JPS58175368A - ドロツプアウトの発生分布測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ビデオテープレコーダなどに用いられる磁気
テープの性能を測定するために適したドロップアウトの
発生分布測定方法に関する。

家員用のビデオテープレコーダ（以下、ＶＴＩ（という
）として、１／２インチ幅の磁気テープを使用した、い
わゆるヘリカルスキャン［ＶＴＲが非常な勢いで普及し
つつある。かかるＶＴＲは、磁気テ」プがカセットに収
納されて、テープの着脱やその他の操作が非常に容易で
あり、また、６時間にも及ぶ連続記録が可能となって、
長時間番組の記録ができるようになりだ。

このように、長時間番組を記録することができるように
なったのは、磁気テープの記録密度を極端に向上させる
ことができるようになったためではあるが、まず、この
点について、第１図を用いて説明する。

第１図において、ｌは磁気テープ、２は磁気ヘッド、３
は記録トラック、４は水平同期信号である。

磁気テープｌは矢印Ａ方向に走行し、磁気ヘッド２は磁
気テープｌを角度θでもって矢印Ｂの斜め方向に走査す
る。このためＫ、記録トラック３は、磁気テープ１上に
角度θでもつ【斜め方向に形成される。なお、図示して
ないが、磁気ヘッド２としては２つの磁気ヘッドが用い
られ、これらの磁気ヘッドは回転ドラム上に互いに１８
０°の角関補で設けられ、一方の磁気ヘッドは１つおき
の記録トラックを記録または再生し、他方の磁気ヘラ、
ド◆ヱ他の１つおきの記録トラックを記録または再生す
る。したがって、記録トラック３は１つづつ交互に異な
る磁気ヘッドで記録または再生される。

各記録トラック３には、１フイールドづつ映像信号が記
録され、したがって、２６２Ｈ（Ｈは水平走査期間）の
映像信号が記録されることになる。

各記録トラック３の端部には、図示しないが、垂直同期
信号が記録されており、水平同期信号４はＩＨ毎に記録
されている。

ところで、一般には、記録トラック間のクロストークな
防止するために、各記録トラック３間にガートバンドを
設けられるものであるが、記録密度を高めるためＫ、い
わゆる、アジマス方式を利用することにより、ガートバ
ンドを設けることなく、各記録トラック３が接するよう
にしている。

すなわち、上述した２つの磁気ヘッドのギャップ方向を
異ならせ、隣接せる記録トラック３間で互いＩＩＣｇ化
方向上方向らせている。このようにすると、記録トラン
ク３を、その磁化方向と異なるギャップ方向の磁気ヘッ
ドで再生走査しても再生出力編充分に抑呵ることができ
る。そこで、記録時においては、隣接記録トラックに一
部重複して記録トラックを形成することもでき、記録ト
ラックの幅を充分に狭くすることができて記録密度が大
幅に向上することになる。

因みに、記録トラック３０幅Ｗは、加μｍないし５８μ
ｍにとられており、磁気ヘッド２が隣接ト、２ツク３を
一部走査しても、）ロストークが生ずることがない。水
平同期パルス４間の長さくＩＨの映１１！信号が記録さ
れる良さ）ｔヨは約３７０μｍで、θは約７°である。

以上、磁気テープ上に高密度に形成された記録トラック
について説明したが、一般に、磁気テープを再生走査す
ると、磁気テープ上の欠陥により映隊信号にド・・プア
ウトが生己、再生画面上に白点状あるいは白線状の雑音
が現わｉ、ＩＩＩＩＩ質を低下させるこｈＫ′なる。

磁気テープに欠陥が生ずる原因としては、磁気テープ上
−の傷や突起、くぼみ、あるいは、磁気テープに付着す
る塵、埃などがある。そして、このような原因によって
生ずる欠陥の性質は次のように分類することができる。

まず、一つは、磁気テープの傷などによるもので、取り
除くことができないような欠陥であり、このような欠陥
は常にドロップアウトを惹き起すこと罠なる（以下、こ
のようなドロップアウトをパーマネントドロップアウト
という）。次に、磁気テープ上に弱く付着した塵、埃な
どによる欠陥で、一度磁気ヘッドで走査すると、その時
はドロップアウトが生ずるが同時に塵、埃が除かれ、次
回の走査ではドロップアウトが生じない一以下、このよ
うなドロップアウトをテンポラリ−ドロップアウトとい
う）。また、１回目の磁気ヘッドの走査ではドロップア
ウトは生じないが、磁気テープ上の塗膜中のある檜の物
質が磁気ヘッドの走査によってかき集められ、磁気テー
プ上のある位置に強く付着することによる欠陥であって
、複数回走査するとドロップアウトが堝われてくる（以
下、このようなドロツプアウトを準パーマネントドロッ
プアウトという）。

いずれにしても、ドロップアウトを生ずることは、再生
ｌ１１１１５Ｍの劣化を惹き起すものであるから好まし
いことではないが、％に、パーマネントドロップアウト
、準パーマネントドロップアウトの発生は極力防止しな
ければならず、また、先に述ぺたような長時間記録のた
めの高密度記録を行なう磁気テープにおいては、磁気テ
ープの微小な欠陥も大きなドロップアウトとして現われ
ることがら、わずかな欠陥でもできるかぎり少なくする
ことが必要である。

