JPS5816590B2 - 荷電粒子線像表示装置 - Google Patents

荷電粒子線像表示装置

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JPS5816590B2
JPS5816590B2 JP51124594A JP12459476A JPS5816590B2 JP S5816590 B2 JPS5816590 B2 JP S5816590B2 JP 51124594 A JP51124594 A JP 51124594A JP 12459476 A JP12459476 A JP 12459476A JP S5816590 B2 JPS5816590 B2 JP S5816590B2
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JP
Japan
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signal
charged particle
circuit
display device
detection signal
Prior art date
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Expired
Application number
JP51124594A
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English (en)
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JPS5349939A (en
Inventor
生江隆男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
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Publication date
Application filed by Nihon Denshi KK filed Critical Nihon Denshi KK
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Publication of JPS5816590B2 publication Critical patent/JPS5816590B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は走査型電子顕微鏡、X線マイクロアナライザー
、イオンマイクロアネライザー等の荷電粒子線像表示装
置に関する。
一般に荷電粒子線像表示装置においては試料を一次荷電
粒子線で走査し、試料より発生した二次荷電粒子線ある
いはX線を検出し、得られた検出信号を前記−次荷電粒
子線の走査に同期して走査される表示装置に導入して試
料像を得ている。
そして得られた試料像は必要に応じて写真撮影されるが
、この時試料像の輝度及びコントラストはフィルムに適
正な露出゛が与えられるように調整されていなければ良
質な試料像を撮影することはできない。
本発明はこの様な写真撮影の際に適正な輝度及びコント
ラストを得るための調整を極めて容易になし得る新規な
荷電粒子線像表示装置を提供することを目的とするもの
であり、以下図面に基づき本発明を詳説する。
第1図は本発明を実施した走査型電子顕微鏡の;一例を
示す構成図であり、同図において1は電子銃である。
該電子銃1より発生した電子線は集束レンズ2によって
試料3上に細く集束されると共に、走査回路4からの水
平、垂直走査信号が供給される偏向コイル5によって試
料上で二次元的に;走査される。
電子線照射により試料3から発生した電子例えば二次電
子は検出器6によって検出され、得られた検出信号は増
巾器7によって増巾された後輝度及びコントラスト調整
回路8に送られる。
該調整回路8によって直流レベル及び振巾が;調整され
た検出信号は混合回路9を介して陰極線管(以下単にC
RTと略称する)10のグリッドに輝度信号として供給
される。
該CRT10の偏向コイル11には前記走査回路4から
の水平及び垂直走査信号が供給されており、従って該C
RT10の画面には試料の二次電子像が表示されること
となる。
そして該二次電子像はカメラ12によって撮影される。
前記調整回路8によって直流レベル及び振巾が調整され
た検出信号は又上限及び下限レベルが設;定されたレベ
ル判定回路13にも供給される。
該判定回路13は検出信号のうち上記上限レベルを超え
るもののみを取り出した人出力信号及び上記下限レベル
を下回るもののみを取り出したB出力信号を得るための
回路であり、抵抗Ra、 + Rb 、ダイオードDa
、Db13つの電源E1.゛E2.E3より構成される
2つのクリップ回路を備えている。
該判定回路13より得られたA、B2つの出力信号は夫
