JPS58194008A - 合焦検出装置 - Google Patents
合焦検出装置Info
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- JPS58194008A JPS58194008A JP57077719A JP7771982A JPS58194008A JP S58194008 A JPS58194008 A JP S58194008A JP 57077719 A JP57077719 A JP 57077719A JP 7771982 A JP7771982 A JP 7771982A JP S58194008 A JPS58194008 A JP S58194008A
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- Japan
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- detector
- focus
- light
- position detector
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
する。
一般に光学系の瞳を方割することにより非合焦時には谷
々分割された光束の結ぶ像が異なる方向に移動すること
が升られでいるが、この原理?第1図・3′こより説明
すれば、第1図(a)において1f.j:、ld像レン
ズ、2は@1家レンズJの前で嘩の近隋に配設された開
口2aを■する避元板,3V′i稼而でろり、合焦時に
fl.I: flA面:3。1−に像cλか晴f’#
、’; 11るが、非合焦時(・((l;j前1グン,
1女1′ノに7・1応[7て+a: Caに関して各々
尤111l1 (l Q(Qr,直なlj向で反X4
’)j向にす才1/c−f)ン1樅にンJンケ/こ1象
(ン1 、(之?かf隊]自1:う1−に形成さJする
。
々分割された光束の結ぶ像が異なる方向に移動すること
が升られでいるが、この原理?第1図・3′こより説明
すれば、第1図(a)において1f.j:、ld像レン
ズ、2は@1家レンズJの前で嘩の近隋に配設された開
口2aを■する避元板,3V′i稼而でろり、合焦時に
fl.I: flA面:3。1−に像cλか晴f’#
、’; 11るが、非合焦時(・((l;j前1グン,
1女1′ノに7・1応[7て+a: Caに関して各々
尤111l1 (l Q(Qr,直なlj向で反X4
’)j向にす才1/c−f)ン1樅にンJンケ/こ1象
(ン1 、(之?かf隊]自1:う1−に形成さJする
。
第1図(1)) id.、1f’4光板2の開II 2
a ’(I,− Jl’;軸0(・(関(、テ反対側
に移動さlj− /こ場合4一小し7てjL>リ、合1
l一時に1は像面;う北に肖ピ(λ′が結隊さノするか
、非pH焦時に( 1,−i谷々前’ /+ i& ’
ンニ”I ’イ゛; l,、 テボl− 1ic l
j4 Q!, (χ2が像面;3]二に形成さ11イ)
、1従って、倣′A.(ν?の開1]を例えば第1図(
、I)のイ+’(置か+’7) (++)イ/′)イ)
装置・\)多動1さイi1、 せると、合焦時ににj.≠(、!及び(Xか回し缶i&
t Kあるので像(は移動しないが、前ビ゛/の」易ば
にC」ゴ象は(之1からQ’+のイ装置・\移動しまた
後ピノの場合fZ(iIj像はQ.2からQ’zのイH
ン, l醒・\多・助する。
a ’(I,− Jl’;軸0(・(関(、テ反対側
に移動さlj− /こ場合4一小し7てjL>リ、合1
l一時に1は像面;う北に肖ピ(λ′が結隊さノするか
、非pH焦時に( 1,−i谷々前’ /+ i& ’
ンニ”I ’イ゛; l,、 テボl− 1ic l
j4 Q!, (χ2が像面;3]二に形成さ11イ)
、1従って、倣′A.(ν?の開1]を例えば第1図(
、I)のイ+’(置か+’7) (++)イ/′)イ)
装置・\)多動1さイi1、 せると、合焦時ににj.≠(、!及び(Xか回し缶i&
