JPS58147065A - 大容量トランジスタ - Google Patents

大容量トランジスタ

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JPS58147065A
JPS58147065A JP57029295A JP2929582A JPS58147065A JP S58147065 A JPS58147065 A JP S58147065A JP 57029295 A JP57029295 A JP 57029295A JP 2929582 A JP2929582 A JP 2929582A JP S58147065 A JPS58147065 A JP S58147065A
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JP
Japan
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emitter
region
electrode
lead wire
regions
Prior art date
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Pending
Application number
JP57029295A
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English (en)
Inventor
Tsuneto Sekiya
関谷 恒人
Shinichi Ito
伸一 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Fuji Electric Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一つの半導体板に複数のエミッタ領域が設けら
れ、それら゛−6s並列接続されている大容量トランジ
スタに関する。
第1図はそのようなトランジスタの平面図、第等価回路
図を示し、第1図においてシ リコン板lは下面側から=レクタ領域、ベース領域を有
し、ベース領域内に選択拡散によりエミッタ領域が設け
られ、ベース、領域にベース電極2が、エミッタ領域に
エミッタ電極3がそれぞれ被着されている。ベース電極
2にはベースリード線4が接続され、また各エミッタ電
極3にはそれぞれ工1さツタリード線5が接続され、エ
ミッタ端子′Eにまとめられている。しかしこのような
トランジスタには次の問題点がある。
(1)  拡散のばらつきにより各エミッタにおいて特
に電流増幅率hFlのばらつきがあると電流の分担の不
均衡を生じ゛、一つのエンツタ領域に電流集中を起こし
て破壊に至りやすい。
(2)第1図から分かるようにエミッタリード線の長さ
に差があるためリード線による抵抗値に大小が出来、リ
ード線の短い方に電流が流れやすくなり、そのエミッタ
部分が破壊しやすい。
゛個別素子のトランジスタを並列接続する場合、このよ
うなエミッタ電流の不均衡を阻止するには各トランジス
タのエミッタにエミッタバランス抵抗を付加することが
有効であることは知られている。しかし一つの半導体板
に複数のエミッタ領域が設けられる大容量トランジスタ
にそのような抵抗を接続することは実際上不可能である
本楯明はそのような大容量トランジスタにおいて、半導
体板内に←仔衾→曜工にツタバランス抵抗を付加した構
造を提供することを目的とする。
この目的は、それぞれのエミッタ領域に被着されるエミ
ッタ電極がベース領域に近い部分とその部分と間−を介
して分離されたペース領域より遠い部分とからなり、そ
のベース領域より遠い部分にリード線が接続されること
により達成される。
以下図を引用して本発明の実施例について説明する。第
3図は本発明暴こよる一つのエミッタ電極およびその近
傍、第4図は第3図めA−A線断面図を示している。P
形ベース領域11の中に拡散によってN形エンツタ領域
12が設けられ、表面には両領域の境界のPN接合を保
映す、る絶縁1113を除いてベース電極2およびエミ
ッタ電極が被着されている。エミッタ電極は狭い幅の間
11i114によって分離された外周部31と中央部3
2に分れている。エミッタリード@5はこの中央部32
に、例えばワイヤボンディングによって接続されている
。このような構造のトランジスタにおいては第4図の破
線で囲まれた部分を拡大した第5図に示すようにベース
領域11からエミッタ領域12へ流れるニオツタ電流6
は、−且エミッタ電極の外周部31に入るが、間隙14
の部分では再びその下側のエミッタ領域12に入り中央
部32を経てリード線5に流れる。従って間l!l14
の下側で拡散抵抗7を経由する。これによりこのような
エミッタ電極を複数備えたトランジスタの等価回路は第
6図に示す゛ようになり、拡散抵抗7によりエミッタバ
ランス抵抗8が形成される。拡散抵抗7の抵抗値はニオ
ツタ領域12のシート抵抗、間1114の幅、長さによ
って決才るので適宜調整できる。
以上述べたように本発明は複数のエミッタ領域を有する
大容量トランジスタの各エミッタ領域に流れるエミッタ
電流の不均衡を、各エミッタ領域にエミッタバランス抵
抗を内蔵せしめることによって阻止したものであり、エ
ミッタ部分の破壊の虞がなく信頼性高い大容量トランジ
スタを得るのに極めて有効である・な8上述の実施例で
はNPNトランジスタであるが、PNP)ランジスタも
同様に実施できる。
【図面の簡単な説明】
[1図は従来の大容量トランジスタの一例の半導体板平
面図、第2図はその等価回路図、第3図は本発明の一実
施例のエミッタ電極部の平面図、第4図は第3図のA−
A線断面図、第5図は第3図の破線で囲んだ部分の拡大
図、第6図は本発明による大容量トランジスタの等価回
路図である。 11・・ぺ−x領域、12・・・エンツタ領域、14・
・・間隙、31・・・二きツタ電極外周部。 32・・・ニオツタ電極中央部。 71 図 ′7F 2 図 ;/P3図 74 図 オ6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1)一つの半導体板に複数のエミッタ領域が設けられ、
    該エミッタ領域が並列接続されるものにおいて、それぞ
    れのニオツタ領域に被着されるニオツタ電極がベース領
    −に近い部分と該部分と間隔を介して分離暴れたベース
    領域より遠い部分とからなり、#ヘニ玉領域より遠い部
    分にリード線が接続されたことを特徴とする大容量トラ
    ンジスタ。
JP57029295A 1982-02-25 1982-02-25 大容量トランジスタ Pending JPS58147065A (ja)

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JP57029295A JPS58147065A (ja) 1982-02-25 1982-02-25 大容量トランジスタ

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JP57029295A JPS58147065A (ja) 1982-02-25 1982-02-25 大容量トランジスタ

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JPS58147065A true JPS58147065A (ja) 1983-09-01

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ID=12272245

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JP57029295A Pending JPS58147065A (ja) 1982-02-25 1982-02-25 大容量トランジスタ

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1679745A2 (en) * 2005-01-10 2006-07-12 Velox Semiconductor Corporation Package for gallium nitride semiconductor devices

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1679745A2 (en) * 2005-01-10 2006-07-12 Velox Semiconductor Corporation Package for gallium nitride semiconductor devices
EP1679745A3 (en) * 2005-01-10 2013-01-09 Power Integrations, Inc. Package for gallium nitride semiconductor devices

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