JP3114559B2 - めっき付着量測定方法及び装置 - Google Patents
めっき付着量測定方法及び装置Info
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- JP3114559B2 JP3114559B2 JP07085510A JP8551095A JP3114559B2 JP 3114559 B2 JP3114559 B2 JP 3114559B2 JP 07085510 A JP07085510 A JP 07085510A JP 8551095 A JP8551095 A JP 8551095A JP 3114559 B2 JP3114559 B2 JP 3114559B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、溶融亜鉛めっき鋼板
のように連続的にめっきが施されるめっき板のめっき付
着量をめっき直後にオンラインで測定する技術に関す
る。
のように連続的にめっきが施されるめっき板のめっき付
着量をめっき直後にオンラインで測定する技術に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】連続めっきラインにおいてめっき直後に
その付着量の測定が行われると付着量の制御が容易とな
り、有効に品質を管理することができる。
その付着量の測定が行われると付着量の制御が容易とな
り、有効に品質を管理することができる。
【０００３】蛍光Ｘ線法は、非接触で連続的に測定が可
能なところから、連続めっきラインにおいてめっき付着
量の測定によく用いられている。蛍光Ｘ線法では、一次
Ｘ線をめっき板に照射し、発生する二次Ｘ線のうちめっ
き金属特有の波長を持つＸ線（蛍光Ｘ線）の強度を測定
し、これらの強度と付着量との関係を予め求めて置いた
検量線を用いて付着量を求める。
能なところから、連続めっきラインにおいてめっき付着
量の測定によく用いられている。蛍光Ｘ線法では、一次
Ｘ線をめっき板に照射し、発生する二次Ｘ線のうちめっ
き金属特有の波長を持つＸ線（蛍光Ｘ線）の強度を測定
し、これらの強度と付着量との関係を予め求めて置いた
検量線を用いて付着量を求める。
【０００４】検量線作成時は、付着量既知試料を測定ヘ
ッドの正面の適正位置に静止させて二次Ｘ線強度を測定
する。測定ヘッドとめっき板との距離や角度が変動する
と受光される蛍光Ｘ線強度も変わるので、実際の測定に
際しては、両者の位置関係が一定であることが前提とな
る。
ッドの正面の適正位置に静止させて二次Ｘ線強度を測定
する。測定ヘッドとめっき板との距離や角度が変動する
と受光される蛍光Ｘ線強度も変わるので、実際の測定に
際しては、両者の位置関係が一定であることが前提とな
る。
【０００５】このため、連続めっきラインの場合では、
めっき板がロールを通過するとき即ちロールに支えられ
ている位置で測定が行われる。
めっき板がロールを通過するとき即ちロールに支えられ
ている位置で測定が行われる。
【０００６】しかし、溶融めっきの場合、めっき直後に
付着量を測定しようとすると、めっき金属が未だ溶融状
態であり、めっき板をロールで支えることが出来ない。
このため、測定ヘッドとめっき板との位置関係を一定に
保つことが困難である。
付着量を測定しようとすると、めっき金属が未だ溶融状
態であり、めっき板をロールで支えることが出来ない。
このため、測定ヘッドとめっき板との位置関係を一定に
保つことが困難である。
【０００７】従来、測定ヘッドとめっき板との位置関係
について、その変動を考慮して付着量を求める方法が提
案されている。例えば、特開昭６０−１３３３０８号公
報には、複数のギャップセンサーを用いて測定ヘッドと
めっき鋼板との距離及び傾斜角度を測定し、これらの値
と蛍光Ｘ線強度とから付着量を求める方法が記載されて
いる。
について、その変動を考慮して付着量を求める方法が提
