JPH037883B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の分野］ 本発明は厚さ測定に関し、特に走行するウエブ
に塗工した塗液の塗工量を厚さ計を用いて連続的
に測定する方法および装置に関する。

［背景技術］ 一般に厚さ計を用いて走行するウエブに塗工し
た塗液の塗工量を測定する方法としては、塗工前
のウエブの厚さを測定するための第１の厚さ計
と、塗工後のウエブと塗工された塗液の合計の厚
さを測定するための第２の厚さ計、及び第１およ
び第２の厚さ計で同時に測定された電気信号を減
算するための演算装置を備え、第２の厚さ計で測
定されたウエブの塗工した塗液の合計の厚さ値か
ら第１の厚さ計で測定したウエブの厚さ値を演算
装置で減算して連続的測定記録する方法がある。

この方法により第１及び第２の厚さ計で同時に
測定された厚さ値は、それぞれ第１及び第２の厚
さ計を現在通過中の異つたウエブ位置で測定され
た厚さ値であるが、これを減算して塗工量として
いるのが現状であつた。すなわち、第１と第２の
厚さ計の間には塗工処理装置が配設されるためあ
る程度の設置距離が必要で、走行するウエブの測
定される位置は第１と第２の厚さ計では同一位置
とすることができない。

一般にウエブはマクロ的には均一に見えてもミ
クロ的には厚さに変動があるのが普通である。従
つて厚さが変動しているウエブに塗工する塗液の
塗工量を測定する場合には、従来の方法ではウエ
ブ自体の厚さ変動が演算結果として指示される塗
工量の変動として現れるので、その測定値は実際
の塗工量から誤差の大きいものとなつてしまい正
確な塗工量の測定はできなかつた。

［発明の要約］ 本発明は前述したようにウエブ自体の厚さ変動
が塗工量指示に影響を与えず、誤差の少ない塗工
量を測定できる測定方法及び装置を提供すること
を目的とするものである。

本発明の上記の目的は、例えば、第１の厚さ計
により測定された塗工前のウエブ厚の測定値と、
第２の厚さ計により測定された塗工後のウエブ厚
の測定値とがウエブの同一位置の測定値となるよ
うに選択することにより達成できる。

本発明は、例えば第１の厚さ計により測定され
たウエブの位置がウエブ走行により第２の厚さ計
による測定点に達した時に測定を同期させるため
のウエブの走行長さを検出する測長器、測定され
た厚さ信号を変換するＡ／ＤおよびＤ／Ａ変換ユ
ニツト及びマイクロコンピユータによる演算装置
等を備えた測定装置を用いることにより実施する
ことができる。

［発明の実施態様］ 本発明の一実施例の詳細について第１図および
第２図を用いて説明する。

第１図は本発明の一実施例の全体構成を示す説
明図であり、図において、１はウエブ２０の塗工
前の厚さを測定する第１の厚さ計、２はウエブ２
０の塗工後の厚さを測定する第２の厚さ計、３は
厚さ計用信号演算器、４はウエブ２０が一定距離
走行する毎に出力信号を発生する測長器、５は塗
工処理装置、６は厚さ指示・記録計、７は測長器
からの信号をマイクロコンピユータ１０に対して
割込信号を発生する割込み発生器、８は厚さ計１
の測定値をデイジタルに変換するＡ／Ｄ変換器、
９はマイクロコンピユータ１０からのデイジタル
出力をアナログに変換するＤ／Ａ変換器、１１は
厚さ計１，２間の一定距離を設定する距離設定器
で本実施例の場合、デイジタルスイツチを用いて
いるマイクロコンピユータ１０はさらに、デイジ
タル化された厚さ計の測定値を記憶する測定値記
憶手段１２と、測長器４からの信号と同期して記
憶手段１２をメモリシフトさせるための割込受付
手段１３と、Ａ／Ｄ変換器８の制御および入力デ
ータの平均（例えば１回のサンプリングとして
Ａ／Ｄ変換器８から256回の入力データを取り込
み、これを平均する）を行なうことにより、デイ
ジタル化された厚さ計の測定値を記憶手段１２に
記憶できる形に変換するアナログ入力変換手段１
４と、測定値が記憶されている記憶手段１２の内
容を割込受付の都度１つ上位番地にシフトし今回
入力した厚さ計の測定値を記憶手段１２の最下位
番地に格納するメモリシフト手段１５と、厚さ計
間隔設定器１１で設定された値を参照して出力す
べき記憶手段１２内の測定値が格納されているメ
モリ番地を決定する出力用測定値検索手段１６
と、出力すべき測定値をＤ／Ａ変換器９に送る
際、Ｄ／Ａ変換器９の変換可能な形に変換する
（例えば記憶手段１２内のビツト状態をＤ／Ａ変
換器９の入力ビツト形式になおす）アナログ出力
変換手段１７とで構成されている。