もちろん、このようなドロップアウトは電気的手段によ
り取り除くことができ、これまでそのための積々の発明
、考案かなされてきたが、それらは原理的には、ドロッ
プアウト部分を近似した情報内容を含む信号で補償し、
視覚的にドロップアウトが目立たないようにするもので
あるから、ドロップアウトが＠繁に発生する場合にはや
はり画質の劣化をきたすことになる。そして高密度記録
の場合には、これまで熱極影響がなかった微少な欠陥が
ドロップアウトとして影智してくることから、ドロップ
アウトの発生頻度が増加するととＫなる。

そこで、さらに欠陥の少ない磁気テープの開発が必要と
なるが、このためには、まず、パーマネント、準パーマ
ネント、テンポラリ−などのドロップアウトの評価、さ
らには、ドロップアウトの発生原因の究明が必要となる
。

この点に関して、従来、磁気テープ上に信号を記録再生
し、単位時間当りに発生するドロップアウトの数をカウ
ントし、これを集計平均化してドロップアウトを評価す
るという方法があったが、この方法では、まず、パーマ
ネント、準パーマネント、テンポラリ−の夫々のドロッ
プアウトを正確に評価することができないという欠点が
あった。

すなわち、従来技術では、これらドロップアウトの種類
を区別することができないのである。真に、磁気テープ
の性能をドロップアラ）Ｋよって評価する場合には、む
しろ、テンポラリ−ドロップアウトを評価の対象から除
いた方が好ましい場合があるが、常に、塵、埃というも
のは磁気テープに付着するものであるから、単に発生す
るドロップアウトをカウントするだけでは、常にテンポ
ラリ−ドロップアウトもカウントしてしまうととＫなる
。また、パーマネント、準パーマネントの夫々のドロッ
プアウト船、′各再生走査毎に全文発生ず石ものとは限
らない。したがって、単なるドロップアウトのカウント
は、パーマネント、準パーマネントの夫々のドロップア
ウトの数さえも正確に表わしてはいないことになる。

次に、従来の技術は、磁気テープ上のドロップアウトを
発生させる欠陥の分布のデータを提供することができな
いという欠点がある。磁気テープ・上の欠陥の分布は、
欠陥の原因究明に非常に有用なデータであ・る。たとえ
ば、ＶＴＲのローラによって生じた憔気ナープ上の傷は
、それ特有の欠陥の分布を示し、ドロップアクトめ発生
分布は、欠陥の′原因究明の一つの手掛りとなる。

本発明の目的は、上記従来技術の欠点を除き、磁気テー
プの欠陥分析を正確に行なうことができるようにルたド
ロップアウトの発生分布測定方法な提供する・Ｋある。

この目的を達成するために、本発明は、磁気テープから
再生された１９１：像信号の水平、垂直同期パルスにも
とづいて前記磁気テープ上に座標系を設定し、該座標系
にもとづいて発生したドロップアウトの前記磁気テープ
上の位置を表わす情報信号を得るようにし、かかる情報
信号に４より前岬磁気テープ上の分割さ５れた複数のブ
ロックの夫々のブロックについての下ロップアウトの発
生個数な力、ラントし、表示することかできるようにし
た点を％徴とする。

以下、本発明の実施例を図面について説明する。

第２図は本発明によるドロップアウトの発生分布測定方
法の一実施例を示すブロック図であって、５はＶＴＲ，
６はマイクロコンビエータ（以下、ｉイコンという）、
７は時間設定タイマ、８は垂直同期パル′スカウンタ（
以下、■カウンタという）、９は水平同期パルスカウン
タ（以下、Ｈカラ。

ン夕という）、１０はドロップアウト検出器、・１１は
ドロップアウト幅カウンタ、　１２は発振器、　１３は
表示装置である。

第３図は第２図の動作を示すフローチャートである。

次に、この実施例の動作について説明する。

第２図において、ＶＴＲ５はマイコン６により制御され
る。マイコン６の端子Ｃ％、Ｃ１，ＣＩ、Ｃ４カらは、
夫々記録、再生、停止、巻戻しの各モードの指令信号が
Ｖ　Ｔ　Ｒ５に送られ、ＶＴＲ５は送られてきた指令信
号に応じたモードで動作する。時間設定タイマ７は記録
および再生モードの時間を設定するためのもので、マイ
コン６の端子Ｃ１からリセット信号が送られると時間設
定タイマ７は動作を開始し、同時に、マイコン６の端子
Ｃ３またはＣ３から指令信号が込られてＶ　’ｒ　ｉ（
５は記録または再生モードとなる。時間設定タイ−ｑ７
は、設定された時間を経過するとマイコン６にタイムオ
ーバー信号を送り、マイコン６は端子Ｃｌ、Ｃ４から指
令悟号を送ってＶ　Ｔ　Ｒ５を停止、巻戻しモードにす
る。

ＶＴＲ５がマイコン６からの指令により再生モードにあ
るときＫは、第１図に示す磁気テープ１から映像信号が
再生され、再生映像信号から分離された垂直同期パルス
ｖＳはＶカウンタ８へ、水１１１期パルスＨ８はＨカウ
ンタ９へ、また、再生ＲＦ信号Ｖはドロップアウト検出
器１０に夫々供給される。

