JPS58123476A - プリント板検査装置 - Google Patents

プリント板検査装置

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Publication number
JPS58123476A
JPS58123476A JP57005869A JP586982A JPS58123476A JP S58123476 A JPS58123476 A JP S58123476A JP 57005869 A JP57005869 A JP 57005869A JP 586982 A JP586982 A JP 586982A JP S58123476 A JPS58123476 A JP S58123476A
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JP
Japan
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conductive rubber
detection
solder
board
solder bridges
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Pending
Application number
JP57005869A
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English (en)
Inventor
Yukio Sato
幸夫 佐藤
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP57005869A priority Critical patent/JPS58123476A/ja
Publication of JPS58123476A publication Critical patent/JPS58123476A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はプリント板検査装置に関し、更に詳しくはプリ
ント基板への電子部品の実装時における半田ブリッジ等
の発生を確実に検出することができるようにしたプリン
ト板検査装置に関す“るものである。
プリント基板に対して電子部品を半田付けにより実装す
る場合には、隣接する電子部品の端子間を短絡した状態
で半田が付着するいわゆるブリッジ現象が生じる恐れが
ある。
このような半田ブリッジが生じると、導通すべきでない
電子部品の端子間が導通してしまい、電子部品の破壊や
回路の誤動作が生じてしまう。
そこで従来より実装を終わった電子部品を取り付けたプ
リント基板をプリント板検査装置により検査を行ない基
板の動作チェック或いはブリッジの発生を検出し、半田
ブリッジが発生したプリント基板は不良品として排除し
ていた。
このようなプリント板検査装置の従来構造を第1図及び
@3図に示す。
以下、ハンダブリッジの検出方法について述べると、第
1図に示す実施例にあってはプリント基板1に取り付け
られた電子部品2.3の端子4゜5をプリント基板に対
して固定する半、凪6の位置と対応して多数の接触針7
を有する検出基板8を用意しておき、各接触針7のうち
、半田付は部分が導通してはいけない部分に対応する接
触針をそれぞれ電源E及び電流計Aに接続する回路構成
を採用し、電源Eと電流計Aとの間に可変抵抗器9全介
装した構造を採用している。
このような構造を採用すると導通してはいけない半田付
は部分にブリッジ現象が生じていれば両者間に電流が流
れるためこれを電流計Aによって検出することができ、
ブリッジの検出を行なうことができる。
ところが、このようなプリント板検査装置を採用すると
、例えば第2図に示すように半田6の高さにバラツキが
あると接触針7が、低い半田付は部分には接触すること
ができなくなり、ブリッジ検出等が不可能となる欠点が
ある。
そこで、第3図に示すように各接触針1を検出基板8に
設けられた案内筒10にスプリング11を介して弾性的
に支持し、半田付けの高さに高低の差が生じても一定の
圧力で押し付けた場合にスプリング10をたわませて各
接触針7が確実に半田付は部分に接触するように構成し
たブリッジ検出装置が提案された。
しかし、このような構造を採用してもブリッジの検出は
確実に行なえるものも案内筒10スプリング11を使用
しなければならず部品点数が多くなり構造が複雑化しコ
スト高になるという欠点があった。
本発明は以上のような従来の欠点を除去するためになさ
れたもので、極めて簡単な構造により半田ブリッジ等を
確実に検出することができるように構成したプリント板
検査検→装置を提供することを目的としている。
本発明においては上記の目的を達成するために検出基板
に設けられた半田付は部分と1対1に対応する電極を覆
う導電性ゴム板を設け、この導電性ゴム板を介して半田
付は部分に検出基板を押し11゜ 付け、半田付は部分と確実な導通状態を保ち、かつ各電
極を制御装置に接続し半田ブリッジ等の生じている箇所
を確実に検出することができる構造を採用した。
す、l〜、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な
説明−「る。
7A4図は1本発明の一実施例を説明するもので、図中
第1図と同一部分には同一符号を付し、その説明は省略
する。
本実施例にあっては、検出基板8にはプリントノ、(板
1の電子部品2,3の半田付は部6と対応してスルーホ
ール10が形成されており、このスルーホール10のL
下には導電性のランド11が形12及び13を介してそ
れぞれ電源E及び電流計Aに接続さ7する回路が形成さ
れている。
一方、検出基板81・には導電性ゴム板14が重ねられ
ている。
この導電性ゴム板14は電流を流すことができるゴムか
ら成るが、導電性ゴムには異方導電性ゴトと感圧桿′市
性ゴムがあり、感圧導電性ゴムは力’、=” JJI−
1えた部分だけの抵抗が低くなる性質があり、一般に1
00 y、”=程度の圧力で6桁以上も抵抗値が下がる
