JPS6232410A - 焦点検出装置 - Google Patents

焦点検出装置

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JPS6232410A
JPS6232410A JP60172889A JP17288985A JPS6232410A JP S6232410 A JPS6232410 A JP S6232410A JP 60172889 A JP60172889 A JP 60172889A JP 17288985 A JP17288985 A JP 17288985A JP S6232410 A JPS6232410 A JP S6232410A
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contrast
optical
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JP60172889A
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Inventor
Tokuji Ishida
石田 徳治
Masataka Hamada
正隆 浜田
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、対物レンズによる物体像を対物レンズの光
軸に関して対象に配置された第1・第2の結像レンズに
より第1・第2の光像検出手段」二に第1・第2の光像
として再形成し、その第1・第2の光像検出手段により
検出される第1・第2の光像の照度分布から画像の像間
隔を求め、さらに求められたその像間隔から物体に対す
る対物レンズの焦点調節状態、特に対物レンズによる物
体像の予定結像面からのズレ量(デフォーカス量)を検
出する焦点検出装置に関する。
従来の技術 この種の焦点検出装置においては、対物レンズの射出瞳
及び第1・第2の結像レンズを通過する光束により第1
・第2の光像を形成するため、第1・第2の結像レンズ
の有口径が対物レンズの射出瞳内に投影されるように対
物レンズの予定結像面の近傍で第1・第2の結像レンズ
の前方にコンデンサーレンズを配置するのが普通である
。第1図及び第2図は、コンデンサーレンズ(6)を用
いた従来のこの種の焦点検出装置の光学系及びそれによ
る像形成の様子を示したもので、この光学系は対物レン
ズ(2)の後方の予定焦点面(4)あるいはこの面から
さらに後方の位置に球面レンズから成るコンデンサーレ
ンズ(6)を有し、さらにその後方に結像レンズf81
.(1o)を有し、各結像レンズの結像面には例えばC
CDを受光素子として有するラインセンサー(12)、
(14)を配しである。各ラインセンサー(12)、(
14)上にはそれぞれ物体の第1・第2の像が形成され
るが、それらの像は、第2図に示すように、ピントを合
わすべき物体の像が予定焦点面より前方に結像する、い
わゆる前ピンの場合、光軸(18)に近くなり互に近づ
き、反対に後ピンの場合、夫々光軸(18)から遠くな
る。ピントが合った場合、第1・第2の像の互いに対応
し合う二点の間の間隔は、光学系の構成によって規定さ
れる特定の距離となる。したがって、原理的には第1・
第2の像間隔を検出すればピント状態が分かることにな
る。
発明が解決しようとする問題点 ところが、ここで注目すべきことは、第1・第2の結像
レンズ(8)(10)の光軸がコンデンサーレンズ(6
)の光軸、つまり焦点検出光学系の主光軸である対物レ
ンズに)の光軸(18)からずれているために発生する
波面収差、特に歪曲収差が第1・第2の像の対応部分毎
に光軸(18)に対称な異なる影響を与えることであり
、このために第1・第2の像の像間隔を正確に検出する
ことが困難になる。
これを第3図(a) (bl (C)を参照して詳しく
説明すると、第3図(a)は予定結像面(4)上におい
て主光軸(18)の位置に一本の暗いスリット像か形成
された場合におけるラインセンサー(12)(14)上
での第1・第2の像の照度分布を示している。これに対
し第3図fbl (C)は、それぞれ一本の暗いスリッ
ト像が予定結像面(4)上において光軸(18)から距
