JPS60115804A - 塗工量測定方法および装置 - Google Patents
塗工量測定方法および装置Info
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- JPS60115804A JPS60115804A JP22307283A JP22307283A JPS60115804A JP S60115804 A JPS60115804 A JP S60115804A JP 22307283 A JP22307283 A JP 22307283A JP 22307283 A JP22307283 A JP 22307283A JP S60115804 A JPS60115804 A JP S60115804A
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- Japan
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- coating
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/08—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の分野］
本発明は厚さ測定に関し、特に走行するウェブに塗工し
た塗液の塗工量を厚さ計を用（Ｘで連続的に測定する方
法および装置に関する。
た塗液の塗工量を厚さ計を用（Ｘで連続的に測定する方
法および装置に関する。
［行頭技術］
一般に厚さ計を用いて走行するウェアに塗工した塗液の
塗工量を測定する方法として（ま、塗工量なのウェブの
厚さを測定するための第１の厚さ話シと、塗工後のウェ
ブと塗工された塗液の合π十の厚さを測定刃るための第
２の厚さ削、及び第１および第２の厚ざ泪で同時に測定
された電気信号を減算するための演算装置を備え、第２
の厚さ３十で１Ｉ１１定されたウェブの塗工した塗液の
合計の厚さ）直ｈλら第１の厚さｎｌで測定したウェブ
の厚さ値を演算装置で減算して連続的測定記録する方法
がある。
塗工量を測定する方法として（ま、塗工量なのウェブの
厚さを測定するための第１の厚さ話シと、塗工後のウェ
ブと塗工された塗液の合π十の厚さを測定刃るための第
２の厚さ削、及び第１および第２の厚ざ泪で同時に測定
された電気信号を減算するための演算装置を備え、第２
の厚さ３十で１Ｉ１１定されたウェブの塗工した塗液の
合計の厚さ）直ｈλら第１の厚さｎｌで測定したウェブ
の厚さ値を演算装置で減算して連続的測定記録する方法
がある。
この方法により第１及び第２の厚さ計で同時に測定され
た厚さ値は、それぞれ第１及び第２の１９さ割を現在通
過中の異ったウェア位置で測定された厚さ値であるが、
これを減算して塗工量としているのが現状であった。ず
なわら、第１と第２の厚さ計の間には塗工処理装置が配
設されるためある程度の設置距離が必要で、走行づるウ
ェブの測定される位置は第１と第２の厚さ翳１では同一
イ１′装置とすることができない。
た厚さ値は、それぞれ第１及び第２の１９さ割を現在通
過中の異ったウェア位置で測定された厚さ値であるが、
これを減算して塗工量としているのが現状であった。ず
なわら、第１と第２の厚さ計の間には塗工処理装置が配
設されるためある程度の設置距離が必要で、走行づるウ
ェブの測定される位置は第１と第２の厚さ翳１では同一
イ１′装置とすることができない。
一般にウェアはマクロ的には均一に見えてもミクロ的に
は厚さに変動があるのが普通である。従って厚さが変動
しているウェブにｔｎＴする塗液の塗工量を測定する場
合には、従来の方法ではウェブ自体の厚さ変動が演棹結
果として指示される塗工量の変動として現れるので、そ
の測定値は実際の塗工量から誤差の大きいものとなって
しまい正確な塗工量の測定はできなかった。
は厚さに変動があるのが普通である。従って厚さが変動
しているウェブにｔｎＴする塗液の塗工量を測定する場
合には、従来の方法ではウェブ自体の厚さ変動が演棹結
果として指示される塗工量の変動として現れるので、そ
の測定値は実際の塗工量から誤差の大きいものとなって
しまい正確な塗工量の測定はできなかった。
［発明の要約］
