JPS58111320A - スピンナ - Google Patents

スピンナ

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Publication number
JPS58111320A
JPS58111320A JP20941981A JP20941981A JPS58111320A JP S58111320 A JPS58111320 A JP S58111320A JP 20941981 A JP20941981 A JP 20941981A JP 20941981 A JP20941981 A JP 20941981A JP S58111320 A JPS58111320 A JP S58111320A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
spinner
mask substrate
substrate
guide pins
photoresist
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP20941981A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoru Iwama
悟 岩間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP20941981A priority Critical patent/JPS58111320A/ja
Publication of JPS58111320A publication Critical patent/JPS58111320A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/16Coating processes; Apparatus therefor
    • G03F7/162Coating on a rotating support, e.g. using a whirler or a spinner

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はホトリソグラフィ工程において使用するホトマ
スタの製造用として有効なスピンナに関するものである
半導体装置のl1lIIIt工程の一つであるホトリソ
グラフィ工程では、半導体つ謔−ハに形成する素子パタ
ーンと同一パターンのホトマスタが使用される。このホ
トマスタはレチクルを基準としてホトリソグラフィ法に
よりIIIJImされており、ホトマスタのマスク基板
上にホトレジストを塗布し、その後このホトレジストを
露光、*象処理して所要のパターンを得るようにしてい
る。ところで、前述したマスク基板にホトレジスジを撒
布する場合、従来では第illに示すスピンナを使用し
ている。
このスピンナlはモー#2により水平方向に軸転される
駆動軸3の上端部にアーム4を四方に突設し、更にこれ
らアーム4の先端を上方に突設して支持部5として構成
したものである。また、各支持部5の上端面には真空吸
引口6を形成し、これら真int引口6をアーム4や駆
動軸3内に延設した連路7を通して図外の真空源に連逓
接続している。
このようなスピンナ1によれば、マスク基板Mはその四
隅部を前記支持部5上に載せ、冬真空吸引口6により真
空吸着された状態で支持される。
そして、モータ2により水平方向に高速刷板され、上圃
に滴下されたホトレジストを遠心力によって拡げてホト
レジスジ膜を形成するのである。また。
!スフ基板Mは四隅部において支持部5に支持されてい
るため、中央のパターン形成部位がスピンナ1と接触す
ることはなく、パターン形成部の傷や汚れの発生な防止
することができる。
しかしながら、このスピンナにあっては支持部5に飛散
付着したホトレジストが真空吸引口6内に侵入し、乾燥
固化したときに真空吸引口6を小径化あるいは塞ぐこと
があり、マスク基板の吸着力を低下させて支持不良を生
じさせる。また、前述したように!スフ基板間はその四
隅部においてのみ支持せざるを得ないためにその吸着面
積には限界があり、前述した吸着力の低下とともにマス
ク全体の吸着支持力を低下してスピンナの処履回転数を
増大させる障害となっている。更に、各支持部5やアー
ム4等に真空吸引口6や通路7を形成しているために支
持部やアームの体積や重量が必然的に大きくなりスピン
ナの慣性が大となって停止精度が低くなるという間■も
ある。
したがって本発明の目的は、スピンナの支持部にガイド
ビンを立設し、このガイドビンによりマスク基板の周辺
を点接触状態に挾持すると共に、ガイドビンの頂部をマ
スク基板の上面よりも低い位置に保持するよう構成する
ことにより、マスク基板の支持力を高いものとして処1
1回転数の増大を可能とし、かつ一方ではホシレジスF
によるマスク基板やスピンナの汚染を防止することがで
ききるスピンナを提供することにある。
以下、本発明を図示の実施例により説明する。
第2図および第3図は本発明の一実施例を示し、スピン
ナ10はホトレジスジ塗布用のハウジング11内に設置
し、モータ12の回転出力軸tZaに連結して水平方向
に高速回転されるように構成している。このスピンナ1
0は前記回転出力軸121に連結した駆動軸13を有し
、この駆動軸13の上端には水平四方向に四本のアーム
14を一体に!II!設している。これら各アーム14
の先端は夫々上方に向けて曲設し、更にこの上端には夫
々支持台15a〜15dを形成している。これらの各支