離△lだけ上側及び下側にずれて形成された場合におけ
るラインセンサー(12)(14)上での第1・第2の
像の照度分布を示している。これらの場合、第1・第2
の像の像間隔は、本来11=12h=l!3となるべき
であるが、第1・第2の結像レンズf81(10)の光
軸とコンデンサーレンズ(6)の光軸のずれにより発生
する波面収差、特に歪曲収差の上述した影響により11
〉12=13となり、6gが大きくなると第・1図に実
線Aで示したようにそれだけ12,13は小さくなる。
すなわち、暗いスリット像か同じ(予定結像面(4)上
に形成される場合であっても、それが主光軸(18)か
ら離れた位置に形成される程第1・第2の像の像間隔は
狭(なる。このことは、実際の物体像の焦点検出を行な
う場合、対物レンズの焦点調節状態か同じでも第1・第
2の像の対応部分毎に像間隔が異なる可能性があること
を意味し、したがって、像間隔演算の基礎となる第1・
第2の像の主要部の位置によって焦点検出結果に差が生
じることになる。
特開昭60−32012号公報には、波面収差、特に歪
曲収差が与える上述した影響をコンデンサーレンズを非
球面化することで第4図に破線Bで示す如(光学的に抑
制しようとした発明が提案されているか、金型の製作等
で非球面レンズの製作にはコストがかかるばかりか、そ
の抑制効果を上けるには複雑な非球面レンズの設計を必
要とし、安価な焦点検出装置を提供できない欠点があっ
た。
このため、この発明は上記の問題を電気的な演算を用い
るより安価な方法で解決する焦点検出装置を提供するこ
とを目的としている。
この発明は、対物レンズの予定結像面近傍に配設された
コンデンサーレンズと、コンデンサーレンズの背後に対
物レンズの光軸に関して対称に配設され、コンデンサー
レンズを介して対物レンズによる物体像を再結像させる
ことにより物体の第1・第2の光像を形成する第1・第
2の結像レンズと、その第1・坩第2の光像を検出して
それらの照度分布に対応した出力を発生する第1・第2
の光像検出手段と、第1・第2の光像の照度分布に対応
する第1・第2の光像検出手段の出力に応じて第1・第
2の光像の像間隔を演算する第1の演算手段と、この第
1の演算手段により求められた像間隔に応じて対物レン
ズによる物体像の予定結像面に対するずれ量を演算する
第2の演算手段とを備えた焦点検出装置において、第1
.又は第2の光像の照度分布に対応する第1+又は第2
の光像検出手段の出力にもとずいて第1又は第2の光像
の主要部の位置を判別する判別手段と、この判別手段に
より第1.又は第2の光像の主要部がその光像の中心部
から外れた位置にあることか判別されたときに第1.又
は第2の演算手段による演算結果を補正する補正手段と
を設けることによって、上記目的を達成している。
発明の作用 第1・第2の光像における主要部がそれぞれの光像の中
心部から外れた位置にある場合、コンデンサーレンズに
より発生する波面収差の影響をその主要部が大きく受け
ている。したがって、その主要部にもとづいて第1・第
2の像の像間隔を第1の演算手段で演算し、さらにその
演算結果にもとづいて対物レンズによる物体像の予定結
像面からのずれ量を第2の演算手段で演算しても、正し
い焦点検出ができない。しかし、この発明では、そのよ
うな場合を判別手段が第1.又は第2の光像の照度分布
に対応する第1.又は第2の光像検出手段の出力にもと
ついて判別し、それによって第1.又は第2の演算手段
の演算結果を補正手段が補正する。したがって、そのよ
うな場合であっても正しく焦点検出を行なうことができ
る。
実施例 次にこの発明の詳細な説明するが、以下の実施例におい
ては第1図に示した従来の光学系が焦点検出光学系とし
て用いられているものとする。
但し、ラインセンサー(12)(14)は第5図に示し
たような同一の半導体チップ」二に形成された1つのラ
インセンサー(15)の異なる2つの領域でそれぞれ構
成される。第5図において、(Xiは対物レンズ(2)
の光軸(18)の通る位置を示す。(11)〜(dz3
)はラインセンサー(12)に対応する基準部fLl内
の画素を示し、(61) 〜(It)、(lx −/2