本発明は前述したようにウェブ自体の厚さ変動が塗工量
指示に影響を与えず、誤差の少ない塗工量を測定できる
測定方法及び装置を提供することを目的とするものであ
る。
指示に影響を与えず、誤差の少ない塗工量を測定できる
測定方法及び装置を提供することを目的とするものであ
る。
本発明の上記の目的は、例えば、第１の厚さ計により測
定された塗工前のウェブ厚の測定値と、第２の厚さ削に
より測定された塗工後のウェブ厚の測定（直とがウェブ
の同一位置の測定値となるように選択することにより達
成できる。
定された塗工前のウェブ厚の測定値と、第２の厚さ削に
より測定された塗工後のウェブ厚の測定（直とがウェブ
の同一位置の測定値となるように選択することにより達
成できる。
本発明は、例えば第１の厚さ計により測定されたウェブ
の位１ｄがウェブ走行により第２の厚さ計による測定点
に達した時に測定を同期させるためのウェアの走行長さ
を検出する副長器、測定された〃ざ信号を変換するＡ／
ＤおよびＤ／Ａ変換変換ユニー１〜マイクロコンピュー
タによる演算装置等を備えた測定装置を用いることによ
り実施することができる。
の位１ｄがウェブ走行により第２の厚さ計による測定点
に達した時に測定を同期させるためのウェアの走行長さ
を検出する副長器、測定された〃ざ信号を変換するＡ／
ＤおよびＤ／Ａ変換変換ユニー１〜マイクロコンピュー
タによる演算装置等を備えた測定装置を用いることによ
り実施することができる。
「発明の実施態様］
本発明の一実施例の詳細について第１図および第２図を
用いて説明する。
用いて説明する。
第１図は本発明の一実施例の全体構成を示す説明図であ
り、図において、１はウェブ２０のｍＩ前の厚さを測定
する第１の厚さ計、２はウェブ２０の塗工後の厚さを測
定する第２の厚さ８１．３は厚さ計用信号演算器、４は
ウェブ２０が一定ｖ１コ離走行する毎に出力信号を発生
りる測長器、５（，１塗工処理装置、６は厚ざ指示・記
録ｈ１．７は測長器からの信号をマイクロコンピュータ
１０に対して割込信号を発生する割込み発生器、８は厚
ざ８１１の測定値をディジタルに変換づるＡ 、／ Ｄ
変換器、９はマイクロコンピュータ１０からのディジタ
ル出力をアナログに変換ＪるＤ／Δ変換器、１１は厚さ
計１．２間の一定距離を設定する距１４１１設定器で本
実施例の場合、ディジタルスイッチを用いているマイク
ロコンピュータ１０はざらに、ディジタル化された厚さ
計の測定値を記憶する測定値記憶手段１２と、測長器４
からの信号と同ｔｉｌｌ ｌ、て記憶手段１２をメモリ
シフトさけるための割込受イ１手段１３と、Ａ／Ｄ変換
器８の制御および入力データの平均（例えば１回のサン
プリングとしてＡ／Ｄ変換器８から２５６回の入力デー
タを取り込み、これを平均する）を行なうことにより、
ディジタル化された厚さ計の測定値を記憶手段１２に記
憶できる形に変換するアナログ人力変換手段１４と、測
定値が記憶されている記憶手段１２の内容を割込受付の
都度１つ上位番地にシフトし今回入力した浮ざ削の測定
値を記憶手段１２の最下位番地に格納するメモリシフ１
〜手段１５と、厚ざに１間隔設定器１１で設定された値
を参照して出力すべき記憶手段１２内の測定値が格納さ
れているメモリ番地を決定する出力用測定値検索手段１
６と、出力すべぎ測定値をＤ／Ａ変換器９に送る際、Ｄ
、／Ａ変換器９の変換可能な形に変換り−る（例えば記
憶手段１２内のビット状態を］）／Ａ変換器９の入カビ
ツ１へ形式になおす）アナログ出力変換手段１７とで構
成されている。
り、図において、１はウェブ２０のｍＩ前の厚さを測定
する第１の厚さ計、２はウェブ２０の塗工後の厚さを測
定する第２の厚さ８１．３は厚さ計用信号演算器、４は
ウェブ２０が一定ｖ１コ離走行する毎に出力信号を発生
りる測長器、５（，１塗工処理装置、６は厚ざ指示・記
録ｈ１．７は測長器からの信号をマイクロコンピュータ
１０に対して割込信号を発生する割込み発生器、８は厚
ざ８１１の測定値をディジタルに変換づるＡ 、／ Ｄ
変換器、９はマイクロコンピュータ１０からのディジタ
ル出力をアナログに変換ＪるＤ／Δ変換器、１１は厚さ
計１．２間の一定距離を設定する距１４１１設定器で本
実施例の場合、ディジタルスイッチを用いているマイク
