JPS58161867A - アナライザ - Google Patents
アナライザInfo
- Publication number
- JPS58161867A JPS58161867A JP58033694A JP3369483A JPS58161867A JP S58161867 A JPS58161867 A JP S58161867A JP 58033694 A JP58033694 A JP 58033694A JP 3369483 A JP3369483 A JP 3369483A JP S58161867 A JPS58161867 A JP S58161867A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test element
- station
- analyzer
- test
- members
- Prior art date
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- Granted
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00029—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00029—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
- G01N2035/00039—Transport arrangements specific to flat sample substrates, e.g. pusher blade
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N35/00029—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
- G01N2035/00089—Magazines
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N2035/00346—Heating or cooling arrangements
- G01N2035/00356—Holding samples at elevated temperature (incubation)
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の分野
本発明は、液中のアナライト(analyte)として
知られ°(いる物質の什学分析のためのアナライザに関
する。より具体的には、本発明は、テストエレメントを
そのようなアナライザを通して自動的に進めるための装
置を備えたアナライザに関する。
知られ°(いる物質の什学分析のためのアナライザに関
する。より具体的には、本発明は、テストエレメントを
そのようなアナライザを通して自動的に進めるための装
置を備えたアナライザに関する。
発明の背景
米国特許第4,303.6 i 1号には、培養器な備
え、該培養器がほぼ平らなテストエレメントをそれらが
相互に当接するようにして垂直に積み重ねた状態で収納
するようにしたアナライザが開示されている。そのよう
な構造は、培養中のテストエレメントから生じるガス損
失をかなり減少させた非常に簡易なアナライザを作れる
ようにしている。
え、該培養器がほぼ平らなテストエレメントをそれらが
相互に当接するようにして垂直に積み重ねた状態で収納
するようにしたアナライザが開示されている。そのよう
な構造は、培養中のテストエレメントから生じるガス損
失をかなり減少させた非常に簡易なアナライザを作れる
ようにしている。
上記米1潤特許のアナライザは顕著な利点を有している
が、培養器内の積重ねたテストエレメントの頂部にテス
トエレメントを供給するための1っの機構を必要とし、
更に、培養サイクルに従って。
が、培養器内の積重ねたテストエレメントの頂部にテス
トエレメントを供給するための1っの機構を必要とし、
更に、培養サイクルに従って。
積重ねられたテストエレメントの底部からテストエレメ
ントを取り出すための別に駆動される機構を必要とする
という間+tt有している。アナライザ内の2つの機構
を収納するために、テストニレメントナ環り出すための
機構は供給するための機構に対して角度を付けて配置さ
れており、そのような配置のためテストエレメントが培
養器の中に供給される通路に対して測定ステーションを
角度を付けて設けることを必要と[、ていた。従って、
供給及び取出機構は比較的複雑でアナライザ力で。
ントを取り出すための別に駆動される機構を必要とする
という間+tt有している。アナライザ内の2つの機構
を収納するために、テストニレメントナ環り出すための
機構は供給するための機構に対して角度を付けて配置さ
れており、そのような配置のためテストエレメントが培
養器の中に供給される通路に対して測定ステーションを
角度を付けて設けることを必要と[、ていた。従って、
供給及び取出機構は比較的複雑でアナライザ力で。
のかなりの設定空間を必要としていた。
本発明の説明
本発明は上記のような問題を解決するものである。供給
及び取出機構は、テストエレメントがアナライザ内をほ
ぼ直線状の通路な通して動かされるように配置され、両
