JPS58137264A - 光電変換装置 - Google Patents
光電変換装置Info
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- JPS58137264A JPS58137264A JP57019051A JP1905182A JPS58137264A JP S58137264 A JPS58137264 A JP S58137264A JP 57019051 A JP57019051 A JP 57019051A JP 1905182 A JP1905182 A JP 1905182A JP S58137264 A JPS58137264 A JP S58137264A
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Classifications
-
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
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- H01L31/0392—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate
- H01L31/03921—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate including only elements of Group IV of the Periodic Table
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/0445—PV modules or arrays of single PV cells including thin film solar cells, e.g. single thin film a-Si, CIS or CdTe solar cells
- H01L31/046—PV modules composed of a plurality of thin film solar cells deposited on the same substrate
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光電変換装置の構造に関する。太陽電池、光セ
ンサのような光電変換装置は光エネルギーを1気エネル
ギーに変換してその出力を電源として使用するか、セン
シングに利用するものである。
ンサのような光電変換装置は光エネルギーを1気エネル
ギーに変換してその出力を電源として使用するか、セン
シングに利用するものである。
従来結晶型半導体が半導体材料として用いられていたが
近年非晶質半導体(a−8i:H,a−8i:F:H,
a−8i:C:H,a−8i:Ge:H’など)が上記
半導体材料として使えることが明らかになり。
近年非晶質半導体(a−8i:H,a−8i:F:H,
a−8i:C:H,a−8i:Ge:H’など)が上記
半導体材料として使えることが明らかになり。
上記光電変換装置を安価に製造できることが判つて11
次。
次。
これら非晶質半導体を用いた光電変換装置の−いた従来
の太陽電池の構造の一例を示す。ガラス基板1上に分割
して形成したITO(8nを添加したIn5On)透明
電極21〜23上K pin構造の非晶質シリコン1a
−8i)膜lOが形成されている。
の太陽電池の構造の一例を示す。ガラス基板1上に分割
して形成したITO(8nを添加したIn5On)透明
電極21〜23上K pin構造の非晶質シリコン1a
−8i)膜lOが形成されている。
a−8i膜10上に夫々のITO透明電極に対応するよ
うに分割され次金属電極111〜113 が形成される
と共に、その一部が次段の光電変換領域における透明電
極と接触し1個々の光電変換領域が直列接続するよう構
成さ糺ている。
うに分割され次金属電極111〜113 が形成される
と共に、その一部が次段の光電変換領域における透明電
極と接触し1個々の光電変換領域が直列接続するよう構
成さ糺ている。
この装置では、電池内部での損失を減らし、外部回路に
できるだけ多くのマ流取り出せるよう。
できるだけ多くのマ流取り出せるよう。
金属電極と透明電極(例えば111と22)とを。
夫々の一辺を完全に重ね合せる形で接続されているので
ある。このようにすれば電流が比較的シート抵抗の高い
透明電極内を横方向に流れるパスを最短にすることがで
き、従って透明電極内での箪カロスを最小にすることが
できる。
ある。このようにすれば電流が比較的シート抵抗の高い
透明電極内を横方向に流れるパスを最短にすることがで
き、従って透明電極内での箪カロスを最小にすることが
できる。
