JPS62261066A

JPS62261066A - 粉粒体用速度計

Info

Publication number: JPS62261066A
Application number: JP10557086A
Authority: JP
Inventors: Masamichi Hino; 日野　正道
Original assignee: Kubota Corp
Current assignee: Kubota Corp
Priority date: 1986-05-07
Filing date: 1986-05-07
Publication date: 1987-11-13

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は粉粒体の流速を検出する速度計に関する。

従来の技侑粉粒体の供給数全プロセス制御する場合に、粉粒体の速
度を検出することが行われる。従来、粉ｇ体の速度検出
は流れる粉慰体で回転羽根を回して、その回転数から検
出さｎている。

発明が解決しようとする問題点このような従来の構成では接触式であるため、長期間に
わたって安定した速度検出動作を期待できず、非接触式
の速度計が要望されているが、非接触式とした場合には
粉粒体の水分値、嵩密度のｌｅ響を受けて測定できない
のが現状である。

本発明は非接触式であシながら粉粒体の速度を正確に測
定できる粉粒体用速度計ｔ−提供することを目的とする
。

問題点？解決するための手段本発明の粉粒体用速度計は、粉粒体流路の互いに近接し
た上手位置と下手位置に前記粉ｔ＃流路を流れる粉粒体
の性状によって検出物理量が変化する第１．第２のセン
サ手段を設け、同一測定期間における前記第１．第２の
センサ手段の検出波形を比較して両検出波形間の遅延時
間を判定する評価手段？設け、前記第１．第２のセンサ
手段の配設間隔ｌと前記評価手段にょシ判定された遅延
時間ｔ３とから（／／１．）によって検出速度を計算す
る演算手段を設けたことを特徴とする。

作用この構成によると、第１．第２のセンサ手段は何れも水
分値と高密度の影響を受は九検出物理量ｆｒ：検出し、
第１の七ンサ手段位＠を通過した同じ状態の粉粒体が必
らず第２のセンサ手段位置を通過するため、第２のセン
サ手段の出力には粉粒体の速度に反比例する遅延時間後
に第１のセンサ手段と同じ出力波形が発生し、評価手段
が第１．第２のセンサ手段の検出波形を比較して前記遅
延時ｌ川ｔｓ’を決定し、演算手段がｔｓと既知の間隔
ｌとから粉粒体速度を算出する。

実施例以下、本発明の一冥施例１ｇ１図と第２図に基ついて説
明する。

第１図は本発明の粉粒体用速度計を示す。被測定粉粒体
が通過する流路（１）は耐摩耗性合成樹脂等の誘電体物
質で形成されており、被測定粉粒体の流へ方向上手位置
と下手位置には近接した距ｙｔ１１ｔで第１の対向電極
群（２１）と第２の対向電極群（２２）が設けられてい
る。第１．第２の対向電極群（２ｔ８２ｚ）Ｖｉ、それ
ぞれ流路（１］の外壁面に流路（１）を取り巻くよう第
１〜第３の電極環（３ａＸ３ｂ）（３ｃ）が貼着されて
いる。第１の対向！極群（２１）の第１の１極環（３８
）と第３の電極ｆｊｌ（３ｃ）は外部で互いに接続さｎ
、第２の電極環（３ｂ）と第１．第３の電極環（３ａＸ
３ｂ）との間の静電容ｔｍｉが第１の静電容量測定回路
（４１）で電圧値ｖｃｌに変換される。第２の対向電極
群（２２）も同様に第２の静電容量測定回路（４ｚ）に
接続されて静電容量値が電圧値ｖｃ２に変換されている
。測定開始命令信号Ｐが与えられると、第１の波形メモ
リ（５１）は第２図（ａｌのように時々の電圧値ｖｃｌ
の波形を時刻Ｔｏから一定時間Ｔをわ友って記憶する。