3)、(dt7−J23)はそれぞれ基準部fI−1内
における第1.第2.第3ブロツクfl l fn) 
(nilを構成する。ここで第1.第3ブロツク1ll
(IIIIはそれぞれ7個の画素を有し、第2ブロツク
(Illは基準部fL)の全数23個の画素を有する。
一方、(rQ 〜(r:n)はラインセンサー(14)
に対応する参照部(8)内の画素を示す。参照部区)内
の画素数は31であり、基準部+LJ内の画素数よりも
8個多い。基準部fL)の上方にはそれに接近して後述
の図示しないモニター用受光素子が配設されている。
なお、第5図において、最も光軸通過位置(x)から離
れた位置にある基準部fL)の画素(61>と最も光軸
通過位置[X)に近い位置にある参照部(R)の画素(
rl)との距離をLlとする。又、対物レンズ(2)か
物体に対して合焦状態にあるとき、すなわち対物レンズ
(2)による物体像か予定結像面(4)上に結像すると
きは、基準部+L+の第2ブロツクfIIl上の像と等
しい照度分布をもつ像が参照部(R1内の画素(r5)
〜(r27)に形成されるように光学系が設計されてい
る。この画素(r5)〜(r27)を参照部(R)にお
ける合焦ブロックtF)とし、基準部(Llの第2ブロ
ツク(Il+の中央にある画素(d+2)と参照部(R
)の合焦ブロック(Flの中央にある画素(rrs)と
の距離、すなわち合焦時における像間隔をL2とする。
第6図は第5図のラインセンサー(15)としてCCD
 (charge coupled device)を
用いた場合における焦点検出装置及びそれを用いた自動
焦点調節装置の回路図を示している。
(20)は上述のラインセンサー(15)、モニター用
受光素子を含む光電変挽回路で、シフトパルス(Sll
)、転送りロック(ダ1)(ダ2)、クリアパルス(I
CGS)か入力され、時系列化された画素信号(O5)
、モニター出力(AGCO5)、参照電圧出力(DOS
)を出力する。ここでクリアパルス(ICGS)はライ
ンセンサー(15)における各画素を初期状態に設定す
るためのパルスで、これによりラインセンサー(15)
における各画素は蓄積電荷を排出して、新たに光積分、
すなわち電荷蓄積を開始する。又、このパルスによって
、モニター用受光素子の出力の積分が光電変挽回路(2
0)内で開始され、モニター出力(AGCO5)が時間
の経過と共に物体の明るさに応じた速度で参照電圧出力
(DOS)に対し変化する。シフトパルス(SH)はラ
インセ:/4−(15)の画素部からシフトレジスタ一
部へ蓄積電荷をシフトさせるパルスであり、これが入力
されると画素部での光積分が終了する。転送りロック(
Of ) (02>はシフトレジスタ一部にシフトした
蓄積電荷を順次時系列的にそのシフトレジスタ一部から
出力させるための互に位相の1800ずれたパルスであ
り、これにより出力された蓄積電荷は光電変挽回路(2
0)内で各々負の電圧信号に変換され、画素信号(O5
)として出力される。
(22)は各画素信号(OS)から参照電圧出力(DO
S)を減算し、正の電圧信号としての画素信号(DOS
)を出力する減算回路、(24)は減算回路(22)か
ら出力される画素信号(DO5’)  のうち遮光され
た数画素(例えば第3図において(11)よりもさらに
左の数画素)に対応する画素信号をピークホールドし、
それらの画素信号の最大値に相当する電圧(vp )を
出力するピークホールド回路、(26)は減算回路(2
2)からの画素信号(DO5’)からピークホールド回
路(24)の出力電圧(vp )を減算して増幅する利
得可変の増幅器であり、この増刷回路での減算によって
各画素信号(DO5’)に含まれる暗電流成分が除去さ
れる。(28)はこの増幅回路(26)からの増幅され
た画素出力(DO5//)を所定ビットのディジタル値
に変換するA/D変換回路で、その出力はマイクロコン
ピュータ(30)(以下マイコンと云う)に取込まれる
。(32)は利得制御回路で、モニター出力(AGCO
5)の参照出力(DOS)に対する変化量を検出し、モ
ニター出力の変化開始から所定時間内にその変化量が所
定の閾値に達を示す信号(TINT)を出力し、かつ増
幅器(28)の利得を’Xi“に設定する利得信号を出
力する。