第2図は室内燈など低照度の下での使用を目的とした構
造である。この場合発生電流が小さいので透明電極内で
の電力ロスは問題にならず、光電変換領域間の接続は、
a−8i領域の外側に延長した金属電極部1111.1
112と透明電極部1022.1023のみにより成さ
れ、部分1021上の金属パッド30に一方の外部リー
ドそして部分1113に他方のリード(いずれも図示せ
ず)が取9付けられる。第2図の構造の方が、第1図の
ものよシ1面積効率を高くし易いので、内部電力ロスを
考慮しなくてよい室内燈用太陽電池として適している。
造である。この場合発生電流が小さいので透明電極内で
の電力ロスは問題にならず、光電変換領域間の接続は、
a−8i領域の外側に延長した金属電極部1111.1
112と透明電極部1022.1023のみにより成さ
れ、部分1021上の金属パッド30に一方の外部リー
ドそして部分1113に他方のリード(いずれも図示せ
ず)が取9付けられる。第2図の構造の方が、第1図の
ものよシ1面積効率を高くし易いので、内部電力ロスを
考慮しなくてよい室内燈用太陽電池として適している。
上述のa−84太陽電池は、ITO/ガラス基板上Kp
−i−n構造のa−8i層をプラダ−vcVDaKより
形成する工sKよ)製造されている。プラズマCVD
の材料ガスFiloo%あるいはH@ 、 He 。
−i−n構造のa−8i層をプラダ−vcVDaKより
形成する工sKよ)製造されている。プラズマCVD
の材料ガスFiloo%あるいはH@ 、 He 。
Ne、Arなどで希釈したシラン(8iH4) ある
いはジシラン(Si、H・)あるいは弗化シラン(Si
F4)を母ガスとし、p形層に対してはB、H,などm
族元lAを含んだガスを添加しn形層形成の場合はPH
,などV族元素ガスを添加する。
いはジシラン(Si、H・)あるいは弗化シラン(Si
F4)を母ガスとし、p形層に対してはB、H,などm
族元lAを含んだガスを添加しn形層形成の場合はPH
,などV族元素ガスを添加する。
以上述べ次従来のa−8i太陽電池の欠点は、ITOよ
り成る透明電極がa−84を成長させる際プラズマにさ
らされることにより、特性劣化を起したり。
り成る透明電極がa−84を成長させる際プラズマにさ
らされることにより、特性劣化を起したり。
あるいはITO中の成分(Inなど]がa−8i中に侵
入したりして、太陽電池の出力特性を低下させることに
ある。前者、即ちプラズマにさらされることによりIT
Oのシート抵抗が増加する原因は。
入したりして、太陽電池の出力特性を低下させることに
ある。前者、即ちプラズマにさらされることによりIT
Oのシート抵抗が増加する原因は。
ITO内にインジウムとスズの合金が析出するためであ
ることが確かめられている。また後者のインジウムがa
−8i中に混入することも既に明らかになっている。こ
れらの現象は、a−8iを成長させる際の基板温度を下
げれば抑制される。
ることが確かめられている。また後者のインジウムがa
−8i中に混入することも既に明らかになっている。こ
れらの現象は、a−8iを成長させる際の基板温度を下
げれば抑制される。
そのため、従来ITO/ガラス基板上Ka−8iを成長
させる際、その基板温度を200℃以上にすることがで
きなかつ友1200℃以上にすると太陽電池の性能が低
下する)。一方、ステンレス板などの金属基板を用いた
a−8i太陽電池の出力性能の基板温度依存性を調べる
と、250℃程度が最適な基板温度であることがわかっ
た。すなわち200℃以下の@度はa−8iの成長温度
として最適の領域からはずれ比ものであり、前述のIT
Oの問題点のためこのような不満足な温度条件でa−8
iを成長せざるを得なかったわけである。また200℃
以下の温度でa−8iを成長し几場合でも前述のITO
の問題点は完全に解消する訳ではなく、より耐プラズマ
性のある透明電極を用いれば低温成長条件においてもa
−8i太陽電池の性能を改善することができる。
させる際、その基板温度を200℃以上にすることがで
きなかつ友1200℃以上にすると太陽電池の性能が低
下する)。一方、ステンレス板などの金属基板を用いた
a−8i太陽電池の出力性能の基板温度依存性を調べる
と、250℃程度が最適な基板温度であることがわかっ
た。すなわち200℃以下の@度はa−8iの成長温度
として最適の領域からはずれ比ものであり、前述のIT
Oの問題点のためこのような不満足な温度条件でa−8
iを成長せざるを得なかったわけである。また200℃
以下の温度でa−8iを成長し几場合でも前述のITO
の問題点は完全に解消する訳ではなく、より耐プラズマ
性のある透明電極を用いれば低温成長条件においてもa
−8i太陽電池の性能を改善することができる。
本発明は上述の欠点を除去して、性能の改善され几光電
変換装置を提供するための透明電、極構造に関する。
変換装置を提供するための透明電、極構造に関する。
