JPS58189505A - 塗膜厚測定装置 - Google Patents

塗膜厚測定装置

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Publication number
JPS58189505A
JPS58189505A JP7115282A JP7115282A JPS58189505A JP S58189505 A JPS58189505 A JP S58189505A JP 7115282 A JP7115282 A JP 7115282A JP 7115282 A JP7115282 A JP 7115282A JP S58189505 A JPS58189505 A JP S58189505A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thickness
strip
detection head
coat
paint
Prior art date
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Pending
Application number
JP7115282A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadahiro Honda
本田 忠宏
Masaaki Nakajima
正明 中島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP7115282A priority Critical patent/JPS58189505A/ja
Publication of JPS58189505A publication Critical patent/JPS58189505A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/08Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、金属板に塗料を塗るツイン(以下、塗装ライ
ンま友はカラー2インという。)に設−されるに好適な
塗膜厚測定装置に関する。
圧延され九金属板にカラー塗料を塗布しカラー金属板を
生産する塗装ラインにおいては、カラー金属板のカラー
塗料の塗膜厚をその長さ方向、一方向について均一なも
のにする仁とが品質向上シために不BJ欠である。その
ため、このようなラインにおいては、塗膜厚會一定にす
るための撞々のくふうがなされているが、この塗膜厚を
測ボする菌膜厚測定装置に良いものがないため、いまだ
に自動塗膜厚制御は実現されていないのが爽秋である。
そのため、精度の良い塗膜厚測定装置の開発[が望まれ
ている。
従来、この檜の用途に使用する迩M&厚測定装置l  
 として、塗誠金行なうj1!装部の前後に厚み検出器
E   (例えばX−ゲージメータ)を設直し、塗装後
の【   厚みを測ゼする厚み検出器の出力信号から迩
装前の厚み金測定する厚み検出器の出力11!r号を差
引き、その差引いた残υの信号を塗膜厚に対応する信号
として検出するものが知られている。
t    しかしながら、この装置は、2つの厚み検出
器が繍装部の前と後に−れて設置itされるので、材料
の同一点についての厚み1百号を比較することができず
、その結果検出堰れた塗膜厚が必ずしも正確1   と
rt言えない。なお、2つの厚今検出器において、) 
  材料の検出点き一致させることは、その材料の各検
出点の位置をトラッキングして、その位置が塗装部の後
に設置された厚み検出器に到達し九タイミングで、その
位置について塗装前に検出し皮厚み信号と比較すれば可
能ではめるが、実際上Fi離しい。
本発明の目的は、簡単で正確にm膜厚を測定することの
できる塗膜厚測定装置を提供することである。
以下、本発明を図面を用いて説明する。
I@1図は、本発明の一実施例を示す図面である。
この図において、1は塗装される材料であるストリップ
、2と3はバックアップロール、4は塗料槽、she料
槽4から塗料を捕捉するためのピックアップロール、6
は圧延材に塗料を塗布するアプリケータロールでろる。
7はストリップに塗装された塗料を示す。ストリップ1
は、バックアップロール2.3によシ塗装部に導ひかれ
る。塗装部では、塗料槽4から塗料がピックアップロー
ル5によってアプリケータロール6に供給される。
アプリケータロール6は、ストリップ1上に塗料(]l
−塗布する。塗料を塗布されたストリップはその後乾燥
部(図示せず)で乾燥され、製品となる。
80は、ストリップ1及び黴科7の厚みを検出する九め
の厚み検出ヘッドでるる。9oはストリップ1のみの厚
みを検出する厚み検出ヘッドである。
8.8′で構成さ扛る厚み検出ヘッド80についての詳
細は、後述する。9oの厚み検出ヘッドとしては、渦流
方式の厚み検出ヘッドや、Xl11i1方式の厚不検出
ヘッドが利用できる。9の厚み検出ヘッドについても、
その詳細は後述する。10.11は各々の厚み検出ヘッ
ドの出力信号を増幅するアンプでるり、出力として厚み
に比例した信号を出力する。12は、10と12の出力
を人力し、これらの差をとる減算器である。この出力が
塗膜厚に相当する信号となる。
第2図は、上記8.8′の厚み検出ヘッド8゜を説明す
るためのものである。aは、目的とするストリップl及
び塗料7のトータル厚みを示し、bはギャップ検出ヘッ
ド8から塗料7表面までの距離であり、Cはギャップ検
出ヘッド8′からストリップ1表面までの距離である。
bの測定は、例えば、光線を塗料7の表面に照射し、そ
の反射光を受信してそのレベルによシ距噛の大きさを測
定する。この他、超音波を発射し、その反射波が返って
くるまでの時間から距@bを測定する方法などが考えら