又、モニター出力(AGCO5)の出力開始から所定時
間が経過すると、マイコン(3o)から出力される強制
シフト信号(S)(M)か利得制御回路(32)に出力
されるが、この場合利得制御回路(32)は信号(SH
M)入力時点でのモニター出力(AGCO5)の参照電
圧出力(DOS)に対する変化量に応じて、増幅器(2
6)の利得を′Xl“11 X 2“、“X4”又はゝ
ゝX8“に設定する利得信号を出力する。この場合、そ
の変化量が小さい程設定される利得は大きくなる。
(AN)(OR)はそれぞれアンド回路、オア回路であ
り、アンド回路(AN)には利得制御回路(32)から
の上述の信号(TINT)及びマイコン(3o)からの
信号(SHEN)が入力され、オア回路(OR)にはア
ンド回路(AN)の出力信号とマイコン(3o)からの
上述信号(SHM)か入力される。ここでマイコン(3
0)からの信号(SHEN)はシフトパルス発生回路(
34)によるシフトパルス発生を許可するだめの信号で
、シフトパルス(Sl()の発生を禁止すべき間(例え
ば、光電変挽回路(20)からマイコン(30)へのデ
ータダンプ中及びマイコン(30)でのデータ演算中)
は“Low〃となるが、その後月且gh/zとなって、
アンド回路(AN)を開く。
したがって、この信号(SHEN)か* Hi g h
//のときに信号(TINT)か発生すると、アンド回
路(ぬは(X)(i g h〃倍信号TINT)を出力
する。オア回路(OR)はこの信号(TINT)又は信
号(SHM)をシフトパルス発生回路(34)に出力し
、それに応答してシフトパルス発生回路(34)がシフ
トパルス(S H)を発生ずる。(36)はマイコン(
30)からのクロックパルス(CL)を受けて転送りロ
ック(Of)(り2)を発生する転送りロック発生回路
であり、オア回路(OR)から信号(TINT)又は(
S)1M)を発生し始める((si−i)と(グ1 )
 (02)の同期をとるため)。マイコン(30)から
出力される信号(S H)はピークホールド回路(24
)が取込む画素信号(I)O5’)を指定するためのサ
ンプルホールド信号である。
マイコン(30)は表示回路(38)及びレンズ駆動装
置(40)に回路接続されており、後述の如く演算によ
り求めた対物レンズ(2)の焦点調節状態を表示回路(
38)に表示させる一方、それにもとづいてレンズ駆動
装置(40)に撮影レンズ駆動を行なわせる。なお、マ
イコンで演算により求められる対物レンズ(2)の焦点
調節状態は、この実施例の場合デフォーカスlとデフォ
ーカス方向で表わされ、このためレンズ駆動装置t (
40)による対物レンズ(2)の駆動量及び駆動方向が
決められる。レンズ駆動装置(40)はその駆動量及び
駆動方向にしたかって対物レンズ(2)を駆動する一方
、マイコン(30)へ実行されたレンズ駆動量を示す信
号を出力し、マイコン(30)はその実行されたレンズ
駆動量が演算により求めた駆動量に到達すると、レンズ
駆動を停止させる信号をレンズ駆動装置へ出なお、第6
図において4はマイコン(30)にずれ量検出及びそれ
にもとづく自動焦点調節を開始させるスタート信号を入
力するためのスタートスイッチである。
次に、第7図乃至第9図を参照してマイコン(30)の
動作を説明する。まず、図示しないカメラの電源スィッ
チがオンされると第7図のフローがスタートし、#1の
ステップでスタートスイッチ(AFSW)かオンされて
いるかどうかを判別する。
ここで、スタートスイッチ(AFSW)がオンされてい
ると判断すると、マイコン(30)はクリアパルス(I
CG)を出力して、#2のステップでラインセンサー(
15)の各画素を初期状態に設定した後、各画素に光積
分を開始させる。又、このとき上述したように光電変換
回路(20)内のモニター回路もモニター用受光素子の
出力を積分開始し、モニター出力(AGCOS)が変化
し始める。次に、利得制御回路(32)か信号(TIN
T)  を出力すると、これにもとづきシフトパルス発
生回路(34)がシフトパルス(SH)を発生する結果
、#2のステップでの光積分か終了し、光電変換回路(
2o)から画素信号(O5)か時系列的に出力され、マ