上記構成の塗工量測定装置の動作について第２
図のフローチヤートを参照しながら説明する。

先づ、走行するウエブ２０の塗工前の厚さは第
１の厚さ計１にて連続的に測定される。この信号
はＡ／Ｄ変換器８にてデイジタルに変換されてマ
イクロコンピユータ１０に入力され、第２図に示
す様な手順に従つて処理される。この手順は第２
図のステツプ101に示されているように、マイク
ロコンピユータ１０すなわちCPU（中央処理装
置）に対する外部割込みがきつかけとなつて処理
がなされるようにプログラムされている。外部割
込み発生源として、単位ウエブ走行長さあたり所
定の数のパルスを出力する測長器４をウエブ２０
に接触させ、出力信号を割込みとしてマイクロコ
ンピユータ１０に与えるために割込み発生器７に
接続している。従つてマイクロコンピユータ１０
に対しては、ウエブ２０の単位走行距離毎に割込
みがかかることになり、この割込みはウエブ２０
の走行速度には関係しなくなる。

割込みが発生すると、先づ前述のＡ／Ｄ変換デ
ータすなわち第１の厚さ計１で測定した厚さ値を
ステツプ102でさらに変換した後、それを蓄積し
ておくためにマイクロコンピユータ１０内のデー
タ記憶手段１２を１つシフトする（第２図のステ
ツプ103）。ここで言うシフトとは、ある番地に格
納されている塗工前厚さデータを１つ上位の番地
に転送する操作を意味し、この操作をデータ記憶
手段１２全体に対して繰り返す。その結果、デー
タ記憶手段１２の最下位番地には空きが生ずるこ
とになる。次に現在のＡ／Ｄ変換データすなわち
第１の厚さ計１で測定した塗工前のウエブ２０の
厚さを前述のデータ記憶手段１２の最下位番地に
格納する（ステツプ104）。

一方距離設定器１１には第１の厚さ計１と第２
の厚さ計２間のウエブ２０の距離が設定されてお
り、更に、その設定信号はマイクロコンピユータ
１０で読み出し可能である。マイクロコンピユー
タ１０では距離設定器１１の設定値を読み込ん
で、第１と第２の（β線）厚さ計間のウエブの距
離を知ることによりＤ／Ａ変換器９に出力すべき
データの記憶手段１２における番地を決定する
（ステツプ105）。例えば厚さ計間のウエブの距離
がＸｍで測長器４の割込みがdxｍ毎に入るもの
とすると少なくともＸ／dx個の連続したメモリ
位置を有するデータ記憶手段１２が必要となり、
Ｘ／dx個のメモリ位置を有する記憶手段を用い
た場合はＤ／Ａ変換器９に対しては最上位番地の
厚さデータをステツプ106で適当に処理した後に
出力すれば良いことになる。またＸ／dxは必ず
しも整数でなくても良い。その場合はｄ／dxに
近い整数の個数の連続したメモリ位置を記憶手段
１２が少なくとも必要とする。このとき第１およ
び第２の厚さ計１，２は同一のウエブの位置を測
定することにはならないが、非常に近いウエブ位
置の測定値が得られることになり、誤差はやはり
少なくなる。

塗工処理装置５で塗工された後のウエブ２０の
厚さは第２の厚さ計２で測定され、そのアナログ
信号は、直接演算増巾器で構成される演算器３に
取り込まれる。演算器３は塗工後の厚さ信号と塗
工前の厚さ信号の減算を行なつて、厚さ指示・記
録計６に対して出力する機能を有しているが、塗
工前の厚さはＤ／Ａ変換器の出力信号、すなわち
今現在第２の厚さ計２にて測定されているウエブ
の位置が塗工前に第１の厚さ計１にて測定された
時の値であるので、演算器３での両者の減算結果
としてはウエブの厚さの変動に左右されることな
く極めて正確な塗工量が得られることになる。