■カウンタ８は１６ビツトのカウンタであって、供給さ
れる垂直同期パルスｖＳをカウントする。

Ｈカウンタ９は９ビツトカウンタであって、供給される
水平同期パルスＨ８をカウントするとともに、−直同期
パルスＶ８によりリセットされる。

したがって、Ｈカウンタ９は１フイールド毎に水平同期
パルスＨ８のカウントを繰り返えすことになる。

ドロップアウト検出器１０は再生ＲＦ信号ｖｎｇ幅の低
下からドロップアウトを検出し、これをマイコン６に供
給するとともに、ドロップアウト幅カウンタ１１にも供
給する。ドロップアウト幅カウンタ１１は８ビツトカク
ンタで構成され、ドロップアウトが供給されると、ドロ
ップアウト期間発振器１２からのパルスをカウントシ、
そのカラシト数をドロップアウトの幅としてマイコン６
に供給する。゛ ソコで、マイコン６はドロップアウト検出器ｌＯからド
ロップアウトが供給されると、その時点でのＶカウンタ
８．Ｈカウンタ９の夫々のカウント数も供給され、ドロ
ップアウト幅カウンタ１１からの男つント数とともにメ
篭り（図示せず）Ｋ記憶する。■カウンタ８のカウント
数はドロップアウトを生ずる欠陥が存在する記録トラッ
クを表わし、また、Ｈカウンタ９のカウント数はその１
鍮トラック上の欠陥が存在するＨ期間を表わすものであ
って、夫々のカウント数は磁気テープ上の欠陥”の位置
を表わすアドレス信号となる。

Ｖカウジタ８は１６ビツトカクンタであるから、２”−
６５５３６個の記録トラックをカウントすることができ
、したがして、６５５３６／　６０中１０９０秒、すな
わち、約１８分メ醐定が可能である。２″１個カウント
するとリセットされ、この時間周期でカウントを繰り返
す。

Ｈカウンタ９は９ビツトカウンタであるから、２°−５
１２カウントすることかでき、−直同期パルス■８によ
りリセットされるから、ＮＴ８Ｃ方式の場合には、１か
ら２６２までのカウントを繰り返し、ＰＡＬ方式、８Ｗ
ＣＡＭ方式では、１から３１５までのカウントを繰り返
えすことになる。なお、ＰＡＬ方式、８ｇＣＡＭ方式は
垂直同期パルスｖＳの繰返し周波数は５０Ｈ！であるか
ら、２謁１５０中１３．１０秒、すなわち、約加分の醐
定か可能である。

ドロップアウト幅カウンタ１１は８ビツトカクンタであ
るから、２”　−２５６のカウントが可能であり、いま
、発振＠１２の発振周波数を５ＱＱ　ｋＨｇとすると、
ドロップアウトの幅を２μ秒から５１２・＾秒までで２
μ秒の精度で検出することができ、これは、Ｈ／３０か
ら約８Ｈまでの幅の欠陥の幅を検出することができるこ
とになる。第１図の磁気テープの場合には、ＩＨ中３７
０／Ｊｍであるから、３７０÷３０中１２　ｊ　ｆｆｌ
　１４度までの微小な欠陥を検出できることになる。

なお、以上の数値は一例を示したＫすぎない。

たとえば、発振器１２の発振周波数をさらに高くすれば
、さらに微小なドロップアウトの幅、したがって、さら
に微小な磁気テープの欠陥の幅を検出することができる
ことは明らかである。

１以上、第２図の各ブロックの動作について説明したが
、次に、第３図のフローチャートを用いて磁気テープの
欠陥の測定を行なう場合について説明する。

まず、時間設定タイマ７により測定すべき時間を予じめ
設定する。そこで、記鍮頗（図示せず）を押してマイコ
ン６をスタートさせる（１４）と、Ｃ１熾子から記録指
令信号を発してＶＴｉ＃−５を記録開始させる（１５）
。記録開始後適当な時刻にスタート音声信号を音声記録
トラック（第１図において、図示しないが、磁気テープ
１の一方の端に、テープ長手方向に形成される）Ｋ記憶
　（１６）　Ｌ、同時Ｋ、Ｃ３端子からリセット信号を
送って時間設定タイマ７を動作させる（１７）。

その後、時間設定タイマ７が設定時間を経過してタイム
オーバー信号を発生する（１８）と停止釦（図示せず）
を押し、マイコン６はＣ１端子に停止指令信号を発して
ＶＴＲ５の記録を停止させ、次いで、巻戻し釦（図示せ
ず）を押してＣ４端子に巻戻し指令信号を発して磁気テ
ープ（図示せず）を元の位置まで巻戻させる（１９）。

次に、再生釦（図示せず）を押すとマイコン６はｅ、端
子に再生指令信号を発し、ＶＴＲ１Ｓは再生篭−ドとな
る（２０）。音声記録トラックを再生しつつ、スタート
音声信号が再生検出される（２１）と、Ｖカウンタ８．
Ｈカウンタ９．ドロップアウト幅カウンタｌＩＫリセッ
トパルスを供給して夫々をリセットする（２２）。モし
てＶカウンタ８で一直同期パルスｖＳが、Ｈカウンタ９
で水平同期パルスＨ８が、先に述べたように、夫々カウ
ントされる。