イコン(30)はA/D変換回路(28)からのディジ
タル化された画素信号(DO5つを#3のステップで取
込む(データダンプ)。又、被写体が暗いために、信号
(TINT)が発生しないまま光積分開始から所定時間
が経過すると、マイコン(30)が信号(SI(M)を
出力し、これにより上記と同様シフトパルス発生回路(
34)がシフトパルス(SH)を発生する結果、#2の
ステップでの光積分が終了し、光電変換回路(20)か
ら画素信号(O5)か時系列的に出力され、マイコン(
30)はA/D変換回路(28)からのディジタル化さ
れた画素信号(DO5りを取込む。
その後マイコン(30)は#4のステップで後述の焦点
検出演算(第8図)を行ない、続いて#5のステップで
後述の焦点検出不能判別(第8図)を行なう。そしてこ
こで焦点検出不能と判別すれは再び#2のステップに戻
って光積分を再び行なうが、ここで焦点検出可能と判別
すると、#6のステップで#4の演算結果にもとづいて
デフォーカスIDFの演算を行ない、#7のステップで
はDFか所定の幅内にあるかどうかを判別する。ここで
DFか所定の幅内にあることを判別すると、マイコン(
30)はI9のステップで表示装置(38)に合焦表示
を行なわせる。一方、DFか所定の幅から外れているこ
とを判別すると、I8のステップでレンズ駆動装置(4
0)に対物レンズ(2)の駆動を行なわせ、再びI2の
ステップに戻って再び光積分を行なわせる。
第8図はI4.35 、I6のステップの詳細を示して
いる。マイコン(30)はI3のステップでのディジタ
ル化された画素信号(DO5“)の取込みか終了して#
・1のステップに入ると、I10 、I11 。
I12のステップでラインセンサーの基準部L)の第1
・第2・第3各ブロツク(1)(ml(IIII上の像
のコントにもとついて順次演算する。続いてI13のス
テップで計算式I(tj+−Σ1ffkrk+j−tl
にもトッキ、k=1 jを1から9までシフトさせて9通りの相関値H(1+
 、 I(f2+・・・H(81、8(91を順次演算
し、I14 のステップではそれらの相関値のうち最大
の相関度を示す最小の相関値H(jM)を求めると共に
、そのときのシフト位置jMを求める。但し、Ik、r
kはそれぞれ基準部(I4)参照部(R)のに番目の画
素に対応するディジタル化された画素出力(DO5//
)を便宜上表わすものとする。次のI15からI17の
ステップは、ラインセンサーの画素ピッチよりも高い精
度で最小相関値(最大相関度)及びそれを与えるシフト
位置(最大相関シフト位置)を求めるたする。jMの値
が1又は9のいずれでもないと判別すると、I16のス
テップで補間演算を行なう。この補間演算は、jMの両
隣りのシフト位置jM−i。
jM+1での相関値H(jM−1) 、 H(jM+1
 )を比較して、その比較結果に応じて次の2つの計算
式のいずれかを用いる。
H(jM−1)<H(、jM+1)のときここで、xM
は補間演算された最大相関シフト位置複 であり、I17のステップではこの位置での相関尋すな
わち補間演算による最小相関値(最大相関度)YMを次
の計算式によって求める。
YM=H(jM)−IH(jM+t)−H(jM−1)
1なお、I15のステップで jM=x又は9と判別し
たときは、H(jM−1)又はH(jM+l)が存在せ
ず、上述の補間演算かできない場合であるから、I18
のステップに進み、j M 、 H(j M )の値を
そのままXM、yMとしてそれぞれ設定する。
I19のステップは焦点検出不能かどうかを判別する第
7図のI5のステップの一例で、°この例の場合、補間
演算による最小相関値YMをラインセンサーの基準部(
I4)の第2ブロツクfIll上の像のコントラスト値
C2で正規化したY M / C2が所定値Aよりも大
きいかどうかを判別する。すなわち、YMの値は相関度
か高い程小さな値となり、これからさらにコントラスト
の影響を除去したものがYM/C2となるが、このY 
M/C2の値か所定値A以上であれば相関度が低く、信
頼性に欠ける。したがって、I19のステップでY M
/C2≧Aと判別したときは、焦点検出不能と判断し、
再びI2のステップに戻って次の光積分を行なわせる。