t Kあるので像(は移動しないが、前ビ゛/の」易ば
にC」ゴ象は(之1からQ’+のイ装置・\移動しまた
後ピノの場合fZ(iIj像はQ.2からQ’zのイH
ン, l醒・\多・助する。
この原理を利用して合焦を検出するようにL. ′に装
置は例えば特公昭5 6− 13 !J 2 ’:4
Q (’Cよるもの等があるが、(Ill ilも像の
位相ずれ(メ:i: − 方向f(−、のみ検出さtq
14?るがこt−+に垂直な方向(・′(関し,ーC乞
I:使出゛することができないので、例えはこの垂直方
向(fこのみ強jW亥化を有する1原のり場合に(〆;
」、合焦を険出することができなかった13 これは隊
商に配設さ君たIW情報を検出するだめの光検出器とし
て一次元の固体撮像素子rを11−1いているからであ
る1、従つ−C1二次几の固体撮像素子を使用しこれに
応じて二次−又 1己の瞳分割を行存えは二/尼の像の位相ずれを検出し
、得るか、二次元の」場合のH1算搦は一次元の場合に
比ベーC(はソ画素数の二乗で訓算量が増加する/こめ
)非常に多くなり、その実施は困難であつ/コ3.さら
に、?K 1ljcの場合でも、像の相対位置を知る/
こめに(r:J:相関等のアナログ演算まだはデジタル
演豹が不可欠であり、このため瞳の偏心等による光へ4
の差が位相ずれの検出精度にzJシて影響を及ζχ1−
ので補IF看行なう必要があった。
置は例えば特公昭5 6− 13 !J 2 ’:4
Q (’Cよるもの等があるが、(Ill ilも像の
位相ずれ(メ:i: − 方向f(−、のみ検出さtq
14?るがこt−+に垂直な方向(・′(関し,ーC乞
I:使出゛することができないので、例えはこの垂直方
向(fこのみ強jW亥化を有する1原のり場合に(〆;
」、合焦を険出することができなかった13 これは隊
商に配設さ君たIW情報を検出するだめの光検出器とし
て一次元の固体撮像素子rを11−1いているからであ
る1、従つ−C1二次几の固体撮像素子を使用しこれに
応じて二次−又 1己の瞳分割を行存えは二/尼の像の位相ずれを検出し
、得るか、二次元の」場合のH1算搦は一次元の場合に
比ベーC(はソ画素数の二乗で訓算量が増加する/こめ
)非常に多くなり、その実施は困難であつ/コ3.さら
に、?K 1ljcの場合でも、像の相対位置を知る/
こめに(r:J:相関等のアナログ演算まだはデジタル
演豹が不可欠であり、このため瞳の偏心等による光へ4
の差が位相ずれの検出精度にzJシて影響を及ζχ1−
ので補IF看行なう必要があった。
本発明は、以上の点に鑑み、光検出器として光fY″’
l: lfQ検出器を使用することにより簡単な構成で
而も精113:の高い合焦検出装置Itを提供せんとす
るものであイ)が、先づ第2図により光位置検出器につ
いて〜、明する。第2図には、半導体表面にお・けるう
’ −、−5Ay 、7第1、m x 7 x
/ 、(Lateral I’l+ol。
l: lfQ検出器を使用することにより簡単な構成で
而も精113:の高い合焦検出装置Itを提供せんとす
るものであイ)が、先づ第2図により光位置検出器につ
いて〜、明する。第2図には、半導体表面にお・けるう
’ −、−5Ay 、7第1、m x 7 x
/ 、(Lateral I’l+ol。
1・: l’ ((・(1)を利用したバ、11γ置検
出器の、1(本構造が示されており、10は高抵抗S1
基υハ 11し1、p型1」(抗層、12はn+層、1
3は共1ト1’+電極、I /I 、 l 5は電極で
あって表面1・力(ri 13−11接合により光?1
℃効果を備えている。従つ−C図示の如く光1、が1)
型]](、抗層に入射すると、その入射位f# VC応
じて電極11+、15から首々出力電流[A、’11が
得られる。、(こで’9!14及び15の間の距離をt
、抵抗を11とし、さらに′市1令14から光の入射位
IUマでのll′ll)離をX、ぞの部分抵抗をH,x
、址た入t+4)t;に」:り発生した光ih;流を