そこで、ドロップアウト検出器１ｏでドロップアウトが
検出されるとマイコン６はこれを検知（以下、ドロップ
アウトの割り込みという）　Ｌ　（２３）、ドロップア
ウトの開始時点におけるＶカウンタ８゜Ｈカウンタ９の
カウント数を読み込み、また、ドロップアウト幅カウン
タ１１からのカウント数も読み込んで（２４）、夫々の
カウント数をマイコン６のメモリ（図示せず）に記憶す
る（２５）。それとともに、ドロップアウト幅カウンタ
１１はリセットされる（２６）。なお、ドロップアウト
幅カウンタ１１のリセットは、たとえば、検出きれたド
ロップアウトの終端からパルスを検出し、このパルスに
よって行なわせることができる。

各カウンタ８，９．１１のカウント数がメモリに記憶さ
れると、メモリがオーバーするか否かを判別しく２７）
、もし、オーバーするならばメモリに記憶されたデータ
ーを外部メモリ（図示せず）Ｋ転送する（２８）。次い
で、時間設定タイマ７からタイムオーバー信号があった
か否かの判別（２９）を行ない、設定時間が経過してな
ければ、次のドロップアウトの割り込み（２３）に備え
る。

そして、時間設定タイマ７による設定時間内で、ドロッ
プアラ１蘇検ＪＢ−される毎Ｋ、■カウンタ８゜Ｈカウ
ンタ９．ドロップアウト幅カウンタ１１のカウント数が
メ毫りに記憶され、メモリに余裕がなくなると、メモリ
に記憶されたデータは外部メモリに転送される。

時間設定タイマ７による設定時間が経過すると時間設定
タイマ７はタイムオーバー信号を発生しく２９）　、停
止釦９巻戻し釦を押すことにより、マイコン６はｃ畠、
Ｃ４端子に夫々停止、巻戻し指令信号を発生してＶＴＲ
５を停止モード、さらに巻戻し毫−ドにする（３ｏ）。

それとともＫ、マイコン６のメモリに記憶されているデ
ータは全て外部メモリに転送され（３１）、測定が全て
完了する（３２）。

このようＫして、発生したドロップアウトに対応してＶ
カウンタ、Ｈカウンタのカウント数が得られるわけであ
るが、これらのカウント数は、磁気テープ上Ｋａｌ直、
水平同期パルスで表わされる座標系を設定したときに１
　ドロップアウトの発生位置を表わすととＫなる。そこ
で、ドロップアウトの発生位置が知れたから、第４図に
示すように、磁気テープｌを点線で示すように長手方向
２幅方向に分割して複数のブロックを設定し、各プロッ
りにおけるドロップアウトの発生個数を分析して磁気テ
ープ１上のドロップアウトの発生分布を、表示装置１３
　（縞２図）Ｋ表示するようＫする。

第５図は磁気テープの各ブロックにおけるドロップアウ
トの発生個数を得るための第２図のマイコンの演算部の
一興体例を示すブロック図であって、北はメモリ、あ、
　３５．３６．３７．３８は夫々比較回路、　３９．４
０．４１　、４２は夫々アンド回路、４３，４４゜４５
、４６．４７はカウンタ、４８はメモリ、４９はレジス
タ、５０は減算回路、５１はレジスタ、５２はメモリで
ある。

第６図は第５図の動作を説明するためのフローチャート
である。

次に、この具体例の動作について説明する。

いま、第４図において、磁気テープ１０幅方向に記録ト
ラックに沿って５つの領域に分割し、また、磁気テープ
１の長手方向に磁気テープｌの再生時における走行速度
で１分間に分割するものとする。したがって、このよう
に分割された１つのブロックは、磁気テープ１の長手方
向に１６０　Ｘ　６０　＝　３６００本 の記録トラックの幅に相当し、また、幅方向に、に相当
する幅となる。

さて、第５図において、メモリ３３には、第２図で説明
したように、検出された各ドロップアウトに対するＶカ
ウンタ８０カウント＊＜以下、■アドレスという）とＨ
カウンタ９０カウント数（以下、Ｈアドレスという）と
が記憶されており、最も小さいＶアドレスがレジスタ４
９に転送される。

同時Ｋ、メモリ５２から磁気テープ１（第４図）の長手
方向に区分した最初のブロックの最大のＶアドレスがレ
ジスタ５１に転送される。レジスタ４９゜５１０蛾上位
ピット（以下、ＭＯＢという）は夫々Ｖアドレスの符号
を表わし、レジスタ４９０Ｍ８Ｂは“０“ビット、レジ
スタ５１のＭＯＢも“０１ビツトである。

なお、メモリ５２には、磁気テープ１（第４図）の長手
方向の各ブロックの最大のＶアドレス（以下、基□準Ｖ
アドレスという）をＭＯＢが“０′″ビ・トの正符号と
Ａもに記憶されている。したが・て、磁気テープ１の長
手方向を、先に述ぺたようＫ、１分間毎に区切っている
ものであるから、各ブロックの基準■アドレスは、最初
の６つのブロックについてみると次の表１のようになる
。なお、表１の「ブロックの鍛大カウｙ　）　（１０道
）」゛とは、ブロックにおける■カウンタ８（第２図）
の最大のカウント数で、Ｎ０５１ブロツクは第１番目か
゛ら第３６００番目の記録トラックまでを含み、Ｎｏ、
　２ブロツクは （表１） １　　　　　　−”　−−’　”　’ ブーツタ、ブーツタの１　　　　基準Ｖアドレスト符号
１！大■カウ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　。

