JPS58142938U - プロ−ブカ−ド - Google Patents

プロ−ブカ−ド

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JPS58142938U
JPS58142938U JP3914982U JP3914982U JPS58142938U JP S58142938 U JPS58142938 U JP S58142938U JP 3914982 U JP3914982 U JP 3914982U JP 3914982 U JP3914982 U JP 3914982U JP S58142938 U JPS58142938 U JP S58142938U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring pattern
rectangular opening
probe card
synthetic resin
center
Prior art date
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Granted
Application number
JP3914982U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6210998Y2 (ja
Inventor
勝彦 岡田
詑摩 一哉
Original Assignee
富士通株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 富士通株式会社 filed Critical 富士通株式会社
Priority to JP3914982U priority Critical patent/JPS58142938U/ja
Publication of JPS58142938U publication Critical patent/JPS58142938U/ja
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Publication of JPS6210998Y2 publication Critical patent/JPS6210998Y2/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
、第1図および第2図は従来のプローブカードの平面図
およびその断面図、第3図、第4図は検査用パッドに測
定端子が接触する゛状態を示す図、第5図、第6図は本
考案のプロ亡ブカードの一実施例を示す平面図である。 図において1.12は合成樹脂円板、2.11は開孔部
、3,14.17は導電性のパターン、4.18は端子
ピン、5,16はチップ、6は測定台、7.15は測定
端子、8は検査用パッド、13は絶縁板、Aは測定台の
移動方向を示す矢印である。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 中央に方形の開口部が形成された合成樹脂板の表面に放
    射状に延びた配線パターンと該配線パターンの周辺端部
    より垂直方向に延びて検査測定器と接続するピンが形成
    され、前記合成樹脂板の裏面には前記表面の配線パター
    ンとスルーホールを介して接続された放射状の配線パタ
    ーンが方形の開口部の四辺に対応するように四分割され
    て端部が放物線状になるようにして合成樹脂板の中央で
    集結され、該四分割された放物線状の端部に検査すべき
    半導体チップの検査パッドに接触する測定端子が方形の
    開孔部の四辺上を垂直にまたぐようにして接続されてい
    ることを特徴とするプローブカード。
JP3914982U 1982-03-18 1982-03-18 プロ−ブカ−ド Granted JPS58142938U (ja)

Priority Applications (1)

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JP3914982U JPS58142938U (ja) 1982-03-18 1982-03-18 プロ−ブカ−ド

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3914982U JPS58142938U (ja) 1982-03-18 1982-03-18 プロ−ブカ−ド

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58142938U true JPS58142938U (ja) 1983-09-27
JPS6210998Y2 JPS6210998Y2 (ja) 1987-03-16

Family

ID=30050452

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3914982U Granted JPS58142938U (ja) 1982-03-18 1982-03-18 プロ−ブカ−ド

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JP (1) JPS58142938U (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5149688A (ja) * 1974-10-25 1976-04-30 Seiko Instr & Electronics
JPS56135938A (en) * 1980-03-28 1981-10-23 Yoshie Hasegawa Fixed probe board

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5149688A (ja) * 1974-10-25 1976-04-30 Seiko Instr & Electronics
JPS56135938A (en) * 1980-03-28 1981-10-23 Yoshie Hasegawa Fixed probe board

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JPS6210998Y2 (ja) 1987-03-16

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