1゜とすれば。
出器の、1(本構造が示されており、10は高抵抗S1
基υハ 11し1、p型1」(抗層、12はn+層、1
3は共1ト1’+電極、I /I 、 l 5は電極で
あって表面1・力(ri 13−11接合により光?1
℃効果を備えている。従つ−C図示の如く光1、が1)
型]](、抗層に入射すると、その入射位f# VC応
じて電極11+、15から首々出力電流[A、’11が
得られる。、(こで’9!14及び15の間の距離をt
、抵抗を11とし、さらに′市1令14から光の入射位
IUマでのll′ll)離をX、ぞの部分抵抗をH,x
、址た入t+4)t;に」:り発生した光ih;流を
1゜とすれば。
となり、抵抗層が均一であれば、次式か得られる、。
従って、電極14,15の出力上流’A 、’+1か1
フ1A−1B A なる演算を行なうことにより、入射エネルギー1;!1
1ち入射fe重に無関係に光の入射位置即ち距−1xか
求められる。尚、入射光量は ’(1”” ’A ト ’13
−
(4)より求められる。1以にの説明は一次元光G装
置検出器の1M合についてなされているが、二次元光位
置検出器のJ場合でもそのj京埋は同じである。かくし
て例えば光位置検出装置にに第3図に示したよう々九喰
分布をもつ像が結[象している場合には、九強兜分布を
1゜(×)2位置Xにて入射する光による゛plt4傘
14 、15での出力電流JA (xL IB (x)
は、IA(×)−−I。(X)TI、、 (X)−’−
1゜(×) −(5)1
1でlヲえられ、像全体による電極14.15か
らの+It力?毬流”A I ’o 1ql1、となる
。■メfって式(fi) 、 (’71 J:す、IA
+ I IJ t ’) ’(’l (x)
d xわし、ているから、(8)式より光f☆゛置装出
器上に結像した像の重心を求めることができるようにな
つCいる。
フ1A−1B A なる演算を行なうことにより、入射エネルギー1;!1
1ち入射fe重に無関係に光の入射位置即ち距−1xか
求められる。尚、入射光量は ’(1”” ’A ト ’13
−
(4)より求められる。1以にの説明は一次元光G装
置検出器の1M合についてなされているが、二次元光位
置検出器のJ場合でもそのj京埋は同じである。かくし
て例えば光位置検出装置にに第3図に示したよう々九喰
分布をもつ像が結[象している場合には、九強兜分布を
1゜(×)2位置Xにて入射する光による゛plt4傘
14 、15での出力電流JA (xL IB (x)
は、IA(×)−−I。(X)TI、、 (X)−’−
1゜(×) −(5)1
1でlヲえられ、像全体による電極14.15か
らの+It力?毬流”A I ’o 1ql1、となる
。■メfって式(fi) 、 (’71 J:す、IA
+ I IJ t ’) ’(’l (x)
d xわし、ているから、(8)式より光f☆゛置装出
器上に結像した像の重心を求めることができるようにな
つCいる。
次に、以上述べた毘1八冒W検出器を利用1.た不発r
3Avこよる合焦検1イ1装置を第4図及び第5図に示
した一実施例により説明すれば、21は第1図の辺1、
丸板3に相当する液晶訃たはエレクトロクロミック素子
等を利用した瞳分割器で食方に透明になるように制御さ
れる労光部212I及び211〕を備えている。22は
結像レンズ、23に1結像レノス22の焦点位置に配設
された前述の−θ(几)v4位置検出器である。il=
分hlJ器21の透うY1合lj 21 r+及び21
1)を通って人生する光束は結像レンズ22を弁して光
位置検出器2;う+に結1家−1°るようVCなってい
る1、また第5図(弓、)Y、II′I西−fa出器2
;うからの出力イハ弓を処jjJj−,J−る電気回路
のブロック図を示しており、24 、24tはガ、位置
検出器23の二つの電極からの出力′「1記流=A、’
llを]胃幅するだめのアンプ、25&士(lA−1,
、)全演算すル威′瞬器、261tJ (IA41.3