Ｎｏ　　　ノド Ｃ１１５１４，１３１２１１ｍ０１１７６５４３３１１
　　　　３６００　　Ｇ’０　０　０　０　１　１　１
　０　０　０　０　１．、．０　０　０＋　　　、　　
　　、　　　　　、、、　　　　　−、、、、、。

２　　　　７２００　０．０　０　０　１　１　１　０
　０　　（１０１＠　　０　０　０３　　　　１Ｇ８０
０　０１００　１　０　１　０　１　０　０　０　１　
１　０　０　０４　　　　１４４００　０．０　０　１
　１　１　０　０　０　０　１　０　０　０　０　０５
　　　１８０００　０’０　１　０　０　０　１　１　
０　０　１　０　１　　＠　　・　・第３６０１番目か
ら第７２００番目までの記録トラックを含んでいること
を表わす。

レジスタ４９．５１のＶアドレス、基準■アドレスとは
減算回路５ＯＫ転送され、 （基準■アドレス）−（Ｖアドレス）　・・・・・・（
１）の減算が行なわれる。いま、 （基準゛■アドレス）≧（Ｖアドレス）　・・・・・・
（２）のと−には、式（１）は正であって減算回路間の
Ｍ２Ｒは“Ｏ１１ビットである。しかし、 （基準Ｖアドレス）く（ｖアドレス）　・・・・・・（
３）のときには、式（１）は負となりて減算回路間のＭ
Ｓ３は“１′″ビツトとなる。減算回路間はＭ２Ｒをｉ
出力し、それが“１°ビツトのときＫ、メモリ５２１１
Ｂ’ 。岬゛５次″１準７）’Ｌ／Ａ””−ｖ−）ｘｐｓ比転
送ｉ！′１ゝ１とともに、カラン月３．４４，４５．・
４・６．．４７は夫１ ゜■々のカウント数がメモリ絽に転送されるとと、もに
Ｏリセットされる。

０一方、Ｌｚレジスタ９，５１のＶ７）”Ｌ／ス、Ｊ準
Ｖアドレスとが、上記（２）式を満足しているとき１に
、は、３５、　３６．　３７．　３８に転送される。各
比較回路は夫々異なる基準値が９ビツトで設定され、転
送されたＨアドレスと比較し、Ｈアドレスが基準値を越
えない比較回路から“ｌ“ビット信号が得られる。

いま、先述のように＠気テープｌ（第４図）を幅方向に
５つのブロックに分割しているから、―直同期パルスが
記録されているブロックから順次ブロック１，２，３，
４．５と番号を付けると。

Ｈカウンタ９（第２図）がカウント数が「１」から「５
２」まではブロック１．［５３］から「１０５　Ｊまで
はブロック２．「１０６ｊから「１５８　」まではブロ
ック３．「１５９ｊから「２１１　ｊまではブロック４
．　　ｌ’−２１２ｊ以上はブロック５ということにな
る。

そこで、比較回路調には１０進数「５２」に対応した９
ビツトの基準値（以下、基準Ｈアドレスという）が、比
較回路あには１０進数「１０５４に対応した基準Ｈアド
レスが、比較回路３６にはｌＯ進数「１５８ｊＫ対応し
た基準Ｒアドレスが、比較回路３７には１０進−数［２
１１４に対応する基準Ｈアドレスが、−また、比較回路
３８には記録トラックにおける水平同期パルスの全数よ
り多い、たとえば、１０進数「２７ＱＪＫ対応した基準
Ｈアドレスが夫々設定されている。

以上のようＫして、各比較回路においてＨアドレスと基
準Ｈアドレスとが比較されると、Ｈアドレスが基準Ｈア
ドレスを越えない比較回路から“１′ビツトが出力され
るわけであるが、転送されるＨアドレスが１０進数も「
５２」を越えないときには全ての比較回路あ〜謔から″
１′″ビットが生ずる。しかし、比較回路あからの″１
′″ビットはカウンタ４３に供給されるとともに、アン
ド回路３９に反転され【供給されるから、比較回路おか
らの“１１ビツトはカウンタ４４に供給されず、また、
比較回路おからの“ｌ“ビットは反転されてアンド回路
切に供給されるから比較回路謁からの“１′″ビツトは
カウンタ４５に供給されず、以下、同様Ｋ。

アンド回路４１，４２により比較回路３７．３８からの
“Ｉ′″ビットはカウンタ４６，４７に夫々供給されな
〜−０ また、たとえば、Ｈアドレスが比較回路３４．３５−の
夫々の基準アドレスの間にあるときには、比較回路讃か
ら″０″ビットが生じ、これが反転されてアンド回路３
９に供給されるから、比較回路あからの“１“ビットが
カウンターに供給される。比較回路３６．３７．３８か
らは″１′″ビットが生ずるが、先に述べたことから夫
々カウンタ４５　、　４６．４７　Ｋ供給されない。結
局、カウンタ４３〜４７　Ｋは、磁気テープの幅方向の
ブロック１，２，３，４．５毎のＨアドレスに対する″
１′ビットが供給されることになる。したがって、減算
回路間から１“ビットが来ない障り、カウンタ４３〜４
７は磁気テープの幅方向のブロック１，２，３，４．５
毎のＨアドレスの数、すなわち、ドロップアウトの数を
カウントすることＫなる。

あるＶアドレスについて全てのＨアドレスをカウントす
ると、レジスタ４９に次の■アドレスが転送され、同様
にして、その■アドレスに対するＨアドレスがカウント
される。