一方、YM/C2くAと判断したときは第7図のI6の
ステップに対応するI20からI24のステップでデフ
ォーカス量DFの演算を行ない、さらにI25のステッ
プでレンズ駆動装置(40)によって行なうレンズ駆動
の量をデフォーカスlDFから算出する。
I20からI24のステップについて説明すると、まず
I20のステップでは、ラインセンサーの基準部fLl
における第1・第2ブロツクfil(II)上の像のコ
ントラストC1,C2の比較を行ない、CI≧a、Cz
かどうかを判別する。ここでaは1以下の値をもつ所定
の定数であり、普通は0.6程度の値でよい。
すなわち、I20のステップでC1≧a、C2であると
判別したときは、第2ブロツクfIll上の像のコント
ラスト(換言すると基準部fLl上の像の全体的なコン
トラスト)に比べて第1ブロツクfIl上の像のコント
ラスト(換言すると基準部(Ll上の像の一方の周辺部
のコントラスト)が一定比率8以上高い場合であり、基
準部Li上の像の主要部が歪曲収差などの波面収差の影
響が大きい一方の周辺部に片寄っている場合である。こ
の場合は第3図(1)lに示したように暗いスリットの
像が基準部(月の一方の端近くに位置している場合と近
似的に同等と考えられる。したかって、続いて#16の
ステップで求めたxMに所定の補正値すを#21のステ
ップで加えて(XM+b)を新たにxMとして設定し、
#24のステップに進む。一方、#20のステップでC
1(a−C2であることを判別すると、次に#22のス
テップで63≧a−C2であるかどうかを判別する。
ここで、C3≧a−Czであることを判別した場合は、
第2ブロツクin+上の像のコントラストに比べて第3
ブロツク(Illl上の像のコントラスト(換言すると
基準部(L)」−の像の他方の周辺部のコントラスト)
か一定比率a以」二高い場合であり、基準部(L)上の
像の主要部が歪曲収差などの波面収差の影響が大きい他
方の周辺部に片寄っている場合である。この場合は第3
図(C)に示したように暗いスリットの像か基準部(L
)の他方の端近くに位置している場合と近似的に同等と
考えられる。したがって続いて#16のステップで求め
たxMに所定の補正値dを#23のステップで加えて(
XM+d)を新たにxMとして設定し、#24のステッ
プに進む。ここで、bとdは基準部における第1・第3
ブロツクfIl(Illlの画素数を等しく設定した場
合(第5図)には、b=dで互に等しい値であるが、第
1・第3ブロツクfll(fullの画素数が異なると
’b(dとなる。他方、#22のステップでC3くa−
02であると判別した場合は、基準部fLl上の像のコ
ントラストに片寄りがないことを示しているので、xM
の補正を行なわず、#24のステップに進む。#24の
ステップでは、計算式DF=(XM−5)Xαにもとづ
いてデフォーカス量DFを演算する。ここで、αは焦点
検出用光学系の諸元によって定まる定数である。なお、
XM=jM=5の場合が合焦状態であり、そのときの像
間隔は第3図のL2となる。この後#25のステップで
は対物レンズ(2)を合焦位置まで移動させるために必
要なレンズ駆動装置(40)の駆動量(例えはモータの
回転数)を対物レンズ固有の情報と#24のステップで
求めたデフォーカス量とから演算する。
以上において、基準部(L)上の像と参照部(8)上の
像の像間隔りは、7? = (XM 5)XP+L2(
Pはラインセンサーの画素ピッチ)で表わされるからx
Mの値は間接的に像間隔lを示している。第8図のデフ
ォーカス量算出フローでは、したがって像間隔eを基準
部FLl上の像の全体的なコントラストに対して周辺部
のコントラストか一定比率a以上高い場合に補正してい
ることになる。但し、次に説明する第9図のデフォーカ
ス量演算フローにおけると同様、この場合も予めデフォ
ーカス量DF−(XM−5)xαを求め、C1≧a−C
z、又はC34−C2であると判別したときに先に求め
たDFの値を補正するようにしてもよい。
第9図は第7図におけるデフォーカス量演算フローの第
2の具体例を示している。
第9図において、#26のステップは基準部fLl上の
像におけるコントラスト分布の重心位置Nを演算するス