)をタカする加嘗−器、27は式(8)の演算を行なう
除韓器、28は瞳分割器21の透光部を交互に透明化す
るように制酌を行なう駆動回路で、同時にコノパレータ
30に対してこの制御に同期して透光HB 2 + a
が透明状態のとき())レベルで透光部211〕力脅カ
明状態のとき(−)レベルにある・Qルスを出力する。
3Avこよる合焦検1イ1装置を第4図及び第5図に示
した一実施例により説明すれば、21は第1図の辺1、
丸板3に相当する液晶訃たはエレクトロクロミック素子
等を利用した瞳分割器で食方に透明になるように制御さ
れる労光部212I及び211〕を備えている。22は
結像レンズ、23に1結像レノス22の焦点位置に配設
された前述の−θ(几)v4位置検出器である。il=
分hlJ器21の透うY1合lj 21 r+及び21
1)を通って人生する光束は結像レンズ22を弁して光
位置検出器2;う+に結1家−1°るようVCなってい
る1、また第5図(弓、)Y、II′I西−fa出器2
;うからの出力イハ弓を処jjJj−,J−る電気回路
のブロック図を示しており、24 、24tはガ、位置
検出器23の二つの電極からの出力′「1記流=A、’
llを]胃幅するだめのアンプ、25&士(lA−1,
、)全演算すル威′瞬器、261tJ (IA41.3
)をタカする加嘗−器、27は式(8)の演算を行なう
除韓器、28は瞳分割器21の透光部を交互に透明化す
るように制酌を行なう駆動回路で、同時にコノパレータ
30に対してこの制御に同期して透光HB 2 + a
が透明状態のとき())レベルで透光部211〕力脅カ
明状態のとき(−)レベルにある・Qルスを出力する。
、29は除卑器27の出力からバイアス成分を除去する
フィルタ、30け1駆動回路28から出)JさJl、る
回期信号とフィルタ29を介して除A器27から出力さ
η−る1姿出信壊とを比較して11f−ンか後ビンかを
判別するコノパレータで必る。この判別の原理を簡単に
説、1!JJすtlば、第4図において)’t、 (+
’を置使出器23」−で揮の重心がト方if(ずれたと
きを除脚器27の出力の(+)イ則にとると、KA動回
路28からの出力信号(以下1−信号A」と呼ぶ。)と
除青器27からの出力幅け(以下1倍号HJと呼ぶ。)
とを比較したとき、信号Aの(→−)と信号I3の(+
)とが一致しでいる」場合には透光部21.Iが透明状
態になっていて1」つ像が光イ)装置検出装置上でに方
にずれていて、これは第1図(、)の像Q2の状態を示
しており、−また・IH号への(+)と信号13の(−
)とが一致している場合には即ち第11ン1(a)のQ
】の状態を示しており、コン・qレータ:30はどちら
の状態かを検出するように構成さねている1、31は合
焦全検出すると共に図示しない表示装置また6′:1、
結イS;レンズの駆動1「Jl路に信号を出力する制っ
11]回路であって、信号13の振幅の大きさによりピ
ノ]・のずf+の大きさを検知し、寸だコノパレータ3
0からの前ビンか後ピ”ンかの信号とにより、合焦状態
を判別し表示装置Itまたは駆動装置にZJ Lで必−
1技な信号を出力する。尚、合焦時には信号r3の振幅
iJ: (’)と々る。さらに、加力器26の出力から
人創光鼠が検知され得るのでこ1%を露出計に利用する
こともでき、例えば第5図に示さねているように加IR
詣20の出力を駆1fn1回路28にフィード・ぐツク
さ・IJ::て瞳分割器210透光部21,1,211
)の透+1間率を調整1−7で自動尤M調整が行なわれ
得る。或いは、瞳分割)(ト)21の透光部2]d及び
211〕を第6図に示したように例えば五つの電極2
] d’、 21 a”。
フィルタ、30け1駆動回路28から出)JさJl、る
回期信号とフィルタ29を介して除A器27から出力さ
η−る1姿出信壊とを比較して11f−ンか後ビンかを
判別するコノパレータで必る。この判別の原理を簡単に
説、1!JJすtlば、第4図において)’t、 (+
’を置使出器23」−で揮の重心がト方if(ずれたと