機構とも単一の駆動手段に連続的に連結される。この連
続的連結は、一方の部材がテストエレメントを前進させ
るときに。他方の部材が不作動位置に動くよ5にするこ
とkより行われる。
及び取出機構は、テストエレメントがアナライザ内をほ
ぼ直線状の通路な通して動かされるように配置され、両
機構とも単一の駆動手段に連続的に連結される。この連
続的連結は、一方の部材がテストエレメントを前進させ
るときに。他方の部材が不作動位置に動くよ5にするこ
とkより行われる。
す′Icわち、本発明に係るアナライザは、テストエレ
メント内に含まれた液体を化学分析するためのものであ
り、液体の分析の間にテストエレメントが通される樟数
の作業ステーションと、テストエレメントをこれら作業
ステーションを通して順次逆めるためのi、j、jh送
手段と、を備え、該搬送手段が選択された作業ステーシ
ョン間でテストエレメントを進める作用ななす絶1の部
材と5選択された作業ステーション間でテストエレメン
トを進める作用をなす紀2の部材とを有し、特徴点とし
て、上記第1及び第2の部材が−1・時にその一方だけ
が当該アナライザ内でテストエレメントを進めるように
作用するようこれら部材に作用的に連結された4Bス動
手段を有している。
メント内に含まれた液体を化学分析するためのものであ
り、液体の分析の間にテストエレメントが通される樟数
の作業ステーションと、テストエレメントをこれら作業
ステーションを通して順次逆めるためのi、j、jh送
手段と、を備え、該搬送手段が選択された作業ステーシ
ョン間でテストエレメントを進める作用ななす絶1の部
材と5選択された作業ステーション間でテストエレメン
トを進める作用をなす紀2の部材とを有し、特徴点とし
て、上記第1及び第2の部材が−1・時にその一方だけ
が当該アナライザ内でテストエレメントを進めるように
作用するようこれら部材に作用的に連結された4Bス動
手段を有している。
以下に述べる具体的実施例に係るアナライザにおいては
、テス)エレメントを積重ねて収納する培養器と、光フ
デイバ反射計を含むディテクタとが設けられている。本
発明は一以上のテストエレメントを収納するどのような
種類の貯蔵室(培養器)を使用するアナライザにも応用
することができる。更に、光学的濃度の変化を測定する
反射計やテストエレメント内の螢光すなわち陽光を測定
する螢光計などのテストエレメントの特性を測定するど
のような測定手段を用いるアナライザにも適用できる。
、テス)エレメントを積重ねて収納する培養器と、光フ
デイバ反射計を含むディテクタとが設けられている。本
発明は一以上のテストエレメントを収納するどのような
種類の貯蔵室(培養器)を使用するアナライザにも応用
することができる。更に、光学的濃度の変化を測定する
反射計やテストエレメント内の螢光すなわち陽光を測定
する螢光計などのテストエレメントの特性を測定するど
のような測定手段を用いるアナライザにも適用できる。
実施例の説明
以下、本発明を添付図面に示した実施例に基づき詳細に
説明する。以下の実施例での分析される好ましい流体と
しては血清があるが、本発明は非生物アナライトを含む
工業液体等の他のアナライト含有液体の分析にも適用で
きる。
説明する。以下の実施例での分析される好ましい流体と
しては血清があるが、本発明は非生物アナライトを含む
工業液体等の他のアナライト含有液体の分析にも適用で
きる。
狽11図及び第2図には本発明に係るアナライザが示さ
れている。このアナライザはテストエレメント装填ステ
ーション19、計量供給ステーション20.貯蔵室すな
わち培養器50が設けられた貯蔵ステーション49、装
填ステーション19かう計量供給ステーション20ヘテ
ストエレメントEを動かすためのブツシュ機構40及び
ディテクタ110が設けられている測定ステーション1
09を有し7ている。移送手段57はテストエレメント
Eを培養器50内へ装填するための装填部材60、培養
器50からテストエレメントを取り出すための取出部材
80、及び、装填部材60と取出部材8・0とを往復動
するための駆動機構100を有している。枢動カバー1
20がブラケット124に122のところでヒンジ止め
されている。
れている。このアナライザはテストエレメント装填ステ
ーション19、計量供給ステーション20.貯蔵室すな
わち培養器50が設けられた貯蔵ステーション49、装
填ステーション19かう計量供給ステーション20ヘテ
ストエレメントEを動かすためのブツシュ機構40及び
ディテクタ110が設けられている測定ステーション1
09を有し7ている。移送手段57はテストエレメント
Eを培養器50内へ装填するための装填部材60、培養
器50からテストエレメントを取り出すための取出部材
80、及び、装填部材60と取出部材8・0とを往復動
するための駆動機構100を有している。枢動カバー1
20がブラケット124に122のところでヒンジ止め
されている。
アナライザ10は種々のアナライト液、特に生物液(b
iological 1iqid)の測定を行うことが
できる。この測定は、プラスチック製フレーム部材15
内で透明の不透液性支持体(図示せず)の上に取り付け
られた(図示しない)1若しくはそれ以上の液含有部分
を有するほぼ平らなテストニレメン)Eを使用して行わ
れる。液は1例えば滴状Vこした一定量なテストエレメ
ントE上に供給される。テストエレメントEの縁16.