性質をもつ。
一方、異方導電性ゴムはゴム板の厚み方向には電気をよ
く通すが、横方向では絶縁性を示す。
この状態を第5図に示す。
第5図において、符号14a〜14dは導電性ゴム板1
4をはさんで配置された電極を示し、符号15は導電領
域、符号15aは絶縁領域を示す。
これらの電極14a〜14dは前述した半田部6とラン
ド部11とに対応している。
第5図の配置の等価回路を第6図に示す。対向する電極
14a、14b及び14c、14dとの間の抵抗16は
それぞれ異方導電性ゴムに約50f//rnd程度の圧
力を加えた場合にゴムシートの表裏の電極間の抵抗であ
る。
ところでいま、第5図及び第6図において電極14a、
14cとの間に半田ブリッジ17が形成されているとす
ると、電源E−電極14b−電極14a−半田ブリッジ
17−電極14c−電極14d−電流計A−可変抵抗器
9というように閉回路が形成され、電流が流れる。この
ため、電流=tAが反応し、半田ブリッジを検出するこ
とができる。
又、導電性ゴムは十分な弾力を有するため、第7図に示
す如く導電性ゴム14を介して半田付は部6に対して押
圧すれば、半田付は部6の高低に差があっても導電性ゴ
ム14の弾力によりこれを十分に吸収し、接触不能が生
じることがない。この接触圧は図示していない抑圧手段
により所定圧で押圧される構造を採用すればよい。
なお、第4図〜第6図に示した実施例にあっては、1箇
所の半田ブリッジの検出に限定して説明したが、半田ブ
リッジの発生しやすい箇所をあらかじめ定めて本発明装
置を適用すれば半田ブリッジの発生箇所数を検出するこ
とができる。
第8図がこのような発生箇所数検出のための回路構成の
一例を示している。第8図において符号18〜22は半
田ブリッジ検出筒□所を示し、これらの検出箇所に第4
図〜第6図で示した半田ブリッジ検出装置を適用すれば
、それぞれ抵抗Rを介して電流が抵抗R6に流れ込む。
抵抗R6においては各抵抗Rから流れ込む電流に応じた
電圧降下が発生する。
例えば、半田ブリッジが検出箇所18で発生している場
合、導電性ゴムの抵抗は抵抗Rに比較して十分に小さい
ため、これを無視すると検出箇所18で流れる電流11
は次式で表わされる。
(1)式においてはR>Roに設定しておく。
従って、抵抗R8に発生する電圧降下はeI=R8×i
−&・E となる。
R これは検出箇所18による半田ブリッジだけに限らず半
田ブリッジが1箇所において生じた場合である。
一方、半田ブリッジが2箇所の場合には電流12は次式
で表わされる。
従って検出箇所18に発生する電圧降下e2は0 e2=R8Xi2−2×(keE)=2×e1 となる
同様にして、e、: 3Xe、、 e4=4Xe、・・
・・・・となり、これを線図で表わすと第9図に示すよ
うに半田ブリッジの発生個数と抵抗R8における電圧降
ドとはほぼ比例する。
そこで、第8図C二示すようにこの電圧降下値をA/D
コンバータ23によりデジタル変換し、デコーダ24を
介して表示ディスプレイ用にデコードして表示装置25
によってこれを表示する。
しかしながら、合成抵抗分圧によって、第9図に示す様
な直線性は得られない場合もある。従って、本実施例の
様な方法以外にもマイコン等を用いて確実に行なう方法
も十分考えられる。
従って、本実施例はほんの一例に過ぎない。
なお、付言するならば、異方導電性ゴムシートが約50
ν1程度の所定の圧力を加えてオン抵抗値05Ω//1
1d〜2Ω/adが得られるように構成されているため
、これを検出基板に設ける一\合には1ユ述した所定の
圧力が安定して加えられる′構造な用いるのが良い。
また、検出基板8のスルーホール10の位置等の回路パ
ターンはプリント基板1側のものと同一のものが使用で
きるため、極めて簡単に構成できる。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、異方
導電性ゴムから成る導電性ゴムシートを用いて半田ブリ
ッジ等の検出を行なう構成とされているため、極めて簡
単な構造で、かつ安価に半田ブリッジ等の検出を行なう
ことができ、確実に半田ブリッジ等の検出を行なうこと
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来構造を説明する概略構成図、第2図は第1
図の構造の欠点を示す説明図、第3図は従来の他の構造
を示す概略構成図、第4図は本発明の一実施例を示す概
略構成図、第5図は本発明の原理を示す説明図、第6図
は第5図の等価回路図、第7図は実測状態の断面図、第
8図は本発明の他の実施例を示すブロック回路図、第、
−9、図は第8図に示す実施例によって得られた半田ブ
、リッジの発生個数と電圧降下との関係を示す線図であ
る。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)部品を実装したプリント基板と前記プリント基板
    におけるチェックポイントに対応する位置に電極を有す
    る検査基板との間に導電性ゴムを介在させ複数個所のチ
    ェックポイントによって、回路を構成したことを特徴と
    するプリント板検査装置。 (21、”   ”               −
    を複数個所のチェックポイントの中で不良個所リント板
    検査装置。
JP57005869A 1982-01-20 1982-01-20 プリント板検査装置 Pending JPS58123476A (ja)

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JP57005869A JPS58123476A (ja) 1982-01-20 1982-01-20 プリント板検査装置

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JPS58123476A true JPS58123476A (ja) 1983-07-22

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