れる。Cの測定も同様に測定できる。
bの測定、Cの測定においては、材料の振動により各検
出ヘッドと材料嵌山との間のギャップ(距離)がfll
El]する。ギャップ検出ヘッド8.8’ 、!:上下
に設けている理由は曳このギャップ変動を補償して、正
確なトータル厚み−を測定するためでめる。検出ヘッド
8,8′間の距MlをDとすると、厚みaは次式で求め
られる。
1=D−(b+C)         ・・・・・・(
1)さて、材料が振動して、下方に+Cだけ変位し九場
合、bはb−)−gに変化する。このとき、Cはc −
gに変化する。しかし、(l)式よシ、a=D −(b
+g+c−a ) =D−(b+C)          ・・・・・・t
)となり、もし材料力)振動してもこの振動による影響
は補償される。
次に、ストリップ1の厚みのみを検出する手段90につ
いて説明する。
第3図は、ストリップの厚みを測定する手段90の具体
例を示し九図であるウストリップが上ドに振動する礪せ
、ストリップ、検出ヘッド間の距離e、fが変化するた
め、この例では厚み検出装置19.9’は、ストリップ
をはさむ形で設置される。厚み測定手段90としては、
第1図のようKX婦厚み#t19を設けても良い、要は
、塗膜厚tて影響されず、ストリップの厚さのみを検出
できるもので62tは良い。こ\では、渦電流ギヤツブ
センサ金柑いる例について説明する。渦電流ギャップ検
出ヘッド9.9′は、導電体のみに影響され、塗料等の
絶縁体には影響されないので、好都合である。精度良く
、ストリップの厚みを測定するためeCは、ストリップ
である鋼板の材質補正。
温度補正等が必賛でめる。しかし、材質は、clぼ一定
であるので前もって校正しておけば良い。鋼板の温度変
動による影響については、位相分離を行なうことによシ
その影響を少なくできる。位相分層法は、ギャップ変化
と、それ以外の要因を分@瑛出してギャップ変化分のみ
を抽出する手法であり、この方法自体は公知である。な
お、鋼板が高速に振動しても十分追従できる。渦電流方
式によれば、励損周波数は、20KHI〜IMIIと非
常に嵩いため、周波数特性はIKHXi![6る。
これに対し、鋼板の振動はいくら高速に振動しても10
010以下なので十分追従可能でめる。第4図(a)〜
(C)は、直接m膜厚さ測定する手段を示した図である
。第2図、第3図に示した方式の変形例であるが、塗膜
厚を、性質の異なる2樵類の測定手段を用いる趣旨は同
一である。jlilS)、塗膜面側に、l!!膜面まで
のギャップBを検出する検出ヘッド8、ストリップまで
のギヤツブ人を検出する検出ヘッド9を設け、この両者
の検出信号の差分を演算器15により算出し、塗膜厚−
i+’i求める方式である。この方式によれば、ストリ
ップ1と、検出ヘッド8.9間のギャップが変動しても
、塗膜厚のみの信号を得ることができる。但し検出感度
は、ギャップが大きくなる@度低下する。このため、第
4図(C)に示すように、ギャップ変化の範囲を抑える
ため、−11定部分の下側に支えロール16を設け、ギ
ャップを一定に保つ方式が良い。
この支えロール16は、その我面を非導電体で覆い、渦
WL流ギャップ検出ヘッド9には影響を与えないように
工夫される。
第5図をよ、本発明の使用例を示した図である。
王たる構成は、第1図と同一であるが、本発明の目的は
、1m膜厚み測定装置を発明し、塗膜厚みを一定に1t
IIJ−〇T能とすることである。塗膜厚検出信号は、
1膜厚制呻装@17に人力され、アプリケータロール6
の位置をコントロールすることにより塗膜厚の一定制御
が可能となる。
以上詳細に説明したように、本発明によれば、簡単で正
確に塗膜厚を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す図、第2図はギャップ
センサを用いて厚み検出を行なう様子を説明するための
図、#!3図はストリップの厚みを検出する様子を説明
するための図、s4図(Q〜(C)は本発明の他の実施
例を示す図、第5図は本発明の最適な利用形態を示す図
でめる。 1・・・ストリップ(鋼板)、2.3・・・バックアッ
プロール、4・・・塗料槽、5・・・ピックアップロー
ル、6・・・アプリケータロール、7・・・塗料、80
・・・厚み検出ヘッド(道展厚及びストリップ厚の検出
ヘッド)、90・・・ストリップ厚の検出ヘッド、10
゜11・・・アンプ、12・・・減算器、8.8’・・
・ギャップ検出ヘッド(但し塗装面までのギャップ)、
9゜9′・・・ギャップ検出ヘッド(但しストリップ1
iit第 l 目 0 承2 圀 第 3 口 ¥−4v <C) 第 S 目

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、 ス) IJツブに塗料t*布した金属材の塗料の
    塗膜厚を測定する装置において、該金属材のストリップ
    および塗膜厚1に測定する第1の厚み測定う段と、該ス
    ) IJタッグみの厚みt−測定する第2c厚み測定手
    段とを設けると共に、それらを近fik装置し、該2つ
    の検出手段の出力信号の差信号を澤算する手Rを設け、
    該演算手段の出力信号t−am厚に対応した信号とする
    ことを特徴とするmIIIm測定装置。
JP7115282A 1982-04-30 1982-04-30 塗膜厚測定装置 Pending JPS58189505A (ja)

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JP7115282A JPS58189505A (ja) 1982-04-30 1982-04-30 塗膜厚測定装置

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