17はアナライザ内を通されるときの前縁及び後縁とな
る。
iological 1iqid)の測定を行うことが
できる。この測定は、プラスチック製フレーム部材15
内で透明の不透液性支持体(図示せず)の上に取り付け
られた(図示しない)1若しくはそれ以上の液含有部分
を有するほぼ平らなテストニレメン)Eを使用して行わ
れる。液は1例えば滴状Vこした一定量なテストエレメ
ントE上に供給される。テストエレメントEの縁16.
17はアナライザ内を通されるときの前縁及び後縁とな
る。
テストエレメントは好ましくは、例えば米国特許第3,
992,158号及び米国再発行特許Re30,267
号に開示されたように構成される。テストエレメントに
加えられた液は同エレメントの(図示しない)層内で広
がり、そこで検知可能な変化を起す反応を行う。
992,158号及び米国再発行特許Re30,267
号に開示されたように構成される。テストエレメントに
加えられた液は同エレメントの(図示しない)層内で広
がり、そこで検知可能な変化を起す反応を行う。
第2図に示すように、カバー120のモールビされた部
分22は通常の(図示しない)ビはットを受は入れるよ
うな形状とされている。該部分22はカバー120の外
面24から内方に伸び、肩部21と開口28で終ってい
る截頭円錐形部26とを含んでいる6円錐形部26及び
開口28はピペットの先端部29(点線で示す)な整合
して支持し、所定量の液がテストエレメントE上に供給
できるようにする。
分22は通常の(図示しない)ビはットを受は入れるよ
うな形状とされている。該部分22はカバー120の外
面24から内方に伸び、肩部21と開口28で終ってい
る截頭円錐形部26とを含んでいる6円錐形部26及び
開口28はピペットの先端部29(点線で示す)な整合
して支持し、所定量の液がテストエレメントE上に供給
できるようにする。
カバー120はその前方部分30のところにスロット3
2を有しており、該スロットはテストエレメントEを通
せるようなサイズとされている。
2を有しており、該スロットはテストエレメントEを通
せるようなサイズとされている。
テストエレメントEは、カバープレート41と支持プレ
ート42との間で手動で動かされるように取り付けられ
た機構40によつ℃スロット32を通して動かされる。
ート42との間で手動で動かされるように取り付けられ
た機構40によつ℃スロット32を通して動かされる。
カバープレートの縁面43は、該機構40がそれら縁面
の間で往復動できるように十分な間隔で離されている。
の間で往復動できるように十分な間隔で離されている。
支持プレート42は2つの内線状で平行な肩部44間に
取り付けられている。カバー120の前方部分60の下
で伸びているプレート42の部分は肩部44にほぼ平行
に伸びるスロット46を含んでいる。スロット46は以
下に述べる装填部材60が計量供給ステーション20の
ところに位置決めされたテストエレメントEと保合でき
るようにする。
取り付けられている。カバー120の前方部分60の下
で伸びているプレート42の部分は肩部44にほぼ平行
に伸びるスロット46を含んでいる。スロット46は以
下に述べる装填部材60が計量供給ステーション20の
ところに位置決めされたテストエレメントEと保合でき
るようにする。
培養器50は好ましくは、縁面43間で動く機構40の
通路に同一直線上にされ、米国特許第4.303,61
1号に開示されたように構成される。
通路に同一直線上にされ、米国特許第4.303,61
1号に開示されたように構成される。
培養器50け第1の対の壁52、該壁に連結された第2
の対の壁54、重いカバー56、カム手段58を有[7
ており、該カム手段はテストエレメントEが培養器50
内に進められるときカバー56を持ち上げるようになっ
ている。ステーション20にM接した壁52にはスロッ
ト59が設けられており、該スロットは装填部材60が
その最も前進した位置(第2図に実線で示す)に達した
ときに装填部材60のフィンガを受は入れるようになつ
ている。壁52.54は最上部のニレメン)Eを除く各
エレメントEが隣接する下のエレメント・と接触するよ
うにされたテストエレメントEの積重ね体Sを受は入れ
るようになっている。最上部のエレメントEはカバー5
6によってカバーされる。
の対の壁54、重いカバー56、カム手段58を有[7
ており、該カム手段はテストエレメントEが培養器50
内に進められるときカバー56を持ち上げるようになっ
ている。ステーション20にM接した壁52にはスロッ
ト59が設けられており、該スロットは装填部材60が
その最も前進した位置(第2図に実線で示す)に達した
ときに装填部材60のフィンガを受は入れるようになつ