きを除脚器27の出力の(+)イ則にとると、KA動回
路28からの出力信号(以下1−信号A」と呼ぶ。)と
除青器27からの出力幅け(以下1倍号HJと呼ぶ。)
とを比較したとき、信号Aの(→−)と信号I3の(+
)とが一致しでいる」場合には透光部21.Iが透明状
態になっていて1」つ像が光イ)装置検出装置上でに方
にずれていて、これは第1図(、)の像Q2の状態を示
しており、−また・IH号への(+)と信号13の(−
)とが一致している場合には即ち第11ン1(a)のQ
】の状態を示しており、コン・qレータ:30はどちら
の状態かを検出するように構成さねている1、31は合
焦全検出すると共に図示しない表示装置また6′:1、
結イS;レンズの駆動1「Jl路に信号を出力する制っ
11]回路であって、信号13の振幅の大きさによりピ
ノ]・のずf+の大きさを検知し、寸だコノパレータ3
0からの前ビンか後ピ”ンかの信号とにより、合焦状態
を判別し表示装置Itまたは駆動装置にZJ Lで必−
1技な信号を出力する。尚、合焦時には信号r3の振幅
iJ: (’)と々る。さらに、加力器26の出力から
人創光鼠が検知され得るのでこ1%を露出計に利用する
こともでき、例えば第5図に示さねているように加IR
詣20の出力を駆1fn1回路28にフィード・ぐツク
さ・IJ::て瞳分割器210透光部21,1,211
)の透+1間率を調整1−7で自動尤M調整が行なわれ
得る。或いは、瞳分割)(ト)21の透光部2]d及び
211〕を第6図に示したように例えば五つの電極2
] d’、 21 a”。
21 、、rから構成することにより、透光部21aの
透明状態における開11面積を制御1〜で自動光計調・
修を行なうようにしてもよい。この場合、各開口状態に
おける開口の1k ノ+’、rが同一点に在るように構
成されてい乙と、像σ)ずね…とビン)・のずれ計の関
係が変わらないので好−+17い。
透明状態における開11面積を制御1〜で自動光計調・
修を行なうようにしてもよい。この場合、各開口状態に
おける開口の1k ノ+’、rが同一点に在るように構
成されてい乙と、像σ)ずね…とビン)・のずれ計の関
係が変わらないので好−+17い。
以トのように構成された実施例によれば、光位置検it
器を利用して光学機器の合焦状態を検出するようにした
から、簡単な構成により合焦状態即ち+S++ l−:
’ 7 +後ビン、付線のIJ11れであるか丑だピン
トのずれ(6)を検出することができるという効果があ
り、まだ二市像合致式距離剖にも利用することができる
。
器を利用して光学機器の合焦状態を検出するようにした
から、簡単な構成により合焦状態即ち+S++ l−:
’ 7 +後ビン、付線のIJ11れであるか丑だピン
トのずれ(6)を検出することができるという効果があ
り、まだ二市像合致式距離剖にも利用することができる
。
第7同校び第8図は二次元光位置検出器を使用1、て互
いに垂直な二方向で合焦r、恢出するように17だ他の
実か11例を示しており、第7図において、32 iJ
、第4図の瞳分割器21と同様の1厘分割;缶でl1l
18を次透明になるように制用1される透光部:32
r+。
いに垂直な二方向で合焦r、恢出するように17だ他の
実か11例を示しており、第7図において、32 iJ
、第4図の瞳分割器21と同様の1厘分割;缶でl1l
18を次透明になるように制用1される透光部:32
r+。
32 b 、 32 c 、 32 +Iを備えている
。3:3は第4図の結像レンズ22と同じ結像レンズ、
34f(1結像レンズ3;3の焦点1′)装置に配設さ
れ/こE−二次九九位置検出器で垂直tj向の検出を行
なう電(傘;35゜36と水平方向のjすX出を行なう
′電極37 、38 (1−備えている。第8図d、尤
fY′装置検出器;34からの出力信号を処理する電気
回路のブロック図であり第4図の構成要素と同しものに
は同一の符号をイ」シてその説明を省略すれば、二次元
光位置検出器34の′電極35及び36からの止面方向
