JPS58138122A - 並列型アナログ・デイジタル変換器 - Google Patents
並列型アナログ・デイジタル変換器Info
- Publication number
- JPS58138122A JPS58138122A JP57021434A JP2143482A JPS58138122A JP S58138122 A JPS58138122 A JP S58138122A JP 57021434 A JP57021434 A JP 57021434A JP 2143482 A JP2143482 A JP 2143482A JP S58138122 A JPS58138122 A JP S58138122A
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/06—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/34—Analogue value compared with reference values
- H03M1/36—Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type
- H03M1/361—Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type having a separate comparator and reference value for each quantisation level, i.e. full flash converter type
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高精度でかつ高速変換が可能な並列型アナログ
・ディジタル(以下A/Dと記す)変換器に関するもの
である。
・ディジタル(以下A/Dと記す)変換器に関するもの
である。
従来並列型絨変換器は第1図に示すように量子化レベル
の数だけ比較器を並列に設け(10ビツトであれが2
1=1023ケ)、それぞれの比較器の一方の入力にア
ナログ信号全印加し、他方の入力には、抵抗を直列に接
続して、量子化レベル毎に分圧した電圧を印加すること
により、アナログ信号と各量子化レベルの電圧とを全て
の比較器において同時に比較し、その出力をゲート回路
およびエンコーダ1を介してディジタル信号変換するも
のである。第1図は10ビツトの並列型〜0変換器の概
要を示したブロック図である。
の数だけ比較器を並列に設け(10ビツトであれが2
1=1023ケ)、それぞれの比較器の一方の入力にア
ナログ信号全印加し、他方の入力には、抵抗を直列に接
続して、量子化レベル毎に分圧した電圧を印加すること
により、アナログ信号と各量子化レベルの電圧とを全て
の比較器において同時に比較し、その出力をゲート回路
およびエンコーダ1を介してディジタル信号変換するも
のである。第1図は10ビツトの並列型〜0変換器の概
要を示したブロック図である。
6図中01〜C1o23 は比較器、R1−R1゜23
は基準”電圧を各比較器に与えるための基準抵抗で通常
R1からR1023tでの全抵抗を等しぐする。■IN
はアナログ入力信−づを印加する入力端子、■RT、■
RBは基準電圧を印加する端子であるofだ、1は、ゲ
ート回路およびエンコーダであり、比較器の出力信号を
コード化する。2は出力回路であり、出力レベルの変換
等を行う。第1図において、今、比較器に流れ込む電流
が無視できるとすれば、比較器の各入力端の一方には、
■RT−■RBを各抵抗R1〜R1゜23で分圧した電
圧が出る。その時各抵たたしR” R1= R2” R
3”” R4””” ”’ −R1023で、nはビッ
ト数である。この場合はn−10である。
は基準”電圧を各比較器に与えるための基準抵抗で通常
R1からR1023tでの全抵抗を等しぐする。■IN
はアナログ入力信−づを印加する入力端子、■RT、■
RBは基準電圧を印加する端子であるofだ、1は、ゲ
ート回路およびエンコーダであり、比較器の出力信号を
コード化する。2は出力回路であり、出力レベルの変換
等を行う。第1図において、今、比較器に流れ込む電流
が無視できるとすれば、比較器の各入力端の一方には、
■RT−■RBを各抵抗R1〜R1゜23で分圧した電
圧が出る。その時各抵たたしR” R1= R2” R
3”” R4””” ”’ −R1023で、nはビッ
ト数である。この場合はn−10である。
したがってこの時、各比較器の入力端の電圧■Rxは第
