JPS59125837U - 半導体検査装置 - Google Patents

半導体検査装置

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JPS59125837U
JPS59125837U JP1986683U JP1986683U JPS59125837U JP S59125837 U JPS59125837 U JP S59125837U JP 1986683 U JP1986683 U JP 1986683U JP 1986683 U JP1986683 U JP 1986683U JP S59125837 U JPS59125837 U JP S59125837U
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JP
Japan
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motherboard
probe card
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semiconductor inspection
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Application number
JP1986683U
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English (en)
Inventor
博 前田
Original Assignee
セイコーインスツルメンツ株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の半導体検査装置の構造の斜視図、第2
図は本考案実施例の斜視図である。 1・・・プローブカード、2・・・プローブ針、3・・
・ピン、3a・・・ポゴコンタクト、4・・・マザーボ
ード、5・・・スルーホール、5a・・・電極パターン
、6・・・止めネジ部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. プローブカードに設けた接続ピン及び、ポゴコンタクト
    と、前記のピン及び、ポゴコンタクトを受けるマザーボ
    ードの一部に設けたスルーホールと、前記マザーボード
    側の残りの部分に設けた電極パターンとを備え、前記プ
    ローブカードと前記マザーボードとが2点以上の止め部
    で接続されることによりボゴコンタクトと電極パターン
    とが接続されることを特徴とする半導体検査装置。
JP1986683U 1983-02-14 1983-02-14 半導体検査装置 Pending JPS59125837U (ja)

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JPS59125837U true JPS59125837U (ja) 1984-08-24

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ID=30151004

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