同時に前記信号Ｐが与えられた第２の波形メモリ（５２
）は、第２図（ｂ）のように電圧値ｖｃ２の波形ｔ一時
刻Ｔ。から一定時間Ｔ、にわたって記憶する。

第１の波形メモリ（５１）の記憶波形は読み出し遅延回
路（６）を介して比較器（７）の一方の入力に印加され
、第２の波形メモリ（５２）の記憶波形は比較器（７）
の他方の入力に直接に印加される。前記読み出し遅延回
路（６）は時刻Ｔｔｉから時刻Ｔ１が経過した後に第１
の波形メモｌ３（５１）の内容ｆｔ繰り返して読み出す
ものであるが、第１回目の読み出し時には第２図（ｃ）
の波形（Ｃ１）に示すように単位時間ｔ１だけ遅延して
読み出し、以後の第２回目、第３回目・・・の読み出し
時にも２ｔ１＝ｔ２．３ｔｔ　＝　ｔａ・・・づつＭ延
して読み出す。時々の遅延時間ｔ１％ｔ２、ｔｓ・・・
は保持回路（８）に出力されている。遅延回路（６）で
遅延して読み出された＠ｌの波形メモリ（５□）の検出
波形と、遅延せずに読み出された第２の波形メモリ（５
２）の検出波形とは、第２図（ｃ）の波形（Ｃ６）に示
すように遅延回路（６）のＭ延時間ｔ６の時に比較器（
７）において同−波形貧化であると判定され、比較器（
７）が前記保持回路（８）にその時の遅延時間ｔ６　ｋ
更新せずに保持するよう指示する。保持回路（３）の内
容ｔＢ　＝　ｔ６は演算ｎ（９）に入力され、既知数で
ある距！／と用いて＜　ｉ、、ｓ＞＝νによって検出速
度ｏｆ計算出力する。

つまり、第２図（ａ）　（ｂ）のように被測定粉粒体の
速度が一定であってもその水分値、嵩密度によって時々
の静電容量値が変動するが、流路（１）における近接し
た距４ｔの上手位置と下手位置を通過する被測定粉粒体
の性状が同一であると見なせるため、両波形を第１．第
２の波形メモ’）　（５１）（５２）に書き込んで、遅
延回路（６）と比較器（７）を用いて比較することによ
って、性状に応じて変動する静電容量値からであっても
速度νを検出できる。上記実施例では遅延回路（６）と
比較器（７）および保持回路（８）で請求の範囲の評価
手段αＱｋ構成している。

上記実施例では第１．第２のセンサ手段は、第１のＫｆ
Ｍ群（２１）と第１の静電容重測定回路（４１）、第２
の１！極群（２２）と第２の静電容量測定回路（匂）と
で構成したが、これは放射＃ｌＩ２１ｉ＋と放射線テ゛
イテクタとして、通過する被測定粉粒体によって減衰さ
れた放射線ディテクタに達するａｔを３（１＋定するよ
う構成したり、放射線源と放射線ディテクタに代って磁
界完生源と磁気センサや、高周波信号発信源と高周波信
号検出器としても同様である。

発明の詳細な説明のように本弁明の粉粒体用速度計は、粉粒体流路
の互いに近接した上手位置と下手位置に設けた第１１第
２のセンサ手段の検出波形を評価手段が比較して両検出
波形間の遅延時間を判定し、前記第１．第２のセンサ手
段の配設間隔ｊと前記評価手段により判定された遅延時
間ｔＳとから演算手段が（／　／１８）によって検出速
度を計算するため、速度が一定であっても被測定粉粒体
の性状によって変１ＩｊＪを受ける検出値を使用しなが
らも、近接した２４点で検出した検出波形を比較して遅
延時間を判定して速度を計算するよう構成さｎているた
め、非接触式でありながら正確な速度検出を行うことが
できるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の粉粒体用速度計の一実施例の構成図、
第２図は第１図の要部波形図である。（１１−・・流路、（２，）（２２）−・・第１．第２
の電極群、（３ａ）（３ｂ）（３ｃ）　””第１〜第３
の電極環、（４１Ｊ（４２）　＝　＄　１　。第２の静電容重測定回路、（５１）（５２）・・・第１
．第２の波形メモＩＪ　、（９）・・・演算器〔演算手
段）、ＱＱ・・・評価手段

Claims

【特許請求の範囲】１、粉粒体流路の互いに近接した上手位置と下手位置に
前記粉粒体流路を流れる粉粒体の性状によつて検出物理
量が変化する第１、第２のセンサ手段を設け、同一測定
期間における前記第１、第２のセンサ手段の検出波形を
比較して両検出波形間の遅延時間を判定する評価手段を
設け、前記第１、第２のセンサ手段の配設間隔ｌと前記
評価手段により判定された遅延時間ｔ＿ｓとから（ｌ／
ｔ＿ｓ）によつて検出速度を計算する演算手段を設けた
粉粒体用速度計。２、第１、第２のセンサ手段を、それぞれ静電容量検出
電極と静電用量測定回路としたことを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の粉粒体用速度計。３、第１、第２のセンサ手段を、それぞれ放射線源と放
射線デイテクタとしたことを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の粉粒体用速度計。４、第１、第２のセンサ手段を、それぞれ磁界発生源と
磁気センサとで構成したことを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載の粉粒体用速度計。５、第１、第２のセンサ手段を、それぞれ高周波信号発
生源と高周波信号検出器としたことを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の粉粒体用速度計。