ロコンピュータ１０はざらに、ディジタル化された厚さ
計の測定値を記憶する測定値記憶手段１２と、測長器４
からの信号と同ｔｉｌｌ ｌ、て記憶手段１２をメモリ
シフトさけるための割込受イ１手段１３と、Ａ／Ｄ変換
器８の制御および入力データの平均（例えば１回のサン
プリングとしてＡ／Ｄ変換器８から２５６回の入力デー
タを取り込み、これを平均する）を行なうことにより、
ディジタル化された厚さ計の測定値を記憶手段１２に記
憶できる形に変換するアナログ人力変換手段１４と、測
定値が記憶されている記憶手段１２の内容を割込受付の
都度１つ上位番地にシフトし今回入力した浮ざ削の測定
値を記憶手段１２の最下位番地に格納するメモリシフ１
〜手段１５と、厚ざに１間隔設定器１１で設定された値
を参照して出力すべき記憶手段１２内の測定値が格納さ
れているメモリ番地を決定する出力用測定値検索手段１
６と、出力すべぎ測定値をＤ／Ａ変換器９に送る際、Ｄ
、／Ａ変換器９の変換可能な形に変換り−る（例えば記
憶手段１２内のビット状態を］）／Ａ変換器９の入カビ
ツ１へ形式になおす）アナログ出力変換手段１７とで構
成されている。
上記構成の塗１ｆｆｉ測定装置の動作について第２図の
フローチャー１〜を参照しながら説明する。
フローチャー１〜を参照しながら説明する。
先づ、走行するつＪブ２０の塗工前の１ソさは第１の厚
さ３１１にて連続的に測定される。この信号は△／Ｄ変
換器８にてディジタルに変換されてマイクロコンピュー
タ１０に入力され、第２図に示づ様な手順に従って処理
される。この手順は第２図のステップ１０１に示されて
いるように、マイクロコンピュータ１０すなわちＣＰＵ
（中央処理装置）に対する外部割込みがきっかけとな
って処理がなされるようにプログラムされている。外部
割込み発生源として、単位ウェア走行長さあたり所定の
数のパルスを出力する測長器４をウェブ２０に接触させ
、出力信号を割込みとしてマイクロコンピュータ１０に
与えるために割込み発生器７に接続している。従ってマ
イクロコンピュータ１０に対しては、ウェブ２０の単位
走行距離毎に割込みがかかることになり、この割込みは
ウェブ２０の走行速度には関係しなくなる。
さ３１１にて連続的に測定される。この信号は△／Ｄ変
換器８にてディジタルに変換されてマイクロコンピュー
タ１０に入力され、第２図に示づ様な手順に従って処理
される。この手順は第２図のステップ１０１に示されて
いるように、マイクロコンピュータ１０すなわちＣＰＵ
（中央処理装置）に対する外部割込みがきっかけとな
って処理がなされるようにプログラムされている。外部
割込み発生源として、単位ウェア走行長さあたり所定の
数のパルスを出力する測長器４をウェブ２０に接触させ
、出力信号を割込みとしてマイクロコンピュータ１０に
与えるために割込み発生器７に接続している。従ってマ
イクロコンピュータ１０に対しては、ウェブ２０の単位
走行距離毎に割込みがかかることになり、この割込みは
ウェブ２０の走行速度には関係しなくなる。
割込みが発生すると、先づ前述のＡ／Ｄ変換データすな
わち第１の厚さ計１で測定した厚さ値をステップ１０２
でさらに変換した後、それを蓄積しておくためにマイク
ロコンピュータ１０内のデータ記憶手段１２を１つシフ
トする（第２図のステップ１０３）。ここで言うシフト
とは、ある番地に格納されているＩＩ前厚さデータを１
つ上位の番地に転送する操作を意味し、この操作をデー
タ記憶手段１２全体に対して繰り返１゜その結果、デー
タ記憶手段１２の最下位番地には空きが生ずることにな
る。次に現在のＡ／Ｄ変換データすなわち第１の厚さ剖
１で測定した塗工前のウェブ２０の厚さを前）ボのデー
タ記憶手段１２の最下位番地に格納する（ステップ１０
４）。
わち第１の厚さ計１で測定した厚さ値をステップ１０２
でさらに変換した後、それを蓄積しておくためにマイク
ロコンピュータ１０内のデータ記憶手段１２を１つシフ
トする（第２図のステップ１０３）。ここで言うシフト
とは、ある番地に格納されているＩＩ前厚さデータを１
つ上位の番地に転送する操作を意味し、この操作をデー
タ記憶手段１２全体に対して繰り返１゜その結果、デー
タ記憶手段１２の最下位番地には空きが生ずることにな