案されている。例えば、特開昭６０−１３３３０８号公
報には、複数のギャップセンサーを用いて測定ヘッドと
めっき鋼板との距離及び傾斜角度を測定し、これらの値
と蛍光Ｘ線強度とから付着量を求める方法が記載されて
いる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上記の方法では、蛍光
Ｘ線強度が測定された時と全く同じ時点の距離と傾斜角
度とが得られなければならないが、ギャップセンサーと
Ｘ線検出器との間には時定数の相違があり、同一時点で
の各々の測定値を得ることが困難であった。このため、
溶融めっき直後では高精度の付着量測定値が得られない
という問題があった。
Ｘ線強度が測定された時と全く同じ時点の距離と傾斜角
度とが得られなければならないが、ギャップセンサーと
Ｘ線検出器との間には時定数の相違があり、同一時点で
の各々の測定値を得ることが困難であった。このため、
溶融めっき直後では高精度の付着量測定値が得られない
という問題があった。
【０００９】この発明は、上記の問題を解決するために
行われたもので、めっき板と測定ヘッドとの位置関係が
変動しても、溶融めっき直後の付着量を高精度で測定で
きる技術の提供を目的とするものである。
行われたもので、めっき板と測定ヘッドとの位置関係が
変動しても、溶融めっき直後の付着量を高精度で測定で
きる技術の提供を目的とするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的は、蛍光Ｘ線を
用いためっき板のめっき付着量の測定において、単位測
定時間内に得られる二次Ｘ線強度から極大を示した値を
選んで測定値とし、この測定値からめっき付着量を求め
ることを特徴とするめっき付着量測定方法により達成さ
れる。さらに、この方法に加え、二次Ｘ線強度が最大と
なるようにめっき板と測定ヘッドとの距離を制御するこ
とにより、よりフレキシビリティに富む測定方法とする
ことができる。また、これらの方法の実施には、めっき
板のめっき付着量を測定する蛍光Ｘ線付着量測定装置で
あって、めっき板と測定ヘッドとの距離を制御する距離
制御器と、検出される二次Ｘ線強度が最大となるように
前記距離制御器に指示を与える指令器、及び単位測定時
間内に得られる二次Ｘ線強度から極大を示した値を選ん
で測定値とし、当該測定値から分析値を求める演算器を
備えたことを特徴とする第１のめっき付着量測定装置及
び、連続溶融めっき板のめっき付着量を測定する蛍光Ｘ
線付着量測定装置において、めっき板と測定ヘッドとの
距離を測定する距離計とこの距離計の計測に基づき前記
の距離を一定に保つ距離制御器、及び単位測定時間内に
得られる二次Ｘ線強度から極大を示した値を選んで測定
値とし、当該測定値から分析値を求める演算器を備えた
ことを特徴とする第２のめっき付着量測定装置を用いる
ことが好ましい。
用いためっき板のめっき付着量の測定において、単位測
定時間内に得られる二次Ｘ線強度から極大を示した値を
選んで測定値とし、この測定値からめっき付着量を求め
ることを特徴とするめっき付着量測定方法により達成さ
れる。さらに、この方法に加え、二次Ｘ線強度が最大と
なるようにめっき板と測定ヘッドとの距離を制御するこ
とにより、よりフレキシビリティに富む測定方法とする
ことができる。また、これらの方法の実施には、めっき
板のめっき付着量を測定する蛍光Ｘ線付着量測定装置で
あって、めっき板と測定ヘッドとの距離を制御する距離
制御器と、検出される二次Ｘ線強度が最大となるように
前記距離制御器に指示を与える指令器、及び単位測定時
間内に得られる二次Ｘ線強度から極大を示した値を選ん
で測定値とし、当該測定値から分析値を求める演算器を
備えたことを特徴とする第１のめっき付着量測定装置及
び、連続溶融めっき板のめっき付着量を測定する蛍光Ｘ
線付着量測定装置において、めっき板と測定ヘッドとの
距離を測定する距離計とこの距離計の計測に基づき前記