2図の点線で示すように直線となる。なお第2図の横軸
は比較器の番号を示している。
2図の点線で示すように直線となる。なお第2図の横軸
は比較器の番号を示している。
しかしながら、実際には比較器01〜C1o23の入力
端にはバイアス電流I、が流れている。このために、v
RXは各比較器の入力端の位置Xに苅して破線のごとき
直線にならずに第2図の実線で示すような下に凸の線と
なる。これを式で表わすと次式のように表わされる。
端にはバイアス電流I、が流れている。このために、v
RXは各比較器の入力端の位置Xに苅して破線のごとき
直線にならずに第2図の実線で示すような下に凸の線と
なる。これを式で表わすと次式のように表わされる。
・・・・・・・・・・・・・・(1)
n
ただし1くxく−である。
2
一方第2図の点線で表わした理想線は
RRXO−(■RT−■RB)−”IR”X””・・”
・−121であるから、実線と点線の差すなわち誤差は
となる。ただしnはビット数を表わす。
・−121であるから、実線と点線の差すなわち誤差は
となる。ただしnはビット数を表わす。
ΔVRX=VRY(Y=2”−X) 、、、−・
−・・・・−・・C41となる。
−・・・・−・・C41となる。
ノ
(3)式においてx=−のときΔ’RXは最大となり、
その時の値は となる。
その時の値は となる。
ここでへρ変換器としての直線性を満足するだめには誤
差は−LSB以下でなければならないかでなければなら
ない。
差は−LSB以下でなければならないかでなければなら
ない。
したがって(5)式、(6)式よりIRとIiの比はを
満足しなければならないことになる。
満足しなければならないことになる。
今、l1=1μAであるとすれば、1oビツトの場合は
I R”” 786 mA にもなり、■RT−■RB
が2V(アナログ入力信号が2V ’L!:き)であ
れば、p 基準抵抗1個当りの抵抗値は約2.5X10’Ωと、極
めて小さな値にしなければならない。この様な小さな抵
抗を形成することは現実には不可能であり、かつ電流が
786 mAも必要とすることから消費電力も極めて大
きくなってし捷うおそれがある0 以上の問題を解決する手段としてまず第一に考えられる
ことは比較器のバイアス電極を小さくすることがあるが
、比較器をECLで構成した場合ビデオ帯域の信号をA
ρ変換できるような高速のA/D変換器の場合、あ壕り
バイアス電流を小さくすることができない。寸だMOS
トランジスタを用いて比較器を構成すればバイアス電流
はほとんど零にすることができるが、MOSトランジス
タの場合はオフセット電圧が犬きく、あまりビット数の
多いA/D変換器を得ることができないという欠点を有
する。
I R”” 786 mA にもなり、■RT−■RB
が2V(アナログ入力信号が2V ’L!:き)であ
れば、p 基準抵抗1個当りの抵抗値は約2.5X10’Ωと、極
めて小さな値にしなければならない。この様な小さな抵
抗を形成することは現実には不可能であり、かつ電流が
786 mAも必要とすることから消費電力も極めて大
きくなってし捷うおそれがある0 以上の問題を解決する手段としてまず第一に考えられる
ことは比較器のバイアス電極を小さくすることがあるが
、比較器をECLで構成した場合ビデオ帯域の信号をA
ρ変換できるような高速のA/D変換器の場合、あ壕り
バイアス電流を小さくすることができない。寸だMOS
トランジスタを用いて比較器を構成すればバイアス電流
はほとんど零にすることができるが、MOSトランジス
タの場合はオフセット電圧が犬きく、あまりビット数の
多いA/D変換器を得ることができないという欠点を有
する。
一方、第3図に示すように、比較器のバイアス電流によ
る誤差を少なくするために基準電流源自体を帰還回路に
よって構成し、基準抵抗に電流を供給する構成が提案さ
れている。第3図において1、C1〜Cn、R1−Rn
は第1図のそれと同一の構成要素である。また101は
帰還増巾回路で■ref と”n−11Rnの接続点と
の電圧を検出して、Rn−1とRnとの接続点が”re
fと等しくなるようにR1−Rnの抵抗列に電流を供給
している。
る誤差を少なくするために基準電流源自体を帰還回路に
よって構成し、基準抵抗に電流を供給する構成が提案さ
れている。第3図において1、C1〜Cn、R1−Rn
は第1図のそれと同一の構成要素である。また101は
帰還増巾回路で■ref と”n−11Rnの接続点と
の電圧を検出して、Rn−1とRnとの接続点が”re
fと等しくなるようにR1−Rnの抵抗列に電流を供給