前記式（３）となつ℃減算回路間から“１“ビットが供
給されると、カウンタ４３〜４７１ヱそのときのカウン
ト数を夫々メモリーに転送してリセットされ、このよう
にしてメモリ４８には、第４図で示す先Ｋ１ｍ明した点
線で区分された各ブロック毎のト。

ロップアクト数が臆次記憶される。

もし、レジスタ４９にメモリ（から順次■ア酬°レスが
レジスタ５１の基準■アドレスと比較され、前記式（３
）、すなわち、 （基準■アドレス）〈（■アドレス）　・・・・・・（
３′）となってメ毫り５２から次の基準Ｖアドレスカー
レジスタ５１に転送されたとき（同時に、カウンタ４３
〜４７の読出し、リセットが行なわれる）、これで−も
、まだ、上記式（３′）であるときには、や＆まり、減
算回路（資）は“１′″ビツトを発生してメモリ５２力
１らレジスタ５１に次の基準Ｖアドレスを転送するとと
もに、カウンタ４３〜４７はカウント数がメ峰り４８に
転送されてリセットされる。このとき、メ峰り３３から
はＨアドレスが読み出されておらず、カラン／４３〜４
７０カウント数は全て零であり、メモリ槌には零が記憶
される。これは、そのときの磁気テープの長手方向に区
切られたブロック、すなわち、磁気テープのある区間に
は全くドロップアウトが生じなかったことを表わしてい
る。

以上にして得られた各ブロック毎のデータを表示するこ
とＫより、磁気テープ上のドロップアウトの発生分布を
表示することができる。

なお、レジスタ４９、減算回路５０．レジスタ５１゜メ
モリ５２は比較回路を形成しており、比較回路あ〜あも
かかる構成にすることかで鎗、この場合、メモリ５２に
対応するメモリには、夫々の基準Ｈアドレスを記憶して
おけばよい。また、これらの比較回路は他の回路構成を
なしてもよいことは明らかである。

次に、第６図を用いて第５図の動作を説明する。

まず、スタートすると、レジスタ４９，５１．カウンタ
４３〜４７がリセットされ、次いで、メモリあから最初
のＶアドレスが絖み出され（５３）、　Ｖアドレスがあ
れば（５４）、レジスタ４９に転送される。

レジスタ４９の■アドレスとレジスタ５１０基準■アド
レスと２が減算回路間に供給されて比較されるカｔ（５
５）、このときの基準■アドレスは零であるから、減算
回路５０からは“１″ピツＦが発生し、カウンタ４３〜
４７の読出しく５６）リセットが行なわれ、メモリ５２
から最初の基準Ｖアドレスがレジスタ５１に転送される
（５７）。そこで再びメモＩＪ　３３から最初の■アド
レスがレジスタ４９に転送され【基準Ｖアドレスと比較
される（５５）。

もし、■アドレスが基準■アドレスより大き−・ときに
は、５５→５６→５７→５５のループを再度経て、■ア
ドレスが基準Ｖアドレスより小さくなると、メモリおか
らＨアドレスを読出す（５８）。そこで、Ｈアドレスが
あれば（５９）カウンタ４３〜４７σ）いずれかに供給
されてカウントされる（６０）。しかし、Ｈアドレスが
なければ（５９）メモＩＪ　３３から次の■アドレスを
読み出して（５３）同じ動作を繰返す。

そして、このような動作を繰返して各ブロック（第４図
）のドロップアウトの数がカウントされ、メモリおから
の■アドレスがなくなると（５４）、全てのブロックの
ドロップアウトの数がカウントされたことになって動作
がストップする。

なお、先に述べたように、Ｖカウンタ８（第２図）は１
６ピツトカウンタであって、そのカウントは２”／６０
中１０９２秒、したがって、１８分１２秒毎にリセット
されてカウントを繰返すととになる。

そこで、時間設定タイマ７による設定時間が１８分１２
秒以上の場合には、１２秒という端数をなくすために、
、Ｖカウンタ８は１８分に相当する［６４８００４のカ
ウントを行なうとリセットされて再びカウントを繰返す
ようにプログラムし、各繰返しにおけるドロップアウト
のＶアドレスは区別されてメモリする。

そして、第５図において、メモリ５２には１８分間の１
８Ｘω個の基準Ｖアドレスを記憶しておき、減算回路（
資）からの″１′ビットの絖出しにより、基準Ｖアドレ
スは循環して繰返し読み出すようにすればよい。なお、
図示しないが、減算回路間からの“１″ビツトをカウン
トすることにより、分単位の■アドレスをメモリ槌に記
憶することができる。

以上は、ドロップアウトの種類、すなわち、ドロップア
ウトがパーマネントか、準パーマネントか、あるいは、
テンポラリ−かの区別なしに説明したのであるが、そし
て、もちろん、このように区別なしに得たデータも磁気
テープの性能評価に使用することができるが、パーマネ
ント、準ノく一マネントドロップアウトに限定し、磁気
テープの傷、突起、へこみというように物理的な欠陥を
分析する必要がある場合もある。

次に、この点について説明する。

先に、第２図、第３図において、ドロップアウトのＶ、
Ｈアドレスの検出について説明したが、これらの検出を
１回のみ行なうのではなく、複数回行なうようにする。

すなわち、磁気テープの再生走査を複数回行ない（もち
ろん、各再生走査毎に新たに記録を行なってもよい）、
各再生走査毎に第３図に示す動作を行ない、検出される
ドロップアウトのＶ、Ｈアドレスを記憶する。