の距離を一定に保つ距離制御器、及び単位測定時間内に
得られる二次Ｘ線強度から極大を示した値を選んで測定
値とし、当該測定値から分析値を求める演算器を備えた
ことを特徴とする第２のめっき付着量測定装置を用いる
ことが好ましい。
【００１１】
【作用】測定ヘッドとめっき板の位置関係と二次Ｘ線強
度との関係を調べると、Ｘ線源と照射点及び検出器との
位置により、一般に検出される二次Ｘ線強度に相違が生
ずる。図３はこの関係を示したもので、めっき板１に測
定ヘッド２に取り付けられた線源３から一次Ｘ線を照射
し、照射面から発生する二次Ｘ線を同じく測定ヘッド２
に取り付けられた検出器４で検出する。このとき、めっ
き板１が距離Ｂの位置にあると照射面の全部を検出器４
の視野角内に入れることができるが、めっき板１が距離
Ａの位置にあると照射面の一部ａしか検出器４の視野角
内に入らず、又、めっき板１が距離Ｃの位置にあると照
射面の一部ｃしか検出器４の視野角内に入らない。この
ため、Ｂの距離では充分に検出される二次Ｘ線も、Ａ又
はＣの距離ではその一部しか検出されない。
度との関係を調べると、Ｘ線源と照射点及び検出器との
位置により、一般に検出される二次Ｘ線強度に相違が生
ずる。図３はこの関係を示したもので、めっき板１に測
定ヘッド２に取り付けられた線源３から一次Ｘ線を照射
し、照射面から発生する二次Ｘ線を同じく測定ヘッド２
に取り付けられた検出器４で検出する。このとき、めっ
き板１が距離Ｂの位置にあると照射面の全部を検出器４
の視野角内に入れることができるが、めっき板１が距離
Ａの位置にあると照射面の一部ａしか検出器４の視野角
内に入らず、又、めっき板１が距離Ｃの位置にあると照
射面の一部ｃしか検出器４の視野角内に入らない。この
ため、Ｂの距離では充分に検出される二次Ｘ線も、Ａ又
はＣの距離ではその一部しか検出されない。
【００１２】即ち、検出される二次Ｘ線強度は、図４に
示すように、測定ヘッドとめっき板との距離がＢの時最
大であり、これより距離が大きくても又小さくても検出
される二次Ｘ線強度は小さくなる。二次Ｘ線強度を付着
量に換算するために用いる検量線は距離Ｂで作成される
ので、距離Ｂでは正しい付着量を示しても、Ｂ以外の距
離では実際より少ない付着量を示すことになる。
示すように、測定ヘッドとめっき板との距離がＢの時最
大であり、これより距離が大きくても又小さくても検出
される二次Ｘ線強度は小さくなる。二次Ｘ線強度を付着
量に換算するために用いる検量線は距離Ｂで作成される
ので、距離Ｂでは正しい付着量を示しても、Ｂ以外の距
離では実際より少ない付着量を示すことになる。
【００１３】このことから、測定ヘッドとめっき板の位
置関係では二次Ｘ線の最大の強度が得られる距離が最適
距離であることが判る。
置関係では二次Ｘ線の最大の強度が得られる距離が最適
距離であることが判る。
【００１４】よって、単位測定時間内に得られる二次Ｘ
線強度から極大を示した値を選んで測定値とし、この測
定値からめっき付着量を求めることにより、検量線を作
成したときの最適距離に対応する測定値のみがサンプリ
ングされるので、正確な測定を行なうことができる。さ
らに、二次Ｘ線強度が最大となるようにめっき板と測定
ヘッドとの距離を制御しながら、単位測定時間内に得ら
れる二次Ｘ線強度から極大を示した値を選んで測定値と
し、この測定値からめっき付着量を求めることにより、
めっき板と測定器の相対位置が大きくずれるような場合
にも、正確な測定を行なうことができる。
線強度から極大を示した値を選んで測定値とし、この測
定値からめっき付着量を求めることにより、検量線を作
成したときの最適距離に対応する測定値のみがサンプリ
ングされるので、正確な測定を行なうことができる。さ
らに、二次Ｘ線強度が最大となるようにめっき板と測定
ヘッドとの距離を制御しながら、単位測定時間内に得ら
れる二次Ｘ線強度から極大を示した値を選んで測定値と