している。
しかしこの方式は帰還増巾回路101の出力は基準抵抗
(R1−Rn)の全電流を供給するように構成されてお
り、高精度にするに従って大電流を供給してやらねばな
らないという欠点を有する。
(R1−Rn)の全電流を供給するように構成されてお
り、高精度にするに従って大電流を供給してやらねばな
らないという欠点を有する。
しだがって本発明は抵抗列全体に電流を供給する電源は
第1図の場合と同様に設けでおき、さらに別途設けた第
2の基準電圧源ならびにトリミング修正された抵抗を用
いることにより、比較器の基準電圧を適当な間隔で補正
することにより、高速性を低下させることなく高精度の
A/D変換器をを実現しようとするものである。
第1図の場合と同様に設けでおき、さらに別途設けた第
2の基準電圧源ならびにトリミング修正された抵抗を用
いることにより、比較器の基準電圧を適当な間隔で補正
することにより、高速性を低下させることなく高精度の
A/D変換器をを実現しようとするものである。
以下本発明の具体的内容を図に従って説明する。
第4図は本発明の一実施例を示した棚、略の回路図であ
る。第4図中C1〜C1o23.R1〜R1o23.。
る。第4図中C1〜C1o23.R1〜R1o23.。
■IN、■RT、■RB、1,2は第1図のそれと同一
である。r1〜r8d’、 R1−”1023 と並
列に設けた第2の基準抵抗で本実施例の場合は、8本の
抵抗を直列に接続している。Dl、D2は電流増巾回路
である。第4図の場合には基準抵抗R1〜R1o23を
8分割して7ケ所で補正を行おうとする例である。
である。r1〜r8d’、 R1−”1023 と並
列に設けた第2の基準抵抗で本実施例の場合は、8本の
抵抗を直列に接続している。Dl、D2は電流増巾回路
である。第4図の場合には基準抵抗R1〜R1o23を
8分割して7ケ所で補正を行おうとする例である。
今r 1”= r 2 ”’ r 3−・・・・・−r
8とすれば、電圧■R’T−(■RT−■RB)となる
。一方各比較器の入力バイアス電流が零であれば、A′
点の電圧も本来i (vRT ’RB )とならない
が、実際は比較器の入力バイアス電流のために第2図に
示すようにずれている。ここで、第4図に示すように電
流増巾回路D1の一方の入力をA点に接続し、他方の入
力をA′点に接続し、さらに出力端をA′点に接続する
ことにより、A′点の電位をA点の電位に等しくなるよ
うに基準抵抗R1〜R1o23の電流を制御することが
できる。D2についても同様である。ここではDl、D
2だけしか図示していないが、実際には7ケの電流増1
41回路を設ける。つ捷り第3の電流増1]回路の出力
はR384とR38,の接続点に、第4のそれはR61
2とR513の接続点に、第6のそれはR64oとR6
41の接続点に、第6のそれはR768とR769の接
続点に第7のそれはR896とR89□の接続点に印加
されるわけである。このようにすることにより、基準抵
抗R1〜R1゜23を8等分した分割点の電位は第5図
に示すように理想的な電位である点線上に合わせること
ができる。ただし各分割点と分割点との間では実線で示
されるようにやはり誤差が生じる。
8とすれば、電圧■R’T−(■RT−■RB)となる
。一方各比較器の入力バイアス電流が零であれば、A′
点の電圧も本来i (vRT ’RB )とならない
が、実際は比較器の入力バイアス電流のために第2図に
示すようにずれている。ここで、第4図に示すように電
流増巾回路D1の一方の入力をA点に接続し、他方の入
力をA′点に接続し、さらに出力端をA′点に接続する
ことにより、A′点の電位をA点の電位に等しくなるよ
うに基準抵抗R1〜R1o23の電流を制御することが
できる。D2についても同様である。ここではDl、D
2だけしか図示していないが、実際には7ケの電流増1
41回路を設ける。つ捷り第3の電流増1]回路の出力
はR384とR38,の接続点に、第4のそれはR61
2とR513の接続点に、第6のそれはR64oとR6
41の接続点に、第6のそれはR768とR769の接
続点に第7のそれはR896とR89□の接続点に印加
されるわけである。このようにすることにより、基準抵
抗R1〜R1゜23を8等分した分割点の電位は第5図
に示すように理想的な電位である点線上に合わせること
ができる。ただし各分割点と分割点との間では実線で示
されるようにやはり誤差が生じる。
しかしく櫛式に示されるように誤差の最大はほぼ量子化
数の2乗に比例することから、例えば本実施例のように