に関する出力電流と電極37及び:38からの水S)i
方向に関する出力電流とは各々第4図に示された回路と
同様の回路によりそして共面の一つの、1駆動回路28
′及び開側1回路31′とにより処理されるようになっ
ており、駆動回路28′はl撞IT+割器32の透光部
32a及び32cの作動に同期した・Qルスと透光部3
2b及び32(1の作動に凹ル]した。oルスとを出力
(〜、割部1回路31′は圭直方同、水・上方向の谷々
について合焦を検出して図示しない表示装置または結1
寡レンズの駆動回路に過室な信号を出力するようになっ
ている。
。3:3は第4図の結像レンズ22と同じ結像レンズ、
34f(1結像レンズ3;3の焦点1′)装置に配設さ
れ/こE−二次九九位置検出器で垂直tj向の検出を行
なう電(傘;35゜36と水平方向のjすX出を行なう
′電極37 、38 (1−備えている。第8図d、尤
fY′装置検出器;34からの出力信号を処理する電気
回路のブロック図であり第4図の構成要素と同しものに
は同一の符号をイ」シてその説明を省略すれば、二次元
光位置検出器34の′電極35及び36からの止面方向
に関する出力電流と電極37及び:38からの水S)i
方向に関する出力電流とは各々第4図に示された回路と
同様の回路によりそして共面の一つの、1駆動回路28
′及び開側1回路31′とにより処理されるようになっ
ており、駆動回路28′はl撞IT+割器32の透光部
32a及び32cの作動に同期した・Qルスと透光部3
2b及び32(1の作動に凹ル]した。oルスとを出力
(〜、割部1回路31′は圭直方同、水・上方向の谷々
について合焦を検出して図示しない表示装置または結1
寡レンズの駆動回路に過室な信号を出力するようになっ
ている。
こび)第一、の実Mu例の作用は第4図の実施例の作1
1]を一次71−即ちjl’i)直ツノ向及び水土方向
に適用したものであるから、簡単な構成により合焦状態
即ちi)![ビン、俵【ビン、合焦の何れであるかまた
ピントのず)1計をニ次凡について検出することができ
る。
1]を一次71−即ちjl’i)直ツノ向及び水土方向
に適用したものであるから、簡単な構成により合焦状態
即ちi)![ビン、俵【ビン、合焦の何れであるかまた
ピントのず)1計をニ次凡について検出することができ
る。
従って、一方向に関して単調である物体の」烏合でも倹
111シ得なくなったり、検出しにくくなるようなこと
がない。
111シ得なくなったり、検出しにくくなるようなこと
がない。
1−述の如く本発明にJ: 7′lば、光fr7i#検
出器を利用することによりば焦、非合焦全判定するたけ
でなく前ピ゛ノ、後+2’ンとそのピントのずt’L−
Hjを検出−4ることかできる。、 ?I’E 1.)
−C(;(1来の散積〕(す固体撮(iξ素子の場合
と呉なって蓄積時間及び走査時間が必要−C’ iJ、
なく、連続的に合焦を検出することができる/ζめ、検
出時間か非常にハ1い。′81. fc 、 7JB心
位置の測定か式(8)から明1・)かなull<入射光
計に無関係であるから、1而の偏心等による瞳の光触分
イIJの不均一から生じる谷恢出隊の明るさの差は位置
検出精度に影響を及(分、さlい3、さらに−次)[、
の合((ミ4・4炙出し得るように構成すると、−次I
I:のJ場合に(ρ1検出不1月能であるか捷たC11
検出困)11Cである38っ在一方向に単調・生物体で
も合焦のづ芙出介・イ」々ご〕とノか10屯になる33
このJ場合、 −次冗毘11′l置検11旨咎苓・利
用すれは、−次几の」烏合の約−倍の購成安素による回
路で4莢出信列を処理できる。本発明(l」1ソ、十の
如き効果を有し−こおり、自動焦点装置(・(適用する
ことによりffFi l−で1ゴつ精度の高い自・+U
J魚点装置を14Iることかできる。
出器を利用することによりば焦、非合焦全判定するたけ
でなく前ピ゛ノ、後+2’ンとそのピントのずt’L−
Hjを検出−4ることかできる。、 ?I’E 1.)