また第１図図示の実施例では、メモリシフト手
段１５を用いて、割込み発生毎に記憶手段１２内
の測定値データをシフトさせているから、記憶手
段１２内には、dxｍ間隔でウエブ２０の塗工前
の厚さの測定値データが順に格納されていること
になる。従つて厚さ計１，２間のウエブ走行距離
の設定値を変更する場合にも容易に対処すること
ができる。

加うるにウエブの一定距離の走行毎に割込みを
発生させる方法をとつているので、ウエブの走行
速度の変動に対しても影響なく測定することがで
きる。

なお、第１図図示の実施例においては、塗工処
理装置５としてフアウンテン・エアーナイフ塗布
装置を用いウエブ２０としての坪量160±２ｇ／
m²の両面ポリエチレン被覆紙に塗液として、ゼラ
チン水溶液を、湿分塗布量20ｇ／m²に設定して塗
布した。ウエブ２０上に塗工されたゼラチン水溶
液の塗工量を測定したところ記録計６の指示変動
巾は、従来方法が設定塗工量に対して±２ｇ／m²
の変動であつたのに対し、本発明方法は±0.5
ｇ／m²の変動であつた。

また第１図図示の塗工量測定装置の実施例の第
１及び第２の厚さ計１，２としてはクリプトン85
を線源とするβ線厚さ計を使用した。又塗工前と
塗工後の測定点の間隔は10ｍとし、ウエブの走行
長さを0.1ｍ単位で測長した。

本発明の実施例においては厚さ計１，２として
β線厚さ計を用いたが、γ線等の各種放射線厚さ
計、赤外線厚さ計、静電容量式厚さ計、超音波厚
さ計等種々の厚さ計が使用できる。

また第１図図示の測定装置では演算器３により
塗液の厚さを算出させているが、第２の厚さ計２
からの塗工後の厚さの測定値も別のＡ／Ｄ変換器
を介してマイクロコンピユータ１０に取込み、マ
イクロコンピユータにより塗工量の演算を行なわ
せてもよい。

さらに第２図のフローチヤートでは割込み処理
を行なうようにしているが、マイクロコンピユー
タ１０に他の仕事をさせる必要がなければ測長器
４からの信号の発生をフラグを常にチエツクする
ことにより検出してもよい。しかし、使用する
CPUチツプにもよるが、割込みを使用した方が
ハードウエア、ソフトウエア面で簡単になる場合
が多い。

以上述べたように本発明によればウエブの厚さ
が変動していても塗工量指示に与える影響をなく
すように働くので、ウエブの厚さ変動に左右され
ることなく、変動の少ない正確な塗工量指示が安
定して得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例である塗工量測定装
置の構成を示す説明図、第２図は第１図図示の装
置におけるマイクロコンピユータ１０の処理手順
を表わした流れ図である。 １……第１の厚さ計、２……第２の厚さ計、３
……演算器、４……測長器、８……Ａ／Ｄ変換
器、９……Ｄ／Ａ変換器、１０……マイクロコン
ピユータ、１１……距離設定器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ (イ) 塗液を塗布すべきウエブが所定距離走行
   する毎に出力信号を発生する装置と、 (ロ) 該信号発生装置からの出力信号の発生に応答
   して該走行するウエブの塗液塗工前の厚さを測
   定する第１の厚さ計と、 (ハ) 該塗工前の厚さの測定値を順次記憶する記憶
   装置が、前記信号発生装置からの出力信号の発
   生毎に既に記憶した測定値に関する内容をシフ
   トし、該シフトにより生じたメモリ位置に新し
   い測定値を格納させるメモリシフト手段を含
   み、 (ニ) 該走行するウエブの塗液塗工後の厚さを測定
   する第２の厚さ計と、 (ホ) 前記第１および第２の厚さ計間の該ウエブの
   走行距離を表す値を設定する装置と、 (ヘ) 該距離設定装置の設定値を参照して、前記第
   ２の厚さ計が厚さを測定する該ウエブの位置に
   対応する塗工前の厚さの測定値を前記記憶装置
   に記憶された測定値の中から選択的に読出す装
   置と、 (ト) 前記第２の厚さ計による塗工後の厚さの測定
   値と、前記読出し装置により読出された塗工前
   の厚さの測定値との演算を行ない、前記ウエブ
   上の塗液厚を算出する演算装置と を含むことを特徴とする塗工量測定装置。