JPH0547042B2 - - Google Patents
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- JPH0547042B2 JPH0547042B2 JP62002168A JP216887A JPH0547042B2 JP H0547042 B2 JPH0547042 B2 JP H0547042B2 JP 62002168 A JP62002168 A JP 62002168A JP 216887 A JP216887 A JP 216887A JP H0547042 B2 JPH0547042 B2 JP H0547042B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- distance
- distance sensor
- coated
- measures
- coating film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
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Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、被塗物の表面に形成された乾燥前の
濡れた状態の塗膜の厚さを測定する装置に関す
る。
濡れた状態の塗膜の厚さを測定する装置に関す
る。
従来の技術及び発明が解決しようとする問題点
例えば、コンベアで搬送される被塗物に連続的
に塗装を施す自動塗装ラインにおいて、乾燥前の
濡れ状態の塗膜の厚さを知ることは、塗料吐出量
を制御したり、補正塗装を行なう上で重要なこと
であり、この濡れた塗膜の厚さを測定する場合
は、乾燥後の塗膜厚を測定する場合のように、例
えば、鉄心入りのコイルを塗膜上に接触させ、コ
イルのインダクタンスの変化により被塗物の表面
までの距離を取出して塗膜厚を測定する電磁膜厚
計のような接触式の膜厚計を使用することができ
ないから、従来は、濡れ膜専用として、偏心輪を
利用したロータリ型、あるいは、歯形の刻みで測
定するくし型等のウエツトゲージを用いたが、輪
あるいはくしの歯を塗膜中に押し込む構造である
ことから、塗膜に大きな測定の痕跡が残る不具合
があつた。
に塗装を施す自動塗装ラインにおいて、乾燥前の
濡れ状態の塗膜の厚さを知ることは、塗料吐出量
を制御したり、補正塗装を行なう上で重要なこと
であり、この濡れた塗膜の厚さを測定する場合
は、乾燥後の塗膜厚を測定する場合のように、例
えば、鉄心入りのコイルを塗膜上に接触させ、コ
イルのインダクタンスの変化により被塗物の表面
までの距離を取出して塗膜厚を測定する電磁膜厚
計のような接触式の膜厚計を使用することができ
ないから、従来は、濡れ膜専用として、偏心輪を
利用したロータリ型、あるいは、歯形の刻みで測
定するくし型等のウエツトゲージを用いたが、輪
あるいはくしの歯を塗膜中に押し込む構造である
ことから、塗膜に大きな測定の痕跡が残る不具合
があつた。
このため、塗膜の表面までの距離を光学方式に
より測定し、被塗物の表面までの距離を磁気方
式、渦電流方式または超音波方式により測定して
その差を演算することにより塗膜の厚さを求める
方法が提案されたが、光学方式では指向性がある
が、磁気方式、渦電流方式または超音波方式は指
向性が無いため両者を隣接して配置したときに測
定点が同一にならず、測定精度が低いという問題
点があつた。
より測定し、被塗物の表面までの距離を磁気方
式、渦電流方式または超音波方式により測定して
その差を演算することにより塗膜の厚さを求める
方法が提案されたが、光学方式では指向性がある
が、磁気方式、渦電流方式または超音波方式は指
向性が無いため両者を隣接して配置したときに測
定点が同一にならず、測定精度が低いという問題
点があつた。
問題点を解決するための手段
上記の問題点を解決するための手段として、被
塗物の表に形成された塗膜の表面までの距離を光
学方式により測定する第１の距離センサと、前記
被塗物の表面までの距離を磁気方式、渦電流方式
または超音波方式により測定する第２の距離セン
サとを、いずれか一方の距離センサを複数個とし
てその略中心に他方の距離センサが位置するよう
に本体に配置するとともに、前記一方の距離セン
サの測定値の平均値を算出して前記他方の距離セ
ンサの測定値との差を演算する演算装置とその演
算結果を表示する表示装置とを有する構成とし
た。
塗物の表に形成された塗膜の表面までの距離を光
学方式により測定する第１の距離センサと、前記
被塗物の表面までの距離を磁気方式、渦電流方式
または超音波方式により測定する第２の距離セン
サとを、いずれか一方の距離センサを複数個とし
てその略中心に他方の距離センサが位置するよう
に本体に配置するとともに、前記一方の距離セン
サの測定値の平均値を算出して前記他方の距離セ
ンサの測定値との差を演算する演算装置とその演
算結果を表示する表示装置とを有する構成とし
た。
発明の作用及び効果
本発明は上記構成になり、濡れ状態の塗膜が表
面に形成された被塗物に本体を対応させると、本
体に並設したうちの第１の距離センサで塗膜の表
面までの距離が測定されるとともに、第２の距離
センサで被塗物の表面までの距離が測定され、演
算表示装置により、第１の距離センサの測定値と
複数個の第２の距離センサの測定値の平均値の差
が演算されてその演算値が塗膜厚として表示され
るのであつて、第２の距離センサを複数個として
その平均値を求めたから測定精度が高く、また、