し、この測定値からめっき付着量を求めることにより、
めっき板と測定器の相対位置が大きくずれるような場合
にも、正確な測定を行なうことができる。
【００１５】この測定に用いられる第１の装置において
は、検出される二次Ｘ線強度が最大となるように前記距
離制御器に指示を与えて制御を行なうことにより、常に
めっき板と測定ヘッドとの距離を最適に保っている。そ
して、更に単位測定時間内に得られる二次Ｘ線強度から
極大を示した値を選んで測定値とし、当該測定値から分
析値を求める演算器を備えることにより、めっき板のば
たつきがあっても、最適な測定値のみをサンプリングし
て測定に用いることができ、正確な測定ができる。
は、検出される二次Ｘ線強度が最大となるように前記距
離制御器に指示を与えて制御を行なうことにより、常に
めっき板と測定ヘッドとの距離を最適に保っている。そ
して、更に単位測定時間内に得られる二次Ｘ線強度から
極大を示した値を選んで測定値とし、当該測定値から分
析値を求める演算器を備えることにより、めっき板のば
たつきがあっても、最適な測定値のみをサンプリングし
て測定に用いることができ、正確な測定ができる。
【００１６】第２の装置においては、めっき板と測定ヘ
ッドとの距離を測定する距離計とこの距離計の計測に基
づき前記の距離を一定に保っているので、やはり、常に
めっき板と測定ヘッドとの距離を最適に保つことができ
る。そして、単位測定時間内に得られる二次Ｘ線強度か
ら極大を示した値を選んで測定値とし、当該測定値から
分析値を求める演算器を備えることにより、めっき板の
ばたつきがあっても、最適な測定値のみをサンプリング
して測定に用いることができ、正確な測定ができる。
ッドとの距離を測定する距離計とこの距離計の計測に基
づき前記の距離を一定に保っているので、やはり、常に
めっき板と測定ヘッドとの距離を最適に保つことができ
る。そして、単位測定時間内に得られる二次Ｘ線強度か
ら極大を示した値を選んで測定値とし、当該測定値から
分析値を求める演算器を備えることにより、めっき板の
ばたつきがあっても、最適な測定値のみをサンプリング
して測定に用いることができ、正確な測定ができる。
【００１７】
【実施例】以下、図を用いて、本発明の実施例について
説明する。図１において、測定ヘッド２に収められてい
る線源３からのＸ線はめっき板１に照射され、照射面か
らは二次Ｘ線が発生し検出器４でその強度が検出され
る。検出器４には指令器６と演算器８とが接続され、指
令器６は検出されるＸ線強度の増減状態を判断する回路
を有し、増加の状態になるように距離制御装置７に指令
を発する。演算器８では二次Ｘ線強度の測定値を分析値
に換算する。
説明する。図１において、測定ヘッド２に収められてい
る線源３からのＸ線はめっき板１に照射され、照射面か
らは二次Ｘ線が発生し検出器４でその強度が検出され
る。検出器４には指令器６と演算器８とが接続され、指
令器６は検出されるＸ線強度の増減状態を判断する回路
を有し、増加の状態になるように距離制御装置７に指令
を発する。演算器８では二次Ｘ線強度の測定値を分析値
に換算する。
【００１８】図２は定距離方式の装置で、測定ヘッド２
に距離センサー９が付随し、めっき板との間隔を常に測
定し、測定値を距離制御装置７に送っている。距離制御
装置７では、予め知らされている最適距離と測定値との
差が零になるように制御する。
に距離センサー９が付随し、めっき板との間隔を常に測
定し、測定値を距離制御装置７に送っている。距離制御
装置７では、予め知らされている最適距離と測定値との
差が零になるように制御する。
【００１９】このように、めっき板と測定ヘッドとの距
離は制御されているので、めっき板の緩慢な位置変動に
対しては常に最適距離が保たれる。しかし、めっき板の
位置変動には数Ｈz 乃至数十Ｈz 程度の短周期の振動も
含まれる。このような速い変動に測定ヘッドを追随させ
ることは困難である。