量子化数を8分割した場合には極めて小さくなってしま
う。このことはすなわち、誤差分を、LSB以下にしよ
うとした場合は、基準抵抗R1〜R1゜23の抵抗値を
前述の2.5XIC)’Ωに比べて大巾に大きくできる
ことから、充分実現可能な範囲に入ってくる。今回の8
分割の場合A′とB′の間に入る量子化レベルの数また
は比較器の数は128ケであるから(6)式においてn
−7となり、(7)式よpIi=1μAのとき IRは
12.2mAとなる0 したがって基準抵抗1ヶ当りの抵抗値は約0.16Ωで
、金属抵抗を用いれば充分実現可能な範囲である。また
分割を2倍の16にすれば1分割内に0 Ωとなり、当初の補IF′fr:行わない時に比べれば
266倍の抵抗値で3Lいことになる。
数の2乗に比例することから、例えば本実施例のように
量子化数を8分割した場合には極めて小さくなってしま
う。このことはすなわち、誤差分を、LSB以下にしよ
うとした場合は、基準抵抗R1〜R1゜23の抵抗値を
前述の2.5XIC)’Ωに比べて大巾に大きくできる
ことから、充分実現可能な範囲に入ってくる。今回の8
分割の場合A′とB′の間に入る量子化レベルの数また
は比較器の数は128ケであるから(6)式においてn
−7となり、(7)式よpIi=1μAのとき IRは
12.2mAとなる0 したがって基準抵抗1ヶ当りの抵抗値は約0.16Ωで
、金属抵抗を用いれば充分実現可能な範囲である。また
分割を2倍の16にすれば1分割内に0 Ωとなり、当初の補IF′fr:行わない時に比べれば
266倍の抵抗値で3Lいことになる。
一方電流増d]回路DI、D2・・・・・・の具体回路
は第6図に示す回路で構成できる。第6図でTrll
Tr2は差動トランジスタの対でT r 3は電流を増
巾するだめのエミッタフメロアトランジスタ、RLは負
荷抵抗であり、端子101は第4図の電流増巾回路の十
入力端子に相当し、102は一人力端子と出力の接続点
に相当する。
は第6図に示す回路で構成できる。第6図でTrll
Tr2は差動トランジスタの対でT r 3は電流を増
巾するだめのエミッタフメロアトランジスタ、RLは負
荷抵抗であり、端子101は第4図の電流増巾回路の十
入力端子に相当し、102は一人力端子と出力の接続点
に相当する。
また103,101j:定電流源、vcc、−vEEは
各々電源電圧印加端子である。第6図のトランジスタ回
路は一種のインピーダンス変換回路で、Trlj: T
r2の特性が等しいとすると、端子101と102の電
圧が等しくなるようにT rsにより電流を出力端子1
02に供給するように動作する。
各々電源電圧印加端子である。第6図のトランジスタ回
路は一種のインピーダンス変換回路で、Trlj: T
r2の特性が等しいとすると、端子101と102の電
圧が等しくなるようにT rsにより電流を出力端子1
02に供給するように動作する。
したがって第4図のAとA′、B、!:B′の点の電位
がそれぞれ等しくなるわけである。しかも通常IC化し
た場合にはTrlとT r 2の温度依存性も等しくな
るので温度による変化も極めて小さいものとなり、第5
図に示すように優れた分圧特性を持つ基準抵抗を形成す
ることができるわけである。
がそれぞれ等しくなるわけである。しかも通常IC化し
た場合にはTrlとT r 2の温度依存性も等しくな
るので温度による変化も極めて小さいものとなり、第5
図に示すように優れた分圧特性を持つ基準抵抗を形成す
ることができるわけである。
次に、第2の基準抵抗列r1〜r8について説明する。
今にr1= r2 = r3二・・・・・・−r8と仮
定したが、現実には、完全にこれらの抵抗を等しくする
のは困難である。一方、r1〜r8によって分圧された
各分圧点の電位の誤差は充分小さいものでなければなら
ない。通常この値は一1LSB以下である。
定したが、現実には、完全にこれらの抵抗を等しくする
のは困難である。一方、r1〜r8によって分圧された
各分圧点の電位の誤差は充分小さいものでなければなら
ない。通常この値は一1LSB以下である。
すなわち、1Qビツトで入力ダイナミックレンジ2■
を仮定すると7LSB″;1mVとなり、各p 分圧点の誤差は1mV以下の必要がある。
を仮定すると7LSB″;1mVとなり、各p 分圧点の誤差は1mV以下の必要がある。
、1
また仮りに前述の誤差か7LSB以下であったとしても
、N0変換器全体の直線性を満足できるとは限らない。
、N0変換器全体の直線性を満足できるとは限らない。
今、電流増巾回路D1. D2・・・・・・にオフセッ
