JPS58184743A - モ−ルド型半導体装置 - Google Patents

モ−ルド型半導体装置

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Publication number
JPS58184743A
JPS58184743A JP6738582A JP6738582A JPS58184743A JP S58184743 A JPS58184743 A JP S58184743A JP 6738582 A JP6738582 A JP 6738582A JP 6738582 A JP6738582 A JP 6738582A JP S58184743 A JPS58184743 A JP S58184743A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
case
metal substrate
semiconductor device
adhesive
projection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6738582A
Other languages
English (en)
Inventor
Masatami Miura
三浦 雅民
Noritoshi Kotsuji
小辻 宣俊
Yoichi Nakajima
中島 羊一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP6738582A priority Critical patent/JPS58184743A/ja
Publication of JPS58184743A publication Critical patent/JPS58184743A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/10Containers; Seals characterised by the material or arrangement of seals between parts, e.g. between cap and base of the container or between leads and walls of the container
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、モールド型半導体装置に係り、特にケースと
金属基板の接続に関する。
第1図は従来のモールド型半導体装置の断面図會示し、
第2図は第1図のケースと金属基板O螢続部の拡大図で
、絶縁モールド型サイリスタを示す。半導体チップ5の
上面は、ろう材8G、8におよび9G、9に′fr介し
て内リード7G、7にとゲート電極6G、 カソード電
極6Kにそれぞれ接続され、半導体テップ5の下面はろ
う材9At介してアノード電極6Aに電気的に接続され
ている。
さらにアノード電極6A、ゲート電極6Gおよびカソー
ド電極6には、ろう材10A、IOG。
1011介して、セラミックなどの絶縁板11に接続し
、この絶縁板11と金属基板2はろう材12にて接続し
である。ケースlと金属基板2は接着剤4で接続し、ケ
ースlの内部には樹脂3fモールドにより充填し外気と
遮断しである。
以上のような従来のモールド型半導体装置は次のような
欠点倉有してイル。
■ ケースlと金属基板2の接続位置が不安定で接着剤
4で接続することが容易に出来ない。
■ 樹脂3を注入する時に樹脂3がケース!と金属基板
2との間より流出しないようにケース1と金属基板2は
接着剤4で接続するが、その際、接着剤4が半導体チッ
プ5の上に飛び散り、また熱硬化する接着剤4によって
は、この接着剤4から発生するガスにより半導体装置の
機能を害することがある。
係るモールド型半導体装置の欠点?解消するため種々の
方法が考えられたが、いづれも解消不可能な次の欠点を
有している。
的記■を解決するために、金属基板2の溝にケースlの
幅を合わせ接続位!t1!r定める構造では接着剤4を
注入することが出来ない。
あらかじめ接着剤4をケースlの先端に塗布しておき、
金属基板2と接続する構造では、ケースlの先端に塗布
した接着剤4が、金属基板2へ取り付ける際、アノード
電極6A、ゲート電極6G。
カンード電極6になどに触れないよう位置合わせするこ
とが必要となり、作業性が悪い。
■の半導体装置の機能を害する防止策として、半導体チ
ップ5をコーテイング材で被覆保護する構造があるが、
・−ティ〜グ:材−1,5!出し金属基板2とケースl
の接続部に達した場合・ケース!と金属基板2の間に隙
間が出来、接続不具合いが生じるため、慎重に作業する
ことが必要である。
本発明の目的は、前記公知技術の欠点を解消し、接着剤
管用いないでケースと金属基板を容易に接続することが
でき、信頼性向上することができるモールド型半導体装
置管提供することにある。
本発明の特徴とするところは金属基板と接するケースの
先端に弾性を有する突起を設はケースを金属基板に敗り
付ける際、この突起の弾性管利用し金属基板に保合密着
させたことにある。
以下、本発明を図面に示した実施例に基づいて説明する
第3図はケース1を取シ付は樹脂3ケ充填したモールド
型半導体装置の拡大断面図である。ケースlは金属基板
2の所定の位置にケース11先端の突起1aを介して突
起1aの弾性を利用し保合密着されている。
本発明によると下記に示す利点がある。
″[・ ■ ケースlと金属基板、2の接続が接着剤4を用いな
いこと、およびケースl先端の突起11の弾性を利用し
保合密着させることで取シ付は位置が定まシ作業が容易
である。
■ 接着剤4を用いないでケースと金属基板2倉接続し
、その後樹脂3をケースlの内部Kye、tllするた
め、接着剤4が半導体装置の機能を害することが無くな
り、信頼性向上となる。
■ ケースlは先端の突起1aの弾性を利用し金属基板
2と保合密着させるため、樹脂3の流出防止が出来る。
さらに発明の変形例・応用例としてtH4図〜第6図に
他の実施例を示す。
第4図に示す実施例でケースlの先端の突起Iaをケー
スlの外側に具備し、これ會金桐基板2へ取り付けたも
のであり上蓋付きケースIK有効である。fjgs図に
示す実施例ではケースlの先端突起1aをケースlの内
外側両方向に具備しこれを金属基板2へ取り付けたもの
で、さらに取り付は位置が安定する。第6図は1114
図の実施例のケースlの底面と金属基板2よりうがせ、
この部分へも樹脂3を充填したモールド型半導体装置で
ある。この構造においては樹脂3を介しての装置内部と
外気との沿面長がさらに長くなシ、より信頼性が向上す
る。
以上の実施例では絶縁板11が半導体チップ5と金属基
板20間に介在されているが、絶縁板11かないもので
あってもよい。まな、半導体チップは複数個載置されて
いてもよい。
本発明によれば、ケースと金属基板の接続が容易となり
、さらにケースと金属基板の接続に接着剤管用いないこ
とで信頼性向上の効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のモールド型半導体装置の断面図、第2図
は第1図のケースと金属基板の接続部の拡大図、第3図
〜第6図は各々本発明の異なる実施例を示すケースと金
属基板の接続部の拡大断面図である。 l・・・ケース、Hg・・・突起、2・・・金属基板、
3・・・樹脂、5・・・半導体チップ、6A・・・アノ
ード電極、6G・・・ゲート電極、6K・・・カンード
電極、7G・7K・・・内リード、8G・8K・9G・
9K・10A−10G−10K・12・・71″ 11
−絶縁板。 署 ご m $ 4m