ている。壁52.54は最上部のニレメン)Eを除く各
エレメントEが隣接する下のエレメント・と接触するよ
うにされたテストエレメントEの積重ね体Sを受は入れ
るようになっている。最上部のエレメントEはカバー5
6によってカバーされる。
好ましくは、(図示しない)汎用の加熱エレメントが壁
52.54内に設けられ、培養器50の温度を所望のレ
ベルに保つ。
52.54内に設けられ、培養器50の温度を所望のレ
ベルに保つ。
部材60は、対向する面66及び支持肩部68(第3図
)によって画定される通路内で支持面42の下を往復運
動可能に取り付けられている。部材60はノツチ62(
第3図)を有しており、該ノツチはその長さ方向に沿っ
てラック64を受は入れている。第5a図に示すように
、部材60は以下に詳細に説明するように、位置A、B
及びCを通し又動かされる。
)によって画定される通路内で支持面42の下を往復運
動可能に取り付けられている。部材60はノツチ62(
第3図)を有しており、該ノツチはその長さ方向に沿っ
てラック64を受は入れている。第5a図に示すように
、部材60は以下に詳細に説明するように、位置A、B
及びCを通し又動かされる。
部材60上のフィンガ70(&42図)は可撓性を有し
上方に伸びており、計量供給ステーション20を通して
動かされるテストニレメン)Hの通路内に入っている。
上方に伸びており、計量供給ステーション20を通して
動かされるテストニレメン)Hの通路内に入っている。
スロット46.59はこのフィンガ70を受は入れるた
めに設けられている。
めに設けられている。
が最も後方の、すなわち不作動(アイドル)位置c(第
5α図に点線で示す)に引き込められたときに支持プレ
ート42と係合するカム面を形成している。フィンガ7
0は可撓性を有しているので、当該フィンガがプレート
42の下で曲げられ、また、部4i’ 60が位置Aに
あるときに、テストニレメン)Eがフィンガ70上を通
って計量供給ステーション20に入れるようにする。
5α図に点線で示す)に引き込められたときに支持プレ
ート42と係合するカム面を形成している。フィンガ7
0は可撓性を有しているので、当該フィンガがプレート
42の下で曲げられ、また、部4i’ 60が位置Aに
あるときに、テストニレメン)Eがフィンガ70上を通
って計量供給ステーション20に入れるようにする。
部材80は積重ね体SからエレメントEを取り出すため
に設けられている。ニレメン)Eは早く装填されたもの
から取り出されるようになっている。部材80は、第5
b図に示すような位置A′、B′及びC′を通して往復
動できるように部材60(し:2図)の下に取り付けら
れる。部材80はラック84を受は入れるノツチ82を
有している。
に設けられている。ニレメン)Eは早く装填されたもの
から取り出されるようになっている。部材80は、第5
b図に示すような位置A′、B′及びC′を通して往復
動できるように部材60(し:2図)の下に取り付けら
れる。部材80はラック84を受は入れるノツチ82を
有している。
ラック84はラック64に向い合せて設けられ、部材6
0及び80がピニオン106によって反対方向に動かさ
れるようになっている。部材80は肩部86上に支持さ
れ、部材60.80は相互に−F下にされてテストエレ
メントEの通路にほぼ平行な通路に沿って動かされるよ
うにされている。
0及び80がピニオン106によって反対方向に動かさ
れるようになっている。部材80は肩部86上に支持さ
れ、部材60.80は相互に−F下にされてテストエレ
メントEの通路にほぼ平行な通路に沿って動かされるよ
うにされている。
部材80は、培養器50内のテストエレメントの積重ね
体の最下位のテストエレメントを取り出すようにされて
いる。端部88はアーム90と持上肩部92とを有して
おり、それらは米国特許第4.302,420号に開示
された如き態様で命下位のテストエレメントEと係合す
る。スロット93がステーション20に隣接した壁52
内に設けられており、アーム90及び肩部92がそこを
通れるようにしである。ただし、テストエレメントは通
れない(2,5b図参照)、対向する壁54はスロット
95を有しており、該スロットはアーム90及びテスト
エレメントEが通るのに十分な大きさとされている。部
材80によって運ばれるテストエレメントによって占め
られる位置の下を伸びる部材80上の面97には、好ま
[7くはディテクタ110のための白及び暗い色の基準
コーティングが設けられる。
体の最下位のテストエレメントを取り出すようにされて
いる。端部88はアーム90と持上肩部92とを有して
おり、それらは米国特許第4.302,420号に開示
された如き態様で命下位のテストエレメントEと係合す
