JPS5814726B2 - デンシカイロソウチセイゾウホウホウ - Google Patents

デンシカイロソウチセイゾウホウホウ

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Publication number
JPS5814726B2
JPS5814726B2 JP50050700A JP5070075A JPS5814726B2 JP S5814726 B2 JPS5814726 B2 JP S5814726B2 JP 50050700 A JP50050700 A JP 50050700A JP 5070075 A JP5070075 A JP 5070075A JP S5814726 B2 JPS5814726 B2 JP S5814726B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
conductor
silver
electronic circuit
seizouhouhou
Prior art date
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Expired
Application number
JP50050700A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS51127366A (en
Inventor
曾根貞幸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP50050700A priority Critical patent/JPS5814726B2/ja
Publication of JPS51127366A publication Critical patent/JPS51127366A/ja
Publication of JPS5814726B2 publication Critical patent/JPS5814726B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子回路装置の製造方法に関する。
とくに電子回路装置の基板に形成された抵抗体の抵抗値
を安定させる改良された製造方法の提供を目的とする。
たとえばハイブリッド集積回路などの電子回路装置にお
いて、プラスチック基板の表面に低湿焼成用抵抗体がプ
リントなどの方法によって形成されたものが用いられ、
小形化ならびに組みたて工程の省力化がはかられている
その1例を第1図、第2図に示す。
すなわちプリント基板1の上に鋼箔の導体電極2を所定
通り形成させ、この導体2間の基板1上にアンダーコー
ト3し、この上に抵抗体4を所定通りプリントして形成
させる。
次いで前記導体電極2に直接抵抗体の銀電極5をプリン
トして、抵抗体と導体とをそれぞれ接触させる。
しかし上述のように形成されるとき、導体の銅電極の表
面には酸化膜が形成されているので、銀電極をプリント
して接触させる前に除去しなければ接触抵抗が大きくな
って、特性不良となるので、研摩やエッチングなどによ
って除去し、その直後銀電極をプリントして接触させて
いる。
除去しても長時間放置するとまた酸化膜が生成されて接
触が不安定になる。
さらに銀電極を形成させた後にも銅電極の表面に酸化膜
が形成されることもあって、長期にわたって抵抗体の抵
抗値を安定させることはむつかしかった。
本発明はこのような特性不良の原因となる酸化膜の発生
を防止し、抵抗体の銀電極と導体との接触をよくして抵
抗値の安定性を向上させるように導体の電極表面を銀と
なじむ金属にて被覆させる電子回路装置の改良された製
造方法を提供するものである。
本発明の方法を以下図を参照して説明する。
第3図に示すように、基板として用いられるフェノール
樹脂銅張積層板11の銅箔に必要な導体パターン12を
所定の方法によって形成させる。
このパターン形成後導体の表面必要部分にすすの薄膜層
13たとえば1〜2μの厚さのものを形成させる。
次いで導体と導体との間の基板11上所定部分に耐熱耐
湿性を有するエポキシ系の半田レジストでアンダーコー
ト14する。
この上に所定通りカーボンを重ねてプリントし抵抗体1
5を形成させる。
これを120℃で仮乾燥させて後、抵抗体とその両側の
導体とを接続させるようにそれぞれ銀電極16をプリン
トして形成させ、抵抗体と銀電極とを同時に150℃に
て乾燥させる。
このように導体表面に銀となじむすすを被覆させること
によって、抵抗体の銀電極と導体のすす層との接触が安
定であり、従来発生していたような接触不安定による抵
抗値の変化はなくなり、したがって特性不良はおこらな
い。
とくに高渦に放置されたり、又高温高湿試験を行うとき
などけ特に安定性がよく、上述の処理のすぐれた効果が
示されるものである。
前記の導体上に形成される金属層はすすに限ることなく
、銀となじみのよい銀や金などの金属を用いて形成させ
ても同じような効果を示すことは言うまでもない。
なお抵抗体を基板上に形成させた後、その上を耐熱耐湿
性樹脂で被覆させれば抵抗変化を防止するのに一層効果
的である。
【図面の簡単な説明】
第1図は電子回路装置の基板上に形成された抵抗体など
を示す要部平面図、第2図は第1図の縦断面図、第3図
は本発明の電子回路装置に装着された基板の要部縦断面
図である。 11・・・基板、12・・・導体、13・・・すず層、
15・・・抵抗体、16・・・銀電極。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 プラスチック基板上に導体ならびに低温焼成用抵抗
    体を形成させ、次に前記導体と抵抗体とを銀電極にて接
    続させる工程を具備する電子回路装置の製造にあたり、
    前記導体の表面を銀電極にて抵抗体と接続させるに先立
    って銀となじむ金属にて被覆させることを特徴とする電
    子回路装置製造方法。
JP50050700A 1975-04-28 1975-04-28 デンシカイロソウチセイゾウホウホウ Expired JPS5814726B2 (ja)

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JPS51127366A JPS51127366A (en) 1976-11-06
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