離は制御されているので、めっき板の緩慢な位置変動に
対しては常に最適距離が保たれる。しかし、めっき板の
位置変動には数Ｈz 乃至数十Ｈz 程度の短周期の振動も
含まれる。このような速い変動に測定ヘッドを追随させ
ることは困難である。
【００２０】この欠点を補うために、単位測定時間内に
得られる二次Ｘ線強度から極大を示した値を選んで測定
値とし、この測定値からめっき付着量を求める。
得られる二次Ｘ線強度から極大を示した値を選んで測定
値とし、この測定値からめっき付着量を求める。
【００２１】図５は、振動するめっき板の変位と二次Ｘ
線の検出強度の関係を示したものである。（ａ）図は振
動するめっき板と測定ヘッドの距離の変動を示すもので
あり、（ａ）図で距離が最適距離Ｂの時、（ｂ）図のよ
うに二次Ｘ線強度は最大となる。即ち、めっき板が最適
距離にある時二次Ｘ線強度は極大値を採る。
線の検出強度の関係を示したものである。（ａ）図は振
動するめっき板と測定ヘッドの距離の変動を示すもので
あり、（ａ）図で距離が最適距離Ｂの時、（ｂ）図のよ
うに二次Ｘ線強度は最大となる。即ち、めっき板が最適
距離にある時二次Ｘ線強度は極大値を採る。
【００２２】又、めっき板の捩れ等による角度変動に対
しても、捩れている状態では二次Ｘ線強度は低下するの
で、正面の位置にある時に極大値をとる。
しても、捩れている状態では二次Ｘ線強度は低下するの
で、正面の位置にある時に極大値をとる。
【００２３】この発明の装置では、検出器から送られる
二次Ｘ線強度を取り扱う演算器で、極大を示した強度値
のみを選択し、これを測定値として付着量に換算する。
これによって、最適距離にあるとき、即ちめっき板と測
定ヘッドが最適位置関係にあるときの、二次Ｘ線強度の
みから付着量が得られる。
二次Ｘ線強度を取り扱う演算器で、極大を示した強度値
のみを選択し、これを測定値として付着量に換算する。
これによって、最適距離にあるとき、即ちめっき板と測
定ヘッドが最適位置関係にあるときの、二次Ｘ線強度の
みから付着量が得られる。
【００２４】なお、最大強度方式の装置は距離センサー
を必要としないので、安価なシステムになり又外乱磁場
等により距離センサーが使えない環境下でも適用でき
る。一方，定距離方式では素早い距離制御が可能で、付
着量急変時にも対応し距離安定性が保たれる。
を必要としないので、安価なシステムになり又外乱磁場
等により距離センサーが使えない環境下でも適用でき
る。一方，定距離方式では素早い距離制御が可能で、付
着量急変時にも対応し距離安定性が保たれる。
【００２５】なお、めっき板のばたつきにより、二次Ｘ
線の測定値に高周波成分が含まれる場合には、距離制御
装置７に送る信号をローパスフィルタによりスムージン
グし、距離制御装置７がハンチングするのを防ぐことが
望ましい。
線の測定値に高周波成分が含まれる場合には、距離制御
装置７に送る信号をローパスフィルタによりスムージン
グし、距離制御装置７がハンチングするのを防ぐことが
望ましい。
【００２６】また、めっき板と測定器の相対位置が平均
的には略一定に保たれ、距離の変動がめっき板のばたつ
きのみにより発生するような場合には、距離制御装置７
を省略し、単位測定時間内に得られる二次Ｘ線強度から
極大を示した値を選んで測定値とし、この測定値からめ
っき付着量を求めることのみでも、満足すべき結果が得
られる。
的には略一定に保たれ、距離の変動がめっき板のばたつ
きのみにより発生するような場合には、距離制御装置７
を省略し、単位測定時間内に得られる二次Ｘ線強度から
極大を示した値を選んで測定値とし、この測定値からめ
っき付着量を求めることのみでも、満足すべき結果が得
られる。
【００２７】溶融亜鉛めっきラインのめっき浴の上方に
めっき付着量測定装置を設置し、ワイピングノズル直後
のめっき付着量を連続的に測定した。めっき板１と測定
ヘッド２の距離については、近過ぎると鋼板がばたつき