る。次に現在のＡ／Ｄ変換データすなわち第１の厚さ剖
１で測定した塗工前のウェブ２０の厚さを前）ボのデー
タ記憶手段１２の最下位番地に格納する（ステップ１０
４）。
一方距ＩＩＩＩ設定器１１には第１の厚さ計１と第２の
厚さ計２間のウェブ２０の距−１が設定されており、更
に、その設定信号はマイクロコンピュータ１０で読み出
し可能である。マイクロコンピュータ１０では距離設定
器１１の設定値を読み込んで、第１と第２の（β線）厚
さ訓間のウェブの距離を知ることによりＤ／Ａ変換器９
に出力すべきデータの記憶手段１２にお（）る番地を決
定覆る（ステップ１０５）。例えば厚さ４間のウェブの
距離がＸｍで測長器４の割込みがｄｘ ｍ毎に入るもの
とすると少なくともＸ／ｄ×個の連続したメモリ位置を
有するデータ記憶手段１２が必要となり、Ｘ／ｄｘ個の
メモリ位置を有する記憶手段を用いた場合はＤ／Ａ変換
器９に対しては最ト位番地の厚さデータをステップ１０
６で適当に処理した後に出力すれば良いことになる。ま
たＸ／ｄ×は必ずしも整数でなくても良い。その場合は
ｄ／ｄｘに近い整数の個数の連続したメモリ位置を記憶
手段１２が少なくとも必要とする。このとき第１および
第２の厚さ計１．２は同一のウェアの位置を測定するこ
とにはならないが、非常に近いウェア位置の測定値が得
られることになり、誤差はやはり少なくなる。
厚さ計２間のウェブ２０の距−１が設定されており、更
に、その設定信号はマイクロコンピュータ１０で読み出
し可能である。マイクロコンピュータ１０では距離設定
器１１の設定値を読み込んで、第１と第２の（β線）厚
さ訓間のウェブの距離を知ることによりＤ／Ａ変換器９
に出力すべきデータの記憶手段１２にお（）る番地を決
定覆る（ステップ１０５）。例えば厚さ４間のウェブの
距離がＸｍで測長器４の割込みがｄｘ ｍ毎に入るもの
とすると少なくともＸ／ｄ×個の連続したメモリ位置を
有するデータ記憶手段１２が必要となり、Ｘ／ｄｘ個の
メモリ位置を有する記憶手段を用いた場合はＤ／Ａ変換
器９に対しては最ト位番地の厚さデータをステップ１０
６で適当に処理した後に出力すれば良いことになる。ま
たＸ／ｄ×は必ずしも整数でなくても良い。その場合は
ｄ／ｄｘに近い整数の個数の連続したメモリ位置を記憶
手段１２が少なくとも必要とする。このとき第１および
第２の厚さ計１．２は同一のウェアの位置を測定するこ
とにはならないが、非常に近いウェア位置の測定値が得
られることになり、誤差はやはり少なくなる。
塗工処理装置５で塗工された後のウェブ２０の厚さは第
２の厚ざ剖２で測定され、そのアナログ信号は、直接演
算増巾器で構成される演算器３に取り込まれる。演算器
３は塗工後の厚さ信号と塗工前の厚さ信号の減算を行な
って、厚さ指示・記録計６に対して出力する機能を有し
ているが、塗工前の厚さはＤ／Ａ変換器の出力信号、す
なわち今現在第２の厚さ計２にて測定されているウェブ
の位置が塗工前に第１の厚さ計１にて測定された時の値
であるので、演算器３での両者の減算結果としてはウェ
アの厚さの変動に左右されることなく極めて正確な塗工
量が得られることになる。
２の厚ざ剖２で測定され、そのアナログ信号は、直接演
算増巾器で構成される演算器３に取り込まれる。演算器
３は塗工後の厚さ信号と塗工前の厚さ信号の減算を行な
って、厚さ指示・記録計６に対して出力する機能を有し
ているが、塗工前の厚さはＤ／Ａ変換器の出力信号、す
なわち今現在第２の厚さ計２にて測定されているウェブ
の位置が塗工前に第１の厚さ計１にて測定された時の値
であるので、演算器３での両者の減算結果としてはウェ
アの厚さの変動に左右されることなく極めて正確な塗工
量が得られることになる。
また第１図図示の実施例では、メモリシフ１一手段１５
を用いて、割込み発生毎に記憶手段１２内の測定値デー
タをシフトさせているから、記憶手段１２内には、ｄｘ
ｍ間隔でウェア２０の塗工前の厚さの測定値データが
順に格納されていることになる。従って厚さ計１．２間
のウェブ走行距離の設定値を変更する場合にも容易に対
処することができる。
を用いて、割込み発生毎に記憶手段１２内の測定値デー
タをシフトさせているから、記憶手段１２内には、ｄｘ
ｍ間隔でウェア２０の塗工前の厚さの測定値データが