る。スロット93がステーション20に隣接した壁52
内に設けられており、アーム90及び肩部92がそこを
通れるようにしである。ただし、テストエレメントは通
れない(2,5b図参照)、対向する壁54はスロット
95を有しており、該スロットはアーム90及びテスト
エレメントEが通るのに十分な大きさとされている。部
材80によって運ばれるテストエレメントによって占め
られる位置の下を伸びる部材80上の面97には、好ま
[7くはディテクタ110のための白及び暗い色の基準
コーティングが設けられる。
ディテクタ110に向う肩部92の前方への動きにより
、テストエレメントEをディテクタ110のところの錘
119の下へ動かす。肩部92が位置B/ (第5h図
)へ戻る間、保持ばね(図示せず)がディテクタ110
VcおけるテストエレメントEの後方への動きを阻止す
る。アーム9oはカム面96な含む端部を有しており、
米国特許第4.302,402号に1載されているよう
に、テストエレメントEがディテクタ110Vc相対的
Kll動する前に、テストエレメントをディテクタ11
0から持ち上げる。カム面9乙によって起されるとの勅
きはディテクタ110上の不必要な塵耗を防ぐ。
、テストエレメントEをディテクタ110のところの錘
119の下へ動かす。肩部92が位置B/ (第5h図
)へ戻る間、保持ばね(図示せず)がディテクタ110
VcおけるテストエレメントEの後方への動きを阻止す
る。アーム9oはカム面96な含む端部を有しており、
米国特許第4.302,402号に1載されているよう
に、テストエレメントEがディテクタ110Vc相対的
Kll動する前に、テストエレメントをディテクタ11
0から持ち上げる。カム面9乙によって起されるとの勅
きはディテクタ110上の不必要な塵耗を防ぐ。
部材60.80は駆動手段1oo(第2図)K連続的に
連結されている。ここで使用されているように、「連続
的に連結」とは駆動手段100が作動されるときに常に
両部材6o、8oが動かされるように連結されているこ
とを意味する。図示の実施例においては、部材6o、8
oの一方がテストエレメントEをその通路に沿って動が
していないときに、連結を解くための手段を必要としな
い。駆動手段100はモータ102、回転駆動シャフト
104及びシャフト104に取り付けられたピニオン1
06を有している(第2図)、ピニオン106は両ラッ
ク64.84に連続的に連結されている(第6図)、駆
動手段としては、例えばAirpex Co、によって
製造されているモータのようなステッピングモータ等の
どのような可逆モータ102も使用することができる。
連結されている。ここで使用されているように、「連続
的に連結」とは駆動手段100が作動されるときに常に
両部材6o、8oが動かされるように連結されているこ
とを意味する。図示の実施例においては、部材6o、8
oの一方がテストエレメントEをその通路に沿って動が
していないときに、連結を解くための手段を必要としな
い。駆動手段100はモータ102、回転駆動シャフト
104及びシャフト104に取り付けられたピニオン1
06を有している(第2図)、ピニオン106は両ラッ
ク64.84に連続的に連結されている(第6図)、駆
動手段としては、例えばAirpex Co、によって
製造されているモータのようなステッピングモータ等の
どのような可逆モータ102も使用することができる。
好ましくは、ディテクタ110は培養器5D及び計量供
給ステーション20と整合され、例えば米国特許第4,
302.420号に示された如き態様に構成された光フ
アイバー反射計とすることができる。ディテクタ110
Vcおいて、光フアイバヘッド112には少くとも1つ
の汎用の発光ファイバ114が設けられる。複数の汎用
の集光ファイバ116が並行ファイバ束として一緒に結
合され、発光及び集光を行う面118を作っている0面
118は第2図に示すように平らか、わずから凸状にさ
れる。錘り119は適正に位置決めされたテストエレメ
ントEを面118に接触するようにイバ114に接続さ
れた少くとも1つの(図示しない)発光ダイオードと、
ファイノ!116に接続された(図示しない)フォトデ
ィテクタとを有している。
給ステーション20と整合され、例えば米国特許第4,
302.420号に示された如き態様に構成された光フ
アイバー反射計とすることができる。ディテクタ110
Vcおいて、光フアイバヘッド112には少くとも1つ
の汎用の発光ファイバ114が設けられる。複数の汎用
の集光ファイバ116が並行ファイバ束として一緒に結
合され、発光及び集光を行う面118を作っている0面
118は第2図に示すように平らか、わずから凸状にさ
れる。錘り119は適正に位置決めされたテストエレメ
