予防しても、小さな機械的および光学的な妨害
は生ずる。
それら妨害のあるものは各検出器の感応領域で像を動か
したり、その大きさを変化させたりする。
したがって、両検出器の各活性領域が光に対し均一の応
答度ないしレスポンスを有する利点がある。
さらに、光に対する両検出器のレスポンスはそれらの温
度に依存するので、検出器が同一温度を有し、かつ測定
中この温度が変化しないことが大切である。
第2図にはセル71が詳細に示してある。
セル自体は銀で構威され、測定期間中試料を保持する部
分901(図には切欠いて示す)を備えている。
セルはほぼ円筒状をなし、以下に説明するプラスチック
のブロックに定置させるための切欠き部分903を有す
る。
セルには試料を出し入れするための2つの開口904,
905が設けられている。
開口904,905にはそれぞれステンレス製ニツプル
906が挿入されている。
セルが銀製である理由は銀が高い熱伝導性を有するから
である。
測定期間中試料を特定温度に保持することは欠くことの
できない要件である。
しかしながら、測定期間中温度が変化しないように保持
することの方が一層重要である。
セルにおける試料温度が所要の温度30’Cから±0.
2℃の範囲内にあれば充分である。
しかしながら、測定期間中の温度は0.01℃より大き
く変化してはならない。
第3図には試料を所要の温度にしかつ温度に保持するた
めの恒温装置を示す。
アルミニューム製のベースブロック907が設けられて
いる。
このベースブロックは内部にステンレス管911を挿入
した円筒状通路909を備えている。
ステンレス管911の上端はセル71に接続するニツプ
ル906につながる可撓性のプラスチック管と接続され
ている。
セル自体はベースブロ゛ンク907の頂部に取付けたV
字状プラスチックブロック913上に載置されている。
ベースブロック907上には、同じくアルミニューム製
でかつブロック913、セルT1および配管部材を収容
するための切欠き部917を有するカバー915が配置
されボルトで定置せしめられている。
ベースブロック907には切欠き919が設けられ、そ
の内部にサーミスタ921が挿入されている。
このサーミスタの下方のベースブロック側部に熱ポンブ
923が取付けられている。
この熱ポンプとしてはボーグワーナー社製の部品第93
017号のようなペルチェ装置を利用すると有利である
この熱ポンプはサーミスタ921を介して周知のように
該熱ポンブ923を作動せ・しめるための出力を発生す
る制御装置925に接続されている。
熱ポンブ923の他方の側には、伶却モードの動作時熱
ポンプから熱を奪うための水を通す通路929を有する
金属ブロック927が設けられている。
この装置の全体が例えば発泡樹脂絶縁材から戒る絶縁体
931で囲繞されている。
熱ポンプ923はアルミニュームブロック907の温度
を所要の値に制御する。
その結果切欠き空間917がほぼ所要の値に保持される
、すなわち正確な結果を得るのに充分な程度所要値に接
近した温度値に保持される。
しかしながら、以上に説明したように、試料は測定期間
中その温度が変化してはならない。
これは銀製のセルを使用しかつ■字形プラスチックブロ
ック913を介しての隔離により保証される。
銀の熱導伝性の高いことによりセルは極めて迅速に試料
に対し平衡温度状態に達する。
熱ポンプはアルミニュームブロックの温度を僅かに比例
変化せしめる、すなわち該ブロックの温度が僅かに低下
すると熱ポンプはその熱の流れを増大して該ブ冶ツクの
温度を高める。
この温度はあまり大きくは変化しないが、このような僅
かな変動がセルにおいて感知できれば、測定を行なうに
はそれで充分である。
良好な絶縁体である■字形プラスチックブロック913
の配置によりブロック907におけるこのような小さな
(温度)変動が試料セル71に達しないように防止され
る、すなわち該プラスチックブロック913は熱フィル
タの作用を行なう。
切欠き917の内部に配置された両検出器も実質的に一
定の温度に保持される。
測光器のための検出器および前置増幅器構戊体の回路図
を第4図にブロックダイヤグラムで示す。
増幅段294および296にシリコンPINダイオード
検出器299および295が接続されている。
これら増幅役にはそれぞれ回路点出力側Erefおよび
Esigが接続されている。
これらの出力側は、また、それぞれ対数回.i301お
よび303にも接続されている。
回路301は基準の対数をとり回路303は信号の対数
をとる。
これら2つの対数信号は回路点L re fおよびLs
igに対する出力として供給される。
これらの2つの{直から、すなわちアナログ減算器30
5で信号エネルギーの対数から基準信号の対数を減算す
ることによって吸光度が計算される。
それにより生ずる出力は線路306に送出される。
上述の第4図の回路装置が第5図に詳細に示してある。
第5図では上記の両信号を発生せしめる検出器295,
299はそれぞれ増幅器294,296に入力を供給す
るように接続されている。
両検出器としてはシリコンPINホトダイオード、例え
ばモトローラ社の製品、MDR510、のような素子を
用いる。
これら検出詣はレスポンスの均一な感応領域面を有して
おり、最新の解明履歴に依存せず、かつ所与の温度で反
覆ないし繰返し可能である。
増幅器294,296は各々帰還抵抗403を介して負
帰還を行なったパラメトリック増幅器401から戊る。
この帰還抵抗と並列に帰還コンデンサ405が設けられ
ている。
抵抗403の典型的な値は増幅器296に設けられたも
のが1,OOOMΩ、増幅器401に設けられたものが
3,OOOMΩである。
コンデンサ405はいずれも5 pFである。
これら増幅器のいずれにも正負の電源電圧、典型的には
±15Vが供給される。
これら正負の電圧電源とアースとの間には減結合コンデ
ンサ407がそれぞれ周知のように設けられている。
これら減結合コンデンサの値は典型的には6,8μFで
ある。
さらに各増幅器と関連してトリマポテンショメータ40
9が接続サれており、そのスライダは当該増幅器の適切
な入力側に周知のように接続されている。
図示のように、両トリマポテンショメータは正負電圧電
源間に接続されている。
両増幅器としてはアナログデバイス社製の30lJ型の
ものが使用される。
増幅器294,296の出力はそれぞれ抵抗411を介
して関連する回路点に供給される。
上記出力は、また、それぞれ抵抗412を介して対数回
路301 ,303にも加えられる。