テップで、マイコン(30)はこの演算を計算式 によって行なう。次に#27のステップでデフォーカス
量D F = (XM−5)Xαを求め、以下#28か
ら#31のステップで重心位置を判別して、その判別結
果に応じてデフォーカス量DFを補正する。
すなわち、コンデノサーレンズ(6)の歪曲収差などの
波面収差による像間隔の変動量f(N)は重心位置12
(基準部(Llにおける12番目の画素)を中心に対称
に分布するので、f (N)<、I N−121で表わ
すことができるため、lN−121に対応する像間隔の
の 変動1ftN)を予めマイコン(30)内4GROMに
格納しておき、これを重心位置の判別結果に応じて読み
出して補正値として用いる。
次の表1はその補正値の一例を示す。
表  1 この補正を行なうフローを説明すると、#28のステッ
プでIN、−121≦3であるかどうかを判別し、lN
−121≦3であることを判別すると、デフォーカス量
DFを補正せず、そのまま#36のステップに進んで、
対物レンズ(2)を合焦位置まで移動させるために必要
なレンズ駆動装置(40)の駆動量を対物レンズ固有の
情報と#27のステップで求めたデフォーカス量DFと
から演算する。#28のステップでlN−121>3で
あると判別すると、次に#29のステップでlN−12
1≦5であるかどうかを判別し、lN−121≦羊の場
合、#32のステップDFから20μmを引いて、(D
F−20)を新たにDFとして設定し、#36のステッ
プに進む。 一方、#29のステップでlN−121>
5であると判別すると、次に#30のステップでlN−
121≦7であるかどうかを判別し、lN−121≦7
の場合#33のステップでDFから40#mを引イテ、
(DF−40)を新たにDFとして設定し、#36のス
テップに進む。
同様に、#30のステップでlN−121)7であると
判別すると、#31のステップでlN−121≦9 で
あるかどうかを判別し、lN−121≦9の場合#3・
1のステップで(DF−60)を新たにDFとして設定
して#36のステップに進むか、lN−121>9の場
テ 合は#35のスキップで(DF−80)を新たにDFと
して設定して#36のステップに進む。
このように第9図のデフォーカス量算出フローでは、基
準部+Li上の像のコントラスト分布の重心位置を中心
重心位置の両側でそれぞれ5通りに区分し、それぞれの
区分に対応した補正値によりデフォーカスIDFを補正
しているが、この区分数は必要に応じて増減すればよ(
、区分数を多くし、それに応じた補正値を設定すれば、
デフォーカスfiDFをより正しく補正できる。
以上この発明の実施例を図面を参照して説明したが、こ
の発明が上述の実施例以外の態様でも実施できることは
もちろんである。
例えば、基準部(■、)上の像と相関を有する像が参照
部(R1上にも形成されるので、基準部(L)上の像の
代わりにその参照部(8)上の像について、周辺部での
コントラストと全体的なコントラストの比又はコントラ
スト分布の重心位置を求め、それからその像の重要部の
位置を判定するようにしてもよい。
又、第8図の#15から#17のステップでの補間演算
はデフォーカス量算出に要求される精度に応じて行えば
よ(、#14のステップで求めたjMをそのままデフォ
ーカス量算出に用いてもよい。さらに、上述の実施例で
はコンデンサーレンズ(6)が球面レンズであるとして
説明したが、それを非球面レンズで構成しても波面収差
が残り、それにより基準部、参照部上の2つの像がなお
かつ影響を受ける場合にもこの発明は適用できる。
なお、ラインセンサー上に形成される2つの像に影響を
与える波面収差としては特に歪曲収差以外にも、像面彎
曲、非点収差、コマ収差2球面収差がある。
発明の詳細 な説明した通り、この発明の焦点検出装置によれば、第
1又は第2の光像検出手段上に形成される第1又は第2
の光像の照度分布に対応する第1又は第2の光像検出手
段の出力にもとづいて第1又は第2の光像における主要
部の位置を判別し、その主要部の位置か第1又は第2の
光像における中心部から外れているときには第1・第2
の光像の像間隔又はそれにもとづいて求めたデフォーカ
ス量を補正するため、先に述べた波面収差の影響を受け