ントEを面118に接触するようにイバ114に接続さ
れた少くとも1つの(図示しない)発光ダイオードと、
ファイノ!116に接続された(図示しない)フォトデ
ィテクタとを有している。
テストエレメントEは、ステーション20における液の
計量供給に続いて、ステーション20.49.109を
通して自動的に進められる。そのような自動操作に有効
な装置として、汎用のセンサ、スイッチ、マイクロプロ
セッサ等がある。アナライト液濃度は、例えば液晶 デ
ィスプレー装置160やサーマルプリンタ170などに
よって表示される(第1図)。
計量供給に続いて、ステーション20.49.109を
通して自動的に進められる。そのような自動操作に有効
な装置として、汎用のセンサ、スイッチ、マイクロプロ
セッサ等がある。アナライト液濃度は、例えば液晶 デ
ィスプレー装置160やサーマルプリンタ170などに
よって表示される(第1図)。
アナライザ10の操作は上述の記載から明らかであろう
。第2図に示すように、テストエレメントEをプレート
42上の装填ステーション19内に置く。機構40を手
動操作してテストエレメントEをステーション20のと
ころのピはット29の下に押し込む。テストエレメント
Eに加えられるアナライトはキーボー) 150 (第
1図)のコマンドキー155を使用して(図示しない)
マイクロプロセッサに入れられるか、または、テストエ
レメントE上の(図示しない)適当なコードマークを自
動的に検知し、(図示しない)マイクロプロセッサに記
録される。液体サンプルはステーション20においてテ
ストエレメントEに計量供給され、この供給が終ると別
の命令が(図示しない)マイクロプロセッサに入れられ
るか、または。
。第2図に示すように、テストエレメントEをプレート
42上の装填ステーション19内に置く。機構40を手
動操作してテストエレメントEをステーション20のと
ころのピはット29の下に押し込む。テストエレメント
Eに加えられるアナライトはキーボー) 150 (第
1図)のコマンドキー155を使用して(図示しない)
マイクロプロセッサに入れられるか、または、テストエ
レメントE上の(図示しない)適当なコードマークを自
動的に検知し、(図示しない)マイクロプロセッサに記
録される。液体サンプルはステーション20においてテ
ストエレメントEに計量供給され、この供給が終ると別
の命令が(図示しない)マイクロプロセッサに入れられ
るか、または。
(図示しない)センサが上記命令を自動的に発生する。
部材60.80の順次の動きが第5α図及び第5h図に
最も良く示されている。テストニレメン)Eを計量供給
ステーション20から貯蔵ステーション49に動かすに
は、モータ102を自動的に動かt7て部材60及びフ
ィンガ70を位置A(第5a[d)に動かす。部材60
及びフィンガ70が位置Aにあるとき、フィンガ70は
テストニレメン)Eの後縁17に係合する6部材60が
この状態になると、モータ102もまた部材80を動か
して肩部92な位置A/ (第5b図)とする。
最も良く示されている。テストニレメン)Eを計量供給
ステーション20から貯蔵ステーション49に動かすに
は、モータ102を自動的に動かt7て部材60及びフ
ィンガ70を位置A(第5a[d)に動かす。部材60
及びフィンガ70が位置Aにあるとき、フィンガ70は
テストニレメン)Eの後縁17に係合する6部材60が
この状態になると、モータ102もまた部材80を動か
して肩部92な位置A/ (第5b図)とする。
それからモータ102が動かされて部材60及びフィン
ガ70な(第5α図に点線で示す)位置Bに進める。カ
ム手段58は、この間、カッζ−56を持ち上げ、テス
トエレメントEが培養器50内に装填されるようにする
。同時に、部材80はモータ102によって位置B’(
第5b図)へ動かされる。
ガ70な(第5α図に点線で示す)位置Bに進める。カ
ム手段58は、この間、カッζ−56を持ち上げ、テス
トエレメントEが培養器50内に装填されるようにする
。同時に、部材80はモータ102によって位置B’(
第5b図)へ動かされる。
(図示しない)マイクロプロセッサは培養器50内の全
てのテストエレメントの位置を制御する。
てのテストエレメントの位置を制御する。
積重ね体Sの最下位のテストニレメン)Eを取り出すべ
きことを命令すると、モータ102は逆転されて、部材
60及びフィンガ70を位置Bから戻す。フィンガ70
は位置Aを通り点線(第5a図)で示す位置Cへ戻る。
きことを命令すると、モータ102は逆転されて、部材
60及びフィンガ70を位置Bから戻す。フィンガ70
は位置Aを通り点線(第5a図)で示す位置Cへ戻る。
同じ時に、部材80は位置B′(第5b図)から位置A