これら対数回路はおのおの、非反転入力側がアースされ
かつ入力信号が反転入力側に供給される演算増幅器41
3を含んでいる。
これら増幅器としては典型的にはナショナルセミコンダ
クタ社製のLM308AHW増幅器が使用される。
増幅器294,296と対数段との間 抵抗、すなわち
抵抗412はそれぞれIOOKΩにされる。
対数関数はそれぞれ該当する帰還回路を介して得られる
したかつて、各増幅器の出力は、先ず、コンデンサ41
5を介してその反転入力側に帰還される。
その出力は、また抵抗417を介して送出され、ベース
を接地したトランジスタ419とこのトランジスタに並
列なダイオード421とを介して帰還される。
上記コンデンサは典型的には75pFのものが使用され
、上記トランジスタは各々2N4 0 2 3型トラン
ジスタから戊る。
抵抗417は5K,Qにされる。
各対数回路の出力側に発生される信号は周知のように抵
抗423を介して回路点へ取出される。
これら両出力は整合した1対の抵抗425を介して加算
増幅器305にも供給される。
対数回路の303の信号出力は加算増幅器305の非反
転入力側に加えられ、対数回路301の出力すなわち基
準信号は反転入力側に加えられる。
増幅器305としてはプレシジョンモノリシック社製の
γ25C型増幅器が使用される。
増幅語305は適切なスケールに設定するためその帰還
路に抵抗427を有している。
抵抗429、コンデンサ431、コンデンサ432、お
よび抵抗43゛3から成る適当な補償回路が周知のよう
に配置されている。
減算回路の出力は線路306に既述の出力を送出する抵
抗435を介して取出される。
所望により計器において使用するため第2の抵抗435
を介して第2の出力が取出される。
抵抗427は49.91<,Q、また抵抗435はそれ
ぞれ47Ωにされる。
以上においては、本発明による改良された測光器の検出
器および増幅装置の特定実施例について説明したが、発
明の根本精神および特許請求の範囲を逸脱しない限りに
おいて種々変形、変更できることは云うまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による測光器の光学・機械的構或を示す
略線図、第2図は第1図の試料セルを詳細に示す横断面
図、弟3図は試料温度の制御に使用される装置の横断面
図、第4図は検出器および増幅器回路のブロックダイヤ
グラム、第5図は第4図の回路を詳細に示す略線図であ
る。 71・・・・・・試料セ#、271a,27lb・・・
・・・ホローカソードランプ、273・・・・・・フィ
ルタ、277・・・・・・鏡、281・・・・・・可動
フィルタ、284・・・・・・シャツタ、S1・・・・
・・視野絞り、S2・・・・・・開口絞り、287・・
・・・・ビームスブリツタ、294,296・・・・・
・増幅器、295,299・・・・・・検出器、301
・・・・・・基準対数回路.、303・・・・・・信号
対数回路、I,ref,Lsig・・・・・・回路点、
305・・・・・・アナログ減算器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1(a)反応混合物を試料セル内に配置し、(b)所定
    の波長を含む光ビームを形或し、(c)視野絞りおよび
    開口絞りで前記ビームの拡がりを定め、(d)前記ビー
    ムを第1および第2ビームに分割し、その際該第1およ
    び第2ビームの両ビームにおける煕度の均一性を保持し
    、(e)前記第1ビームが前記試料セルを通過して前記
    セルの入口近傍に前記視野絞りの偉を形或し、かつ前記
    セルの出口近傍に前記開口絞りの像を形成するようにし
    、その際前記両偉は前記ビームが前記セルの壁部に接触
    しないように位置せしめられ、(f)広角光学装置を使
    用する第1の検出器の感応領域内に前記開口絞りの偉全
    体を形威して前記セルの内容物によって散乱される光の
    大部分を捕捉するようにし、(g)前記第2のビームに
    おいて前記視野絞りおよび開口絞りのうち1方の保全体
    を第2の検出器の感応領域内に形或し、(h)前記第1
    の検出器の出力に含まれる所定の波長を有する前記光ビ
    ームの輝度変化に基因する変動を打消すために前記第2
    の検出器の出力を使用することを特徴とする反応混合物
    の吸光度を測定する測光方法。 2 2つの光路のうちの1万において試料セルを通過す
    る際の吸光度が、所定波長の光源からの両光路に沿って
    同時に入射する直射光によって検出される、反応混合物
    の吸光度を測定する測光装置において、試料セルを通過
    する光路の終点に設けられていて、この終点におけるビ
    ームの強さを検出する第1のPINダイオードと、他方
    の光路の終点に設けられていて、その終点におけるビー
    ムの強さを検出する第2のPINダイオードと、1つの
    軸線に沿って順次配列されていて、光源からの光を受け
    且つ横断面に関し均一な強さのビームを通過させる視野
    絞りおよびレンズおよび開口絞りとから或り、さらに前
    記ビームを各光路に分けるないし分割する手段と、前記
    のビーム分割手段からの光を集光して、試料セルの入口
    と出口付近に夫々前記視野絞りと開口絞りの傷を対称に
    結偉する装置と、前記開口絞りの偉を第1のPINダイ
    オードの感応領域上に全体的に対称に結像するために、
    試料セルを通過した光を集光する装置と、前記視野絞り
    の偉および開口絞りの偉のうちの少なくとも1万を全体
    的に前記第2のPINダイオードの感応領域に対称に結
    伶するために前記ビーム分割手段からの光を集光する装
    置とから成り、さらに前記第1および第2のPINダイ
    オードからの出力を各々に受信するように別個に設けら
    れた第1および第2のバラメトリック増幅器と、前記パ
    ラメl− IJツク増幅器の各々の出力信号を対数化し
    て導出し、該両対数信号間の差を求める回路装置とから
    或ることを特徴とする、反応混合物の吸光度を測定する
    測光装置。
JP10200875A 1974-08-22 1975-08-22 ハンノウコンゴウブツノ キユウコウドオ ソクテイスルソツコウホウホウオヨビ ソウチ Expired JPS5847654B2 (ja)