塗膜に何ら接触させない構造であるから、測定の
痕跡を全く残すことなく濡れ状態の塗膜の厚さを
測定することができ、しかも、その塗膜厚が表示
されるから、塗膜厚を簡単にかつ確実に認識し得
る効果がある。
面に形成された被塗物に本体を対応させると、本
体に並設したうちの第１の距離センサで塗膜の表
面までの距離が測定されるとともに、第２の距離
センサで被塗物の表面までの距離が測定され、演
算表示装置により、第１の距離センサの測定値と
複数個の第２の距離センサの測定値の平均値の差
が演算されてその演算値が塗膜厚として表示され
るのであつて、第２の距離センサを複数個として
その平均値を求めたから測定精度が高く、また、
塗膜に何ら接触させない構造であるから、測定の
痕跡を全く残すことなく濡れ状態の塗膜の厚さを
測定することができ、しかも、その塗膜厚が表示
されるから、塗膜厚を簡単にかつ確実に認識し得
る効果がある。
実施例
以下、本発明の一実施例を第１図に基づいて説
明する。
明する。
図において、１は、測定装置本体であつて、濡
れた状態の塗膜ａを表面に形成した鉄等の磁性材
料からなる被塗物ｂの前方に対応して設置される
ようになつており、この本体１の両側に、塗膜ａ
の表面までの距離を測定する２個の第１の距離セ
ンサ３，３が取り付けられ、それらの中間に、被
塗物ｂの表面までの距離を測定する第２の距離セ
ンサ４とが並んで取付けられており、第１の距離
センサ３，３は、光学的三角測距方式の距離セン
サであつて、発光素子からの投射光を塗膜ａの表
面で反射させて、その反射光を発光素子の側方に
設けた位置検出素子上にスポツト光として受光さ
せ、そのスポツト光の位置検出素子上の位置によ
つて、距離センサ３から塗膜ａの表面までの距離
を測定するようになつており、一方、第２の距離
センサ４は、電磁式の距離センサであつて、鉄心
入りのコイルを、磁性材料からなる被塗物ｂに対
応させて、その対応距離に応じてコイルのインダ
クタンスが変化するのを利用して、距離センサ４
から被塗物ｂの表面までの距離を測定するように
なつており、この第１と第２の距離センサ３，４
に、夫々、各測定距離を電気的な測定値として取
出す検出回路５，６が接続され、各検出回路５，
６に、それぞれの測定値を取り出して保持するサ
ンプルホールド回路７，８が接続され、第１の距
離センサ３，３に接続された２つのサンプルホー
ルド回路７，７には、それぞれの保持値の平均値
を算出する第１の演算回路９が接続されていると
ともに、この第１の演算回路９と第２の距離セン
サ４に接続されたサンプルホールド回路８とが第
２の演算回路１０に接続され、この第２の演算回
路１０に演算結果を表示する表示回路１１が接続
されている。
れた状態の塗膜ａを表面に形成した鉄等の磁性材
料からなる被塗物ｂの前方に対応して設置される
ようになつており、この本体１の両側に、塗膜ａ
の表面までの距離を測定する２個の第１の距離セ
ンサ３，３が取り付けられ、それらの中間に、被
塗物ｂの表面までの距離を測定する第２の距離セ
ンサ４とが並んで取付けられており、第１の距離
センサ３，３は、光学的三角測距方式の距離セン
サであつて、発光素子からの投射光を塗膜ａの表
面で反射させて、その反射光を発光素子の側方に
設けた位置検出素子上にスポツト光として受光さ
せ、そのスポツト光の位置検出素子上の位置によ
つて、距離センサ３から塗膜ａの表面までの距離
を測定するようになつており、一方、第２の距離
センサ４は、電磁式の距離センサであつて、鉄心
入りのコイルを、磁性材料からなる被塗物ｂに対
応させて、その対応距離に応じてコイルのインダ
クタンスが変化するのを利用して、距離センサ４
から被塗物ｂの表面までの距離を測定するように
なつており、この第１と第２の距離センサ３，４
に、夫々、各測定距離を電気的な測定値として取
出す検出回路５，６が接続され、各検出回路５，
６に、それぞれの測定値を取り出して保持するサ
ンプルホールド回路７，８が接続され、第１の距
離センサ３，３に接続された２つのサンプルホー
ルド回路７，７には、それぞれの保持値の平均値
を算出する第１の演算回路９が接続されていると
ともに、この第１の演算回路９と第２の距離セン
サ４に接続されたサンプルホールド回路８とが第
２の演算回路１０に接続され、この第２の演算回
路１０に演算結果を表示する表示回路１１が接続
されている。
本実施例はこのような構造になり、第１の距離
センサ３，３で塗膜ａの表面までの距離A1、A2
が測定されて第１の演算回路９で平均値Ａが求め
られるとともに、第２の距離センサ４で被塗物ｂ
の表面までの距離Ｂが測定され、第２の演算回路
１０において、測定値Ｂから測定値Ａを引く演算
が行われて、その演算結果が塗膜ａの厚さとして
表示回路１１で表示される。
センサ３，３で塗膜ａの表面までの距離A1、A2
が測定されて第１の演算回路９で平均値Ａが求め
られるとともに、第２の距離センサ４で被塗物ｂ
の表面までの距離Ｂが測定され、第２の演算回路
１０において、測定値Ｂから測定値Ａを引く演算
が行われて、その演算結果が塗膜ａの厚さとして
表示回路１１で表示される。
なお、被塗物ｂの表面までの距離Ｂを測定する
第２の距離センサ４には、被塗物が、アルミニウ
ム、アルミニウム合金、銅、磁性のないステンレ
ス等の磁性材料以外の金属材料の場合は、高周波
電界によつて金属表面に誘起される渦電流の大き
さで距離を測定する渦電流式の距離センサを用い
れば良く、また、プラスチツク等の非金属の場合
は、超音波式の距離センサを用いれば良い。
第２の距離センサ４には、被塗物が、アルミニウ
ム、アルミニウム合金、銅、磁性のないステンレ