いたとき接触するおそれがあり又遠過ぎると漏洩線量が
大きくなるので、最適距離が５０mmとなるように線源３
と検出器４の位置を設定した。目標付着量は６０mg/m2
である。
めっき付着量測定装置を設置し、ワイピングノズル直後
のめっき付着量を連続的に測定した。めっき板１と測定
ヘッド２の距離については、近過ぎると鋼板がばたつき
いたとき接触するおそれがあり又遠過ぎると漏洩線量が
大きくなるので、最適距離が５０mmとなるように線源３
と検出器４の位置を設定した。目標付着量は６０mg/m2
である。
【００２８】単位測定時間を決め、この時間内に現れた
Ｚｎの特性Ｘ線強度の極大値を選び測定値として付着量
に換算した。単位測定時間をｔ秒と決め、この間にＮ個
の極大点が現れた場合、Ｎ個の極大値の平均値を二次Ｘ
線強度の測定値として検量線により付着量を算出した。
したがって、この場合の付着量は、ライン速度がＶ（ｍ
／分）であれば、めっき板の長手方向( Ｖｔ／60 )ｍの
付着量の平均ということになる。めっき板について短い
間隔で付着量を求めたい場合は、単位測定時間を短くし
て測定値の数を増やす方法と、単位測定時間は長くても
これを重複させることによって測定値の数を増やす方法
とがある。
Ｚｎの特性Ｘ線強度の極大値を選び測定値として付着量
に換算した。単位測定時間をｔ秒と決め、この間にＮ個
の極大点が現れた場合、Ｎ個の極大値の平均値を二次Ｘ
線強度の測定値として検量線により付着量を算出した。
したがって、この場合の付着量は、ライン速度がＶ（ｍ
／分）であれば、めっき板の長手方向( Ｖｔ／60 )ｍの
付着量の平均ということになる。めっき板について短い
間隔で付着量を求めたい場合は、単位測定時間を短くし
て測定値の数を増やす方法と、単位測定時間は長くても
これを重複させることによって測定値の数を増やす方法
とがある。
【００２９】用いた測定装置は、図１及び図２に示した
最大強度方式の装置及び定距離方式の装置とである。
最大強度方式の装置及び定距離方式の装置とである。
【００３０】測定はライン速度を変えて行い、めっき終
了後連続する測定点１００点（Ｘ1,・・・, Ｘ100 ）に
ついて、静止状態で測定した同一箇所の値（Ｙ1,・・・
, Ｙ 100 ）との相対偏差〔｛Σ（Ｘi ／Ｙi −１）2 ／
100 ｝1/2 ×１００（％）〕を求め、その効果を調べ
た。又、比較のために、この発明の条件を満たさない場
合についても調べた。即ち、距離制御を行わなかった試
験N0. ５、極大値を選択しなかった試験N0. ６及び７で
ある。
了後連続する測定点１００点（Ｘ1,・・・, Ｘ100 ）に
ついて、静止状態で測定した同一箇所の値（Ｙ1,・・・
, Ｙ 100 ）との相対偏差〔｛Σ（Ｘi ／Ｙi −１）2 ／
100 ｝1/2 ×１００（％）〕を求め、その効果を調べ
た。又、比較のために、この発明の条件を満たさない場
合についても調べた。即ち、距離制御を行わなかった試
験N0. ５、極大値を選択しなかった試験N0. ６及び７で
ある。
【００３１】試験の条件及び調査の結果を表１に示す。
【００３２】
【表１】
【００３３】この発明の実施例では、ライン速度を変更
した試験N0. ３も含めて、静止測定値との偏差は１％以
内で極めて満足な結果であった。
した試験N0. ３も含めて、静止測定値との偏差は１％以
内で極めて満足な結果であった。
【００３４】これに対して、比較例では数倍も大きい偏
差を示した。
差を示した。
【００３５】
【発明の効果】以上述べてきたように、この発明によれ
ば、めっき板と測定ヘッドとの距離を常時最適距離に制
御しながら、二次Ｘ線の極大値のみを選択しこれを測定
値として付着量を求めるので、距離制御が困難な振動の
ようなめっき板でも高い精度でその付着量が求められ
る。このようにして、高速の連続めっきラインにおいて
めっき直後に付着量測定を可能としたこの発明の効果は
大きい。
ば、めっき板と測定ヘッドとの距離を常時最適距離に制