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US05/499,855 US4014612A (en) 1974-08-22 1974-08-22 Photometric measuring apparatus

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JPS5155284A JPS5155284A (en) 1976-05-14
JPS5847654B2 true JPS5847654B2 (ja) 1983-10-24

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JP10200875A Expired JPS5847654B2 (ja) 1974-08-22 1975-08-22 ハンノウコンゴウブツノ キユウコウドオ ソクテイスルソツコウホウホウオヨビ ソウチ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2116707A (en) * 1982-03-01 1983-09-28 Varian Associates Optical system for a liquid flow absorption cell
JPH02206744A (ja) * 1989-02-06 1990-08-16 Aloka Co Ltd 吸光度測定装置
DE29800213U1 (de) 1998-01-09 1998-03-05 Jeske, Uwe, 73635 Rudersberg Vorrichtung zum Kalibrieren und zur Kalibrierkontrolle für Photometer-Prozeßmeßtechnik
AU2003900902A0 (en) * 2003-02-27 2003-03-13 Varian Australia Pty Ltd Spectrophotometer
SE0802069A1 (sv) * 2008-09-30 2010-03-31 Senseair Ab Ett för en spektralanalys av höga gaskoncentrationer anpassat arrangemang
JP6512913B2 (ja) * 2014-04-18 2019-05-15 Drc株式会社 光照射装置と光透過特性の測定方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2220231A1 (de) * 1972-04-25 1973-11-08 Serv Anstalt Photometer zur digitalen anzeige der lichtabsorption einer messprobe in einer kuevette

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DE2537494A1 (de) 1976-03-11
GB1514507A (en) 1978-06-14
JPS5155284A (en) 1976-05-14
DE2537494C2 (de) 1987-02-26

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