々積算回路14a、14bに送られる。
該積算回路14a 、14bの積算出力信号は夫々保持
回路15a、15bによって保持され、該保持された積
算出力信号は夫々コンパレータ16a。
16bの一方の入力端子に供給される。
該コンパレータ16a 、16bの他方の入力端子には
前記走査回路4から前記CRTIOの偏向コイル11に
送られる水平走査信号が供給されている。
そして該コンパレータ16a、16bの夫々の出力信号
は前記混合回路9に送られる。
11は前記走査回路4から送られる垂直ブランキング信
号に同期してタイミング信号を前記積算回路14a、1
4b及び保持回路15a、15bに送るためのタイミン
グ回路である。
上述の如き構成においてCRTloの画面に表示される
像をカメラ12で撮影する際、CRTの発光特性、用い
るフィルムの感度、カメラの絞り具合、シャッタースピ
ード等によって像の明るさの上限及び下限が決定され、
それに対応してCRTloに輝度信号として供給される
検出信号の上限値■H及び下限値vLが決定される。
そこでレベル判定回路13においては電源E1. E3
によって上限値vHが、電源E2.E3によって下限値
VLが夫々設定され、該上限値VH及び下限値vL/こ
基づいて例えば第2図に示される検出信号の強度を判定
し、第3図a、bに示される様に上限値vHを超える検
出信号を取り出した人出力信号及び下限値■Lを下回る
検出信号を取り出したB出力信号を夫々得る。
積算回路14aは第3図aに示される人出力信号の各ピ
ークの電圧■1.v2.■3.・・・・・・を検出し、
該ピークの電圧をタイミング信号に基づいて第3図Cに
示される如くl垂直走査期間にわたり積算して過大信号
■8を得る。
従って1垂直走査期間中に検出信号が上限値vHを超え
る頻度が多ければ多い程、又上限値を超えた時の検出信
号値と上限値vHとの差が太きければ大きい熱漬算回路
14aの積算出力即ち過大信号vaは大きくなる。
又全く同様に検出信号が下限値■Lを下回る頻度が多け
れば多い程、又下限値を下回った時の検出信号値と下限
値■、との差が太きければ大きい熱漬算回路14bの積
算出力即ち過小信号■bは大きくなる。
そして1回の垂直走査が終了するとタイミング信号が積
算回路14a 、14b及び保持回路15a、15bに
送られ、積算回路14a。
14bの積算出力■8.■bは保持回路15a。
1’5bに夫々読出されて次のタイミング信号までの期
間即ち次の1垂直走査期間中保持される。
又積算回路14a 、14bは次の積算に備えてリセッ
トされる。
保持回路15aに保持されている過大信号■3はコンパ
レータ16aに送られるが、該コンパレータ16aは該
過大信号■8に■。
−Vaなる演算を施した後該■。
−vaの値と走査回路4からのCRTIOの偏向コイル
11へ送られる第4図aに示される様な鋸歯状波形を持
つ水平走査信号とを比較する。
尚■。はCRT画面の右端に相当する水平走査信号の瞬
時値に対応している。
そしてコンパレータ16aの出力信号としては第4図C
に示される如く水平走査信号が■。
−■8を超えた期間のパルス巾を持つパルス信号Paが
得られ、混合回路9に送られる。
又同様にコンパレーク16−bは過小信号■bに−V。
+Vbなる演算本節した後該−vo+■bの値を水平走
査信号と比較する。
尚−■。はCRT画面の左端に相当する水平走査信号の
瞬時値に対応している。
そしてコンパレータ16.bの出力信号としては第4図
すに示される如く水平走査信号が−V。
+■bよりも小さい期間のパルス巾を持つパルス信号P
が得られ、混合回路9に送られる。
そしてパルス信号Pa及びPbは検出信号に重畳されて
CRTIOのグリッドに送られるため、CRT画面には
第5図に示される様に試料像に重畳して画面の両端に2
本の帯が表示されることとなる。
左端の帯はパルス信号Pbに、又右端の帯はパルス信号
P によるものであり、帯の巾はパルス信号のパルス巾
に対応している。
更にパルス巾は過大及び過小信号V3.Vbに対応して
いるため、結局画面に表示される左端の帯の巾は過小信
号■bに、右端の帯の巾は過大信号■3に夫々対応する
ことになる。
従って画面に表示された2本の帯を観察しつつ輝度及び
コントラスト調整回路8を操作して検出信号の直流レベ
ル及び振巾を変化させることにより2本の帯の巾を減少
させてゆけば、検出信号が上限値■□を超える頻度及び
下限値■Lを下回る頻度が減少してゆく。
そして2本の帯が消えるか又は極めて細くなった時点で
検出信号は上限値■□及び下限値■□の間に収まること
となり、その後カメラ12を用いて試料像を撮影すれば
、輝度、コントラスト共に適正な良質な像を得るとさが
できる。
尚2本の帯は画面の両端に限らずどの位置に表示しても
よいし、2本の帯を隣合わせて表示すれば実質的に1本
の帯として表示できる、又、コンパレータ16a、16
bに水平走査祖号てはなく垂直走査信号を供給すれば垂
直方向の帯ではなく水平方向の帯として表示することが