′を通り、そこでテストエレメントEに係合して同エレ
メントを培養器50から押し出し、(第5h図に点線で
示す)位置C′へ動く。位置C′□において、肩部92
はテストエレメントEをディテクタ110内に移送する
。
′を通り、そこでテストエレメントEに係合して同エレ
メントを培養器50から押し出し、(第5h図に点線で
示す)位置C′へ動く。位置C′□において、肩部92
はテストエレメントEをディテクタ110内に移送する
。
ディテクタ110内のテストニレメン)Eはテストエレ
メントEを前進させることにより押し出される。最後の
テストエレメントEが測定された後、そのエレメントE
は新しいテストエレメントEが最後のエレメントを押し
出すまでディテクタ内にとどまる。
メントEを前進させることにより押し出される。最後の
テストエレメントEが測定された後、そのエレメントE
は新しいテストエレメントEが最後のエレメントを押し
出すまでディテクタ内にとどまる。
部材80が位置A′に引き戻された後、ディテクタ内の
テストエレメントEは読まれる。また、部材80の位置
A′への引き戻しによりフィンガ70が位置Cから位置
Aへ進められる。そこでフィンガは次のテストエレメン
トEと係合し、計量供給ステーション20へ進める。
テストエレメントEは読まれる。また、部材80の位置
A′への引き戻しによりフィンガ70が位置Cから位置
Aへ進められる。そこでフィンガは次のテストエレメン
トEと係合し、計量供給ステーション20へ進める。
以上から、部材60がニレメン)Eを培養器50内へ進
めるときに、部材80は積重ね体S内のテストエレメン
トを乱すことなしに引き戻される。
めるときに、部材80は積重ね体S内のテストエレメン
トを乱すことなしに引き戻される。
部材80が進められて積重ね体Sのエレメントを取り出
すときは、部材60が積重ね体S上に装填する準備のさ
れるエレメントを乱すことなく引き戻される。ブ時には
、部材60.80の一方の入がテストエレメントを培養
器50内に装填するかまたはそれから取り出すために同
ニレメン)K保合する位置を通って動く。
すときは、部材60が積重ね体S上に装填する準備のさ
れるエレメントを乱すことなく引き戻される。ブ時には
、部材60.80の一方の入がテストエレメントを培養
器50内に装填するかまたはそれから取り出すために同
ニレメン)K保合する位置を通って動く。
ディテクタによって得られた濃度(de昨5ity)表
示は、(図示しない)マイクロプロセッサの適当な汎用
のプログラミングによって液濃度(concentra
ti・n)表示に変換される。その読取りは例えばディ
スプレー装置160及びプリンタ170によって表示さ
れる。
示は、(図示しない)マイクロプロセッサの適当な汎用
のプログラミングによって液濃度(concentra
ti・n)表示に変換される。その読取りは例えばディ
スプレー装置160及びプリンタ170によって表示さ
れる。
上述した部品を作るために用(・られる材料は重要では
なく、金属やプラスチック等が用いられる。
なく、金属やプラスチック等が用いられる。
i+寥52.54及びカッz−56のような熱を伝える
部品は好lましくは金属で作られる。
部品は好lましくは金属で作られる。
−h述した如く、本発明に係るアナライザにおいては、
単一の駆動手段によりエレメント装填機構及び取出機構
を同時に駆動t7てテストエレメントの装填及び取出操
作を独立に行うことができるという利点を有する。この
ようにすることにより、テストエレメントをほぼ直線状
の通路に沿って進めるようにした非常に簡単なアナライ
ザを得ることができる。
単一の駆動手段によりエレメント装填機構及び取出機構
を同時に駆動t7てテストエレメントの装填及び取出操
作を独立に行うことができるという利点を有する。この
ようにすることにより、テストエレメントをほぼ直線状
の通路に沿って進めるようにした非常に簡単なアナライ
ザを得ることができる。
u・、1図は1本発明に係るアナライザの斜視図;第2
図は、第1図の■−■線にほぼ沿って見た部分断面図; 第3図は、第2図のIV−IV線断面図;第4図は、光
フアイバ反射計の端面図;第5α図及び第5b図は、ア
ナライザの操作の工程を説明するための一部拡大断面図
;である。 E−−−テストエレメント; 19.20.49.109−−一作業スチージョン;6
o−−−p・!1の部材; 80−−一部2の部材;1
00−−一駆動手段。 (外4名)
図は、第1図の■−■線にほぼ沿って見た部分断面図; 第3図は、第2図のIV−IV線断面図;第4図は、光
フアイバ反射計の端面図;第5α図及び第5b図は、ア
ナライザの操作の工程を説明するための一部拡大断面図
;である。 E−−−テストエレメント; 19.20.49.109−−一作業スチージョン;6