−C(;(1来の散積〕(す固体撮(iξ素子の場合
と呉なって蓄積時間及び走査時間が必要−C’ iJ、
なく、連続的に合焦を検出することができる/ζめ、検
出時間か非常にハ1い。′81. fc 、 7JB心
位置の測定か式(8)から明1・)かなull<入射光
計に無関係であるから、1而の偏心等による瞳の光触分
イIJの不均一から生じる谷恢出隊の明るさの差は位置
検出精度に影響を及(分、さlい3、さらに−次)[、
の合((ミ4・4炙出し得るように構成すると、−次I
I:のJ場合に(ρ1検出不1月能であるか捷たC11
検出困)11Cである38っ在一方向に単調・生物体で
も合焦のづ芙出介・イ」々ご〕とノか10屯になる33
このJ場合、 −次冗毘11′l置検11旨咎苓・利
用すれは、−次几の」烏合の約−倍の購成安素による回
路で4莢出信列を処理できる。本発明(l」1ソ、十の
如き効果を有し−こおり、自動焦点装置(・(適用する
ことによりffFi l−で1ゴつ精度の高い自・+U
J魚点装置を14Iることかできる。
尚、瞳分訓器の透光に1汁」機械的に開閉するようにし
てもよく、斗だ1]1助ステージを有する5io微鏡の
如き丸字1浅;<蹄において自動焦点台・行ftう[烏
合には、制御回路により結像レンズで6−1、なくステ
ージを駆動調整することυ」、云つ」でもない。
てもよく、斗だ1]1助ステージを有する5io微鏡の
如き丸字1浅;<蹄において自動焦点台・行ftう[烏
合には、制御回路により結像レンズで6−1、なくステ
ージを駆動調整することυ」、云つ」でもない。
第1図(+xJ本発明の合1.((検出の原理4丁半オ
、悦明トン1、第2Iネ1(61本発明−〇使用する尤
1貸−16(更出器の一1夕11企小す概1烙i悟而路
11rA):つ1ンj(I土−蓋ir’t−1自険出器
にべ痢する像の5Y; tjf分布の一1クリを/「ず
1凶、第一11ンitrす]\発明(〆Cよる一次l[
二合用検出装置の光学系を7トす胴祝図、第5図は第1
1図のa焦1す1出装置のブロック図、第(j図&:I
: IIψ分割器のC力尤部の他の形態を示すiF向図
、第7図は本発明による二次i[=合焦検出装置の光学
系を)卜す胴視図、第8図は第7図の合焦検出装置のブ
ロック図である。 1 、 2 2 、 3 :4 腫、1
優; し / ズ、 2 ・・ 遮 光、板、 3
・作曲、1(31臀、11(抗81基板、I I −T
)型抵抗層、12− II″層、1;3 共11fj
13; 極、l 4 、 ] 5−’F5極、2 +
、 32 瞳分割器、2:う、34 光位置検出k、
24 、2 d’・アンプ、25 11K、26加轡器
、27 除碧器、28.28’−駆動回路、25)
ノイルタ、30 コ/ノ々レータ、31・・匍11卸1
110各。
、悦明トン1、第2Iネ1(61本発明−〇使用する尤
1貸−16(更出器の一1夕11企小す概1烙i悟而路
11rA):つ1ンj(I土−蓋ir’t−1自険出器
にべ痢する像の5Y; tjf分布の一1クリを/「ず
1凶、第一11ンitrす]\発明(〆Cよる一次l[
二合用検出装置の光学系を7トす胴祝図、第5図は第1
1図のa焦1す1出装置のブロック図、第(j図&:I
: IIψ分割器のC力尤部の他の形態を示すiF向図
、第7図は本発明による二次i[=合焦検出装置の光学
系を)卜す胴視図、第8図は第7図の合焦検出装置のブ
ロック図である。 1 、 2 2 、 3 :4 腫、1
優; し / ズ、 2 ・・ 遮 光、板、 3
・作曲、1(31臀、11(抗81基板、I I −T
)型抵抗層、12− II″層、1;3 共11fj
13; 極、l 4 、 ] 5−’F5極、2 +
、 32 瞳分割器、2:う、34 光位置検出k、
24 、2 d’・アンプ、25 11K、26加轡器
、27 除碧器、28.28’−駆動回路、25)
ノイルタ、30 コ/ノ々レータ、31・・匍11卸1
110各。
Claims (1)
- 結像光学系の互いに異なる径路ケ通る光束、・Cより夫
々形成される物体像を正規の結像面に配設された電電変
換要素で受けて該物体像の相可的位置関j系により合焦
を恢出するようにした合焦検出装置において、光電変換
要素として光位置検出器を使用することばよりピントの
すれvy5回及び大きさを検出し得るようにしたこと全
特徴とする装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57077719A JPS58194008A (ja) | 1982-05-10 | 1982-05-10 | 合焦検出装置 |
US06/460,410 US4543476A (en) | 1982-05-10 | 1983-01-24 | Focus detector |
DE3317090A DE3317090C2 (de) | 1982-05-10 | 1983-05-10 | Fokussierfeststellvorrichtung für ein optisches Abbildungssystem |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57077719A JPS58194008A (ja) | 1982-05-10 | 1982-05-10 | 合焦検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58194008A true JPS58194008A (ja) | 1983-11-11 |
Family
ID=13641691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57077719A Pending JPS58194008A (ja) | 1982-05-10 | 1982-05-10 | 合焦検出装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4543476A (ja) |
JP (1) | JPS58194008A (ja) |
DE (1) | DE3317090C2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02118505A (ja) * | 1988-10-27 | 1990-05-02 | Canon Inc | カメラのためのオートフォーカス装置 |
US5113063A (en) * | 1989-10-26 | 1992-05-12 | Rikagaku Kenkyusho | Method of monitoring focusing condition using rate of change signal at a border in a semiconductor image position sensitive device |
WO2023223660A1 (ja) * | 2022-05-18 | 2023-11-23 | 株式会社ジャパンディスプレイ | カメラモジュール |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3406578C2 (de) * | 1983-02-24 | 1985-09-05 | Olympus Optical Co., Ltd., Tokio/Tokyo | Automatische Brennpunktermittlungsvorrichtung |