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、金属基板の一主面の少なくとも一部分に、ろう材な
    どを介して、少くと41個の半導体チップおよび該半導
    体チップに電流を流すためO複数個の電極を取り付は前
    記半導体デツプと複数個の電極管金属基板と接続される
    ケースで囲い、このケースの内@會樹脂によりモールド
    し九モールド堰半導体装置において、ケースの金属基板
    と接続する部分に弾性を有する突起管設け、該突起によ
    pケースを金属基板に保合密着させているとと會特徴と
    するモールド型半導体装置。
JP6738582A 1982-04-23 1982-04-23 モ−ルド型半導体装置 Pending JPS58184743A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62196351U (ja) * 1986-06-05 1987-12-14
JPS6320447U (ja) * 1986-07-25 1988-02-10
JPH0236551A (ja) * 1988-07-27 1990-02-06 Hitachi Ltd 絶縁モールド型半導体装置及びその製法
JP2014203978A (ja) * 2013-04-05 2014-10-27 三菱電機株式会社 パワーモジュール
JP2018046103A (ja) * 2016-09-13 2018-03-22 三菱電機株式会社 半導体装置
JP2018082069A (ja) * 2016-11-17 2018-05-24 三菱電機株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62196351U (ja) * 1986-06-05 1987-12-14
JPS6320447U (ja) * 1986-07-25 1988-02-10
JPH0236551A (ja) * 1988-07-27 1990-02-06 Hitachi Ltd 絶縁モールド型半導体装置及びその製法
JP2014203978A (ja) * 2013-04-05 2014-10-27 三菱電機株式会社 パワーモジュール
JP2018046103A (ja) * 2016-09-13 2018-03-22 三菱電機株式会社 半導体装置
JP2018082069A (ja) * 2016-11-17 2018-05-24 三菱電機株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法

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