御しながら、二次Ｘ線の極大値のみを選択しこれを測定
値として付着量を求めるので、距離制御が困難な振動の
ようなめっき板でも高い精度でその付着量が求められ
る。このようにして、高速の連続めっきラインにおいて
めっき直後に付着量測定を可能としたこの発明の効果は
大きい。
【図１】最大強度方式の測定装置を説明するためのめっ
き付着量測定装置の概念図である。
き付着量測定装置の概念図である。
【図２】定距離方式のの測定装置を説明するためのめっ
き付着量測定装置の概念図である。
き付着量測定装置の概念図である。
【図３】めっき板と測定ヘッドの距離と検出器の視野と
の関係を示す説明図である。
の関係を示す説明図である。
【図４】めっき板と測定ヘッドの距離と、検出される二
次Ｘ線強度との関係を示す図である。
次Ｘ線強度との関係を示す図である。
【図５】めっ板の振動と二次Ｘ線強度の極大との関係を
示す図である。
示す図である。
１ めっき板 ２ 測定ヘッド ３ 線源 ４ 検出器 ６ 指令器 ７ 距離制御装置 ８ 演算器 ９ 距離センサー
Claims (4)
- 【請求項１】 蛍光Ｘ線を用いためっき板のめっき付着
量の測定において、単位測定時間内に得られる二次Ｘ線
強度から極大を示した値を選んで測定値とし、この測定
値からめっき付着量を求めることを特徴とするめっき付
着量測定方法。 - 【請求項２】 蛍光Ｘ線を用いためっき板のめっき付着
量の測定において、二次Ｘ線強度が最大となるようにめ
っき板と測定ヘッドとの距離を制御しながら、単位測定
時間内に得られる二次Ｘ線強度から極大を示した値を選
んで測定値とし、この測定値からめっき付着量を求める
ことを特徴とするめっき付着量測定方法。 - 【請求項３】 めっき板のめっき付着量を測定する蛍光
Ｘ線付着量測定装置において、めっき板と測定ヘッドと
の距離を制御する距離制御器と、検出される二次Ｘ線強
度が最大となるように前記距離制御器に指示を与える指
令器、及び単位測定時間内に得られる二次Ｘ線強度から
極大を示した値を選んで測定値とし、当該測定値から分
析値を求める演算器を備えたことを特徴とするめっき付
着量測定装置。 - 【請求項４】 連続溶融めっき板のめっき付着量を測定
する蛍光Ｘ線付着量測定装置において、めっき板と測定
ヘッドとの距離を測定する距離計とこの距離計の計測に
基づき前記の距離を一定に保つ距離制御器、及び単位測
定時間内に得られる二次Ｘ線強度から極大を示した値を
選んで測定値とし、当該測定値から分析値を求める演算
器を備えたことを特徴とするめっき付着量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07085510A JP3114559B2 (ja) | 1995-04-11 | 1995-04-11 | めっき付着量測定方法及び装置 |
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| JP07085510A JP3114559B2 (ja) | 1995-04-11 | 1995-04-11 | めっき付着量測定方法及び装置 |
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|---|---|---|---|---|
| JP4736440B2 (ja) * | 2005-01-25 | 2011-07-27 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 金属帯の表面処理皮膜付着量の測定装置及び測定方法 |
-
1995
- 1995-04-11 JP JP07085510A patent/JP3114559B2/ja not_active Expired - Fee Related
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