o−−−p・!1の部材; 80−−一部2の部材;1
00−−一駆動手段。 (外4名)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1) テストエレメント内に含まれた液体の化学分
析のためのアナライザにおいて、液体の分析の間にテス
トエレメントが通される複数の作業ステーションと、テ
ストエレメントをこれら作業ステーションを通して順次
進めるための搬送手段と、を備え、該植込手段が選択さ
れた作業ステーション間でテストエレメントを進める作
用をなす第1の部材と、選択された作業ステーション間
でテストエレメントを進める作用をなす第2の部材とを
有し、特徴点として、上記第1及び第2の部材が一時に
その一方だけが当該アナライザ内でテストエレメントを
進めるように作用するよう、これら部材に作用的に連結
されて同部材を順次動かすための駆動手段を有している
アナライザ。 (2) 装填ステーション、計量供給ステーション。 貯蔵ステーション及び測定ステーションを含むことを特
徴とする特許請求の範囲第、1項に記載のアナライザ。 (31上記第1の部材がテストエレメントを計量供給ス
テーションから貯蔵ステーションへ進めるようになされ
、第2の部材がテストエレメントヲF’Mステーション
かβ)測定ステーションへ進めるようになされている特
許請求の範囲第2項に記載のアナライザ。 (4) 上記貯蔵ステーションに培養器を設けて複数
のテストエレメントを積重ねて受は入れるようになし、
上記糖1の部材が一つのテストエレメントを上記積重ね
られたテストエレメント上に+1&1f# L、第2の
部材がテストエレメントを所定時間後に積重ねられたク
ストエレメントから一つのテストエレメントを取り出す
ようにした特許請求の範囲第2項若しくは第6項に記載
のアナライザ。 (5) 培養器内のテストエレメントを第2の部材と
接触するように動かす手段を有することを特徴とする特
許請求の範囲第4項に記載のアナライザ。 (6) 一つのテストニレメントナ装填ステーション
から計量供給ステーションへ進める作用をなす機構で、
上記搬送手段と独立して作動するプッシャー機構を備え
る特許請求の範囲第2項乃至第5項のいずれかに記載の
アナライザ。 (7)上記第1及び第2部材のそれぞれが相互に反対方
向に往復動するようにされている特許請求の範囲第1項
乃至詰6項のいずれかに記載のアナライザ。 (8)上記第1及び第2部材のそれぞれがラックを有し
、上記駆動手段がこれらラックに係合するピニオンな有
している特許請求の範囲か1項乃至第7項のいずれかに
記載のアナライザ。 (9)上記ステーションがほぼ同一直線状に配置されて
いる特許請求の範囲第1項乃至第8項のいずれかに記載
のアナライザ。 Oo 上記第1及び第2部材が上記ステーションに平
行で相互に平行な通路に沿って作動する特′
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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US06/354,859 US4424191A (en) | 1982-03-04 | 1982-03-04 | Analyzer featuring loading and unloading means for a storage chamber, and common drive means |
US354859 | 1982-03-04 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58161867A true JPS58161867A (ja) | 1983-09-26 |
JPH0352828B2 JPH0352828B2 (ja) | 1991-08-13 |
Family
ID=23395209
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58033694A Granted JPS58161867A (ja) | 1982-03-04 | 1983-03-01 | アナライザ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4424191A (ja) |
EP (1) | EP0088601B1 (ja) |
JP (1) | JPS58161867A (ja) |
CA (1) | CA1174872A (ja) |
DE (1) | DE3371001D1 (ja) |
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