トがあれば、図6の端子101と102の電位は等しく
ならない。したがってr1〜r8によって分圧した各分
圧点の電位が所定の誤差内に納っていたとしても、対応
する基準抵抗R1〜R1゜23の分圧点の電位は所定の
値にならないことになる・このことを防ぐために、第2
の基準抵抗r1〜r8は電流増巾回路DI、D2〜のオ
フセラトラ含んで、である。
トがあれば、図6の端子101と102の電位は等しく
ならない。したがってr1〜r8によって分圧した各分
圧点の電位が所定の誤差内に納っていたとしても、対応
する基準抵抗R1〜R1゜23の分圧点の電位は所定の
値にならないことになる・このことを防ぐために、第2
の基準抵抗r1〜r8は電流増巾回路DI、D2〜のオ
フセラトラ含んで、である。
今、本発明に」こる並列型A/D変換器をモノリシック
ICに構成しようとする時には、前述のように第1の基
準抵抗R1〜R1o23はアルミ等の金属で形成するこ
とができるが、r1〜r8を金属にすると、レーザーに
よるトリミングはその反射性質のため困難となる。した
がってモノリシックICとして構成しやすくかつトリミ
ングが容易な材料で形成することが必要であり、多結晶
シリコンが有利である。
ICに構成しようとする時には、前述のように第1の基
準抵抗R1〜R1o23はアルミ等の金属で形成するこ
とができるが、r1〜r8を金属にすると、レーザーに
よるトリミングはその反射性質のため困難となる。した
がってモノリシックICとして構成しやすくかつトリミ
ングが容易な材料で形成することが必要であり、多結晶
シリコンが有利である。
今、多結晶シリコンによってr1〜r8を形成する際の
単位面積当りの抵抗率、シート抵抗はA/D変換器の精
度にかなり影響企及ぼす。多結晶シリコンは通常その形
成条件、不純物量によって温度係数が正の場合と負の場
合とがある。したがってできるだけ、温度係数が正から
負へ変わる領域つ壕り温度係数が0′に近い領域(形成
条件、不純物量)を選ぶことが重要である。なんとなれ
ば、温¥係数が大きいと、必然的に各抵抗間の温度係数
3 の差も大きくなり、温度によって精度がかなり変化する
ことになる。
単位面積当りの抵抗率、シート抵抗はA/D変換器の精
度にかなり影響企及ぼす。多結晶シリコンは通常その形
成条件、不純物量によって温度係数が正の場合と負の場
合とがある。したがってできるだけ、温度係数が正から
負へ変わる領域つ壕り温度係数が0′に近い領域(形成
条件、不純物量)を選ぶことが重要である。なんとなれ
ば、温¥係数が大きいと、必然的に各抵抗間の温度係数
3 の差も大きくなり、温度によって精度がかなり変化する
ことになる。
実験によれば、700°Cの温度でCVD法によって、
約3000への厚さに形成した多結晶シリコンにボロン
をイオン注入によりテポジンヨノして、1000’Cの
N2中でドライブインした場合、ノート抵抗は約30o
Q/I]になるようボロンの原子数を制御する場合が最
も温度係数を小さくすることができることがわかった。
約3000への厚さに形成した多結晶シリコンにボロン
をイオン注入によりテポジンヨノして、1000’Cの
N2中でドライブインした場合、ノート抵抗は約30o
Q/I]になるようボロンの原子数を制御する場合が最
も温度係数を小さくすることができることがわかった。
したがってシート抵抗300ΩΔ]の多結晶シリコンで
、r1〜r8の第2の基準抵抗列を形成し、〜00変換
器全の直線性が一!−LSB以内に入るよう、レーザー
ビームによす、第2の基準抵抗列をトリミングして修正
することにより、第1の基準抵抗列のr1〜r8の分圧
点に対応する分圧点の電位を第5図に示すように補正で
きることになる。
、r1〜r8の第2の基準抵抗列を形成し、〜00変換
器全の直線性が一!−LSB以内に入るよう、レーザー
ビームによす、第2の基準抵抗列をトリミングして修正
することにより、第1の基準抵抗列のr1〜r8の分圧
点に対応する分圧点の電位を第5図に示すように補正で
きることになる。
したがって以上のことから本発明によれば、比較器の比
較電圧のバイアス電流による誤差を部分的に補正してや
ることが可能とな抄、基準抵抗に流れる電流を小さくで
きると共に抵抗値を実現可4 能な値にすることができ、より高精度な並列型A/D変
換器を実現できる7、
較電圧のバイアス電流による誤差を部分的に補正してや
ることが可能とな抄、基準抵抗に流れる電流を小さくで
きると共に抵抗値を実現可4 能な値にすることができ、より高精度な並列型A/D変
換器を実現できる7、