順に格納されていることになる。従って厚さ計１．２間
のウェブ走行距離の設定値を変更する場合にも容易に対
処することができる。
加うるにウェアの一定距離の走行毎に割込みを発生させ
る方法をとっているので、ウェアの走行速度の変動に対
しても影響なく測定することができる。
る方法をとっているので、ウェアの走行速度の変動に対
しても影響なく測定することができる。
なお、第１図図示の実施例においては、塗工処理装置５
としてファウンテン・エアーナイフ塗布装量を用いウェ
ブ２０としての坪１１６０±２ｇ／ｎ１２の両面ポリエ
チレン被覆紙に塗液として、げラチン水溶液を、湿分塗
布ｆｉ２０ｏ／ｍ２に設定して塗布した。ウェブ２０上
に塗工されたゼラヂン水溶液の塗工量を測定したところ
記録計６の指示変動中は、従来方法が設定塗工量に対し
て上２９／ｍ２の変動であったのに対し、本発明方法は
±０．５（１／ｍ２の変動であった。
としてファウンテン・エアーナイフ塗布装量を用いウェ
ブ２０としての坪１１６０±２ｇ／ｎ１２の両面ポリエ
チレン被覆紙に塗液として、げラチン水溶液を、湿分塗
布ｆｉ２０ｏ／ｍ２に設定して塗布した。ウェブ２０上
に塗工されたゼラヂン水溶液の塗工量を測定したところ
記録計６の指示変動中は、従来方法が設定塗工量に対し
て上２９／ｍ２の変動であったのに対し、本発明方法は
±０．５（１／ｍ２の変動であった。
また第１図図示の塗工量測定装面の実施例の第１及び第
２の厚さ計１．２どしてはクリ１１〜ン８５を線源とす
るβ線厚さ泪を使用した。又塗工前と塗工後の測定点の
間隔は１０ｎ１どし、つ１ブの走行長さを０．１ｍ単位
で測長した。
２の厚さ計１．２どしてはクリ１１〜ン８５を線源とす
るβ線厚さ泪を使用した。又塗工前と塗工後の測定点の
間隔は１０ｎ１どし、つ１ブの走行長さを０．１ｍ単位
で測長した。
本発明の実施例においては厚さ甜１．２どしてβ線厚さ
計を用いたが、γ線等の各種敢用線厚さ計、赤外線厚さ
計、静電容量式厚さＨｌ、超音波１ワさ計等種々の厚さ
計が使用できる。
計を用いたが、γ線等の各種敢用線厚さ計、赤外線厚さ
計、静電容量式厚さＨｌ、超音波１ワさ計等種々の厚さ
計が使用できる。
また第１図図示の測定装置では演算器３にＪ、り塗液の
厚さを算出させているが、第２の厚さ訓２からの塗工後
の厚さの測定値も別のＡ／Ｄ変換器を介してマイクロコ
ンピュータ１０に取込み、マイクロコンビコータにより
塗工量の演紳を行なわせてもよい。
厚さを算出させているが、第２の厚さ訓２からの塗工後
の厚さの測定値も別のＡ／Ｄ変換器を介してマイクロコ
ンピュータ１０に取込み、マイクロコンビコータにより
塗工量の演紳を行なわせてもよい。
さらに第２図のフローチャー１へでは割込み処理を行な
うようにしているが、マイクロコンピュータ１０に伯の
仕事をさせる必要がなければ測長器４からの信号の発生
をフラグを常にチェックすることにより検出してもよい
。しかし、使用するＣＰＵチップにもＪこるが、割込み
を使用した方がハードウェア、ソフトウェア面で簡単に
なる場合が多い。
うようにしているが、マイクロコンピュータ１０に伯の
仕事をさせる必要がなければ測長器４からの信号の発生
をフラグを常にチェックすることにより検出してもよい
。しかし、使用するＣＰＵチップにもＪこるが、割込み
を使用した方がハードウェア、ソフトウェア面で簡単に
なる場合が多い。
以上述べたように本発明によればウェブの厚さが一変動
していても塗工量指示に与える影響をなく刀ように働く
ので、つ■ブの厚さ変動に左右されることなく、変動の
少ない正確な塗工量指示が安定して得られる。
していても塗工量指示に与える影響をなく刀ように働く
ので、つ■ブの厚さ変動に左右されることなく、変動の
少ない正確な塗工量指示が安定して得られる。
第１図は本発明の一実施例である塗工量測定装置６の（
１４成を示づ説明図、第２図は第１図図示の装ｄにａ；
＋Ｊるマイクロコンピュータ１ｏの処理手順を表わし
た流れ図である。 １・・・第１の厚さ言Ｉ ２・・・第２の厚さ計 ３・・・演算器 ４・・・測長器 ８・・・Ａ／Ｄ変換器 ９・・・Ｄ／Ａ変換器 １０・・・マイクロコンピュータ １１・・・距離設定器 代理人 浅 村 皓
１４成を示づ説明図、第２図は第１図図示の装ｄにａ；