ず正しく焦点検出を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の焦点検出装置の光学系を示す図、第2図
は第1図の光学系による像形成を様子を示す図、第3図
(a) fb) (C)は第1図の予定結像面上に暗い
スリット像が結像している場合にそのスリット像の光軸
に対する位置の違いに応じてラインセンサー(12X1
4)上に形成される2つの光像の位置か変化する様子を
示す図、第4図はラインセンサー(12)上におけるス
リット像の位置とラインセンサー(12)(14)上の
2つのスリット像の像間隔の変化を示す図、第5図はこ
の発明の一実施例の焦点検出装置に用いたラインセンサ
ーの平面図、第6図はその焦点検出装置の回路図、第7
図乃至第9図は第5図の回路におけるマイコン(3o)
の動作例を示すフローチャートである。 (2)・・・対物レンズ、(4)・・・予定結像面、(
6)・・・コンデンサーレンズ、(81(10)・・・
第1・第2の光像検出手段、(12)fl−)・・・第
1の光像検出手段、(14)(R1・・・第2の光像検
出手段、(3o)・・・マイコン。 出願人  ミノルタカメラ株式会社 第1図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、対物レンズの予定結像面近傍に配設されたコンデン
    サーレンズと、コンデンサーレンズの背後に対物レンズ
    の光軸に関して対称に配設され、コンデンサーレンズを
    介して、対物レンズの焦点調節状態に応じて像間隔が変
    化する物体の第1・第2の光像を形成する第1・第2の
    結像レンズと、その第1・第2の光像を検出してそれら
    の照度分布に対応した出力を発生する第1・第2の光像
    検出手段と、第1・第2の光像の照度分布に対応する第
    1・第2の光像検出手段の出力に応じて第1・第2の光
    像の像間隔を演算する第1の演算手段と、この第1の演
    算手段により求められた像間隔に応じて対物レンズによ
    る物体像の予定結像面に対するずれ量を演算する第2の
    演算手段とを備えた焦点検出装置において、第1又は第
    2の光像の照度分布に対応した第1又は第2の光像検出
    手段の出力にもとづいて第1又は第2の光像の主要部の
    位置を判別する判別手段と、この判別手段により第1又
    は第2の光像の主要部がその光像の中心部から外れた位
    置にあることが判別されたときに第1又は第2の演算手
    段による演算結果を補正する補正手段とを備えたことを
    特徴とする焦点検出装置。 2、判別手段が、第1又は第2の光像の照度分布に対応
    した第1又は第2の光像検出手段の出力にもとづいて第
    1又は第2の光像の周辺部におけるコントラストと全体
    的なコントラストとを求めるコントラスト検出手段と、
    このコントラスト検出手段により求められた第1又は第
    2の光像の周辺部におけるコントラストがその光像の全
    体的なコントラストに対して所定比率以上高いかどうか
    を判別して、第1又は第2の光像の主要部の位置を判別
    するコントラスト比判別手段とを備えたことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の焦点検出装置。 3、判別手段が、第1又は第2の光像の照度分布に対応
    した第1又は第2の光像検出手段の出力にもとづいて第
    1又は第2の光像の全体的なコントラストを求めるコン
    トラスト検出手段と、このコントラスト検出手段により
    求められたコントラスト分布の重心位置を検出する重心
    位置検出手段と、この重心位置検出手段により求められ
    た重心位置が第1又は第2の光像に占める位置を判別し
    て、その光像の主要部の位置を判別する重心位置判別手
    段とを備えたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の焦点検出装置。
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