できるし、過大、過小信号値を帯の巾ではなく線分の長
さに対応させて表示しても良い。
更に上述した実施例においては積算回路を用いてレベル
判定回路からの出力信号のピークの電圧を順次積算する
様にしたが、これに限らず例えば積分回路を用いて第3
図a、bにおける斜線部分の面積の和を求めるようにし
てもよいし、計数回路を用いて検出信号が上限値を超え
た回数及び下限値を下回った回数をカウントするように
してもよい。
以上詳述した如く本発明によれば画面に表示された帯の
巾を観察することによって適正な輝度及びコントラスト
を持つ像を得ることができるため良質な像を撮影大るこ
とができる。
図面の簡単な説明゛ 第1図は本発明の一実施例を示す構成図であり、第2図
、第3図、第4図はその動作を説明するための波形図で
あるる第5図は画面に表示される2本の帯を説明するた
めの図である。
1・・・・・・電子銃、2・・・・・・集束レンズ、3
・・・・・・試料、4・・・・・・走査回路、5・・・
・・・偏向コイル、6・・・・・・検出器、8・・・・
・−輝度及びコントラスト調整回路、9・・・・・・混
合回路、10・・・・・・CRT、11・・・・・・C
RT用Mコイル、12・・・・・・カメ”71,1’3
・・・・・・レベル判定回路、−14・・・・・・積算
回路、15・・・・・・保持回路、16・・・・・・コ
ンパレータ、1γ・・・・・・タイミング回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 一次荷電粒子線の照射によって試料より発生する二
    次荷電粒子線あるいは放射線を検出し、得られた検出信
    号を表示装置に導入して試料像を表示する荷電粒子線像
    表示装置にお、いて、所定期間内に前記検出信号が予め
    定められた上限値を超えた信号量に応じた過大信号を得
    る第1の積算手段と、前記検出信号が予め定められた下
    限値を下回った信号量に応じた過小信号を得る第2の積
    算手段とを備え、該過大信号及び過小信号に応じた長さ
    を持つ線分あるいは帯を前記表示装置に表示する様に構
    成したことを特徴とする荷電粒子線像表示装置。
JP51124594A 1976-10-18 1976-10-18 荷電粒子線像表示装置 Expired JPS5816590B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP51124594A JPS5816590B2 (ja) 1976-10-18 1976-10-18 荷電粒子線像表示装置

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JP51124594A JPS5816590B2 (ja) 1976-10-18 1976-10-18 荷電粒子線像表示装置

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JPS5349939A JPS5349939A (en) 1978-05-06
JPS5816590B2 true JPS5816590B2 (ja) 1983-03-31

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ID=14889307

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JP51124594A Expired JPS5816590B2 (ja) 1976-10-18 1976-10-18 荷電粒子線像表示装置

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52141169A (en) * 1976-05-19 1977-11-25 Nichidenshi Technics Kk Device for indicating contrast and luminance of video signal in scanning electron microscope or the like

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52141169A (en) * 1976-05-19 1977-11-25 Nichidenshi Technics Kk Device for indicating contrast and luminance of video signal in scanning electron microscope or the like

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JPS5349939A (en) 1978-05-06

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