本発明者等は、酸化スズ+8nOt)が工1゛0にくら
べてa−84″を成長させる際のプラズマに対する耐性
が大きくまたインジウムを含まないためa−8I に対
する汚染効果も小さいことを見出した。
べてa−84″を成長させる際のプラズマに対する耐性
が大きくまたインジウムを含まないためa−8I に対
する汚染効果も小さいことを見出した。
その友め酸化スズを透明型、極に用いれば、その上にa
−8i1に成長させる際の基板温度を蝦適条件の250
℃にすることができる。例えば数−の面積a−8i太陽
電池の場合、ITOを透明電極として。
−8i1に成長させる際の基板温度を蝦適条件の250
℃にすることができる。例えば数−の面積a−8i太陽
電池の場合、ITOを透明電極として。
190℃の基板温度で作製したものに対して、酸化スズ
を透明電極として250℃で作製し次電池の変換効率は
約3〇−改善され友。しかしながら、電池面積が1−以
上になると、その優位性はくずれそくる。その理由は、
同一膜厚における酸化スズのシート抵抗がITOにくら
べ5〜10倍大きいためであり、[池面績が大きくなる
に従い発生電流値が増加するので、透明電極内でのパワ
ーロスが増し、変換効率が低下することによる。
を透明電極として250℃で作製し次電池の変換効率は
約3〇−改善され友。しかしながら、電池面積が1−以
上になると、その優位性はくずれそくる。その理由は、
同一膜厚における酸化スズのシート抵抗がITOにくら
べ5〜10倍大きいためであり、[池面績が大きくなる
に従い発生電流値が増加するので、透明電極内でのパワ
ーロスが増し、変換効率が低下することによる。
透明電極は同時に反射防止の役割りも兼ねるので、その
膜厚は1000λ程度が最適である。酸化スズのシート
抵抗をITOと同程度にするには、その膜厚f5000
〜10000λ圧せねばならず、光に対する透過率の低
下を考えると、その方法は採用不可能である。
膜厚は1000λ程度が最適である。酸化スズのシート
抵抗をITOと同程度にするには、その膜厚f5000
〜10000λ圧せねばならず、光に対する透過率の低
下を考えると、その方法は採用不可能である。
第3図はこの発明の第1の実施例を示すもので。
透明電極がそれぞれ@1透明電1に21〜23と第2透
明W極41〜43との二層構造より成っている。
明W極41〜43との二層構造より成っている。
第]透明電極はシート抵抗の低い材料、例えばITO工
り成シ、約1000人の厚みを有し、透明電他系の内部
抵抗を下げる目的で形成される。第2透明電極は第1透
明電極をプラズマによるダメージから保繰する目的のも
ので、5nu1などの耐プラズマ性の高い材料より成り
、この目的のために必要な数10〜数100人程度の厚
みを有する。従って第2透明電極のシート抵抗は第1透
明電極の50〜1000倍となる。第4図は第2の実施
例で。
り成シ、約1000人の厚みを有し、透明電他系の内部
抵抗を下げる目的で形成される。第2透明電極は第1透
明電極をプラズマによるダメージから保繰する目的のも
ので、5nu1などの耐プラズマ性の高い材料より成り
、この目的のために必要な数10〜数100人程度の厚
みを有する。従って第2透明電極のシート抵抗は第1透
明電極の50〜1000倍となる。第4図は第2の実施
例で。
第2透明IIIF極を分離せず連続膜40として形成し
た構造である。この場合シート抵抗の高い第2逍明物極
を用いれば第1透明電極間(例えば21と22]は実質
的に絶縁されることになり問題無い。
た構造である。この場合シート抵抗の高い第2逍明物極
を用いれば第1透明電極間(例えば21と22]は実質
的に絶縁されることになり問題無い。
第5図は、第3の実施例の第2透明電極40、第1透明
電極2】〜23.カラス基板1を上面から艶た図であり
、第2透明電極40が第1透明電極21〜23を完全に
カバーした構造であ、る。
電極2】〜23.カラス基板1を上面から艶た図であり
、第2透明電極40が第1透明電極21〜23を完全に
カバーした構造であ、る。
第4.5図の構造は、更に次の2虞の特長を持つ。
(1)第2電極としてSnO,を用いた場合、Snug
はエツチングIcエリバターニングしにくい材料である
が、バターニング工程を必要としない。
はエツチングIcエリバターニングしにくい材料である
が、バターニング工程を必要としない。
(2)ガラスの成分、例えばNaがa−8i中に浸入す
ることを抑制できる。
ることを抑制できる。
第6図は第4の実施例で、第1透明宵、極21〜23の
上、下にIt!2透明電極44.45を重ね、3層構造
の透明電極としている。この構造をとることに工す前記
(2)の効果をより完全にすることができる。
上、下にIt!2透明電極44.45を重ね、3層構造
の透明電極としている。この構造をとることに工す前記