JPS6042725A (ja) * | 1983-08-18 | 1985-03-07 | Olympus Optical Co Ltd | 焦点検出装置 |
US5523553A (en) * | 1983-10-19 | 1996-06-04 | Nikon Corporation | Camera with focus detecting device for removing vignetting effects |
JPS6232410A (ja) * | 1985-08-05 | 1987-02-12 | Minolta Camera Co Ltd | 焦点検出装置 |
DE3645349C2 (de) * | 1985-10-22 | 2000-05-31 | Canon Kk | Fokussierzustandserfassungsvorrichtung für Objektivlinsen |
GB2183419B (en) * | 1985-10-22 | 1990-08-29 | Canon Kk | Focusing state detection apparatus for objective lens |
US4855777A (en) * | 1987-03-02 | 1989-08-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus for detecting the focus adjusted state of an objective lens |
JPH02164335A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-06-25 | Konan Camera Kenkyusho:Kk | 眼球運動解析装置 |
JPH03289293A (ja) * | 1990-04-04 | 1991-12-19 | Mitsubishi Electric Corp | 撮像装置 |
US5210565A (en) * | 1991-06-21 | 1993-05-11 | Eastman Kodak Company | Oscillating pupil autofocus method and apparatus |
US6473126B1 (en) * | 1996-12-09 | 2002-10-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Focusing information detecting device, focus detecting device and camera utilizing the same |
US6496225B1 (en) | 1996-12-17 | 2002-12-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Auto focusing device and a focus detecting device for determining the phase difference between image signals |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1180155A (en) * | 1967-07-18 | 1970-02-04 | Ricoh Kk | Improvements in and Relating to Cameras |
DE2156462C3 (de) * | 1971-11-13 | 1980-03-13 | Agfa-Gevaert Ag, 5090 Leverkusen | Kinematografische Kamera |
US3765765A (en) * | 1971-12-27 | 1973-10-16 | Us Navy | Optical ranging device |
US3904870A (en) * | 1973-10-09 | 1975-09-09 | Honeywell Inc | Focus detecting apparatus |
DE2447398A1 (de) * | 1973-10-09 | 1975-04-17 | Honeywell Inc | Automatische fokussiereinrichtung |
US4005443A (en) * | 1975-09-11 | 1977-01-25 | Fritz Albrecht | Scanning device and method for automatic focusing |
US4201456A (en) * | 1976-04-22 | 1980-05-06 | Wolbarsht Myron L | Method and apparatus for detecting the focusing condition of an optical system |
JPS577508A (en) * | 1980-06-16 | 1982-01-14 | Seiko Koki Kk | Distance detector |
-
1982
- 1982-05-10 JP JP57077719A patent/JPS58194008A/ja active Pending
-
1983
- 1983-01-24 US US06/460,410 patent/US4543476A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-05-10 DE DE3317090A patent/DE3317090C2/de not_active Expired
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02118505A (ja) * | 1988-10-27 | 1990-05-02 | Canon Inc | カメラのためのオートフォーカス装置 |
US5113063A (en) * | 1989-10-26 | 1992-05-12 | Rikagaku Kenkyusho | Method of monitoring focusing condition using rate of change signal at a border in a semiconductor image position sensitive device |
WO2023223660A1 (ja) * | 2022-05-18 | 2023-11-23 | 株式会社ジャパンディスプレイ | カメラモジュール |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3317090C2 (de) | 1986-09-25 |
US4543476A (en) | 1985-09-24 |
DE3317090A1 (de) | 1983-11-10 |
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