第1図、第3図は従来の並列型A/D変換器の構成図、
第2図は第1図に示す並列型〜Φ変換器の誤差を表わす
説明図、第4図は本発明の実施例を示す構成図、第6図
は本発明の実施例にもとすく特性を示す説明図、第6図
は本発明の電流増巾回路の具体回路の実施例を示す回路
図である。 R1〜R1o23・・−・−・基準抵抗列、r1〜r8
・・・・・・他の基準抵抗列、DI、D2・・・−・・
電流増巾回路、C1〜C1゜23・・・・−・比較器・
代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第2
図 第3図 第4図 VRB 第5図 102−
第2図は第1図に示す並列型〜Φ変換器の誤差を表わす
説明図、第4図は本発明の実施例を示す構成図、第6図
は本発明の実施例にもとすく特性を示す説明図、第6図
は本発明の電流増巾回路の具体回路の実施例を示す回路
図である。 R1〜R1o23・・−・−・基準抵抗列、r1〜r8
・・・・・・他の基準抵抗列、DI、D2・・・−・・
電流増巾回路、C1〜C1゜23・・・・−・比較器・
代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第2
図 第3図 第4図 VRB 第5図 102−
Claims (3)
- (1)直列に接続され、かつ各接続点の電位を比較器の
比較電圧とする第1の基準抵抗列を有し、前記第1の基
準抵抗列と並列に設けられ、トリミング修正がなされた
第2の基準抵抗列と、同第2の基準抵抗列による分圧点
の電位と同分集点の電位に対応する前記第1の基準抵抗
列の所定の接続点の電位とが等しくなるように、前記第
1の基準抵抗列の所定の接続点に電流を供給する電流増
巾回路とを有することを特徴とする並列型アナログ・デ
ィジタル変換器。 - (2)電流増巾回路が、差動増巾回路とエミッタフォロ
ア回路とで構成され、前記エミッタツメロア回路の出力
が前gt差動増巾回路の一方の入力に直接帰還せられる
こと全特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の並列型
アナログ−ディジタル変換器。 - (3)第2の基準抵抗が多結晶シリコンよりなる特許請
求の範囲第1項に記載の並列型アナログ・ディジタル変
換器。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57021434A JPS58138122A (ja) | 1982-02-12 | 1982-02-12 | 並列型アナログ・デイジタル変換器 |
US06/368,814 US4496935A (en) | 1982-02-12 | 1982-04-15 | Analog-digital converter with linear characteristic restoration circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57021434A JPS58138122A (ja) | 1982-02-12 | 1982-02-12 | 並列型アナログ・デイジタル変換器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58138122A true JPS58138122A (ja) | 1983-08-16 |
Family
ID=12054866
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57021434A Pending JPS58138122A (ja) | 1982-02-12 | 1982-02-12 | 並列型アナログ・デイジタル変換器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4496935A (ja) |
JP (1) | JPS58138122A (ja) |
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- 1982-02-12 JP JP57021434A patent/JPS58138122A/ja active Pending
- 1982-04-15 US US06/368,814 patent/US4496935A/en not_active Expired - Fee Related
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