(2)の効果をより完全にすることができる。
以上、第1図の構造を基本として本発明の適用例を示し
てきたが、勿論第2図の構造を基本として、 lW1様
の透明電極構造を応用しても全く同じ効果が得られる。
てきたが、勿論第2図の構造を基本として、 lW1様
の透明電極構造を応用しても全く同じ効果が得られる。
更に、第1〜2肉のように光重変換領域を直列接続した
ものでなく、基板上に単一の光11に換領域を有する太
陽電池、光センサにおいても、効果的であることは言う
までもない。
ものでなく、基板上に単一の光11に換領域を有する太
陽電池、光センサにおいても、効果的であることは言う
までもない。
本発明の効果を確認するため、第1図の従来構造及び第
3図の本発明構造の非晶質太@電池を試作し友。いずれ
も基板温[1200℃及び250℃でa−8i 膜を
形成し友。
3図の本発明構造の非晶質太@電池を試作し友。いずれ
も基板温[1200℃及び250℃でa−8i 膜を
形成し友。
第1因の太陽電池の透明電極は800人のITO膜より
成り、第3図の太陽電池の透明電極はBooλQITO
より成る第一透明電極と100λの酸化スズの第2透明
電極とを積層した構造として、透明電極上に100人の
p形層、5000人のノンドープ層(重層)、500に
のn形層よりなるa−8i膜をプラズマCVD 法で形
成し最後に1μmのAj電極と真空蒸着法で形成した。
成り、第3図の太陽電池の透明電極はBooλQITO
より成る第一透明電極と100λの酸化スズの第2透明
電極とを積層した構造として、透明電極上に100人の
p形層、5000人のノンドープ層(重層)、500に
のn形層よりなるa−8i膜をプラズマCVD 法で形
成し最後に1μmのAj電極と真空蒸着法で形成した。
2種類の太陽電池に白色螢光燈200ルックスの光を照
射したときの出力特性を第7図に示す。
射したときの出力特性を第7図に示す。
基板温度200℃でa−8iを成長させた電池特性を比
較すると、短絡電流、開放電圧共本発明による第3図の
構造の太陽電池の特性(第7図の曲線A)の方が従来構
造の特性(曲線B)より優れている。
較すると、短絡電流、開放電圧共本発明による第3図の
構造の太陽電池の特性(第7図の曲線A)の方が従来構
造の特性(曲線B)より優れている。
さらに基板温度250℃にてa−8i膜を形成した本発
明による太陽電池の特性C曲線C)は、短絡電流が基板
温1m200℃で形成したものに対してさらに約11−
改善され1本発明の効果が証明された。
明による太陽電池の特性C曲線C)は、短絡電流が基板
温1m200℃で形成したものに対してさらに約11−
改善され1本発明の効果が証明された。
一方250℃で1−8ゑを成長した従来構造の太陽電池
の特性(曲MID)は極めて劣悪なものであることが再
確認された。
の特性(曲MID)は極めて劣悪なものであることが再
確認された。
第1図および第2図社それぞれ分知の装置の斜視図およ
び平面図、第3図、第4凶および第6図線本発明のそれ
ぞれ異なる実施例を示す斜視図。 第5図はさらに他の実施例を説明するための平面図であ
る。TA7rlJは時■咀1k 1−v−ある。 】・・・透明絶縁基板* 10 =・a S i膜、
21〜23・・・第1透明電極、40〜45・・・第2
透明電極、111〜113・・・金属電極。 i′l 口 ′″t’2 図 t′3 図 才4 図 才、5 ロ r′6 目
び平面図、第3図、第4凶および第6図線本発明のそれ
ぞれ異なる実施例を示す斜視図。 第5図はさらに他の実施例を説明するための平面図であ
る。TA7rlJは時■咀1k 1−v−ある。 】・・・透明絶縁基板* 10 =・a S i膜、
21〜23・・・第1透明電極、40〜45・・・第2
透明電極、111〜113・・・金属電極。 i′l 口 ′″t’2 図 t′3 図 才4 図 才、5 ロ r′6 目
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 透明絶縁基板上に透明電極を介して非晶質半導体膜を形
成してなる装置において、前記透明電極は少なくと4二
層の積層構造をなし、非晶質半導体膜に接する層は耐プ
ラズマ性の材料からカリ。 これに隣接する層は低いシート抵抗を示すことを特徴と
する光電変換装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57019051A JPS58137264A (ja) | 1982-02-09 | 1982-02-09 | 光電変換装置 |
DE19833303068 DE3303068A1 (de) | 1982-02-09 | 1983-01-29 | Fotoelektrischer wandler |
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