そして、夫々のアドレスデータから１、磁気テープ上の
位置毎のドロップアウトの発生パターンな得る。たとえ
ば、４回再生走査をしたとして、磁気テープ上のある位
置において、１回目、３回目、４回目の再生走査でドロ
ップアウトが発生したとすると、その位置におけるドロ
ップアウトの発生パターンは、 １．０，１．−１ というように表わす。

一方、パーマネント、準ハーマネントドロップアウトに
対する全ての基準パターンを設定する。

たとえば、パーマネント、準パーマネントドロップアウ
トは、４回の杏生走査で必ず複数回生ずると仮定しても
よいから、 １．１．Ｑ、１ ０．１，０．１ などのように、少なくとも、２つの″１′″ビットを有
する全てのパターンを基準パターンとする。

そこで、発生パターンと基準パターンとを比較し、基準
パターンのいずれＫも一致しない発生パターンはテンポ
ラリ−ドロップアウトとして除き、残りを対象とするド
ロップアウトとしてその■。

Ｈアドレスをメモリ３３（第５図）Ｋ記憶しておくので
ある。このようにして、磁気テープの真に物理的な欠陥
に対するドロップアウトの発生分布を知ることができる
。

以上のよう圧して得られたドロップアウトのデータから
、磁気テープ上のドロップアウトの発生分布をグラフ状
に表示することができる。

第７図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）はデータ表示の例を示す
説明図である。

第７図（Ａ）は磁気テープ幅方向のドロップアウトの発
生分布を表示したものであって、第５図のメモリ４８に
分電のＶアドレスを前記のように記憶しておくことによ
り、任意の磁気テープ幅方向のドロップアウトの発生分
布を知ることができる。

第７図（Ｈ）は磁気テープ長手方向のドロップアウトの
発生分布大表示したものであって、第５図のメモリ４８
の同じ磁気テープ幅方向ブロックのデータを順次続出し
て表示する。

１１Ｆ７図（Ｃ）は第５図のメモリ絽に記憶された各ブ
ロックのデータを読み出し、磁気テープの幅。

長手方向に配列して三次元表示し声もので、これによっ
て、磁気テープ上のドロップアウトの発生分布が明確に
把握するこ、とができる。

さて、以上のようにしてドロップアウトの発生分布を知
ることかできるが、これまでの説明は、第１図に示すよ
うな磁気テープｌの記録パターンについてであった。し
たがって、磁気チーブ１上に水平、垂直同期パルスによ
り座標系を設定し、ドロップアウトの発生位置を知るこ
とができたとしても、磁気テープ１の幅方向の座標軸は
記録トラック３に沿うものであって、設定される座標系
は直交座標系ななしていない。第７図（Ａ）、（Ｂ）、
（Ｃ）はこれを恰も直交座！Ｓ系において得られたデー
タとして表示しており、必ずし、も正しい分析を行なう
ことができるとは限らない。

、たとえば、第７図（Ａ）に示すような磁気テープの一
方向のドロップアウトの発生分布を表示する場合、その
表示されるデータは記録トラックの長手方向のデータで
ある。そこで、第７図（Ａ）の左飼がＶアドレスによる
位置を表わしているものとすると、右側は磁気テープの
斜め方向に角度＃（第１図）でづれた方向にあり、分析
するＫｆｉってはそのづれを考慮しなければならず面倒
である。

この点を解消するためには、■アドレスを変換すればよ
い。以下、この点について説明する。

第８図において、いま、磁気テープ１上の記録トラック
３は、磁気テープ１の長手方向に対して角度０だけ傾い
ており、点Ｐに垂直同期パルスが記録されていて、点Ｑ
にドロップアウトを生ずる欠陥が存在するものとする。

そして、点Ｐの■カウンタ８（第２図）のカウント数、
すなわち、■アドレスがＮ１．点Ｐから点ＱまでのＨカ
ウンタ９（第２図）のカウント数、すなわち、Ｈアドレ
スがＮ璽であって、記録トラック３上のＩＨの長さがｔ
、とする。なお、記録トラック３０幅はＷとする。

このような場合、点Ｑの位置は、ＨアドレスはＮ菖とし
、■アドレスは、点Ｑから磁気テープ１の長手方向に対
して垂直な線上の点ｆＬＫおける■アドレスで表わすよ
うＫする。

すなわち、点Ｐ、Ｑ間の距離はＮ、・ｔｍであるから、
点Ｐ、Ｒ間の距離は ＮＩＩ＠ＬＨ”　　Ｃｏｇθ である・また、記録トラック３の磁気チーグーの長手方
向の長さは、 ｓｉｎθ であるから、点１％８間の記録トラフ２３０個数＆工、 ＮＰ　　＠　　ｔ、＠　　ｃｏ５θ　　　　　　Ｉ　　
　　　　ＮＩＩ　＠１ｍ＝　−・　　　　　　　　　畠
ｉｎ２＃　　・・・（４）Ｗ　　　　　　２　　　　ｗ ｓｔｎ１９　　ｅ となる。そして、この式（４）の整数部をＮｏとすると
、点几のＶアドレスＮ；は Ｎ；　”　Ｎｐ　　　Ｎ。