＋Ｊるマイクロコンピュータ１ｏの処理手順を表わし
た流れ図である。 １・・・第１の厚さ言Ｉ ２・・・第２の厚さ計 ３・・・演算器 ４・・・測長器 ８・・・Ａ／Ｄ変換器 ９・・・Ｄ／Ａ変換器 １０・・・マイクロコンピュータ １１・・・距離設定器 代理人 浅 村 皓
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１） 走行するウェアの塗工前の厚さと塗液を塗工し
た後の厚さとを順次測定し、塗工前の厚さの測定値を記
憶しておき、該ウェアの任意の位置の塗工後の厚さの測
定値と、該記憶された測定値のうちから得られる該ウェ
ア位置に対応する塗工前の厚さの測定値との演算により
該ウェブ上の塗液厚を算出することを特徴とする塗工量
測定方法。 く２）（イ） 塗液を塗布すべきウェブが所定距離走行
する毎に出力信号を発生する装 置と、 （口〉 該信号発生装置からの出力信号の発生に応答し
て該走行するウェブの塗 液塗工前の厚さを測定する第１の厚さ 計と、 （ハ） 該塗工前の厚さの測定値を順次記憶する記憶装
置と、 （二〉 該走行するウェブの塗液ＩＩ後の厚さを測定す
る第２の厚さ削と、 （ホ） 前記第１および第２の厚ざ計量の該ウェブの走
行距因１を表わず値を設定する装置と、 くべ） 該距ｌ１ｌｌｌ設定装置の設定値を参照して、
前記第２の厚さ剖が厚さを測定づ る該ウェアの位置に対応する塗工前の 厚さの測定値を前記記憶装置に記憶さ れた測定値の中から選択的に読出り装 置と、 （ト） 前記第２の厚さ計による塗］−後の厚さの測定
値と、前記読出し装置によ り読出された塗工前の厚さの測定舶と の演算を行ない、前記ウェブ１−の塗液厚を算出する演
算装置と を含むことを特徴どする塗ＩＪＪ測定装置。 （３） 特許請求の範囲第２項記載の塗工量測定装置に
おいて、前記記憶装置は、前記信号発生装置からの出力
信号の発生毎に既に記憶した測定値に関する内容をシフ
トし、該シフ１〜により生じたメモリ位置に新しい測定
値を格納させるメモ１ノシ７ ｈ手段を含むことを特徴
とする塗ｌＩり定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22307283A JPS60115804A (ja) | 1983-11-29 | 1983-11-29 | 塗工量測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22307283A JPS60115804A (ja) | 1983-11-29 | 1983-11-29 | 塗工量測定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60115804A true JPS60115804A (ja) | 1985-06-22 |
| JPH037883B2 JPH037883B2 (ja) | 1991-02-04 |
Family
ID=16792388
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22307283A Granted JPS60115804A (ja) | 1983-11-29 | 1983-11-29 | 塗工量測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60115804A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63177999U (ja) * | 1987-05-08 | 1988-11-17 | ||
| JPH03199942A (ja) * | 1989-12-27 | 1991-08-30 | Chino Corp | 塗工量測定装置 |
| FR2752294A1 (fr) * | 1996-08-12 | 1998-02-13 | Lorraine Laminage | Procede et dispositif de mesure en continu d'epaisseur de revetement isolant |
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