ス等の磁性材料以外の金属材料の場合は、高周波
電界によつて金属表面に誘起される渦電流の大き
さで距離を測定する渦電流式の距離センサを用い
れば良く、また、プラスチツク等の非金属の場合
は、超音波式の距離センサを用いれば良い。
また、上記とは逆に、第２の距離センサ４を２
個配置して、その中心に第１の距離センサ３を配
置する構造としても良く、また、測定値の平均値
を取る方の距離センサの数が多いほど、塗膜厚の
測定誤差を小さく抑えることができる。
個配置して、その中心に第１の距離センサ３を配
置する構造としても良く、また、測定値の平均値
を取る方の距離センサの数が多いほど、塗膜厚の
測定誤差を小さく抑えることができる。
第１図は本発明の正面図及びブロツク図であ
る。 ａ：塗膜、ｂ：被塗物、１：本体、３：第１の
距離センサ、４：第２の距離センサ、９：第１の
演算回路、１０：第２の演算回路、１１：表示回
路。
る。 ａ：塗膜、ｂ：被塗物、１：本体、３：第１の
距離センサ、４：第２の距離センサ、９：第１の
演算回路、１０：第２の演算回路、１１：表示回
路。
Claims (1)
- １ 被塗物の表面に形成された塗膜の表面までの
距離を光学方式により測定する第１の距離センサ
と、前記被塗物の表面までの距離を磁気方式、渦
電流方式または超音波方式により測定する第２の
距離センサとを、いずれか一方の距離センサを複
数個とてその略中心に他方の距離センサが位置す
るように本体に配置するとともに、前記一方の距
離センサの測定値の平均値を算出して前記他方の
距離センサの測定値との差を演算する演算装置と
その演算結果を表示する表示装置とを有すること
を特徴とする塗膜厚測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP216887A JPS63169513A (ja) | 1987-01-08 | 1987-01-08 | 塗膜厚測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP216887A JPS63169513A (ja) | 1987-01-08 | 1987-01-08 | 塗膜厚測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63169513A JPS63169513A (ja) | 1988-07-13 |
| JPH0547042B2 true JPH0547042B2 (ja) | 1993-07-15 |
Family
ID=11521836
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP216887A Granted JPS63169513A (ja) | 1987-01-08 | 1987-01-08 | 塗膜厚測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63169513A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02176515A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-09 | Central Jidosha Kk | 塗装膜厚測定装置 |
| JP2597019B2 (ja) * | 1990-01-19 | 1997-04-02 | 三菱重工業株式会社 | ピストンリングの摩耗診断方法 |
| JPH0682506U (ja) * | 1993-04-28 | 1994-11-25 | 兼子興産株式会社 | 非接触厚さ計 |
| ITBO20050230A1 (it) * | 2005-04-12 | 2006-10-13 | C & G S P A | Dispositivo per il transito di elementi in un vano |
| CN102482852B (zh) * | 2009-08-31 | 2015-07-01 | 米其林研究和技术股份有限公司 | 确定橡胶或弹性体材料中的金属特征的深度的方法和设备 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58189505A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-05 | Hitachi Ltd | 塗膜厚測定装置 |
| JPS61254812A (ja) * | 1985-05-08 | 1986-11-12 | Meisan Kk | 非磁性体シ−ト厚さ連続測定装置 |
-
1987
- 1987-01-08 JP JP216887A patent/JPS63169513A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58189505A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-05 | Hitachi Ltd | 塗膜厚測定装置 |
| JPS61254812A (ja) * | 1985-05-08 | 1986-11-12 | Meisan Kk | 非磁性体シ−ト厚さ連続測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63169513A (ja) | 1988-07-13 |
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