となり、この■アドレスＮｐを点Ｑの■アドレスとする
。

第９図はかかる■アドレスを俊換するための一興体例を
示すブロック図であって、６１はメモリ、６２は乗算回
路、６３はメモリ、６４は整数部抽出回路、　６１Ｓは
減算回路、６６はメモリである。

次に、この具体例の動作について説明する。

同図において、メモリ６１には、第２図の■カラ／り８
．Ｈカウンタ９による■、Ｈアドレスが記憶されており
、Ｈアドレスは読み出されてメモリ６６とともに１乗算
回路６２に供給される。

メモリ６３は、定数である Ｗ が記憶されており、この定数が乗算回路６２に供給され
【ＨアドレスＮ２と式（４）の演算が行りわれる。

演算結果は整数部抽出回路６４に供給されて整数部Ｎｏ
が抽出され、減算回路６５でメモリ６１からの■アドレ
スＮνを減算して変換されたＶアドレスＮ；を得る。こ
の■アドレスＮ；はメモリ６６ＫＨアドレスＮ、ととも
に記憶される。

以上のようにして得られたＶ、Ｈアドレスが第５図のメ
モリおの■、Ｈアドレスであるよう処し、その結果、第
７図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）の表示は、磁気テープの長
手２幅方向の直交座標系から得られたデータとなり、磁
気テープの分析が非常に容易になる。

以上、本発明の実施例について説明してきたが、これま
でに示してきた数値等については、それらの値に限定す
べきものではなく、任意に設定することができるもので
ある。たとえば、第４図に示したように、磁気テープを
幅方向ＶＣ５つの領域に区分するように限定する必要が
なく、さらに１多く、あるいは少なく区分してもよい。

また、ブロック構成についても、これまで説明したもの
に＠ることなく、同様の機能を有する他の回路でもって
構成することができることは明らかである。

以上説明したよ５に、本発明によれば、磁気テープから
再生された映律信号の水平、回置同期パルスにもとづい
て検出されたドｉツブアウトを前記磁気テープ上に位置
づけ、前記磁気テープ上の区分されたｌｌ数のブロック
毎のドロップアウトの個数を得るようにするものである
から、前記磁気テープ上のドロップアウトの一生分布を
正１１に得ることかできて磁気テープの欠陥分析が正確
に行なうことができるようになり、上記従来技術にない
優れた機能のドロップアウトの発生分布測定方法を提供
することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は磁気テープの記録パターンの一例を示す説明図
、第２図は本発明によるドロップアウトの発生分布測定
方法の一実施例を示すブロック図、第３図は第２図の動
作の一部を示すフローチャート、第４図は磁気テープの
区分されたプ關ツクの一例を示す説明図、第５図は第２
図のマイ夛ロコンビ為−夕の一部の一具体例を示すブロ
ック図、第６図は第５図の動作を示すフローチャート、
第７図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）は第２図の表示装置によ
る表示例を示すグラフ図、第８図はＶアドレス変換のた
めの説明図、第９図は第２図のマイクロコンビエータの
■アドレス変換のための−−Ａ体例を示すブロック図で
ある。 １・・・・・・磁気テープ、３・・・・・・記録トラッ
ク、５・・・・・・ＶＴＲ，６・・・・・・マイクロコ
ンビータ、８・・・・・・垂直同期パルスカウンタ、９
・・曲水平同期パルスカウンタ、　１０・曲・　ドロッ
プアウト検出器、１３曲・・表示装置、３３・・・・・
・メモリ、　３４．３５．３６．３７．３８・・・・・
・比較回路、　　４３．４４．４５．４６．４７・・・
・・・カウンタ。 ４８・・・・・・メモリ、４９・・曲レジスタ、　５０
・・曲滅ｘ回路、５１・・・・・・レジスタ、５２・・
四メモリ。 穿４図 環５図 第を図 第７Ｉ２Ｉ −一訪員テーノすシ方向　　　　　　　−一−−一一−
−一自υ−７’！ｔＪｉ司第５図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）磁気テープから再生される吹津信号の垂直同期パ
   ルスと該垂直同期パルス周期毎の水平同期パルスとの夫
   々のカウント数にもとづいて前記テープ上の位置を表わ
   し、測定されるドロップアウトの前記磁気テープ上の発
   生位置情報を検出してなるドロップアウトの発生分布測
   定方法において、前記磁気テープの面を複数のブｄツク
   に分割し、検出された前記ドロップアウトの発生位置情
   報にもとづいて前記谷ブロック毎のドロップアウトσ）
   発生個数をカウントし、前記各ブロック毎の前記ドロッ
   プアウトの発生個数を表示するようにしたことを特徴と
   するドロップアウトの発生分布測定方法。 （２、特許請求の範囲第（１）項（おりて、前記複数の
   ７°ロツクは、前記磁気テープの面を前記磁気テープの
   幅方向に分割してなることを特徴とするドロップアウト
   の発生分布測定方法。 （３）特許請求の範囲第（１）項において、前記複数の
   ブロックは、前記磁気テープの面を前記磁気テープの長
   手方向に分割してなることを４１１１＆とするドロップ
   アウトの発生分布測定方法。 （４）特許請求の範囲第（１）項において、前記複数の
   ブロックは、前記磁気テープの面を前記磁気テープの幅
   および長手方向に分割してなることを特徴とするドロッ
   プアウトの発生分布測定方法。 おい【、前記ドロップアウトの発生個数の表示は、トの
   発生分布測定方法。