持台15a〜15dは!スフ基板間の四隅部を載置状態
に支持するものであるが、支持したときにはその内辺が
!スフ基板間の中央部のパターン形成部MP内に侵入し
ないように形成している。
また、前記支持台151〜15dの中、支持台15b 
、 15dには1本の、支持台15 a、15Cには2
本のガイドビン16a〜16fを夫々立設している。こ
れら各ガイドビンは第4図に拡大して示すように、マス
ク基板Mの四隅部の周辺に当接でき、かつこれらの全て
のガイドビン16Jl〜16fが協働してマスク基板M
を水平方向に拘束するように挾持している。この場合、
ガイドビン16a〜16fは断輿形状を円形とし、マス
ク基板Mとは点(II)II触状態で当接するようにし
ている。また、前記各ガイドビン16a〜16fはマス
ク基板の厚さよりも短く形成し、ガイドビンの先端がマ
スク基板の上面よりも上方に突出しないように構成して
いる。図中、17はホトレジスト滴下用のノズルである
以上の構成のスピンナによれば、スピンナの上方からマ
スク基板を下降して支持台151〜15d上にマスク基
板の四隅部を載置し、各ガイドビン16星〜16fによ
りマスク基板を水平方向に挾持することにより、マスク
基板はスピンナに水平方向に一体支持される。したがっ
て、モータ12の駆動によりスピンナが回転されてもマ
スク基板はガイドビン16’a〜16fによって遠心方
向への移動が防止され、かつこれはスピンナのU板速度
が増大した場合でも同様である。一方、マスク基板Mの
上面中央にはノズル17からホトレジスFが滴下され、
遠心力によってマスク周辺へ拡散されてホトレジスト膜
が形成されることになる。
このとき、余剰のホトレジストはマスク基板周辺から外
方へ飛散されるが、ガイドビン16a〜16fの上端は
マスク基板の上面よりも低い位置にあるため、飛散され
るホトレジストがガイドビンに衝突してガイドビンない
しマスク基板に付着することは防止される。また、マス
ク基板上のホトレジストの一部はマスク肩面に流れ落ち
るが、この場合にもマスク基板とガイドビンとは点(I
I)接触状態であることから両者間にホトレジストが停
留してガイドビンやマスク基板を汚すことはない。
更に、スピンナは真空吸引口や通路を形成していないの
で支持台やアームを小抛かつ軽量に形成でき、(9)転
駆動のエネルギの省略化や停止精度の向上を図るととも
に真空源やその配管等を不要にして装置全体構造の簡易
化や低価格化を達成することができる。
ここで、ガイドビンの形状や本数、更に立設位置等はマ
スク基板の寸法等に応じて適宜変更できることは言うま
でもない。
以上のように本発明のスピンナによればスピンナの支持
部にガイドビンを立設し、このガイドビンによりマスク
基板の周辺を点接触状態に挾持すると共に、ガイドビン
の頂部をマスク基板の上面よりも低い位置となるように
しているので、マスク基板の支持面積に関係なく高い支
持力を有してスピンナの高速回転を可能にする一方、ホ
トレジストの飛散に伴なうガイドビンやマスク基板の汚
染を防止することができ、更にスピンナ装置全体の構造
の簡易化、低価格化を達成することができるという効果
を春する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のスピンナの破断正面図、第2図は本発明
装置の正面図、第3図は平Evi1図、第4図は要部の
拡大斜視図である。 10・・・スピンナ、12−・・モータ、15a−15
d・・・支持部、16,1〜16f・・・ガイドビン、
M・・・マスク基板。 ′ −ジ 第  4  図 第  2  図 第 β 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、表面にホトレジスト等な遠心塗布するマスク基板を
    支持しかつこのマスク基板を一体的にIf@させるスピ
    ンナであって、前記スピンナは前記マスク基板の隅部を
    支承する支持部にガイドビンを立設し、このガイドビン
    によりマスタ基板の肩辺を点接触状態に挾持すると共に
    、ガイドビンの頂部をマスク基板の上−よりも低い位置
    となるように構成したことを特徴とするスピンナ。
JP20941981A 1981-12-25 1981-12-25 スピンナ Pending JPS58111320A (ja)

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JP20941981A JPS58111320A (ja) 1981-12-25 1981-12-25 スピンナ

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JP20941981A JPS58111320A (ja) 1981-12-25 1981-12-25 スピンナ

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JPS58111320A true JPS58111320A (ja) 1983-07-02

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ID=16572559

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JP20941981A Pending JPS58111320A (ja) 1981-12-25 1981-12-25 スピンナ

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